JPH05144825A - 基板加熱装置 - Google Patents

基板加熱装置

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JPH05144825A
JPH05144825A JP33264691A JP33264691A JPH05144825A JP H05144825 A JPH05144825 A JP H05144825A JP 33264691 A JP33264691 A JP 33264691A JP 33264691 A JP33264691 A JP 33264691A JP H05144825 A JPH05144825 A JP H05144825A
Authority
JP
Japan
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substrate
heating
cooling unit
unit
cooling
Prior art date
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Pending
Application number
JP33264691A
Other languages
English (en)
Inventor
Daiya Aoki
大也 青木
Fumio Muramatsu
文雄 村松
Masayuki Suzuki
雅行 鈴木
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Kokusai Electric Corp
Original Assignee
Kokusai Electric Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】処理前の予熱を行う基板加熱装置に於いて、処
理前の予熱時間の短縮、一層の均一加熱を行う。 【構成】気密な室内の上部に加熱ユニット23、下部に
冷却ユニット25をそれぞれ設け、前記加熱ユニットと
前記冷却ユニットとの間に基板27を加熱可能な台板4
5を昇降可能に設けると共に該台板を前記冷却ユニット
に密着可能とし、前記冷却ユニット、前記台板を貫通し
前記基板を支持可能な基板支持ピンを昇降可能に設け、
基板を加熱する場合は、基板支持ピン49により基板を
支持した状態で上方の加熱ユニット、下方の台板によっ
て前記基板の両面より加熱し、又冷却する場合は、台板
を前記冷却ユニットに密着させ該台板を介して前記基板
を冷却する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、基板表面に薄膜を形成
し、或はエッチング処理等の表面処理をして半導体を製
造する半導体製造装置の、特に処理前の予熱、或は処理
後の冷却を行う基板加熱装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】半導体製造装置の1つに液晶表示板を製
造するものがある。これはガラス基板に種々の薄膜を成
膜し、或はエッチング等を行いガラス表面に多数の半導
体素子を形成するものである。
【0003】斯かる半導体製造装置では一連の処理工程
が自動化されており、処理工程の準備処理として、基板
を処理に適した温度迄加熱している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】近年、液晶表示画面は
増々大型化しており、半導体製造装置は斯かる要請に答
えると共に歩留まりの向上、スループットの向上等、製
造能率の向上を図ることが要求されている。
【0005】斯かる要求に答えるべく、本発明は、処理
前の予熱を行う基板加熱装置に於いて、処理前の予熱時
間の短縮、一層の均一加熱、歪みを生じることなく、或
は形成したパターンを損傷させることなく迅速に基板を
加熱させる様にし、更に冷却も可能としたものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、気密な室内の
上部に加熱ユニット、下部に冷却ユニットをそれぞれ設
け、前記加熱ユニットと前記冷却ユニットとの間に基板
を加熱可能な台板を昇降可能に設けると共に該台座を前
記冷却ユニットに密着可能とし、前記冷却ユニット、前
記台板を貫通し前記基板を支持可能な基板支持ピンを昇
降可能に設けたことを特徴とするものである。
【0007】
【作用】基板を加熱する場合は、基板支持ピンにより基
板を支持した状態で上方の加熱ユニット、下方の台板に
よって前記基板の両面より加熱する。又、冷却する場合
は、台板を前記冷却ユニットに密着させ該台板を介して
前記基板を冷却する。
【0008】
【実施例】以下、図面を参照しつつ本発明の一実施例を
説明する。
【0009】図2は、ガラス基板を水平状態で処理する
半導体製造装置を示しており、以下は本発明を該半導体
製造装置について実施した場合を説明する。
【0010】先ず、該半導体製造装置について略述す
る。
【0011】図中、1はカセットスタンド、2はロード
用ロボット、3はロードロック室、4は第1搬送機、5
は基板加熱装置、6は第1成膜室、7は第2搬送機、8
は第2成膜室、9は第3搬送機、10は第3成膜室、1
1はアンロードロック室、12はアンロード用ロボッ
ト、13はカセットスタンドを示し、ロードロック室3
と第1搬送機4、第1搬送機4と基板加熱装置5、第1
搬送機4と第1成膜室6、第1成膜室6と第2搬送機
7、第2搬送機7と第2成膜室8、第2成膜室8と第3
搬送機9、第3搬送機9と第3成膜室10、第3搬送機
9とアンロードロック室11とはそれぞれゲートバルブ
を介して結合されている。
【0012】前記カセットスタンド1には、ガラス基板
14が所要枚数装填されたカセット15がローディング
され、該カセットスタンド1は装填されたガラス基板1
4のピッチに従って前記カセット15を間欠的に昇降す
る。
【0013】又、前記ロード用ロボット2は、前記カセ
ット15よりガラス基板14を1枚ずつ取出しロードロ
ック室3に搬送する。該ロードロック室3は気密構造と
なっており、又基板搬送口にゲートバルブ16を有し、
前記ガラス基板14が搬入された後は、前記ゲートバル
ブ16を閉じて内部を真空状態にする。
【0014】以下、第1搬送機4、基板加熱装置5、第
1成膜室6、第2搬送機7、第2成膜室8、第3搬送機
9、第3成膜室10、アンロードロック室11を真空状
態、或は所要雰囲気で、前記ガラス基板14の処理、搬
送が行われる。
【0015】前記ロードロック室3に搬送されたガラス
基板14は、前記第1搬送機4によって前記基板加熱装
置5に搬送され、該基板加熱装置5に於いて該ガラス基
板14は処理に適した温度迄加熱される。
【0016】予熱された前記ガラス基板14は、前記第
1搬送機4によって前記第1成膜室6に搬送され、該第
1成膜室6に於いて第1層の成膜処理が行われる。第1
層の成膜処理が完了すると、前記第2搬送機7より前記
第1成膜室6から取出されたガラス基板14は前記第2
成膜室8に搬送され、該第2成膜室8に於いて第2の成
膜処理が行われる。同様に、前記第3搬送機9により前
記第3成膜室10にガラス基板14が搬送され、更に成
膜処理が行われ、所要の成膜処理が完了すると、前記第
3搬送機9によって前記アンロードロック室11にガラ
ス基板14が搬送される。
【0017】該アンロードロック室11内部を常圧迄昇
圧し、ゲートバルブ17を開いて前記アンロード用ロボ
ット12によってガラス基板14を取出し、前記カセッ
トスタンド13に載置されたカセット15に処理の完了
したガラス基板14を1枚ずつ移載する。
【0018】尚、上記した半導体製造装置に於いて、処
理室の数はガラス基板の処理の内容により、ユニットの
配置の状態は、設備される空間、或は関連する設備との
関係により適宜変更が加えられる。
【0019】以下、図1により本実施例に係る基板加熱
装置5を説明する。
【0020】フレーム20に気密な基板加熱室21を設
け、該基板加熱室21の蓋22は開閉可能となってお
り、又基板加熱室21の側面には連絡窓51が穿設さ
れ、該連絡窓51より第1搬送機4のロボットアーム3
0が出入りする様になっている。
【0021】前記蓋22に加熱ユニツト23を設け、前
記基板加熱室21の底部にはポスト24を介して冷却ユ
ニット25を設ける。又、該冷却ユニット25の周囲を
囲繞する如く基板台ユニット26を設け、更に前記冷却
ユニット25、基板台ユニット26を貫通して基板27
を支持する基板昇降ユニット28を設ける。
【0022】以下、上記した各ユニットについて更に詳
述する。
【0023】先ず、加熱ユニツト23について説明す
る。
【0024】前記蓋22にカラー29を介して反射板3
3を設け、該反射板33の裏面側に冷却管31を固着
し、該冷却管31は図示しない冷却源に接続し、該冷却
管31を介して前記反射板33を冷却する。又、該反射
板33の反射面側には棒状の加熱ランプ32を所要数設
ける。
【0025】又、冷却ユニット25は内部に図示しない
冷却管を埋設してあり、該冷却管は図示しない冷却源に
接続し、該冷却源によって連続的に冷却されている。
【0026】前記基板台ユニット26を説明する。
【0027】前記基板加熱室21の底部にシールブロッ
ク34を設け、該シールブロック34を介して昇降ロッ
ド35を気密に且摺動自在に設ける。又、前記基板加熱
室21の底部裏面側に支柱36を介して棚板37を設
け、該棚板37の下面に昇降シリンダ38を設け、該昇
降シリンダ38のロッド39と前記昇降ロッド35の下
端に掛渡して設けたビーム40とを連結する。
【0028】又、前記昇降ロッド35の上端にジョイン
ト金具41を設け、該ジョイント金具41に下方に延び
るシャフト42を設け、該シャフト42に台脚43を摺
動自在に且抜脱不能に設け、該台脚43と前記ジョイン
ト金具41とはスプリング44によって離反方向に付勢
する。更に、前記台脚43の上端には台板45を固着す
る。該台板45の内部にはヒータ(図示せず)を埋設し
前記基板27を下面より加熱する様にする。
【0029】次に、前記棚板37にリフトシリンダ50
を設け、該リフトシリンダ50のロッド46をシールブ
ロック47を介して気密に且摺動自在に前記基板加熱室
21の底部を貫通させる。該ロッド46の上端に複数の
アーム部を有するリフトアーム48を固着し、該リフト
アーム48の各アーム部先端に基板支持ピン49を植設
する。該基板支持ピン49は前記冷却ユニット25、前
記台板45を貫通し、且前記ロボットアーム30と干渉
しない位置で前記基板27の下面に当接して該基板27
を支持する様になっている。
【0030】尚、特に図示していないが、前記連絡窓5
1にはゲートバルブが設けられており、基板27の加熱
時には密閉される様になっている。又、図中、52はパ
ーティクルが基板27に落下するのを防止する石英カバ
ーである。
【0031】以下、作動について説明する。
【0032】ロボットアーム30による基板27の搬入
時には、前記台板45を前記冷却ユニット25より上方
に位置させておき、又前記リフトシリンダ50により前
記ロッド46、リフトアーム48を介して前記基板支持
ピン49を下降させ、前記連絡窓51から基板27を前
記基板加熱室21内に搬入する。
【0033】前記ロボットアーム30により基板27を
該台板45の上方に保持させ、前記リフトシリンダ50
を作動させ前記基板支持ピン49を上昇させて基板27
を支持すると共に該基板27を前記ロボットアーム30
より上昇させる。該ロボットアーム30を後退させ図示
しないゲートバルブで連絡窓51を閉塞する。
【0034】搬入された基板27の上面から前記加熱ラ
ンプ32により、又基板27の下面より前記台板45で
熱輻射によって加熱する。該基板27を両面から加熱す
ることで、基板27に歪み割れを生じさせることなく所
要の温度迄加熱することができる。基板27が所要温度
まで達すると、前記リフトシリンダ50により前記基板
支持ピン49を下降させ、前記基板27を前記基板支持
ピン49に乗置させる。該基板27を台板45に乗置さ
せることで、該基板27は熱伝導により更に迅速な加熱
が行われる。
【0035】該基板27を処理温度迄加熱すると、前記
リフトシリンダ50により前記基板支持ピン49を上昇
させ前記基板27を前記台板45から持上げる。次に、
図示しないゲートバルブを開き前記ロボットアーム30
を前記連絡窓51から挿入する。前記リフトシリンダ5
0を作動させて前記基板27を降下させ、該基板27を
前記ロボットアーム30に乗置する。該ロボットアーム
30を後退させ予熱の完了した基板27を基板加熱室2
1から取出す。
【0036】上記作動は基板27を所要の温度まで加熱
する場合を説明したが、本実施例では成膜等所定の処理
が完了した基板27を常温迄冷却することも可能であ
る。
【0037】基板27を冷却する場合は、前記台板45
を基板27の温度迄予め予熱しておく。
【0038】前記ロボットアーム30により基板27を
基板加熱室21内に搬入し、前記したと同様なリフトシ
リンダ50とロボットアーム30との協動で前記台板4
5に乗置する。
【0039】基板27が台板45に乗置されると前記昇
降シリンダ38を駆動し、ロッド39、ビーム40、昇
降ロッド35、ジョイント金具41、スプリング44、
台脚43を介して前記台板45を下降させ、更に前記冷
却ユニット25に密着させる。
【0040】該冷却ユニット25と前記台板45との接
触圧は前記スプリング44によって与えられ、又該接触
圧は該スプリング44の諸元を適宜選択することで適正
な値とすることができる。
【0041】而して、前記基板27は前記冷却ユニット
25により前記台板45と共に冷却される。
【0042】尚、上記実施例では前記台板45にヒータ
を埋設したが、基板27が液晶表示器に用いられる場合
などの様にガラスであると、前記台板45の上面に黒体
を塗布し、基板27を透過した輻射熱を前記台板45で
吸収させ、該台板45で基板27の下面より加熱する様
にしてもよい。又、上記実施例では処理すべき基板とし
てガラス基板を例示したが、その他の基板に対しても実
施可能であることは勿論である。
【0043】
【発明の効果】以上述べた如く本発明によれば、基板の
上下両面から同時に加熱することができるので、迅速に
而も基板に反りなどを生じさせることなく予熱を行え、
予熱時間の短縮を図ると共に予熱時の不良発生を防止す
ることができるという優れた効果を発揮する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す断面図である。
【図2】本発明が実施された半導体製造装置の一例を示
す全体斜視図である。
【符号の説明】
21 基板加熱室 23 加熱ユニツト 25 冷却ユニット 26 基板台ユニット 27 基板 32 加熱ランプ 45 台板 49 基板支持ピン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気密な室内の上部に加熱ユニット、下部
    に冷却ユニットをそれぞれ設け、前記加熱ユニットと前
    記冷却ユニットとの間に基板を加熱可能な台板を昇降可
    能に設けると共に該台板を前記冷却ユニットに密着可能
    とし、前記冷却ユニット、前記台板を貫通し前記基板を
    支持可能な基板支持ピンを昇降可能に設けたことを特徴
    とする基板加熱装置。
JP33264691A 1991-11-21 1991-11-21 基板加熱装置 Pending JPH05144825A (ja)

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JP33264691A JPH05144825A (ja) 1991-11-21 1991-11-21 基板加熱装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH098001A (ja) * 1995-06-20 1997-01-10 Shibaura Eng Works Co Ltd ドライエッチング装置
WO2014199538A1 (ja) * 2013-06-11 2014-12-18 キヤノンアネルバ株式会社 真空処理装置

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