JPH04344571A - Logic verifying device - Google Patents

Logic verifying device

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Publication number
JPH04344571A
JPH04344571A JP3116455A JP11645591A JPH04344571A JP H04344571 A JPH04344571 A JP H04344571A JP 3116455 A JP3116455 A JP 3116455A JP 11645591 A JP11645591 A JP 11645591A JP H04344571 A JPH04344571 A JP H04344571A
Authority
JP
Japan
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signal
fixed
information
input
logic
Prior art date
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Pending
Application number
JP3116455A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Junko Terai
寺井 順子
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NEC Solution Innovators Ltd
Original Assignee
NEC Software Hokuriku Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To shorten time taken for verifying logic by aiming at a logic signal whose value has not varied throughout the first simulation, selecting an input signal pattern capable of varying the value of the logic signal, and sending out this pattern to a simulation device. CONSTITUTION:A fixed signal detecting means 1 detects in a signal state value information 5 a fixed signal whose logic value has not varied during simulation, and outputs the fixed signal as fixed signal information 7. Next, a fixed correlated signal retrieval means 2 with the aid of fixed signal information 7 and circuit information 11 about logic circuit model sequentially retrieves signals correlated with the fixed signal at the input side, and prepares fixed correlated signal information 8 that is an input signal that affects the fixed signal. Next, an activating pattern generating means 3 with the aid of fixed signal information 7 and fixed correlated signal information 8 examines an input pattern the can vary the value of fixed signal information and outputs the input pattern to a simulation device 4. Further, the simulation device 4 uses information 8 and activated pattern 9 to carry out simulation again.

Description

【発明の詳細な説明】[Detailed description of the invention]

【0001】0001

【産業上の利用分野】本発明は論理検証装置に関し、特
に論理回路モデルをシミュレーションした後で、論理回
路の設計誤まりを検証するために用いられる論理検証装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a logic verification device, and more particularly to a logic verification device used to verify design errors in a logic circuit after simulating a logic circuit model.

【0002】0002

【従来の技術】従来、論理回路のシミュレーション後に
行われる論理検証は、論理検証装置が、シミュレーショ
ン装置から出力された情報に基づいて、その論理回路に
設計誤りが含まれているか否かを検証していた。そして
、その論理回路に設計誤りが含まれている可能性のある
部分が検出されたときには、結果をシミュレーション装
置に送り、シミュレーション装置で再度その回路部分に
、設定し得る全パターンを入力してシミュレーションを
行っていた。
[Background Art] Conventionally, in logic verification performed after simulating a logic circuit, a logic verification device verifies whether or not the logic circuit contains a design error based on information output from a simulation device. was. When a part of the logic circuit that may contain a design error is detected, the results are sent to the simulation device, and the simulation device re-inputs all possible patterns into that circuit part to simulate it. was going on.

【0003】0003

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の論理回
路の論理検証は、論理検証装置で論理回路に設計誤りが
含まれている可能性のある部分が検出されたときに、そ
の結果をシミュレーション装置に送るとともに、その部
分のシミュレーションを再度行うときにその部分に対す
る入力信号として、考えられる全ての入力パターンを設
定しシミュレーション装置に送出し、シミュレーション
装置で再度その部分のシミュレーションを行わなければ
ならず、論理検証に時間がかかるという欠点を有してい
た。
[Problems to be Solved by the Invention] In the conventional logic verification of the logic circuit described above, when a logic verification device detects a part that may contain a design error in the logic circuit, the result is simulated. In addition to sending the data to the simulation device, when simulating that part again, all possible input patterns must be set and sent to the simulation device as input signals for that part, and the simulation device must simulate that part again. However, it has the disadvantage that logic verification takes time.

【0004】本発明の目的は、論理回路の再度のシミュ
レーションが行われるとき、再度のシミュレーションの
対象となる論理回路の部分について、考えられる全ての
入力パターンを設定しなくても、設計誤りを検出できる
シミュレーションを実行させることができる論理検証装
置を提供することにある。
[0004] An object of the present invention is to detect design errors without having to set all possible input patterns for the part of the logic circuit to be simulated again when a logic circuit is simulated again. An object of the present invention is to provide a logic verification device that can perform simulations that can be performed.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明の論理検証装置は
、(A)シミュレーションの結果、論理回路の全ての信
号の論理値がどのように変化するかを示す信号状態値情
報を入力され、前記信号状態値情報の中から前記シミュ
レーション中に論理値が変化せず固定状態を保持したま
まの信号である固定信号を検出し固定信号情報として出
力する固定信号検出手段、(B)前記固定信号検出手段
によって作成される固定信号情報と論理回路モデルの回
路情報とから、前記固定信号に関連する信号を入力側で
順次検索し、固定信号に影響を及ぼす入力信号である固
定関連信号情報を作成する固定関連信号検索手段、(C
)前記固定信号検出手段によって作成される固定信号情
報と、前記論理回路モデルの回路情報と、全素子の機能
を入出力パターンの組み合せとして持つ素子機能パター
ン情報と、前記固定関連信号検索手段によって作成され
る固定関連信号情報とを基に、固定信号情報の値を変化
させることができる入力パターンを調べ出力する活性化
パターン発生手段、を備えて構成されている。
[Means for Solving the Problems] The logic verification device of the present invention is provided with: (A) signal state value information indicating how the logic values of all signals of a logic circuit change as a result of simulation; fixed signal detection means for detecting a fixed signal, which is a signal whose logical value does not change during the simulation and maintains a fixed state, from among the signal state value information and outputting it as fixed signal information; (B) the fixed signal; From the fixed signal information created by the detection means and the circuit information of the logic circuit model, signals related to the fixed signal are sequentially searched on the input side, and fixed related signal information that is an input signal that affects the fixed signal is created. fixed related signal retrieval means, (C
) Fixed signal information created by the fixed signal detection means, circuit information of the logic circuit model, element function pattern information having the functions of all elements as a combination of input/output patterns, and created by the fixed related signal search means. and activation pattern generating means for examining and outputting an input pattern that can change the value of the fixed signal information based on the fixed related signal information.

【0006】[0006]

【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
Embodiments Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.

【0007】図1は本発明の論理検証装置の一実施例を
示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of the logic verification device of the present invention.

【0008】図1に示す本実施例の論理検証装置は、シ
ミュレーションの結果、論理回路の全ての信号の論理値
がどのように変化するかを示す信号状態値情報5を入力
され、信号状態値情報5の中からシミュレーション中に
論理値が変化せず固定状態を保持したままの信号である
固定信号を検出し固定信号情報7として出力する固定信
号検出手段1、固定信号検出手段1によって作成される
固定信号情報7と論理回路モデルの回路情報11とから
、固定信号に関連する信号を入力側で順次検索し、固定
信号に影響を及ぼす入力信号である固定関連信号情報8
を作成する固定関連信号検索手段2、固定信号検出手段
1によって作成される固定信号情報7と、論理回路モデ
ルの回路情報11と、全素子の機能を入出力パターンの
組み合せとして持つ素子機能パターン情報12と、固定
関連信号検索手段2によって作成される固定関連信号情
報8とを基に、固定信号情報7の値を変化させることが
できる入力パターンを調べ出力する活性化パターン発生
手段3から構成されている。
The logic verification device of this embodiment shown in FIG. 1 receives signal state value information 5 indicating how the logical values of all the signals of the logic circuit change as a result of simulation, and calculates the signal state values. The fixed signal detection means 1 detects a fixed signal, which is a signal whose logical value does not change during simulation and maintains a fixed state, from the information 5 and outputs it as fixed signal information 7. Signals related to the fixed signal are sequentially searched on the input side from the fixed signal information 7 and the circuit information 11 of the logic circuit model, and the fixed related signal information 8 which is the input signal that affects the fixed signal is searched.
fixed signal information 7 created by the fixed signal detection means 1, circuit information 11 of the logic circuit model, and element function pattern information having the functions of all elements as a combination of input and output patterns. 12 and the fixed related signal information 8 created by the fixed related signal search means 2, the activation pattern generating means 3 examines and outputs an input pattern that can change the value of the fixed signal information 7. ing.

【0009】次に、動作を説明する。Next, the operation will be explained.

【0010】本実施例の論理検証装置による検証の対象
の論理回路の一例を示す図である。図2(a)及び図2
(b)に示される回路図は、それぞれ本実施例の論理検
証装置による検証の対象の論理回路の一例である。
[0010] FIG. 1 is a diagram showing an example of a logic circuit to be verified by the logic verification device of this embodiment. Figure 2(a) and Figure 2
The circuit diagrams shown in (b) are examples of logic circuits to be verified by the logic verification device of this embodiment.

【0011】図2において、a〜fは、それぞれ素子を
示しており、また、A〜H,P〜Sは、素子間に接続さ
れる信号を示している。
In FIG. 2, a to f indicate elements, and A to H and P to S indicate signals connected between the elements.

【0012】いま、シミュレーション装置4により、図
2に示される論理回路をシミュレーションした場合につ
いて、図1の論理検証装置の動作を説明する。
Now, the operation of the logic verification device shown in FIG. 1 will be described when the logic circuit shown in FIG. 2 is simulated by the simulation device 4.

【0013】図1において、図2に示される論理回路が
シミュレーションされた結果、信号状態値情報5がシミ
ュレーション装置4から固定信号検出手段1に出力され
る。
In FIG. 1, as a result of simulating the logic circuit shown in FIG. 2, signal state value information 5 is output from the simulation device 4 to the fixed signal detection means 1.

【0014】信号状態値情報5には、図3に示すように
、論理回路中の全ての信号が取った状態値が入力パター
ンごとに保持されており、例えば“P(0,0,0,…
…,0)”の最初の“0”は、信号Pが1パターン目を
設定してシミュレーションを行ったときの状態値であり
、次の“0”は、2パターン目を設定してシミュレーシ
ョンを行ったときの状態値である。このように、シミュ
レーションの中で設定された各入力パターンによりシミ
ュレーションを行ったときに、入力パターンに対応した
状態値が保持されている。他の信号についても同様であ
る。
As shown in FIG. 3, the signal state value information 5 holds the state values taken by all the signals in the logic circuit for each input pattern. For example, "P(0, 0, 0, …
..., 0)" is the state value when the signal P sets the first pattern and performs the simulation, and the next "0" is the state value when the signal P sets the second pattern and performs the simulation. This is the state value when the input pattern is set in the simulation.In this way, when the simulation is performed using each input pattern set in the simulation, the state value corresponding to the input pattern is held.The same goes for other signals. It is.

【0015】固定信号検出手段1は、信号状態値情報5
に基づき、シミュレーション結果である状態値が、設定
した全パターンを通じて変化しなかった信号名とその状
態値とを示す固定信号情報7を作成し出力する。すなわ
ち、信号状態値情報5の中の“P(0,0,0,……,
0)”より、信号Pについては状態値が“0”のみであ
ることを認識し、また“Q(1,1,0,……,0)”
より、信号Qについては状態値が“0”と“1”との両
方を取っていることを認識する。さらに、“R(1,1
,1,……,1)”より、信号Rについては状態値が“
1”のみであることを認識し、また“S(0,1,0,
……,1)”より、信号Sについては状態値が“0”と
“1”との両方を取っていることを認識する。 そして、固定信号情報7として“P(0)”,“R(1
)”を作成する。この固定信号情報7の中の“P(0)
”は、信号Pの状態値が“0”で固定されていることを
示し、“R(1)”は、信号Rの状態値が“1”で固定
されていることを示す。
Fixed signal detection means 1 detects signal state value information 5.
Based on this, fixed signal information 7 indicating the signal name and its state value whose state value, which is a simulation result, did not change throughout all the set patterns is created and output. That is, “P(0, 0, 0, ...,
0)”, it is recognized that the state value of signal P is only “0”, and “Q(1, 1, 0, ..., 0)”
Therefore, it is recognized that the state value of the signal Q is both "0" and "1". Furthermore, “R(1,1
, 1, ..., 1)", the state value for signal R is "
1”, and also recognizes that “S(0, 1, 0,
..., 1)", it is recognized that the state value of the signal S is both "0" and "1". Then, as the fixed signal information 7, "P(0)", "R (1
)” in this fixed signal information 7.
” indicates that the state value of signal P is fixed at “0”, and “R(1)” indicates that the state value of signal R is fixed at “1”.

【0016】そして、固定関連信号検索手段2は、固定
信号情報7の中の“P(0)”,“R(1)”のそれぞ
れについて、図2の回路モデル中の全信号と素子の接続
関係を示す、図4の回路情報11を用いて、入力側を順
次検索し、固定信号情報7中の“P(0)”,“R(1
)”のそれぞれに影響を及ぼす入力側の信号を示す、図
5の固定関連信号情報8を作成する。
The fixed related signal search means 2 searches for all signals and element connections in the circuit model of FIG. 2 for each of "P(0)" and "R(1)" in the fixed signal information 7. The input side is sequentially searched using the circuit information 11 shown in FIG.
)", the fixed related signal information 8 shown in FIG.

【0017】すなわち、図4の“a−P,S−D,E”
は、素子aに信号D、信号Eが入力され、信号P,信号
Sが出力されることを示しているので、回路情報11中
の“a−P,S−D,E”から、信号Pに関連する入力
信号として信号D,信号Eが得られ、さらに信号Dを基
に回路情報11中の“b−D−A,B”から、信号Dに
関連する入力信号として入力信号A,信号Bが得られる
。また、信号Eを基に回路情報11を検索し、回路情報
11中の“c−E−C”により、信号Eに関連する入力
信号として入力信号Cが得られる。このようにして、状
態値が固定であった信号Pに影響を及ぼす入力信号とし
て、入力信号A,B,Cが得られ、“P−A,B,C”
という固定関連信号情報8が作成され出力される。
That is, "a-P, S-D, E" in FIG.
indicates that signal D and signal E are input to element a, and signal P and signal S are output, so from "a-P, S-D, E" in circuit information 11, signal P Signal D and signal E are obtained as input signals related to signal D, and based on signal D, input signal A and signal E are obtained as input signals related to signal D from "b-D-A, B" in circuit information 11. B is obtained. Further, the circuit information 11 is searched based on the signal E, and the input signal C is obtained as an input signal related to the signal E by "c-E-C" in the circuit information 11. In this way, input signals A, B, and C are obtained as input signals that influence signal P whose state value is fixed, and "P-A, B, C"
Fixed related signal information 8 is created and output.

【0018】同様に、状態値が固定であった信号Rに影
響を及ぼす入力信号として、入力信号F,信号Gが得ら
れ、“R−F,G”という固定関連信号情報8が作成さ
れ出力される。
Similarly, input signals F and G are obtained as input signals that affect signal R whose state value is fixed, and fixed related signal information 8 called "R-F, G" is created and output. be done.

【0019】ここで、図6に示す素子機能パターン情報
12は、全素子の機能を入出力パターンの組み合せとし
て保持しており、図6の素子機能パターン情報12中の
“a・01*00”は、素子aの出力パターンが“0”
,“1”を取るときの入力パターンは“0”,“0”で
あることを示し、回路情報11と組み合せて参照するこ
とにより、入力信号と出力信号の状態値の組み合せがわ
かる。
Here, the element function pattern information 12 shown in FIG. 6 holds the functions of all elements as a combination of input and output patterns, and "a・01*00" in the element function pattern information 12 of FIG. , the output pattern of element a is “0”
, "1" indicates that the input pattern is "0", "0", and by referring to it in combination with the circuit information 11, the combination of the state values of the input signal and the output signal can be found.

【0020】活性化パターン発生手段3は、回路情報1
1、素子機能パターン情報及び固定関連信号情報8に基
づき、固定信号情報7中の“P(0)”,“R(1)”
で示される信号P,Rの状態値が、それぞれ“1”,“
0”となるような入力パターンを順次検索し、図7に示
す固定信号情報に設定する活性化パターン9を作成し出
力する。
The activation pattern generating means 3 generates circuit information 1
1. “P(0)” and “R(1)” in fixed signal information 7 based on element function pattern information and fixed related signal information 8
The state values of signals P and R indicated by “1” and “
0'' is sequentially searched for, and an activation pattern 9 to be set as the fixed signal information shown in FIG. 7 is created and output.

【0021】すなわち、固定信号情報7中の“P(0)
”に着目し、回路情報11中の“a−P,S−D,E”
により、固定信号である信号Pは、素子aの出力信号で
あり、関連する入力信号は信号D,Eであることがわか
る。また、信号Pの状態値は“0”に固定されているこ
とを基に、信号Pの状態値が“1”となるような素子a
の入力パターンを検索する。すなわち、素子機能パター
ン情報12中の“a・10*11”より、信号Pの状態
値を“1”とするためには、素子aの入力信号である信
号D,Eにそれぞれ状態値“1”,“1”を設定すれば
よいことがわかる。
In other words, “P(0)” in the fixed signal information 7
”, and “a-P, S-D, E” in circuit information 11.
Therefore, it can be seen that the signal P, which is a fixed signal, is the output signal of the element a, and the related input signals are the signals D and E. Also, based on the fact that the state value of the signal P is fixed to "0", the element a whose state value of the signal P becomes "1" is
Search for input patterns. That is, from "a・10*11" in the element function pattern information 12, in order to set the state value of the signal P to "1", the state value "1" must be set for each of the signals D and E, which are the input signals of the element a. ”, “1” should be set.

【0022】さらに、信号D,Eの状態値がそれぞれ“
1”,“1”となるためには、信号D,Eの入力側の関
連信号にどのような状態値の組み合せを設定すればよい
かを検索する。すなわち、回路情報11中の“b−D−
A,B”により、信号Dは素子bの出力信号であり、関
連する入力信号は、信号A,Bであることが得られる。 また、信号Dの状態値が“1”となるような素子bの入
力パターンは、素子機能パターン情報12中の“b・1
*11”より、素子bの入力信号である信号A,Bにそ
れぞれ状態値“1”,“1”を設定すればよいことがわ
かる。
Furthermore, the state values of the signals D and E are “
1", "1", what kind of combination of state values should be set for the related signals on the input side of the signals D, E is searched. In other words, "b--" in the circuit information 11. D-
A, B'', it can be obtained that the signal D is the output signal of the element b, and the related input signals are the signals A and B. Also, it can be obtained that the signal D is the output signal of the element b, and the related input signals are the signals A and B. The input pattern of b is "b・1" in the element function pattern information 12.
*11", it can be seen that the state values "1" and "1" should be set to the signals A and B, which are the input signals of the element b, respectively.

【0023】また、回路情報11中の“c−E−C”に
より、信号Eは素子cの出力信号であり、関連する入力
信号は、信号C,Bであることが得られ、信号Eの状態
値“1”となるような素子cの入力パターンは、素子機
能パターン情報12中の“c・1*10”より、素子c
の入力信号である信号Cに状態値“0”を設定すればよ
いことがわかる。
Furthermore, from "c-E-C" in the circuit information 11, it is found that the signal E is the output signal of the element c, and the related input signals are the signals C and B. The input pattern for element c that results in a state value of "1" is based on "c・1*10" in the element function pattern information 12.
It can be seen that it is sufficient to set the state value "0" to the signal C, which is the input signal of .

【0024】ここで、固定関連信号情報8中の“P−A
,B,C”を用いると、信号Pに影響を及ぼす信号は、
信号A,B,Cであることがわかるので、この段階で入
力側への検索処理を終了する。このようにして、状態値
が“0”に固定された状態にある信号Pの状態値を“1
”にするためには、信号Pに関連する入力信号である信
号A,B,Cにそれぞれ状態値“1”,“1”,“0”
を設定することを示す“(A,B,C)=(1,1,0
)”という活性化パターン9を作成する。同様に、状態
値が“1”に固定された状態にある信号Rの状態値を“
0”にするためには、信号Rに関連する入力信号である
信号F,Gにそれぞれ状態値“0”,“0”を設定する
ことを示す“(F,G)=(G,0)”という活性化パ
ターン9を作成する。
Here, “P-A” in the fixed related signal information 8
,B,C'', the signal that affects signal P is
Since it is found that the signals are A, B, and C, the search process for the input side is ended at this stage. In this way, the state value of the signal P whose state value is fixed at "0" is changed to "1".
”, the state values “1”, “1”, and “0” are assigned to the signals A, B, and C, which are input signals related to the signal P, respectively.
"(A, B, C) = (1, 1, 0
)" is created. Similarly, the state value of the signal R whose state value is fixed at "1" is created as "
0", "(F, G) = (G, 0)" indicates that the state values "0" and "0" are set to the signals F and G, which are input signals related to the signal R, respectively. ” is created.

【0025】そして、活性化パターン9と固定関連信号
情報8とを用いることにより、固定信号に影響を及ぼす
入力信号に活性化パターンを設定し、固定信号に影響を
及ぼす入力信号から固定信号までの部分回路について、
シミュレーション装置4によってシミュレーションを行
う。
[0025] Then, by using the activation pattern 9 and the fixed-related signal information 8, an activation pattern is set for the input signal that affects the fixed signal, and the signal from the input signal that affects the fixed signal to the fixed signal is set. Regarding the partial circuit,
A simulation is performed using the simulation device 4.

【0026】この結果、シミュレーション装置4では、
固定信号であった信号P,Rがとる状態値が保存され、
部分回路信号状態値情報10が作成される。すなわち、
信号A,B,Cに活性化パターンを設定してシミュレー
ションを行った結果、信号Pの状態値は“1”であるこ
とを示す、“P(1)”という部分回路信号状態値情報
10が作成される。同様に、信号F,Gに活性化パター
ンを設定してシミュレーションを行った結果、信号Rが
とる状態値は“1”であることを示す、“R(1)”と
いう部分回路信号状態値情報10が作成され出力される
As a result, in the simulation device 4,
The state values of signals P and R, which were fixed signals, are saved,
Partial circuit signal state value information 10 is created. That is,
As a result of setting activation patterns for signals A, B, and C and performing a simulation, partial circuit signal state value information 10 called "P(1)" indicating that the state value of signal P is "1" was obtained. Created. Similarly, as a result of simulation with activation patterns set for signals F and G, partial circuit signal state value information called "R(1)" indicates that the state value of signal R is "1". 10 is created and output.

【0027】最後に、固定信号検出手段1は、部分回路
信号状態値情報10をシミュレーション装置4から受け
取ってこれを参照し、依然として状態値が固定である信
号を検索して完全固定信号情報6を作成する。すなわち
、部分回路信号状態値情報10中の“P(1)”より、
状態値が“0”に固定されていた信号Pが活性化されて
状態値“1”をとったことが判明し、信号Pは完全な固
定信号ではないことが判明する。一方、信号Rについて
は“R(1)”より、状態値が“1”に固定されていた
信号8は依然として“1”のままであることが判明して
、完全固定信号情報6として“R(1)”が作成され出
力される。すなわち、信号Rが状態値“0”をとるよう
に入力パターンを設定しても、“0”にならないという
ことで、設計誤りがあることが検証されたことになる。
Finally, the fixed signal detection means 1 receives the partial circuit signal state value information 10 from the simulation device 4, refers to it, searches for signals whose state values are still fixed, and obtains completely fixed signal information 6. create. That is, from "P(1)" in the partial circuit signal state value information 10,
It turns out that the signal P whose state value was fixed at "0" was activated and took on the state value "1", and it turns out that the signal P is not a completely fixed signal. On the other hand, as for the signal R, it is found from "R(1)" that the signal 8 whose state value was fixed to "1" still remains "1", and the complete fixed signal information 6 is "R". (1)” is created and output. That is, even if the input pattern is set so that the signal R takes the state value "0", it does not become "0", which means that it has been verified that there is a design error.

【0028】このように、最初のシミュレーションを通
して値が変化しなかった論理信号に着目して、その論理
信号の値を変化させることができる入力信号のパターン
を選択し、これをシミュレーション装置に送出して、シ
ミュレーション装置で再度その部分のシミュレーション
を行わせることにより、再度のシミュレーションの対象
となる論理回路の部分について、考えられる全ての入力
パターンを設定しなくても、設計誤りを検出して論理回
路の検証を行うことができる。
In this way, by focusing on the logic signals whose values did not change through the first simulation, we select an input signal pattern that can change the value of the logic signals, and send this to the simulation device. By simulating that part again using a simulation device, design errors can be detected and the logic circuit can be corrected without having to set all possible input patterns for the part of the logic circuit that is the target of the re-simulation. can be verified.

【0029】[0029]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の論理検証
装置は、最初のシミュレーションを通して値が変化しな
かった論理信号に着目して、その論理信号の値を変化さ
せることができる入力信号のパターンを選択し、これを
シミュレーション装置に送出して、シミュレーション装
置で再度その部分のシミュレーションを行わせることに
より、再度のシミュレーションの対象となる論理回路の
部分について、考えられる全ての入力パターンを設定し
なくても、設計誤りを検出することができるという効果
を有している。
Effects of the Invention As explained above, the logic verification device of the present invention focuses on a logic signal whose value did not change through the initial simulation, and uses an input signal that can change the value of the logic signal. By selecting a pattern, sending it to the simulation device, and having the simulation device simulate that part again, all possible input patterns can be set for the part of the logic circuit that is to be simulated again. It has the effect that design errors can be detected even if there is no such thing.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

【図1】本発明の論理検証装置の一実施例を示すブロッ
ク図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a logic verification device of the present invention.

【図2】本実施例の論理検証装置による検証の対象の論
理回路の一例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of a logic circuit to be verified by the logic verification device of the embodiment.

【図3】本実施例の論理検証装置の固定信号検出手段1
に入力される図2に示す論理回路の信号状態値情報を示
す図である。
[Fig. 3] Fixed signal detection means 1 of the logic verification device of this embodiment
FIG. 3 is a diagram showing signal state value information of the logic circuit shown in FIG. 2 that is input to the FIG.

【図4】本実施例の論理検証装置の固定関連信号検出手
段2に入力される図2に示す論理回路の回路情報を示す
図である。
FIG. 4 is a diagram showing circuit information of the logic circuit shown in FIG. 2 that is input to the fixed related signal detection means 2 of the logic verification device of the present embodiment.

【図5】本実施例の論理検証装置の固定関連信号検出手
段2から出力される図2に示す論理回路の固定関連信号
情報を示す図である。
5 is a diagram showing fixed related signal information of the logic circuit shown in FIG. 2 outputted from the fixed related signal detection means 2 of the logic verification device of the present embodiment.

【図6】本実施例の論理検証装置の活性化パターン発生
手段3に入力される図2に示す論理回路の素子機能パタ
ーン情報を示す図である。
6 is a diagram showing element function pattern information of the logic circuit shown in FIG. 2, which is input to the activation pattern generating means 3 of the logic verification device of this embodiment.

【図7】本実施例の論理検証装置の活性化パターン発生
手段3から出力される図2に示す論理回路の活性化パタ
ーンを示す図である。
7 is a diagram showing the activation pattern of the logic circuit shown in FIG. 2 output from the activation pattern generating means 3 of the logic verification device of this embodiment.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1    固定信号検出手段 2    固定関連信号検索手段 3    活性化パターン発生手段 4    シミュレーション装置 5    信号状態値情報 6    完全固定信号情報 7    固定信号情報 8    固定関連信号情報 9    活性化パターン 10    部分回路信号状態値情報 11    回路情報 12    素子機能パターン情報 1 Fixed signal detection means 2 Fixed related signal search means 3 Activation pattern generation means 4 Simulation device 5 Signal status value information 6 Completely fixed signal information 7 Fixed signal information 8 Fixed related signal information 9 Activation pattern 10 Partial circuit signal status value information 11 Circuit information 12 Element function pattern information

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】(A)シミュレーションの結果、論理回路
の全ての信号の論理値がどのように変化するかを示す信
号状態値情報を入力され、前記信号状態値情報の中から
前記シミュレーション中に論理値が変化せず固定状態を
保持したままの信号である固定信号を検出し固定信号情
報として出力する固定信号検出手段、(B)前記固定信
号検出手段によって作成される固定信号情報と論理回路
モデルの回路情報とから、前記固定信号に関連する信号
を入力側で順次検索し、固定信号に影響を及ぼす入力信
号である固定関連信号情報を作成する固定関連信号検索
手段、(C)前記固定信号検出手段によって作成される
固定信号情報と、前記論理回路モデルの回路情報と、全
素子の機能を入出力パターンの組み合せとして持つ素子
機能パターン情報と、前記固定関連信号検索手段によっ
て作成される固定関連信号情報とを基に、固定信号情報
の値を変化させることができる入力パターンを調べ出力
する活性化パターン発生手段、を備えたことを特徴とす
る論理検証装置。
(A) As a result of the simulation, signal state value information indicating how the logical values of all the signals of the logic circuit change is inputted, and from among the signal state value information, the signal state value information is selected during the simulation. fixed signal detection means for detecting a fixed signal, which is a signal whose logical value does not change and maintains a fixed state, and outputting it as fixed signal information; (B) fixed signal information and logic circuit created by the fixed signal detection means; (C) fixed-related signal search means for sequentially searching on an input side for signals related to the fixed signal from circuit information of the model and creating fixed-related signal information that is an input signal that affects the fixed signal; Fixed signal information created by the signal detection means, circuit information of the logic circuit model, element function pattern information having the functions of all elements as a combination of input/output patterns, and fixed signal information created by the fixed related signal search means. 1. A logic verification device comprising activation pattern generation means for examining and outputting an input pattern that can change the value of fixed signal information based on related signal information.
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