JPH05149842A - 水素化物ガス含有ガス中の酸素分析方法および装置 - Google Patents

水素化物ガス含有ガス中の酸素分析方法および装置

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JPH05149842A
JPH05149842A JP3316282A JP31628291A JPH05149842A JP H05149842 A JPH05149842 A JP H05149842A JP 3316282 A JP3316282 A JP 3316282A JP 31628291 A JP31628291 A JP 31628291A JP H05149842 A JPH05149842 A JP H05149842A
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Takashi Shimada
孝 島田
Keiichi Iwata
恵一 岩田
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】水素化物ガスを含有する窒素、アルゴン、水素
などのガス中に含まれる酸素を0.01ppmレベルの
ような高精度で測定する。 【構成】水素化物ガスを含有するガスを水素化物ガスに
対して吸着能を有する吸着剤7と接触させた後、黄りん
発光式、ガルバニックセル式などの高感度酸素分析計1
2に導いて酸素濃度を測定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は水素化物ガスを含有する
ガス中に含まれる酸素の分析方法および装置に関し、さ
らに詳細には試料ガス中の水素化物ガスを吸着剤によっ
て除去する前処理工程を伴う酸素分析方法および装置に
関する。電子産業、特に半導体製造工業などにおいて、
アルシン(AsH3 )、ホスフィン(PH3 )、シラン
(SiH4 )などの水素化物ガスはガリウム−砒素(G
aAs)、インジウム−燐(InP)およびシリコン半
導体の材料ガスとして多量に使用されている。これらの
ガスは、通常はボンベに単独で充填されるか、または窒
素、アルゴンなどの不活性ガスあるいは水素などで希釈
して充填された状態で用いられる。そしてこれらのガス
はボンベより半導体結晶を成長させる反応炉などへ供給
される。良質の半導体結晶を得るためにはこれらの水素
化物ガスを含有するガス中の不純物を除去する必要があ
り、特に酸素は結晶欠陥を引き起しやすいため、ガス中
の酸素は極低濃度に管理されていなければならない。従
って、その分析についても極低濃度まで高感度で分析で
きる方法および装置が望まれている。
【0002】
【従来の技術】水素化物ガスを含有するガスに含まれる
酸素濃度の分析方法としては、ガスクロマトグラフ法が
挙げられるが、酸素濃度の測定下限界が1ppm程度と
感度が低く、半導体工業において要求される極低濃度酸
素の分析には対処できない。一方、窒素、アルゴンなど
の不活性ガスまたは水素中の酸素濃度分析方法としては
陽極に銀、陰極に鉛を使用し、電解液に水酸化カリウム
を用いたガルバニックセル法や黄リンと酸素が反応する
ときに発する光を光電子倍増管で検出する黄リン発光式
などがあり、これらの分析方法を用いることにより、
0.01ppmレベルの低濃度まで測定が可能である。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、これら
の分析計をそのまま用いて水素化物ガスを含有するガス
の酸素濃度分析をおこなった場合には、ガルバニックセ
ル法においては水素化物ガスが電極や電解液に悪影響を
与えるため、感度が著しく低下し、また、黄燐発光式に
おいては黄リンの発光を消失させるなどの問題があり、
いずれも分析が不可能である。このように従来技術では
水素化物ガスを含有するガス中に不純物として含まれる
酸素の濃度を極低濃度まで精度よく分析しうる方法は知
られていない。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明者らはこれらの課
題を解決するべく鋭意検討を重ねた結果、アルシン、ホ
スフィン、モノシランなどの水素化物ガスを吸着剤によ
る前処理によって除去することにより、酸素分析計への
悪影響および感度低下を生ずることなく酸素濃度を高精
度で分析しうることを見いだし、本発明を完成した。す
なわち本発明は、(1)水素化物ガスを含有するガス中
に含まれる酸素の分析方法において、試料ガスを水素化
物ガスに対して吸着能力を有する吸着剤と接触させた
後、酸素分析計に導くことを特徴とする水素化物ガス含
有ガス中の酸素分析方法および、(2)水素化物ガスを
含有するガス中に含まれる酸素の分析装置において、試
料ガスの導入管と、該導入管に接続された吸着筒であっ
てガスの入口および出口を有し、かつ内部に水素化物ガ
スの吸着剤が充填された吸着筒と、該吸着筒を収容し、
内部に冷媒が満たされた冷却槽と、該吸着筒の出口と導
管によって接続された酸素分析計、とを備えてなること
を特徴とする水素化物含有ガス中の酸素分析装置であ
る。本発明において、水素化物ガスを含有するガスとは
アルシン、ホスフィン、シラン、ジシラン、ジボラン、
セレン化水素、ゲルマン、硫化水素など水素化物ガス単
独および窒素、アルゴンなどの不活性ガスまたは水素な
どで希釈された水素化物ガスに適用されるが、水素化物
ガス単独または濃度が高い場合には、これらのガスを酸
素を含有しない窒素、アルゴンまたは水素などの精製ガ
スで希釈した状態で分析される。
【0005】本発明で使用される吸着剤は、酸素は吸着
せず、水素化物ガスに対して吸着能を有するものであ
り、例えば合成ゼオライト、天然ゼオライト、シリカゲ
ル、活性アルミナなどである。これらの吸着剤の吸着能
力は、分析する水素化物ガスの種類によって若干異なる
ので、それぞれの条件に応じてその種類、充填量などが
適宜選択されるが、通常、分析に要する時間は30分か
ら1時間程度であるので、少なくともこの間は水素化物
ガスを除去しうる容量が必要である。
【0006】水素化物ガスを吸着剤に吸着させるための
温度条件としては、吸着効率の点からガスが液化しない
温度範囲であれば極力低い方が望ましいが、通常は0℃
以下であり、好ましくは−10℃〜−80℃程度の範囲
でガスの種類などによって選択される。吸着温度が0℃
よりも高くなると吸着能力が低下して飽和状態に達する
までの時間が短くなり、分析の途中で水素化物ガスが漏
れ出す虞を生ずるので吸着筒の容積を大きくしなければ
ならず、また、ガスの滞留時間が増加するため分析計の
応答時間も長くなる。
【0007】本発明に用いる酸素分析計としては酸素濃
度をを高精度で分析しうるものであればよく、その種類
には特に制限はないが、具体的例としては前記のガルバ
ニックセル式、黄燐発光式および大気圧イオン化質量分
析計などが挙げられる。
【0008】本発明において、水素化物ガスを吸着した
吸着筒は分析の終了後、新しいものと交換してもよい
が、吸着筒を100℃以上のような高温に加熱しながら
窒素、アルゴンなどの不活性吸着筒内をパージすること
により、吸着剤の再生をおこなうこともできる。この場
合には、吸着剤から脱着した水素化物ガスは毒性が高い
ため、取扱いには充分な注意を払う必要があり、パージ
ガスは水素化物ガスの除害筒などに導入し、そこで無害
化処理することが好ましい。除害筒としてはパージガス
に同伴する水素化物ガスを確実に除去しうるものであれ
ば乾式、湿式のいずれでも使用できるが、例えば、酸化
銅、二酸化マンガンなどの重金属酸化物を有効成分とす
る水素化物ガスの除去剤(特開昭60−68034号)
が充填された除害筒などが優れた除去性能を有するとと
もに乾式で、装置全体もコンパクトにできる点で好適で
ある。
【0009】次に、本発明を図面によって例示し、さら
に具体的に説明する。図1は本発明の酸素分析装置のフ
ローシートである。図1において、一端が水素化物ガス
のボンベ1に接続され、減圧弁2、微小流量計3を介在
させ、流量計3の下流側に標準窒素ガスまたは精製窒素
ガスの供給管4が微小流量計3’を介して接続された試
料ガスの導入管5の他端が吸着筒6の入口に接続されて
いる。吸着筒6には水素化物ガスの吸着剤7が充填さ
れ、外部に吸着筒加熱用のヒーター8が配設されてい
る。吸着筒6は冷媒槽9に収容され、冷媒槽9には冷媒
10が満たされている。吸着筒6の出口は導管11によ
って酸素分析計12と接続されている。また、吸着筒の
導入管5から分岐した配管には弁を介して水素化物ガス
の除害筒13が接続され、一方、吸着筒の出口側の導管
11にはパージ用窒素ガスの供給管14が接続されてい
る。
【0010】水素化物ガス中の酸素の分析に際しては、
先ず、供給管4より酸素濃度の定まった標準窒素を流し
て酸素分析計の校正をおこなう。次に、ボンベ1から減
圧弁2を経た水素化物ガスを供給管4からの精製窒素ガ
スで微小流量計3および3’を見ながら所定の濃度に希
釈し、冷媒槽9で冷却された吸着筒6に供給する。吸着
筒6に入ったガスは吸着剤7と接触し、ガス中の水素化
物ガスが吸着除去される。吸着筒6から出たガスは導管
11を経て酸素分析計12に導かれ、ここで水素化物ガ
スが除去された試料ガス中の酸素濃度が分析される。分
析後に吸着剤7の再生がおこなわれる。冷媒槽9から冷
媒を抜き出した後、ヒーター8によって吸着筒6を加熱
しながら供給管14よりパージ用窒素ガスを供給する。
パージガスはの導管11から吸着筒6、導入管5、除害
筒13を流れて外部に出るが、これによって吸着剤に吸
着されていた水素化物ガスは脱着し、パージガスととも
に除害筒に入り、水素化物ガスの除去剤と接触して捕捉
され、パージガスは無害化されて外部に放出される。
【0011】
【実施例】
実施例1 図1で示したと同様な構成の装置を用いて水素化物ガス
中の酸素の分析をおこなった。吸着剤としてシリカゲル
(富士ディビィソン(株)製、A型粒度6up)450
gを内径57.2mm、長さ520mmのステンレス製
の吸着筒に充填し、あらかじめ酸素が除去された精製窒
素ガス気流中100〜120℃で2時間加熱賦活させた
後、精製窒素をそのまま流しながら室温まで冷却した。
この吸着筒をドライアイス+エタノール系の冷媒によっ
て−40〜−50℃に保冷した。この吸着筒に精製窒素
を通して黄リン発光式酸素分析計(富士電機(株)製、
ZAV−2型)により、吸着筒のシリカゲルから酸素の
発生などがないことを確認した。引き続き、この吸着筒
に10vol%のアルシンを含有する水素ガスを1.2
L/minで流し、酸素濃度を測定したところ0.50
ppmの酸素が検出された。
【0012】実施例2 実施例1で用いた10vol%アルシンを含有する水素
ガスに、酸素濃度が、1.2ppmになるように2.4
ppmの酸素を含有する標準窒素を微小流量計(マスフ
ローコントローラー)を見ながら添加し、実施例1で用
いたと同様の吸着筒に通した後、黄リン発光式酸素分析
計で測定したところ、吸着筒の手前で調整した濃度と同
じ1.2ppmの酸素が検出された。
【0013】比較例1 実施例2でおこなったと同様にして調整した1.2pp
mの酸素濃度を有するアルシン含有ガスをを吸着筒を通
さずに、直接黄リン発光式酸素分析計に通して酸素濃度
を測定したところ、分析計の指示は0ppmのままであ
り、酸素濃度の測定はできなかった。
【0014】実施例3 実施例1〜2で用いた吸着筒をヒーターで120℃に加
熱しながら窒素を2L/minで4時間流して吸着した
アルシンを脱着させ、酸化銅を用いた除去剤を充填した
除害筒を通して水素化物ガスを除去しながら、パージを
おこなった後、再度、吸着筒をドライアイス+エタノー
ル系の冷媒によって−40〜−50℃に保冷した。この
吸着筒に精製窒素を通しながら、黄リン発光式酸素分析
計によりシリカゲルから酸素などの発生がないことを確
認した後、20vol%のモノシランを含有する窒素ガ
スを1.2L/minで吸着筒に通し、黄リン発光式酸
素分析計によって濃度を測定したところ、0.08pp
mの酸素が検出された。
【0015】実施例4 実施例3で用いた同様の20vol%モノシランを含有
する窒素ガスに酸素濃度が1.2ppmになるように
2.4ppmの酸素濃度を有する標準窒素を添加したガ
スを吸着筒に通し、黄リン発光式酸素分析計で測定した
ところ、調整した濃度と同じ1.2ppmの酸素が検出
された。
【0016】比較例2 実施例4で用いた1.2ppmの酸素濃度を有するモノ
シラン含有窒素ガスを吸着筒を通さずに直接黄リン発光
式酸素分析計に通して酸素濃度を測定したところ、分析
計の指示は0ppmのままであり、酸素濃度は測定でき
なかった。
【0017】実施例5 黄リン発光式酸素分析計の代わりにガルバニックセル式
酸素分析計(大阪酸素工業(株)製、MK3/Y型)を
用いて酸素濃度の測定をおこなった。実施例1と同様の
吸着筒をドライアイス+エタノール系の冷媒で−40〜
−50℃に保冷し、10%アルシン含有する水素ガスを
0.1L/minで通し、ガルバニックセル式酸素分析
計で酸素濃度を測定したところ、0.52ppmの酸素
が検出された。
【0018】実施例6 実施例5で用いたと同様の10vol%アルシンを含有
する水素ガスに、酸素濃度が1.2ppmになるように
2.4ppmの酸素濃度を有する標準窒素を流量計を見
ながら添加し、実施例1で用いたと同様の吸着筒に通し
たガスをガルバニックセル式酸素分析計で測定したとこ
ろ、吸着筒の手前で調整した濃度とほぼ同じ1.21p
pmの酸素が検出された。 比較例3 実施例6で用いた1.21ppmの酸素濃度を有するア
ルシンを、吸着筒を通さずに直接カルバニックセル式酸
素分析計に通して酸素濃度を測定したところ、分析計の
指示は0ppmのままであり、酸素濃度の測定はできな
かった。
【0019】
【発明の効果】本発明によって、従来技術では測定でき
なかった水素化物ガス含有ガス中の酸素濃度を高感度
で、しかも、分析計に支障を生ずること無く安全に測定
できるようになった。
【0020】
【図面の簡単な説明】
【図1】酸素分析装置のフローシートである。
【符号の説明】
1 ボンベ 2 減圧弁 3 微小流量計 3’微小流量計 4 供給管 5 試料ガスの導入管 6 吸着筒 7 吸着剤 8 ヒーター 9 冷媒槽 10 冷媒 11 導管 12 酸素分析計 13 除害筒 14 供給管
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 FI 技術表示箇所 G01N 27/404 31/00 K 7906−2J (72)発明者 安田 雅子 神奈川県平塚市田村5181番地 日本パイオ ニクス株式会社平塚工場内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】水素化物ガスを含有するガス中に含まれる
    酸素の分析方法において、試料ガスを水素化物ガスに対
    して吸着能力を有する吸着剤と接触させた後酸素分析計
    に導くことを特徴とする水素化物ガス含有ガス中の酸素
    分析方法。
  2. 【請求項2】水素化物ガスがアルシン、ホスフィン、シ
    ラン、ジシラン、ジボラン、セレン化水素、ジボランか
    ら選ばれる1種または2種以上である請求項1に記載の
    酸素分析方法。
  3. 【請求項3】吸着剤が合成ゼオライト、天然ゼオライ
    ト、シリカゲルまたは活性アルミナである請求項1に記
    載の酸素分析方法。
  4. 【請求項4】水素化物ガスを含有するガス中に含まれる
    酸素の分析装置において、試料ガスの導入管と、該導入
    管に接続された吸着筒であってガスの入口および出口を
    有し、かつ内部に水素化物ガスの吸着剤が充填された吸
    着筒と、該吸着筒を収容し、内部に冷媒が満たされた冷
    却槽と、該吸着筒の出口と導管によって接続された酸素
    分析計、とを備えてなることを特徴とする水素化物ガス
    含有ガス中の酸素分析装置。
  5. 【請求項5】試料ガスの導入管から分岐して接続された
    除害筒と、吸着筒の出口側の導管から分岐するパージ用
    不活性ガスの供給管とが設けられた請求項4に記載の酸
    素分析装置。
  6. 【請求項6】除害筒が重金属酸化物を有効成分とする除
    去剤が充填されてなる乾式の除害筒である請求項5に記
    載の酸素分析装置。
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001289816A (ja) * 2000-04-06 2001-10-19 New Cosmos Electric Corp 定電位電解式ガスセンサ
JP2007232611A (ja) * 2006-03-02 2007-09-13 Taiyo Nippon Sanso Corp 微量酸素濃度計の排気ガスの除害装置およびこれを備える微量酸素濃度計ならびに微量酸素濃度計の排気ガスの除害方法
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JP2019002809A (ja) * 2017-06-15 2019-01-10 株式会社堀場製作所 除去部材、校正装置、及びガス分析装置

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