JPH05151296A - Logic inspecting device for circuit with memory and its method - Google Patents

Logic inspecting device for circuit with memory and its method

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JPH05151296A
JPH05151296A JP3310850A JP31085091A JPH05151296A JP H05151296 A JPH05151296 A JP H05151296A JP 3310850 A JP3310850 A JP 3310850A JP 31085091 A JP31085091 A JP 31085091A JP H05151296 A JPH05151296 A JP H05151296A
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JP
Japan
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circuit
memory
signal
level
logic
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Application number
JP3310850A
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Japanese (ja)
Inventor
Satoshi Tobinaga
聡 飛永
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NEC Solution Innovators Ltd
Original Assignee
NEC Software Hokuriku Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To accurately inspect logic for a circuit including a memory by com paring input data to memories with addresses when memories exist in respective circuits described at respectively different levels and evaluating the equivalency of the circuits. CONSTITUTION:In the case of inspecting the circuit logic equivalency of two memory-included circuits described by respectively different description methods, a level-A circuit dividing means 3 divides a circuit 1 designed and described at a level A and outputs level-A divided circuit information 5 and level-A I/O terminal information 6. A level B circuit dividing means 4 similarly outputs level-B divided circuit information 7 and level-B I/O terminal information 8. The information 5, 7 are respectively simulated by a level-A simulation means 10 and a level-B simulation means 11 based upon a test pattern 9. Finally the I/O terminals of the levels A, B are allowed to correspond to each other based upon the information 6, 8 and the contents of a signal name corresponding rule file 14 and the simulation results 12, 13 of the same signal are mutually compared by a result comparing means 15 to find out a compared result file 16.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】この発明は論理検証方式に関し、
特にメモリを含む回路の論理の等価性を検証する装置と
その方法に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION The present invention relates to a logic verification method,
In particular, the present invention relates to an apparatus and method for verifying logic equivalence of a circuit including a memory.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の論理検証方式は、異なる2レベル
の回路をレジスタやメモリの出力を切断独立して出力信
号と入力信号を生成させ、それぞれの出力信号のシュミ
レーション結果を比較していた。
2. Description of the Related Art In a conventional logic verification method, outputs of a register and a memory of different two-level circuits are cut independently to generate an output signal and an input signal, and a simulation result of each output signal is compared.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の論理検
証方式では、メモリが存在する回路の検証において、メ
モリの出力、つまりメモリから読出した状態値を比較し
ていた。
In the conventional logic verification method described above, in the verification of the circuit in which the memory exists, the output of the memory, that is, the state value read from the memory is compared.

【0004】そのため、異なる2つの回路の記述方法に
よっては、メモリの入力となるデータとアドレス信号の
関係の影響により、レーシング(2つ以上の信号が同時
に変化すると何方かの動作の早い方の素子が先に出て、
出力が一時的におかしくなること)して指定されたアド
レスに正確な状態値を書き込むことができなかったり、
読み出すことができなかったりして、擬似エラーを検出
してしまい。メモリが存在する回路の検証を正確に行う
ことができなかった。
Therefore, depending on the description method of two different circuits, due to the influence of the relationship between the data input to the memory and the address signal, racing (when two or more signals change at the same time, some element of the faster operation) Comes out first,
The output may be temporarily wrong) and the correct status value cannot be written to the specified address.
It could not be read, and a pseudo error was detected. The circuit in which the memory exists could not be accurately verified.

【0005】そこで、本発明は異なる2つのレベルで記
述されたメモリを含む回路の等価性を検証する場合に、
回路記述の違いによって発生するメモリの入力データと
アドレス信号のレーシングによる擬似エラーを防止し、
正確に回路の論理検証を行えるようにしたメモリ付回路
の論理検証装置を提供する
Therefore, the present invention is applicable to verifying the equivalence of a circuit including memories described at two different levels.
Prevents false errors due to memory input data and address signal racing caused by differences in circuit description.
To provide a logic verification device for a circuit with a memory that enables accurate logic verification of the circuit.

【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
の本発明の第一の解決手段は、異なる記述方法で記述さ
れた第一のメモリ付回路と第二のメモリ付回路との回路
論理等価性の検証を行うメモリ付論理回路の検証装置に
おいて、前記第一及び第二のメモリ付論理回路それぞれ
のメモリへの入力となるデータ信号とアドレス信号と制
御信号とを各々切断独立させて外部への出力信号とし、
メモリから読出したデータ信号を切断独立して外部から
の入力信号として、前記第一及び第二のメモリ付回路を
分割する回路分割手段と、前記回路分割手段により分割
して新たな回路とした前記第一のメモリ付回路と第二の
メモリ付回路を、信号テストパタンでシュミレーション
して各々のシュミレーション結果を出力するシュミレー
ション手段と、前記回路分割手段で作成された前記第一
および第二のメモリ付回路の出力信号の対応を、信号名
対応規則より対応付けを行い、前記シュミレーション手
段によって得られた回路の出力信号の第一及び第二シュ
ミレーション結果相互を比較してシュミレーション結果
の相違点を抽出する結果比較手段とから構成されること
を特徴とする。
A first solving means of the present invention for solving the above-mentioned problems is a circuit logic of a circuit with a first memory and a circuit with a second memory described by different description methods. In a verification device of a logic circuit with a memory for verifying equivalence, a data signal, an address signal, and a control signal which are inputs to the memories of the first and second logic circuits with a memory are cut off independently and externally. Output signal to
A circuit dividing means for dividing the data signal read out from the memory and independently dividing the data signal as an input signal from the outside, and dividing the first and second circuits with memory into a new circuit by the circuit dividing means. Simulation means for simulating the first memory-equipped circuit and the second memory-equipped circuit by a signal test pattern and outputting each simulation result, and the first and second memory-equipped circuits created by the circuit dividing means. Correspondences of the output signals of the circuits are correlated by the signal name correspondence rule, and the first and second simulation results of the output signals of the circuit obtained by the simulation means are compared with each other to extract the difference between the simulation results. And a result comparing means.

【0006】上記課題を解決するための本発明の第二の
解決手段は、異なる記述方法で記述された第一のメモリ
付回路と第二のメモリ付回路との回路論理等価性の検証
を行うメモリ付論理回路の検証方法において、前記第一
及び第二のメモリ付論理回路それぞれのメモリへの入力
となるデータ信号とアドレス信号と制御信号とを各々切
断独立させて外部への出力信号とし、メモリから読出し
たデータ信号を切断独立して外部からの入力信号とし
て、前記第一及び第二のメモリ付回路を分割する回路分
割ステップと、前記回路分割ステップにより分割して新
たな回路とした前記第一のメモリ付回路と第二のメモリ
付回路を、信号テストパタンでシュミレーションして各
々のシュミレーション結果を出力するシュミレーション
ステップと、前記回路分割ステップで作成された前記第
一および第二のメモリ付回路の出力信号の対応を、信号
名対応規則より対応付けを行い、前記シュミレーション
ステップによって得られた回路の出力信号の第一及び第
二シュミレーション結果相互を比較してシュミレーショ
ン結果の相違点を抽出する結果比較ステップとを含むこ
とを特徴とする。
A second solving means of the present invention for solving the above problem verifies the circuit logic equivalence between the first circuit with memory and the second circuit with memory described by different description methods. In the method of verifying a logic circuit with memory, the data signal, the address signal, and the control signal, which are the inputs to the memories of the first and second logic circuits with memory, are disconnected and independently output as output signals to the outside, A circuit dividing step of dividing the data signal read out from the memory independently as an input signal from the outside to divide the first and second circuits with memory, and a new circuit by dividing by the circuit dividing step. A simulation step of simulating the first circuit with memory and the second circuit with memory with a signal test pattern and outputting each simulation result; Correspondence between the output signals of the first and second circuits with a memory created in the dividing step is associated by a signal name correspondence rule, and the first and second output signals of the circuit obtained by the simulation step are associated. A result comparing step of comparing the simulation results with each other to extract a difference between the simulation results.

【0007】上記課題を解決するための本発明の第三の
解決手段は、前記第二の解決手段のメモリ付論理回路の
検証方法を外部記憶装置と、出力装置と、表示装置と、
入力装置と、中央処理装置とからなる情報処理装置によ
って実行されるようにしたことを特徴とする。
A third solving means of the present invention for solving the above-mentioned problem is to provide a method for verifying a logic circuit with a memory according to the second solving means, an external storage device, an output device, a display device,
It is characterized in that it is executed by an information processing device including an input device and a central processing unit.

【0008】[0008]

【実施例】以下、本発明の実施例について図面を参照し
ながら詳細に説明する。
Embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the drawings.

【0009】図1は本発明の一実施例を示すブロック図
で、レベルAで記述された回路とレベルBで記述された
回路についての論理検証を行う場合について説明する。
レベルAの回路分割手段3は、レベルAで設計記述され
た回路情報1を回路分割して、分割後のレベルAの回路
情報5と、レベルAの入力端子情報6とを各々出力す
る。また同様にレベルBの回路分割手段4は、レベルB
で記述された回路情報2を回路分割し、分割後のレベル
Bの分割回路情報7と、レベルBの入出力端子情報8と
を各々出力する。そして、分割後のレベルAの分割回路
情報5をレベルAのシュミレーション手段10でテスト
パタン9を用いてシュミレーションを行い、レベルAの
シュミレーション結果12を得る。同様に分割後のレベ
ルBの分割回路情報7をレベルBのシュミレーション手
段でシュミレーションを行いシュミレーション結果13
を得る。最後にレベルA,Bの入出力端子情報6,8と
信号名対応規則ファイル14より、レベルA,Bの入出
力端子の対応をとり、同一信号のシュミレーション結果
12,13を結果比較手段15で比較して結果比較ファ
イル16を求め、レベルAとレベルBとの回路の等価性
を検証する。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention. The case where logic verification is performed on a circuit described at level A and a circuit described at level B will be described.
The level A circuit dividing unit 3 divides the circuit information 1 designed and described in the level A into circuits, and outputs the level A circuit information 5 and the level A input terminal information 6 after the division. Similarly, the level B circuit dividing means 4
The circuit information 2 described in 1 is divided into circuits, and the divided circuit information 7 of level B after division and the input / output terminal information 8 of level B are respectively output. Then, the level A divided circuit information 5 after the division is simulated by the level A simulation means 10 using the test pattern 9 to obtain a level A simulation result 12. Similarly, the divided circuit information 7 of the level B after the division is simulated by the simulation means of the level B and the simulation result 13
To get Finally, from the input / output terminal information 6 and 8 of the levels A and B and the signal name correspondence rule file 14, the input / output terminals of the levels A and B are made to correspond, and the simulation results 12 and 13 of the same signal are made by the result comparison means 15. The result comparison file 16 is obtained by comparison, and the equivalence of the circuits of level A and level B is verified.

【0010】図2は本発明のレベルAの回路分割手段3
およびレベルBの回路分割手段4の処理フローチャート
図である。ステップ21で分割対象回路中の全素子につ
いて処理を行ったかを判定し、まだ処理していない場合
は、ステップ22で対象の素子がレジスタかどうか判定
する。対象の素子がレジスタの場合は、ステップ29で
レジスタの出力信号を切断独立させて、レジスタの出力
を出力端子に設定する。
FIG. 2 shows the level A circuit dividing means 3 of the present invention.
7 is a processing flowchart of the circuit dividing means 4 of level B. FIG. In step 21, it is judged whether or not all the elements in the division target circuit have been processed. If not, in step 22, it is judged whether or not the target element is a register. When the target element is a register, the output signal of the register is disconnected and independent in step 29, and the output of the register is set to the output terminal.

【0011】ステップ210では、入力端子を設定して
レジスタの出力先の信号と接続する。これとは別に、ス
テップ22で判定した素子がレジスタでない場合は、ス
テップ23でその素子がメモリか否かを判定し、メモリ
の場合はステップ24でメモリの入力データとなる信号
を切断独立させて出力端子に設定し、ステップ25でメ
モリのアドレスデータとなる信号を切断独立させて出力
端子に設定し、ステップ26でメモリの制御信号を切断
独立させて出力端子へ設定する。ステップ27ではメモ
リの出力信号を切断独立し、ステップ28で入力端子を
設定しメモリの出力先へ接続する。
In step 210, the input terminal is set and connected to the signal of the output destination of the register. Separately, if the element determined in step 22 is not a register, it is determined in step 23 whether or not the element is a memory, and if it is a memory, the signal to be the input data of the memory is disconnected and independent in step 24. In step 25, the signal which becomes the address data of the memory is disconnected and set as the output terminal, and in step 26, the control signal of the memory is disconnected and set as the output terminal. In step 27, the output signal of the memory is cut off independently, and in step 28, the input terminal is set and connected to the output destination of the memory.

【0012】ステップ211で新しく設定した入力端子
と出力端子を入出力端子情報ファイルへ出力する。全素
子について処理が終了した場合は、ステップ212で分
割した回路情報をファイルへ出力する。
In step 211, the newly set input terminal and output terminal are output to the input / output terminal information file. When the processing is completed for all the elements, the circuit information divided in step 212 is output to a file.

【0013】次に本発明を適用した具体例について説明
する。図3は論理検証する回路で、図3(1)がレベル
Aで記述した回路、図3(2)がレベルBで記述した回
路である。図4(1)はレベルAの回路を分割した回路
で、図4(2)は回路分割によって設定されたレベルA
の入出力端子情報である。図5(1)はレベルBの回路
を分割した回路で、図5(2)は回路分割によって設定
されたレベルBの入出力端子情報である。図6は信号名
対応規則ファイルである。
Next, a specific example to which the present invention is applied will be described. FIG. 3 shows a circuit for logic verification. FIG. 3 (1) shows a circuit described at level A, and FIG. 3 (2) shows a circuit described at level B. FIG. 4 (1) is a circuit obtained by dividing the level A circuit, and FIG. 4 (2) is a level A set by circuit division.
Input / output terminal information of. 5 (1) shows a circuit obtained by dividing the level B circuit, and FIG. 5 (2) shows level B input / output terminal information set by the circuit division. FIG. 6 shows a signal name correspondence rule file.

【0014】先ず、レベルAで記述された回路情報図3
(1)について回路分割を行う。レジスタDFF(図3
(1)の識別名30参照)を切断独立させて出力端子を
設定し、信号名DFF_O(図4(1)の識別名40参
照)とする。また、入力端子を設定し、信号名DFF
(図4(1)の識別名41参照)とする。次にメモリD
MEM(図3(1)の識別名31参照)について、入力
データ信号DATAを切断独立させて出力端子へ接続
し、アドレス信号ADRも切断独立させて出力端子へ接
続する。そして、制御信号Cも切断するが、制御信号C
は入力信号であるため、出力信号C_Oを挿入して信号
CをC_Oの入力とし、C_Oを出力端子(図4(1)
の識別名42参照)へ接続する。また、入力端子を設定
して信号名を元のメモリの信号名DMEM(図4(1)
の識別名43参照)にする。また、回路分割によって新
しく設定した入出力端子情報図4(2)を出力する。
First, FIG. 3 of the circuit information described in level A
Circuit division is performed for (1). Register DFF (Fig. 3
The output terminal is set by disconnecting (see the identification name 30 of (1)) independently to obtain the signal name DFF_O (see the identification name 40 of FIG. 4A). Also, set the input terminal, signal name DFF
(See the identification name 41 in FIG. 4 (1)). Next memory D
Regarding the MEM (see the identification name 31 in FIG. 3A), the input data signal DATA is disconnected and connected to the output terminal, and the address signal ADR is also disconnected and connected to the output terminal. Then, although the control signal C is also disconnected, the control signal C
Is an input signal, the output signal C_O is inserted, the signal C is input to C_O, and C_O is an output terminal (see FIG. 4 (1)).
(See the identification name 42 of the above). In addition, by setting the input terminal and setting the signal name to the original memory signal name DMEM (Fig. 4 (1)
43). Further, the input / output terminal information shown in FIG. 4 (2) newly set by circuit division is output.

【0015】レベルBで記述された回路情報図3(2)
についても同様に回路分割を行い。レジスタR1の出力
信号であるDFF+00を切断独立させて出力端子を設
定し、信号名をDFF_O+00(図5(1)参照)と
する。また、入力端子を設定し、切断前のレジスタR1
の出力素子G4へ接続し、信号名をDFF+00とす
る。次にメモリM1の入力データである信号DATA+
00を切断独立させて新しく設定した出力端子へ接続す
る。アドレス信号ADR(0)+00,ADR(1)+
00についても切断し、新しく設定した出力端子へそれ
ぞれ接続する。メモリM1の制御信号C+00について
も切断独立させて出力端子へ出力する。このとき、C+
00は入力信号であるので、AND論理素子G5を挿入
してG5の入力信号へ接続し、G5の出力C_O+00
を出力端子へ接続する。またメモリM1の出力信号を切
断し、新しく設定した入力端子からメモリM1の出力先
である論理素子G4へ接続し、信号名をDMEM+00
とする。そして、回路分割によって新しく設定した入出
力端子情報図5(2)を出力する。
Circuit information described in level B FIG. 3 (2)
Similarly, the circuit division is performed. The output signal DFF + 00 of the register R1 is disconnected and set independently to set the output terminal, and the signal name is set to DFF_O + 00 (see FIG. 5 (1)). Also, set the input terminal, register R1 before disconnection
The output element G4 is connected to the output element G4 and the signal name is DFF + 00. Next, the signal DATA + which is the input data of the memory M1
00 is disconnected and connected to the newly set output terminal. Address signal ADR (0) +00, ADR (1) +
00 is also disconnected and connected to the newly set output terminals. The control signal C + 00 of the memory M1 is also disconnected and output independently to the output terminal. At this time, C +
Since 00 is an input signal, an AND logic element G5 is inserted and connected to the input signal of G5, and the output of G5 is C_O + 00.
To the output terminal. Further, the output signal of the memory M1 is disconnected, the newly set input terminal is connected to the logic element G4 which is the output destination of the memory M1, and the signal name is DMEM + 00.
And Then, the input / output terminal information shown in FIG. 5B newly set by the circuit division is output.

【0016】回路分割したレベルAの回路情報図4
(1)とレベルBの回路情報図5(1)について、入力
端子に同一テストパタンを設定して、シュミレーション
を行い、各回路の出力端子のシュミレーション結果を得
る。
Circuit information of level A after circuit division FIG.
Circuit information of (1) and level B In FIG. 5 (1), the same test pattern is set to the input terminal, simulation is performed, and the simulation result of the output terminal of each circuit is obtained.

【0017】信号対応規則図6は、レベルAとレベルB
との信号の対応規則が記述されており、レベルBの信号
名の中で、添字情報を含めて1文字目から符号’+’ま
での文字列がレベルAの信号名と一致する規則を示して
いる。
Signal Correspondence Rule FIG. 6 shows level A and level B.
The signal correspondence rule between and is described. In the signal name of level B, the character string from the first character to the code "+" including the subscript information indicates the rule that the signal name of level A matches. ing.

【0018】この信号対応規則ファイル図6とレベルA
とレベルBとの入出力端子情報図4(2)と図5(2)
より、DFF_OとDFF_O+00、DATAとDA
TA+00、ADR(0)とADR(0)+00、AD
R(1)とADR(1)+00、C_OとC_O+00
とが対応することを結果比較ファイル16によって知る
ことができ、回路動作による等価性を検証することがで
きる。
This signal correspondence rule file FIG. 6 and level A
Input / output terminal information for level and level B Figure 4 (2) and Figure 5 (2)
From DFF_O and DFF_O + 00, DATA and DA
TA + 00, ADR (0) and ADR (0) +00, AD
R (1) and ADR (1) +00, C_O and C_O + 00
It can be known from the result comparison file 16 that and correspond to each other, and the equivalence by the circuit operation can be verified.

【0019】[0019]

【発明の効果】以上説明したように本発明は、回路中に
メモリが存在した場合に、メモリの出力を比較するので
はなく、メモリの入力データとアドレスを比較して回路
の等価性を検証する。従って回路記述の違いによって発
生するメモリのデータとアドレスのレーシングを気にす
ることがなく、正確にメモリを含む回路の論理検証を行
うことができる。
As described above, according to the present invention, when a memory exists in a circuit, the output of the memory is not compared but the input data of the memory is compared with the address to verify the equivalence of the circuit. To do. Therefore, it is possible to accurately perform the logic verification of the circuit including the memory without paying attention to the memory data and address racing generated by the difference in the circuit description.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例を示すブロック図。FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the present invention.

【図2】本発明の回路分割処理を示すフローチャート
図。
FIG. 2 is a flowchart showing a circuit division process of the present invention.

【図3】本発明の適用例を示す回路記述情報。FIG. 3 is circuit description information showing an application example of the present invention.

【図4】レベルAで記述された回路分割後の回路記述情
報を示す図。
FIG. 4 is a diagram showing circuit description information after circuit division described in level A.

【図5】レベルBで記述された回路分割後の回路記述情
報を示す図。
FIG. 5 is a diagram showing circuit description information after the circuit division described in level B.

【図6】レベルAとレベルBとの信号名対応規則ファイ
ルを示す図。
FIG. 6 is a diagram showing a signal name correspondence rule file for level A and level B.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 レベルAの回路情報 2 レベルBの回路情報 3 レベルAの回路分割手段 4 レベルBの回路分割手段 5 レベルAの分割回路情報 6 レベルAの入出力端子情報 7 レベルBの分割回路情報 8 レベルBの入出力端子情報 9 テストパタン 10 レベルAのシュミレーション手段 11 レベルBのシュミレーション手段 12 レベルAのシュミレーション結果 13 レベルBのシュミレーション結果 14 信号名対応規則ファイル 15 結果比較手段 16 結果比較ファイル 1 level A circuit information 2 level B circuit information 3 level A circuit dividing means 4 level B circuit dividing means 5 level A dividing circuit information 6 level A input / output terminal information 7 level B dividing circuit information 8 levels Input / output terminal information of B 9 Test pattern 10 Simulation means of level A 11 Simulation means of level B 12 Simulation result of level A 13 Simulation result of level B 14 Signal name correspondence rule file 15 Result comparison means 16 Result comparison file

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】異なる記述方法で記述された第一のメモリ
付回路と第二のメモリ付回路との回路論理等価性の検証
を行うメモリ付論理回路の検証装置において、 前記第一及び第二のメモリ付論理回路それぞれのメモリ
への入力となるデータ信号とアドレス信号と制御信号と
を各々切断独立させて外部への出力信号とし、メモリか
ら読出したデータ信号を切断独立して外部からの入力信
号として、前記第一及び第二のメモリ付回路を分割する
回路分割手段と、 前記回路分割手段により分割して新たな回路とした前記
第一のメモリ付回路と第二のメモリ付回路を、信号テス
トパタンでシュミレーションして各々のシュミレーショ
ン結果を出力するシュミレーション手段と、 前記回路分割手段で作成された前記第一および第二のメ
モリ付回路の出力信号の対応を、信号名対応規則より対
応付けを行い、前記シュミレーション手段によって得ら
れた回路の出力信号の第一及び第二シュミレーション結
果相互を比較してシュミレーション結果の相違点を抽出
する結果比較手段とから構成されることを特徴とするメ
モリ付回路の論理検証装置。
1. A verification device for a logic circuit with a memory, which verifies circuit logic equivalence between a circuit with a first memory and a circuit with a second memory, which are described by different description methods. Of the logic circuit with memory, the data signal, the address signal, and the control signal, which are input to each memory, are disconnected and made into output signals to the outside, and the data signals read from the memory are disconnected and input from the outside independently. As a signal, a circuit dividing unit that divides the first and second memory-equipped circuits, the first memory-equipped circuit and the second memory-equipped circuit that are divided into new circuits by the circuit dividing unit, Simulation means for simulating with a signal test pattern and outputting each simulation result, and outputs of the first and second memory-equipped circuits created by the circuit dividing means The result comparing means extracts the difference between the simulation results by comparing the first and second simulation results of the output signals of the circuit obtained by the simulation means with each other by corresponding the signal name correspondence rule. A logic verification device for a circuit with a memory, comprising:
【請求項2】異なる記述方法で記述された第一のメモリ
付回路と第二のメモリ付回路との回路論理等価性の検証
を行うメモリ付論理回路の検証方法において、 前記第一及び第二のメモリ付論理回路それぞれのメモリ
への入力となるデータ信号とアドレス信号と制御信号と
を各々切断独立させて外部への出力信号とし、メモリか
ら読出したデータ信号を切断独立して外部からの入力信
号として、前記第一及び第二のメモリ付回路を分割する
回路分割ステップと、 前記回路分割ステップにより分割して新たな回路とした
前記第一のメモリ付回路と第二のメモリ付回路を、信号
テストパタンでシュミレーションして各々のシュミレー
ション結果を出力するシュミレーションステップと、 前記回路分割ステップで作成された前記第一および第二
のメモリ付回路の出力信号の対応を、信号名対応規則よ
り対応付けを行い、前記シュミレーションステップによ
って得られた回路の出力信号の第一及び第二シュミレー
ション結果相互を比較してシュミレーション結果の相違
点を抽出する結果比較ステップとを含むことを特徴とす
るメモリ付回路の論理検証方法。
2. A method for verifying a logic circuit with a memory, which verifies circuit logic equivalence between a circuit with a first memory and a circuit with a second memory, which are described by different description methods. Of the logic circuit with memory, the data signal, the address signal, and the control signal, which are input to each memory, are disconnected and made into output signals to the outside, and the data signals read from the memory are disconnected and input from the outside independently. As a signal, a circuit dividing step of dividing the first and second memory-equipped circuits, the first memory-equipped circuit and the second memory-equipped circuit that are divided into new circuits by the circuit division step, A simulation step of simulating with a signal test pattern and outputting each simulation result, and the first and second memories created in the circuit dividing step. Correspondence of the output signal of the circuit with the circuit is made to correspond from the signal name correspondence rule, the first and second simulation results of the output signal of the circuit obtained by the simulation step are compared with each other to determine the difference in the simulation result. A logic verification method for a circuit with a memory, comprising: a result comparing step of extracting.
【請求項3】外部記憶装置と、出力装置と、表示装置
と、入力装置と、中央処理装置とからなる情報処理装置
によって実行されるようにしたことを特徴とする請求項
2記載のメモリ付回路の論理検証方法。
3. The memory-equipped device according to claim 2, wherein the information processing device comprises an external storage device, an output device, a display device, an input device, and a central processing unit. Circuit logic verification method.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2002202948A (en) * 2000-12-28 2002-07-19 Mega Chips Corp Data transfer circuit and data transfer method
JP2015055899A (en) * 2013-09-10 2015-03-23 株式会社東芝 Verification device of semiconductor integrated circuit, verification method of semiconductor integrated circuit, and program

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