JPH09259170A - Waveform information library preparing device for integrated circuit cell - Google Patents

Waveform information library preparing device for integrated circuit cell

Info

Publication number
JPH09259170A
JPH09259170A JP8088830A JP8883096A JPH09259170A JP H09259170 A JPH09259170 A JP H09259170A JP 8088830 A JP8088830 A JP 8088830A JP 8883096 A JP8883096 A JP 8883096A JP H09259170 A JPH09259170 A JP H09259170A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
waveform
cell
analysis
file
library
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8088830A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Nara
秀之 奈良
Hideki Sato
秀樹 佐藤
Isaku Osawa
伊作 大澤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP8088830A priority Critical patent/JPH09259170A/en
Publication of JPH09259170A publication Critical patent/JPH09259170A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To automatically prepare a waveform information library for an integrated circuit cell. SOLUTION: Layout data (a) with respect to the new cell are prepared and a net list (c) is extracted. Based on an existent cell library (b) with respected to an equivalent cell having the logic function equal with this cell, a waveform file (d) for analysis showing an expected value waveform corresponding to a prescribed input waveform is prepared. A characteristic analyzing means 3 simulates the circuit operation at the time of applying the input waveform in the waveform file (d) for analysis to a circuit specified by the net list (c) based on the conditions in an analytic condition file (e) and generates a measured value waveform and a delay information file (f). The provided measured value waveform is compared with the expected value waveform and when both the waveforms are coincident, a library preparing means 5 prepares a waveform information library (g) by synthesizing the waveform file (d) for analysis and the delay information file (f).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、集積回路用セルの
波形情報ライブラリ作成装置、特に、種々の条件におけ
る遅延情報を含んだ波形情報ライブラリを作成する装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an integrated circuit cell waveform information library creating apparatus, and more particularly, to an apparatus for creating a waveform information library containing delay information under various conditions.

【0002】[0002]

【従来の技術】大規模集積回路を設計する場合、通常、
多種類のセルを用意しておき、これらのセルを組み合わ
せることにより所望の集積回路を実現する方法が採られ
る。こうして、セルの組み合わせにより大規模集積回路
の設計が完了したら、続いて、その回路動作の検証が行
われ、問題点があれば設計変更が行われる。一般に、大
規模集積回路の回路動作を検証する方法としては、ダイ
ナミック解析法とスタティック解析法とが知られてい
る。ダイナミック解析法は、設計した回路の物理的性質
(各層の幅、厚み、不純物濃度など)に基づいて、実際
の信号伝播過程をリアルタイムでシミュレーションする
方法であり、SPICEなどの論理シミュレータを用い
て行われる。一方、スタティック解析法は、各セルごと
の論理動作と遅延時間とを特定する情報を波形情報ライ
ブラリという形で用意し、この波形情報ライブラリのデ
ータに基づいて集積回路全体の回路動作を検証する方法
である。スタティック解析法では、ダイナミック解析法
に比べて、検証精度は多少低くなるが、コンピュータの
演算負担は格段に軽減される。
2. Description of the Related Art When designing a large scale integrated circuit,
A method is available in which various kinds of cells are prepared and a desired integrated circuit is realized by combining these cells. In this way, when the design of the large-scale integrated circuit is completed by the combination of the cells, the circuit operation is verified, and if there is a problem, the design is changed. Generally, a dynamic analysis method and a static analysis method are known as methods for verifying the circuit operation of a large-scale integrated circuit. The dynamic analysis method is a method of simulating the actual signal propagation process in real time based on the physical properties of the designed circuit (width, thickness, impurity concentration, etc. of each layer), and is performed using a logic simulator such as SPICE. Be seen. On the other hand, the static analysis method prepares information for specifying the logical operation and delay time of each cell in the form of a waveform information library, and verifies the circuit operation of the entire integrated circuit based on the data of the waveform information library. Is. The verification accuracy of the static analysis method is slightly lower than that of the dynamic analysis method, but the computational load on the computer is significantly reduced.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】上述したスタティック
解析法を行う場合、各セルごとに波形情報ライブラリを
用意する必要がある。この波形情報ライブラリは、所定
の入力波形をそのセルに与えたときに、どのような出力
波形が得られるか、という入出力波形の関係を示す情報
と、入力波形に対する出力波形の遅延時間を示す情報
と、により構成されている。従来は、このような波形情
報ライブラリを人手により作成していた。この波形情報
ライブラリの作成作業は、非常に煩雑な作業であり、人
手に頼ると作業効率も悪く、また不正確になるという問
題があった。
When performing the above-mentioned static analysis method, it is necessary to prepare a waveform information library for each cell. This waveform information library shows information indicating the relationship between input and output waveforms, such as what kind of output waveform is obtained when a given input waveform is given to the cell, and the delay time of the output waveform with respect to the input waveform. It is composed of information and. Conventionally, such a waveform information library has been manually created. The work of creating the waveform information library is very complicated work, and there is a problem in that the work efficiency becomes poor and it becomes inaccurate if it is manually performed.

【0004】そこで本発明は、集積回路用セルの波形情
報ライブラリを自動的に作成することのできる装置を提
供することを目的とする。
Therefore, an object of the present invention is to provide an apparatus capable of automatically creating a waveform information library of integrated circuit cells.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、集積回路用セ
ルを構成する個々の図形に関する情報を含んだレイアウ
トデータに基づいて、このセルに関する入出力波形の情
報および遅延時間の情報を示す波形情報ライブラリを作
成する装置において、レイアウトデータに基づいて、個
々の回路構成要素の結合関係を示すネットリストを作成
するネットリスト作成手段と、対象となるセルと同等の
論理機能をもつ等価セルについての論理動作を記述した
セルライブラリに基づいて、所定の入力波形とこの入力
波形に対してセルから出力が期待される期待値波形とを
有する解析用波形ファイルを作成する解析用波形作成手
段と、ネットリストと、解析用波形ファイル内の入力波
形と、所定の解析条件と、に基づいて、対象となるセル
に特定の入力波形を与えた場合の特性解析シミュレーシ
ョンを行い、セルから出力される実測値波形と、与えた
入力波形に対する実測値波形の遅延情報と、を求める特
性解析手段と、実測値波形と期待値波形との論理照合を
行う論理照合手段と、論理照合手段の照合結果が一致を
示すものであったときに、解析用波形ファイルに遅延情
報を付加することにより、セルについての波形情報ライ
ブラリを作成するライブラリ作成手段と、を設けるよう
にしたものである。
SUMMARY OF THE INVENTION According to the present invention, based on layout data including information on individual figures forming an integrated circuit cell, a waveform showing input / output waveform information and delay time information on this cell. In an apparatus for creating an information library, a netlist creating means for creating a netlist showing a connection relationship between individual circuit components based on layout data and an equivalent cell having a logical function equivalent to that of a target cell are provided. An analysis waveform creating means for creating an analysis waveform file having a predetermined input waveform and an expected value waveform expected to be output from the cell for the input waveform based on the cell library describing the logical operation, and a net. An input waveform specific to the target cell based on the list, the input waveform in the analysis waveform file, and the specified analysis conditions. A characteristic analysis means for performing a characteristic analysis simulation in the case of giving a measured value waveform output from a cell and delay information of the measured value waveform with respect to a given input waveform, and a logic of the measured value waveform and the expected value waveform A library creating means for creating a waveform information library for a cell by adding delay information to the analysis waveform file when the matching result of the matching means and the matching result of the matching means indicate matching. And are provided.

【0006】[0006]

【発明の実施の形態】以下、本発明を図示する実施形態
に基づいて説明する。図1は、一般的な大規模集積回路
10の構成を示す概念図である。図示のとおり、大規模
集積回路10は、多数のセルから構成されている。個々
のセルは、通常、標準のセルライブラリとして用意され
ている多種類のセルの中から選択され、大規模集積回路
10全体として所望の論理処理を実行することができる
ように、各セル間にはそれぞれ配線(図示省略)がなさ
れる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The present invention will be described below based on an embodiment shown in the drawings. FIG. 1 is a conceptual diagram showing a configuration of a general large scale integrated circuit 10. As shown, the large scale integrated circuit 10 is composed of a large number of cells. The individual cells are usually selected from a large number of types of cells prepared as a standard cell library, and the large-scale integrated circuit 10 as a whole can perform desired logic processing. Are wired (not shown).

【0007】このような大規模集積回路10に対して、
ダイナミック解析法による検証を行う場合には、各セル
の物理的性質(各層の幅、厚み、不純物濃度など)に基
づくリアルタイムのシミュレーションを行うことにな
る。すなわち、大規模集積回路10の入力端子に対して
所定の入力信号を与え、この入力信号の波形が各セルを
伝播してゆく間にどのように変化してゆくかをシミュレ
ートし、最終的にどのような波形をもった出力信号が得
られるかを求めることになる。これに対して、スタティ
ック解析法による検証を行う場合には、各セルごとの波
形情報ライブラリを用意し、このライブラリのデータに
基づいて、信号が各セルを通過するごとの変遷を求めて
ゆくことになる。すなわち、セル内部で生じている個々
の物理現象には触れずに、「各セルに対してどのような
入力波形を与えると、どのような出力波形がどのような
遅延時間をもって得られるか」ということを示す波形情
報ライブラリ内のデータに基づいて、個々のセルをブラ
ックボックスとして取扱い、大規模集積回路10全体と
しての回路動作を解析することになる。
For such a large scale integrated circuit 10,
When performing verification by the dynamic analysis method, a real-time simulation based on the physical properties of each cell (width of each layer, thickness, impurity concentration, etc.) will be performed. That is, a predetermined input signal is applied to the input terminal of the large-scale integrated circuit 10, and the waveform of this input signal is simulated as it propagates through each cell to simulate the final signal. Then, what kind of waveform the output signal having is obtained. On the other hand, when performing verification by the static analysis method, prepare a waveform information library for each cell and obtain the transition every time a signal passes through each cell based on the data in this library. become. In other words, what kind of input waveform is given to each cell and what kind of output waveform is obtained with what delay time, without touching each physical phenomenon occurring inside the cell? Based on the data in the waveform information library indicating that, each cell is treated as a black box, and the circuit operation of the large-scale integrated circuit 10 as a whole is analyzed.

【0008】たとえば、図2に示すセル11は、3つの
入力信号A,B,Cに基づいて、1つの出力信号Dを出
力する論理動作を行うものであるが、スタティック解析
法を実施する上では、「入力信号A,B,Cとしてどの
ような入力波形を与えると、出力信号Dとしてはどのよ
うな期待値波形が得られるか」という情報と、「出力信
号Dの入力信号A,B,Cに対する遅延時間はどうなる
か」という情報と、をもった波形情報ライブラリが用意
できればよい。図3は、このような波形情報ライブラリ
内の情報を示す概念図である。図3(a) には、入力波形
と期待値波形との関係を示す波形図が示されている。こ
の図3(a) に示す波形図は、入力波形A,B,Cに対す
る期待値波形Dの遅延時間が零の場合を示しているが、
実際には、期待値波形Dは所定の遅延時間をもって出力
されるものであり、この遅延時間は種々の条件により変
化するものである。遅延時間を決定する支配的な要因
は、このセルの後段に接続される負荷容量である。この
負荷容量と遅延時間との関係は、図3(b) に示すよう
に、ほぼ線形関係をとるのが普通である。
For example, the cell 11 shown in FIG. 2 performs a logical operation of outputting one output signal D based on three input signals A, B and C. Then, the information "what kind of input waveform is given as the input signals A, B and C and what kind of expected value waveform is obtained as the output signal D" and "the input signals A and B of the output signal D are given. , C will be the delay time. ”, And a waveform information library having the information. FIG. 3 is a conceptual diagram showing the information in such a waveform information library. FIG. 3 (a) shows a waveform diagram showing the relationship between the input waveform and the expected value waveform. The waveform diagram shown in FIG. 3 (a) shows a case where the delay time of the expected value waveform D with respect to the input waveforms A, B, and C is zero.
Actually, the expected value waveform D is output with a predetermined delay time, and this delay time changes depending on various conditions. The dominant factor that determines the delay time is the load capacitance connected to the latter stage of this cell. The relationship between the load capacity and the delay time usually takes a substantially linear relationship as shown in FIG. 3 (b).

【0009】結局、図1に示す大規模集積回路10につ
いて、スタティック解析法による検証を行うには、この
回路を構成する個々のセルについて、図3に示すような
波形情報ライブラリ(入力波形と期待値波形との関係を
示す情報および遅延情報)を用意する必要がある。そこ
で、従来は、新たなセルを設計するたびに、そのセルに
ついての波形情報ライブラリを手作業で用意していた。
この作業は煩雑で、多大な労力と時間を費やすことは既
に述べたとおりである。本発明に係る装置は、このよう
な波形情報ライブラリを自動的に生成する機能を有す
る。
After all, in order to verify the large-scale integrated circuit 10 shown in FIG. 1 by the static analysis method, the waveform information library (input waveform and expected waveform) shown in FIG. It is necessary to prepare information indicating the relationship with the value waveform and delay information). Therefore, conventionally, every time a new cell is designed, a waveform information library for the cell is manually prepared.
As mentioned above, this work is complicated and requires a lot of labor and time. The apparatus according to the present invention has a function of automatically generating such a waveform information library.

【0010】図4は、本発明に係る装置の基本構成を示
すブロック図である。この図において、矩形のブロック
1〜5はこの装置を構成する個々の構成要素を示し、円
筒状のブロックa〜gは、各構成要素において取り扱わ
れるデータを示す。この装置の基本構成要素は、所定の
レイアウトデータaに基づいてネットリストcを作成す
るネットリスト作成手段1と、既存のセルライブラリb
に基づいて解析用波形ファイルdを作成する解析用波形
作成手段2と、ネットリストcと解析用波形ファイルd
内の入力波形と解析条件ファイルeとに基づいて特性解
析シミュレーションを行う特性解析手段3と、この特性
解析手段3の解析結果として得られる実測値波形と解析
用波形ファイルd内の期待値波形との論理照合を行う論
理照合手段4と、その照合結果が一致した場合に解析用
波形ファイルdに特性解析手段3の解析結果として得ら
れる遅延情報ファイルfを付加して波形情報ライブラリ
gを作成するライブラリ作成手段5と、である。
FIG. 4 is a block diagram showing the basic configuration of the device according to the present invention. In this figure, rectangular blocks 1 to 5 indicate individual constituent elements of the apparatus, and cylindrical blocks a to g indicate data handled by each constituent element. The basic components of this apparatus are a netlist creating means 1 for creating a netlist c based on predetermined layout data a, and an existing cell library b.
Analysis waveform creating means 2 for creating an analysis waveform file d based on the above, a netlist c and an analysis waveform file d
Characteristic analysis means 3 for performing a characteristic analysis simulation based on an input waveform in the above and an analysis condition file e, an actually measured value waveform obtained as an analysis result of the characteristic analysis means 3 and an expected value waveform in an analysis waveform file d. Of the logical collating means 4 for performing the logical collation of the above, and the delay information file f obtained as the analysis result of the characteristic analyzing means 3 is added to the analyzing waveform file d when the collating results coincide with each other to create the waveform information library g. The library creating means 5.

【0011】ここでは、新たに設計された集積回路用セ
ルについての波形情報ライブラリを、この装置で作成す
る場合の手順を以下に述べることにする。まず、新たに
設計されたセルについてのレイアウトデータaを用意す
る。このレイアウトデータaは、セルを構成する個々の
図形(配線層、半導体チャネル層、個々の電極層などの
図形)の形状、位置、接続関係を示す図形データから構
成されている。オペレータは、ネットリスト作成手段1
によって、このレイアウトデータaから個々の回路構成
要素の結合関係を示すネットリストcを作成する。この
ネットリスト作成手段1としては、いわゆるLPEツー
ル(Layout Parameter Extraction Tool)として知られ
ているネットリスト抽出ツールを用いればよい。
Here, the procedure for creating a waveform information library for a newly designed integrated circuit cell with this device will be described below. First, layout data a for a newly designed cell is prepared. The layout data a is composed of graphic data showing the shapes, positions, and connection relationships of individual graphics (wiring layers, semiconductor channel layers, individual electrode layers, etc.) that make up a cell. The operator is the netlist creation means 1
Thus, a netlist c indicating the connection relationship between individual circuit components is created from this layout data a. As the netlist creating means 1, a netlist extraction tool known as a so-called LPE tool (Layout Parameter Extraction Tool) may be used.

【0012】続いて、この新たに設計されたセルと同等
の論理機能をもつ等価セルについての論理動作を記述し
たセルライブラリbを用意する。現状においては、新た
なセルを設計した場合であっても、そのセルが全く新し
い論理機能をもつことは極めてまれであり、通常は、同
等の論理機能をもつ等価セルが既に過去に多数設計され
ているのが一般的である。別言すれば、現状において、
新たなセルを設計する作業とは、全く新しい論理機能を
もつセルを新規に開発する作業ではなく、既存のセルに
ついて、更に省スペース化や省電力化を図るための改良
を施す作業となるのが一般的である。このような改良を
施したセルを新たに設計した場合には、既存の等価セル
についてのセルライブラリbを用意することができる。
具体的には、EDAツール(Electric Design Automati
on Tool )用のセルライブラリが過去の設計資産として
多数用意されているので、このライブラリをそのまま利
用すればよい。
Then, a cell library b is prepared which describes the logical operation of an equivalent cell having a logical function equivalent to that of the newly designed cell. At present, even when a new cell is designed, it is extremely rare that the cell has a completely new logic function, and normally, many equivalent cells having the same logic function have already been designed in the past. Is common. In other words, in the present situation,
The task of designing a new cell is not the task of newly developing a cell having a completely new logic function, but the task of improving an existing cell to further save space and power. Is common. When a cell with such an improvement is newly designed, a cell library b for existing equivalent cells can be prepared.
Specifically, EDA tools (Electric Design Automati
Since a large number of cell libraries for on Tool) are prepared as past design assets, this library can be used as it is.

【0013】次に、このセルライブラリbに基づいて、
解析用波形作成手段2によって解析用波形ファイルdを
作成する。この解析用波形ファイルdは、所定の入力波
形とこの入力波形に対してそのセルから出力が期待され
る期待値波形との関係を示す情報をもったファイルであ
り、たとえば、図3(a) に示すような入力波形と期待値
波形との関係を示すファイルである。セルライブラリb
には、そのセルに関する真理値表や論理記述が含まれて
おり、解析用波形作成手段2は、この真理値表や論理記
述に基づいて、解析用波形ファイルdを作成することが
できる。
Next, based on this cell library b,
The analysis waveform creating means 2 creates the analysis waveform file d. The analysis waveform file d is a file having information indicating a relationship between a predetermined input waveform and an expected value waveform expected to be output from the cell with respect to the input waveform. For example, FIG. It is a file showing the relationship between the input waveform and the expected value waveform as shown in. Cell library b
Contains a truth table and a logic description for the cell, and the analysis waveform creating means 2 can create the analysis waveform file d based on the truth table and the logic description.

【0014】こうして、ネットリストcと解析用波形フ
ァイルdとが用意できたら、特性解析手段3において特
性解析を行う。この特性解析手段3は、ダイナミック解
析法に基づく回路シミュレーションを行う装置であり、
たとえば、SPICEのような回路シミュレータによっ
て構成される。このシミュレーションの諸条件(たとえ
ば、後段に接続される負荷容量や温度条件など)を設定
するために、解析条件ファイルeが用意される。結局、
特性解析手段3は、ネットリストcによって特定される
回路について、解析条件ファイルeで設定される条件の
もとに、解析用波形ファイルd内の入力波形を与えた場
合の回路動作のシミュレーションを実行することにな
る。その結果、このセルから出力される実測値波形とこ
の実測値波形に関する遅延情報とが得られる。たとえ
ば、図2に示すセル11についてのシミュレーションが
行われた場合には、図3(a) の波形Dに示すような実測
値波形と、図3(b) に示すような遅延情報が得られるこ
とになる。
When the netlist c and the analysis waveform file d are prepared in this way, the characteristic analysis means 3 performs characteristic analysis. The characteristic analysis means 3 is a device for performing circuit simulation based on a dynamic analysis method,
For example, it is configured by a circuit simulator such as SPICE. An analysis condition file e is prepared in order to set various conditions of this simulation (for example, load capacity and temperature conditions connected in the subsequent stage). After all,
The characteristic analysis unit 3 executes the simulation of the circuit operation when the input waveform in the analysis waveform file d is given to the circuit specified by the netlist c under the condition set in the analysis condition file e. Will be done. As a result, the measured value waveform output from this cell and the delay information regarding this measured value waveform are obtained. For example, when the simulation is performed on the cell 11 shown in FIG. 2, a measured value waveform as shown by the waveform D in FIG. 3 (a) and delay information as shown in FIG. 3 (b) are obtained. It will be.

【0015】こうして得られた実測値波形は、論理照合
手段4において、解析用波形ファイルd内の期待値波形
と比較照合される。ネットリストcで表されるセル(す
なわち、レイアウトデータaで特定されるセル)が、所
期の目的どおりの論理動作を行えば、両波形は一致する
はずであるが、セルの設計に無理があると、期待どおり
の論理動作が行われずに、両波形が不一致になることも
ある。論理照合手段4は、両波形が不一致の場合には、
その旨をオペレータに報知する。オペレータは、この不
一致の報知を受けた場合、その不一致の内容に基づい
て、レイアウトデータaに対する修正処理を行うことに
なる。この場合、そのセルは設計自体が不完全なもので
あり、当然、波形情報ライブラリを作成する必要はなく
なる。
The measured value waveform thus obtained is compared and compared with the expected value waveform in the analysis waveform file d by the logic collating means 4. If the cell represented by the netlist c (that is, the cell specified by the layout data a) performs the intended logical operation, the two waveforms should match, but it is not possible to design the cell. If so, the two waveforms may not match with each other without performing the expected logical operation. The logic collating means 4 determines if the two waveforms do not match,
The operator is notified to that effect. When the operator is notified of this inconsistency, the operator will perform the correction process for the layout data a based on the content of the inconsistency. In this case, the cell itself is incomplete in design, and naturally, it is not necessary to create the waveform information library.

【0016】論理照合手段4による照合の結果、両波形
が一致すると、ライブラリ作成手段5は、解析用波形フ
ァイルdに遅延情報ファイルfを付加することにより、
波形情報ライブラリgを作成する。たとえば、図2に示
すセル11の場合、図3(a)に示すような入力波形と期
待値波形との関係を示す情報と、図3(b) に示すような
遅延情報とが、波形情報ライブラリgとして得られるこ
とになる。
As a result of the collation by the logical collating means 4, if the two waveforms match, the library creating means 5 adds the delay information file f to the analysis waveform file d,
A waveform information library g is created. For example, in the case of the cell 11 shown in FIG. 2, the information indicating the relationship between the input waveform and the expected value waveform as shown in FIG. 3A and the delay information as shown in FIG. It will be obtained as a library g.

【0017】このように、本発明に係る装置を用いれ
ば、新たに設計したセルについての波形情報ライブラリ
を自動的に作成することができ、しかも、セルの論理動
作が不完全なものであった場合には、その旨の報知が行
われるため、設計に修正を加える処理を直ちに行うこと
ができるようになる。こうして作成された波形情報ライ
ブラリgは、このセルを用いて設計された大規模集積回
路10についての高精度なスタティック解析を行う場合
に利用することができ、また、この波形情報ライブラリ
gに基づいて、EDAツール用の新たなセルライブラリ
を作成することができるようになり、将来の設計資産と
して利用することが可能になる。
As described above, by using the apparatus according to the present invention, a waveform information library for a newly designed cell can be automatically created, and the logical operation of the cell is incomplete. In that case, since the notification to that effect is given, it becomes possible to immediately perform the process of correcting the design. The waveform information library g created in this way can be used when performing highly accurate static analysis of the large scale integrated circuit 10 designed using this cell, and based on this waveform information library g. , It becomes possible to create a new cell library for the EDA tool, and it can be used as a future design asset.

【0018】[0018]

【発明の効果】以上のとおり本発明によれば、集積回路
用セルの波形情報ライブラリを自動的に作成することが
できるようになる。
As described above, according to the present invention, it becomes possible to automatically create a waveform information library of integrated circuit cells.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】一般的な大規模集積回路10の構成を示す概念
図である。
FIG. 1 is a conceptual diagram showing a configuration of a general large scale integrated circuit 10.

【図2】図1に示す大規模集積回路10を構成するセル
の一例を示す図である。
FIG. 2 is a diagram showing an example of cells constituting the large scale integrated circuit 10 shown in FIG.

【図3】図2に示すセルについての波形情報ライブラリ
の情報を示す概念図である。
FIG. 3 is a conceptual diagram showing information in a waveform information library for the cell shown in FIG.

【図4】本発明に係る装置の基本構成を示すブロック図
である。
FIG. 4 is a block diagram showing a basic configuration of an apparatus according to the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…ネットリスト作成手段 2…解析用波形作成手段 3…特性解析手段 4…論理照合手段 5…ライブラリ作成手段 10…大規模集積回路 11…セル a…レイアウトデータ b…セルライブラリ c…ネットリスト d…解析用波形ファイル e…解析条件ファイル f…遅延情報ファイル g…波形情報ライブラリ A〜C…入力信号 D…出力信号 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Netlist creation means 2 ... Analysis waveform creation means 3 ... Characteristic analysis means 4 ... Logical matching means 5 ... Library creation means 10 ... Large scale integrated circuit 11 ... Cell a ... Layout data b ... Cell library c ... Netlist d Waveform file for analysis e ... Analysis condition file f ... Delay information file g ... Waveform information library A to C ... Input signal D ... Output signal

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 集積回路用セルを構成する個々の図形に
関する情報を含んだレイアウトデータに基づいて、この
セルに関する入出力波形の情報および遅延時間の情報を
示す波形情報ライブラリを作成する装置であって、 前記レイアウトデータに基づいて、個々の回路構成要素
の結合関係を示すネットリストを作成するネットリスト
作成手段と、 前記セルと同等の論理機能をもつ等価セルについての論
理動作を記述したセルライブラリに基づいて、所定の入
力波形とこの入力波形に対して前記セルから出力が期待
される期待値波形とを有する解析用波形ファイルを作成
する解析用波形作成手段と、 前記ネットリストと、前記解析用波形ファイル内の入力
波形と、所定の解析条件と、に基づいて、前記セルに前
記入力波形を与えた場合の特性解析シミュレーションを
行い、前記セルから出力される実測値波形と、前記入力
波形に対する前記実測値波形の遅延情報と、を求める特
性解析手段と、 前記実測値波形と前記期待値波形との論理照合を行う論
理照合手段と、 前記論理照合手段の照合結果が一致を示すものであった
ときに、前記解析用波形ファイルに前記遅延情報を付加
することにより、前記セルについての波形情報ライブラ
リを作成するライブラリ作成手段と、 を備えることを特徴とする集積回路用セルの波形情報ラ
イブラリ作成装置。
1. An apparatus for creating a waveform information library showing input / output waveform information and delay time information on a cell based on layout data including information on individual figures constituting an integrated circuit cell. And a netlist creating means for creating a netlist showing the connection relationship of individual circuit components based on the layout data, and a cell library describing the logical operation of an equivalent cell having the same logical function as the cell. An analysis waveform creating means for creating an analysis waveform file having a predetermined input waveform and an expected value waveform expected to be output from the cell for the input waveform, the netlist, and the analysis Analysis when the input waveform is given to the cell based on the input waveform in the waveform file for use and predetermined analysis conditions A simulation is performed, and characteristic analysis means for obtaining an actually measured value waveform output from the cell and delay information of the actually measured value waveform with respect to the input waveform, and a logical comparison between the actually measured value waveform and the expected value waveform are performed. When the logical collating unit and the collating result of the logical collating unit show a coincidence, the delay information is added to the analysis waveform file to create a waveform information library for the cell. An integrated circuit cell waveform information library creating apparatus comprising:
JP8088830A 1996-03-18 1996-03-18 Waveform information library preparing device for integrated circuit cell Pending JPH09259170A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8088830A JPH09259170A (en) 1996-03-18 1996-03-18 Waveform information library preparing device for integrated circuit cell

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8088830A JPH09259170A (en) 1996-03-18 1996-03-18 Waveform information library preparing device for integrated circuit cell

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH09259170A true JPH09259170A (en) 1997-10-03

Family

ID=13953869

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8088830A Pending JPH09259170A (en) 1996-03-18 1996-03-18 Waveform information library preparing device for integrated circuit cell

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH09259170A (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100716798B1 (en) * 2005-12-29 2007-05-14 전자부품연구원 Method for modeling high-frequency device
US7720663B1 (en) 1998-03-27 2010-05-18 Nec Corporation Delay analysis system
KR20150083014A (en) * 2014-01-08 2015-07-16 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 Characterizing cell using input waveform generation considering different circuit topologies

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7720663B1 (en) 1998-03-27 2010-05-18 Nec Corporation Delay analysis system
KR100716798B1 (en) * 2005-12-29 2007-05-14 전자부품연구원 Method for modeling high-frequency device
KR20150083014A (en) * 2014-01-08 2015-07-16 타이완 세미콘덕터 매뉴팩쳐링 컴퍼니 리미티드 Characterizing cell using input waveform generation considering different circuit topologies
US9563734B2 (en) 2014-01-08 2017-02-07 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Ltd. Characterizing cell using input waveform generation considering different circuit topologies

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2810341B2 (en) Analysis device and analysis method for power network of VLSI circuit
US9064068B1 (en) Debuggable opaque IP
JP3872954B2 (en) System and method for identifying finite state machines and inspecting circuit designs
US20040098689A1 (en) Rapid chip management system
US8135571B2 (en) Validating manufacturing test rules pertaining to an electronic component
US7424690B2 (en) Interconnect integrity verification
JPH05256901A (en) Method for judging logical function of circuit
JPS63145549A (en) Simulation method for logic circuit
KR20080055913A (en) Development of assertions for integrated circuit design simulation
US8000951B2 (en) Timing analysis method and apparatus for enhancing accuracy of timing analysis and improving work efficiency thereof
JPH09259170A (en) Waveform information library preparing device for integrated circuit cell
US6810508B1 (en) Method for automatically-remapping an HDL netlist to provide compatibility with pre-synthesis behavioral test benches
US8065641B2 (en) Automatically creating manufacturing test rules pertaining to an electronic component
CN113434390A (en) FPGA logic comprehensive tool fuzzy test method based on variation
JP3657097B2 (en) Test program generation system
JPH09171056A (en) Test design method and device, test method and device
US7047173B1 (en) Analog signal verification using digital signatures
JP2001337824A (en) Nuclear instrumentation design supporting system
JPH10228496A (en) Layout information generator and layout information generating method
JPH06265598A (en) Test specification generating system
US20090089723A1 (en) Circuit design using a spreadsheet
Papakostas et al. Analog fault detectability based on statistical circuit analysis
JP3144617B2 (en) Logic circuit verification method
JP2001291778A (en) Method and device for extracting statistical model parameter
US6618838B1 (en) Method and apparatus for processing an output of a design tool