JPH051534B2 - - Google Patents
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- JPH051534B2 JPH051534B2 JP24509585A JP24509585A JPH051534B2 JP H051534 B2 JPH051534 B2 JP H051534B2 JP 24509585 A JP24509585 A JP 24509585A JP 24509585 A JP24509585 A JP 24509585A JP H051534 B2 JPH051534 B2 JP H051534B2
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- Japan
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- tracking
- spot
- main beam
- track
- error signal
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 27
- 238000000034 method Methods 0.000 description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
＜技術分野＞
本発明はレーザ光を記録媒体に照射することに
より情報の記録、再生あるいは消去を行う光記憶
装置のトラツキング装置に関する。
より情報の記録、再生あるいは消去を行う光記憶
装置のトラツキング装置に関する。
＜従来技術＞
近年、光メモリ装置は高密度で大容量のメモリ
装置として注目されている。この光メモリが高密
度及び大容量となる理由は、情報の記録単位であ
るビツトの大きさを直径1μｍ程度にてきるため
である。しかしこの事は光メモリ装置に多くの制
限を加えることになる。即ち、ある定まつた場所
に情報を記録したり、あるいはある定まつた場所
に記録された情報を再生したりするためには光ビ
ームを極めて正確に位置決めしなければならな
い。
装置として注目されている。この光メモリが高密
度及び大容量となる理由は、情報の記録単位であ
るビツトの大きさを直径1μｍ程度にてきるため
である。しかしこの事は光メモリ装置に多くの制
限を加えることになる。即ち、ある定まつた場所
に情報を記録したり、あるいはある定まつた場所
に記録された情報を再生したりするためには光ビ
ームを極めて正確に位置決めしなければならな
い。
その為、情報の追加記録可能なデイスクおよび
記録と共に消去も可能なデイスクでは、光ビーム
を所望の場所に位置決めするために、一般にデイ
スク基板に予め光ビーム案内トラツク、アドレス
情報を固定的に入れておく（プリフオーマツト）
という方法が採られる。
記録と共に消去も可能なデイスクでは、光ビーム
を所望の場所に位置決めするために、一般にデイ
スク基板に予め光ビーム案内トラツク、アドレス
情報を固定的に入れておく（プリフオーマツト）
という方法が採られる。
この光ビーム案内トラツクの一般的な形状は第
７図に示す様な、深さがλ／8n（ｎ：屈折率、λ： レーザ光の波長）前後の凹凸溝であり、情報の記
録、再生、消去は光ビームをこの案内溝に沿つて
走査させることで行われる。
７図に示す様な、深さがλ／8n（ｎ：屈折率、λ： レーザ光の波長）前後の凹凸溝であり、情報の記
録、再生、消去は光ビームをこの案内溝に沿つて
走査させることで行われる。
この案内溝からトラツキング信号を得る手段と
してはVD（ビデオデイスク）、CD（コンパクトデ
イスク）でよく用いられる公知の第８図に示す
Twin Spot法（３ビーム法）と記録可能な光デ
イスクでよく使われる第９図に示すプツシユプル
法が代表的なものである。
してはVD（ビデオデイスク）、CD（コンパクトデ
イスク）でよく用いられる公知の第８図に示す
Twin Spot法（３ビーム法）と記録可能な光デ
イスクでよく使われる第９図に示すプツシユプル
法が代表的なものである。
前者の手法の特徴としては、光デイスク基板と
光ピツクアツプとの相対的な傾きに対しても案定
なトラツキング性能が得られる点が挙げられるが
第８図ａに示される様にデイスク基板に設けられ
る案内溝領域Ｇと複数のピツトで構成されたアド
レス情報領域Ａの境界をトラツキング用ビームが
走査すると、先行ビームB1と後行ビームB2の受
ける回折効果が異なるためにトラツキングが乱さ
れるという欠点をもつ。尚、Ｒは記録ビツトであ
る。
光ピツクアツプとの相対的な傾きに対しても案定
なトラツキング性能が得られる点が挙げられるが
第８図ａに示される様にデイスク基板に設けられ
る案内溝領域Ｇと複数のピツトで構成されたアド
レス情報領域Ａの境界をトラツキング用ビームが
走査すると、先行ビームB1と後行ビームB2の受
ける回折効果が異なるためにトラツキングが乱さ
れるという欠点をもつ。尚、Ｒは記録ビツトであ
る。
一方、後者の手法では１ビームB4によるトラ
ツキングであるため前述の様な境界部での影響は
正常にトラツキングされている場合は基本的に存
在しないが、トラツキングによるレンズ位置のシ
フトがあつた場合、あるいはデイスクとピツクア
ツプが相対的に傾くと反射光ビームの位置が検出
器Ｄ上で相対的にズレるためトラツキング誤差信
号に定常的なオフセツトが発生して、定常的なト
ラツキングのミスシフトを生じるという欠点をも
つ。従つて、デイスクとピツクアツプが相対的に
傾いた場合には案内溝部とアドレス領域と記録部
における回折パターンが夫々異なる事によつて、
必然的にトラツキングが生じ、やはり境界部でト
ラツキングが乱れることになる。
ツキングであるため前述の様な境界部での影響は
正常にトラツキングされている場合は基本的に存
在しないが、トラツキングによるレンズ位置のシ
フトがあつた場合、あるいはデイスクとピツクア
ツプが相対的に傾くと反射光ビームの位置が検出
器Ｄ上で相対的にズレるためトラツキング誤差信
号に定常的なオフセツトが発生して、定常的なト
ラツキングのミスシフトを生じるという欠点をも
つ。従つて、デイスクとピツクアツプが相対的に
傾いた場合には案内溝部とアドレス領域と記録部
における回折パターンが夫々異なる事によつて、
必然的にトラツキングが生じ、やはり境界部でト
ラツキングが乱れることになる。
＜目的＞
本発明は上述した様に事情に鑑み、安定なトラ
ツキングを行うためになされたものであり、デイ
スク基板に特別な処置を施すことなく比較的容易
な信号処理手段を採用することによつて不連続な
案内溝に対しても安定なトラツキングを行なう装
置を提供することを目的とするものである。
ツキングを行うためになされたものであり、デイ
スク基板に特別な処置を施すことなく比較的容易
な信号処理手段を採用することによつて不連続な
案内溝に対しても安定なトラツキングを行なう装
置を提供することを目的とするものである。
＜実施例＞
以下、本発明に係るトラツキング装置の一実施
例について図面を用いて詳細に説明する。
例について図面を用いて詳細に説明する。
第１図は本発明に係るトラツキング装置を適用
した光デイスク用光学ヘツドの基本構成を示す説
明図である。
した光デイスク用光学ヘツドの基本構成を示す説
明図である。
１は前述の案内溝ならびにアドレス情報を意味
する不連続溝を固定的に有する光デイスク、２は
所定のレーザ光を射出するレーザ装置、３は記
録、再生、消去を行う為の主ビームの他に、補助
のトラツク誤差信号を得るための補助ビームを創
出する回折格子である。該回折格子３の回折方向
は前記補助ビームを記録トラツクの両側に偏つて
位置せしめる様に設定される。４は入射レーザ光
の一部を透過するとともに光デイスク１からの反
射レーザ光を光検出器８に導くビームスプリツタ
である。５は光デイスク１上に微小スポツトを形
成するための対物レンズである。この対物レンズ
５は図示しないサーボ制御回路ならびにレンズ駆
動装置により光軸方向ならびにトラツクと直交す
る方向に移動制御される。これにより、光デイス
ク１に形成された情報トラツクに投射する入射レ
ーザ光スポツトの大きさおよびスポツト位置を調
整することができる。６はスポツトレンズ、７は
光デイスクの案内溝接続方向に対してその焦線を
45°傾けて設置されるシリンドリカルレンズであ
る。８は複合素子型光検出器である。光デイスク
１への入射レーザ光スポツト位置と光検出器８の
検出素子配置と該検出素子への反射光スポツト位
置の関係は第２図に示す様になつている。同図で
１′は光デイスク１に設けられた記録トラツク、
ａは記録トラツク１′に照射された入射レーザの
主ビームスポツト、ｂ，ｃは補助ビームスポツト
である。Ａ〜Ｆは検出素子であり、a′は主ビーム
の反射光によるスポツト、b′、c′は補助ビームの
反射光によるスポツトである。同図の構成におい
て第１図の対物レンズ５を光軸方向に移動せしめ
るためのフオーカス誤差FE、対物レンズ５をト
ラツクと直交する方向移動せしめるためのトラツ
ク誤差信号TE0、TE1はそれぞれ非点収差方式、
プツシユプル方式、３ビーム方式により得られ、
各々の誤差信号出力は次式に示す演算処理によつ
て求まる。
する不連続溝を固定的に有する光デイスク、２は
所定のレーザ光を射出するレーザ装置、３は記
録、再生、消去を行う為の主ビームの他に、補助
のトラツク誤差信号を得るための補助ビームを創
出する回折格子である。該回折格子３の回折方向
は前記補助ビームを記録トラツクの両側に偏つて
位置せしめる様に設定される。４は入射レーザ光
の一部を透過するとともに光デイスク１からの反
射レーザ光を光検出器８に導くビームスプリツタ
である。５は光デイスク１上に微小スポツトを形
成するための対物レンズである。この対物レンズ
５は図示しないサーボ制御回路ならびにレンズ駆
動装置により光軸方向ならびにトラツクと直交す
る方向に移動制御される。これにより、光デイス
ク１に形成された情報トラツクに投射する入射レ
ーザ光スポツトの大きさおよびスポツト位置を調
整することができる。６はスポツトレンズ、７は
光デイスクの案内溝接続方向に対してその焦線を
45°傾けて設置されるシリンドリカルレンズであ
る。８は複合素子型光検出器である。光デイスク
１への入射レーザ光スポツト位置と光検出器８の
検出素子配置と該検出素子への反射光スポツト位
置の関係は第２図に示す様になつている。同図で
１′は光デイスク１に設けられた記録トラツク、
ａは記録トラツク１′に照射された入射レーザの
主ビームスポツト、ｂ，ｃは補助ビームスポツト
である。Ａ〜Ｆは検出素子であり、a′は主ビーム
の反射光によるスポツト、b′、c′は補助ビームの
反射光によるスポツトである。同図の構成におい
て第１図の対物レンズ５を光軸方向に移動せしめ
るためのフオーカス誤差FE、対物レンズ５をト
ラツクと直交する方向移動せしめるためのトラツ
ク誤差信号TE0、TE1はそれぞれ非点収差方式、
プツシユプル方式、３ビーム方式により得られ、
各々の誤差信号出力は次式に示す演算処理によつ
て求まる。
FE＝（SA＋SC）−（SB＋SD）
TE0＝（SC＋SD）−（SA＋SB）
TE1＝SE−SF
但し、SA〜SFは検出素子Ａ〜Ｆによつて得ら
れた検出信号である。
れた検出信号である。
第３図は上記トラツク誤差信号TE0、TE1によ
りフイードバツク制御用信号を得るための処理を
行なう回路ブロツク図である。９はTwin spot法
によるトラツク誤差信号TE1の低周波成分のみを
抽出するローパスフイルター、１０は前記ローパ
スフイルター９の出力と主ビームのプツシユプル
方式によるトラツク誤差信号TE0との加算あるい
は減算を行うための演算器である。尚、この演算
器１０で加算を行うか減算を行うかはTE1、TE0
の位相関係によつて決定される。例えば第４図に
示す様に入射レーザ光スポツトのオフセツトが発
生した時プツシユプル方式による誤差信号TE0と
Twin spot方式による誤差信号TE1が同位相の関
係にあるときは、トラツキングによつて発生した
TE1の低周波成分△（第４図ｂ参照）をTE0誤差
信号に加算することによりTE0のオフセツトがキ
ヤンセルされて正確なトラツキングが可能（第４
図ｂ参照）となる。１１はトラツキングの引き込
み動作を安定に行うために設けられたスイツチン
グ回路であり、トラツク引き込み時に誤差信号に
定常的なオフセトラツトが発生しないTwin spot
方式によるトラツク誤差信号TE1を用い、引き込
み後は前述の処理を受けたトラツク誤差信号を用
いる様にスイツチングを行なう。
りフイードバツク制御用信号を得るための処理を
行なう回路ブロツク図である。９はTwin spot法
によるトラツク誤差信号TE1の低周波成分のみを
抽出するローパスフイルター、１０は前記ローパ
スフイルター９の出力と主ビームのプツシユプル
方式によるトラツク誤差信号TE0との加算あるい
は減算を行うための演算器である。尚、この演算
器１０で加算を行うか減算を行うかはTE1、TE0
の位相関係によつて決定される。例えば第４図に
示す様に入射レーザ光スポツトのオフセツトが発
生した時プツシユプル方式による誤差信号TE0と
Twin spot方式による誤差信号TE1が同位相の関
係にあるときは、トラツキングによつて発生した
TE1の低周波成分△（第４図ｂ参照）をTE0誤差
信号に加算することによりTE0のオフセツトがキ
ヤンセルされて正確なトラツキングが可能（第４
図ｂ参照）となる。１１はトラツキングの引き込
み動作を安定に行うために設けられたスイツチン
グ回路であり、トラツク引き込み時に誤差信号に
定常的なオフセトラツトが発生しないTwin spot
方式によるトラツク誤差信号TE1を用い、引き込
み後は前述の処理を受けたトラツク誤差信号を用
いる様にスイツチングを行なう。
第５図はトラツク誤差信号TE0、TE1によりフ
イードバツク制御用信号を得るための処理を行な
う回路の他の例の回路ブロツク図である。９と１
２，１３はそれぞれ前記したのと同時のローパス
フイルタ及び演算器である。
イードバツク制御用信号を得るための処理を行な
う回路の他の例の回路ブロツク図である。９と１
２，１３はそれぞれ前記したのと同時のローパス
フイルタ及び演算器である。
第６図ａに示す様にプツシユプル方式による誤
差信号TE0，Twin spot方式による誤差信号TE1
が同位相で得られる場合、減算器１２ローパスフ
イルター９により差動出力の低周波成分S′（第６
図ｂ参照）を得、該信号S′とTE0との差動信号Ｓ
（第６図ｃ参照）を減算器１３で得る様に構成さ
れている。この差動信号Ｓを用いれば正確なトラ
ツキングが可能である。
差信号TE0，Twin spot方式による誤差信号TE1
が同位相で得られる場合、減算器１２ローパスフ
イルター９により差動出力の低周波成分S′（第６
図ｂ参照）を得、該信号S′とTE0との差動信号Ｓ
（第６図ｃ参照）を減算器１３で得る様に構成さ
れている。この差動信号Ｓを用いれば正確なトラ
ツキングが可能である。
以上、説明した手法を用いることによりプツシ
ユプル信号の欠点であつたオフセツトが発生した
場合にもトラツキングの目標位置が自動的に修正
されることになり安定なトラツキングが可能とな
るばかりでなく、Twin spotによるトラツク誤差
信号の低周波成分のみを利用するために、記録、
未記録部あるいは案内溝とアドレス部との境界に
おける外乱も無視できる程小さくすることが可能
である。
ユプル信号の欠点であつたオフセツトが発生した
場合にもトラツキングの目標位置が自動的に修正
されることになり安定なトラツキングが可能とな
るばかりでなく、Twin spotによるトラツク誤差
信号の低周波成分のみを利用するために、記録、
未記録部あるいは案内溝とアドレス部との境界に
おける外乱も無視できる程小さくすることが可能
である。
＜効果＞
以上説明した本発明によれば比較的容易な信号
処理によつてTwin spot法によるトラツキングの
優位な点と、プツシユプル法によるトラツキング
の優位な点とを合わせもつトラツキング装置を得
ることが可能であり、案内溝、アドレス部をもつ
光デイスクならびに記録によつて反射率変化が生
じる様な光デイスクに対しても十分安定なトラツ
キングが可能となる。
処理によつてTwin spot法によるトラツキングの
優位な点と、プツシユプル法によるトラツキング
の優位な点とを合わせもつトラツキング装置を得
ることが可能であり、案内溝、アドレス部をもつ
光デイスクならびに記録によつて反射率変化が生
じる様な光デイスクに対しても十分安定なトラツ
キングが可能となる。
第１図は本発明に係るトラツキング装置を適用
した光デイスク用光学ヘツドの基本構成を示す説
明図、第２図は光デイスクへの入射レーザ光スポ
ツト位置と光検出器の検出素子配置と該検出素子
への反射光スポツト位置の関係を示す説明図、第
３図はフイードバツク制御用信号を得るための処
理を行なう回路の回路ブロツク図、第４図は信号
波形図、第５図はフイードバツク制御用信号を得
るための処理を行なう回路の他の例の回路ブロツ
ク図、第６図は信号波形図、第７図はデイスク基
板の一部斜視図、第８図はデイスク基板にレーザ
スポツトを照射した状態での一部平面図、第９図
ａはデイスク基板にレーザスポツトを照射した状
態での一部平面図、第９図ｂは検出器上での反射
光ビームの照射状態を示す説明図を示す。 図中、１：光デイスク、２：レーザ装置、３：
回折格子、４：ビームスプリツタ、５：対物レン
ズ、６：スポツトレンズ、７：シリンドリカルレ
ンズ、８：複合素子型光検出器、９：ローパスフ
イルター、１０：演算器、１１：スイツチング回
路、１２：ローパスフイルター、１３：演算器。
した光デイスク用光学ヘツドの基本構成を示す説
明図、第２図は光デイスクへの入射レーザ光スポ
ツト位置と光検出器の検出素子配置と該検出素子
への反射光スポツト位置の関係を示す説明図、第
３図はフイードバツク制御用信号を得るための処
理を行なう回路の回路ブロツク図、第４図は信号
波形図、第５図はフイードバツク制御用信号を得
るための処理を行なう回路の他の例の回路ブロツ
ク図、第６図は信号波形図、第７図はデイスク基
板の一部斜視図、第８図はデイスク基板にレーザ
スポツトを照射した状態での一部平面図、第９図
ａはデイスク基板にレーザスポツトを照射した状
態での一部平面図、第９図ｂは検出器上での反射
光ビームの照射状態を示す説明図を示す。 図中、１：光デイスク、２：レーザ装置、３：
回折格子、４：ビームスプリツタ、５：対物レン
ズ、６：スポツトレンズ、７：シリンドリカルレ
ンズ、８：複合素子型光検出器、９：ローパスフ
イルター、１０：演算器、１１：スイツチング回
路、１２：ローパスフイルター、１３：演算器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 予め光ビーム案内トラツクがプリフオーマツ
トされた光デイスクに光ビームスポツトの位置決
めを行なうトラツキング装置であつて、 主ビームと、主ビームによるスポツトの近傍に
２つのスポツトを結ぶ２つの補助ビームとを形成
する３ビーム形成手段と、 ２つの補助ビームによつて検出されるトラツク
誤差信号の低周波成分を主ビームのみによつて検
出されるトラツク誤差信号にフイードバツクせし
める回路手段と を具備したことを特徴とするトラツキング装置。 ２ 予め光ビーム案内トラツクがプリフオーマツ
トされた光デイスクに光ビームスポツトの位置決
めを行なうトラツキング装置であつて、 主ビームと、主ビームによるスポツトの近傍に
２つのスポツトを結ぶ２つの補助ビームとを形成
する３ビーム形成手段と、 ２つの補助ビームによつて検出されるトラツク
誤差信号と主ビームのみによつて検出されるトラ
ツク誤差信号との間の差動出力の低周波成分を主
ビームのみによつて検出されるトラツク誤差信号
にフイードバツクせしめる回路手段と を具備したことを特徴とするトラツキング装置。
Priority Applications (8)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24509585A JPS62103855A (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | トラツキング装置 |
| EP88120868A EP0324949B1 (en) | 1985-09-27 | 1986-09-20 | Tracking system for optical disc memory |
| DE8888120868T DE3687274T2 (de) | 1985-09-27 | 1986-09-20 | Spurnachlaufverfahren fuer optische speicherplatte. |
| DE8686113012T DE3672426D1 (de) | 1985-09-27 | 1986-09-20 | Spurnachlaufverfahren fuer eine optische speicherplatte. |
| EP86113012A EP0216341B1 (en) | 1985-09-27 | 1986-09-20 | Tracking system for optical disc memory |
| CA000518829A CA1284222C (en) | 1985-09-27 | 1986-09-23 | Tracking system for optical disc memory |
| US06/911,410 US4787076A (en) | 1985-09-27 | 1986-09-25 | Optical disc tracking system with switching of tracking error signals at boundary between track guide and track address |
| US08/289,565 US5412630A (en) | 1985-09-27 | 1994-08-12 | Tracking system for optical disc memory using tracking error signals from main beam and auxiliary beams |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24509585A JPS62103855A (ja) | 1985-10-30 | 1985-10-30 | トラツキング装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62103855A JPS62103855A (ja) | 1987-05-14 |
| JPH051534B2 true JPH051534B2 (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=17128530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24509585A Granted JPS62103855A (ja) | 1985-09-27 | 1985-10-30 | トラツキング装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62103855A (ja) |
-
1985
- 1985-10-30 JP JP24509585A patent/JPS62103855A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62103855A (ja) | 1987-05-14 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |