JPH051396A - プリント回路板の製法 - Google Patents
プリント回路板の製法Info
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- JPH051396A JPH051396A JP14706191A JP14706191A JPH051396A JP H051396 A JPH051396 A JP H051396A JP 14706191 A JP14706191 A JP 14706191A JP 14706191 A JP14706191 A JP 14706191A JP H051396 A JPH051396 A JP H051396A
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- Japan
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- nickel
- layer
- nickel layer
- electroplating
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- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 銅層を有する絶縁基板の該銅層上にニッケル
層を介して金皮膜を形成してなるプリント回路板で、銅
の拡散の防止のためのバリヤーとしてのニッケル層の性
能を向上させる。 【構成】 銅層上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケ
ルメッキを施して第１のニッケル層を形成した後、この
第１のニッケル層をニッケル濃度 5〜50g/l のメッキ浴
中で、電流密度 8A/dm2 以上で電気メッキする方法で表
面処理し、さらにこの表面処理された第１のニッケル層
上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケルメッキを施し
て、第２のニッケル層を形成させ、ニッケル層を多層構
成にする。
層を介して金皮膜を形成してなるプリント回路板で、銅
の拡散の防止のためのバリヤーとしてのニッケル層の性
能を向上させる。 【構成】 銅層上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケ
ルメッキを施して第１のニッケル層を形成した後、この
第１のニッケル層をニッケル濃度 5〜50g/l のメッキ浴
中で、電流密度 8A/dm2 以上で電気メッキする方法で表
面処理し、さらにこの表面処理された第１のニッケル層
上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケルメッキを施し
て、第２のニッケル層を形成させ、ニッケル層を多層構
成にする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、銅層を有する絶縁基板
の該銅層上に電気メッキによりニッケル層を形成した
後、このニッケル層上に金皮膜を形成するプリント回路
板の製法に関するもので、さらに詳しくは、前記ニッケ
ル層の形成法に関するものである。
の該銅層上に電気メッキによりニッケル層を形成した
後、このニッケル層上に金皮膜を形成するプリント回路
板の製法に関するもので、さらに詳しくは、前記ニッケ
ル層の形成法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、電気的接続を良好にする等の目的
で表面に金皮膜を必要とするプリント回路板では、銅層
と金皮膜との間に銅の拡散の防止のためのバリヤーとし
てニッケル層が設けられている。このニッケル層は、硫
酸ニッケルを主成分としたワット浴やスルファミン酸ニ
ッケルを主成分としたスルファミン酸浴等のメッキ浴を
用い、電流密度 1〜 5A/cm2 で、一工程の電気メッキに
より厚さ数μｍに形成されるのが一般的である。このよ
うにして得られるプリント回路板では、銅の拡散の防止
のためのバリヤーとしてのニッケル層の性能が不充分な
ため、高温下でニッケル層の下の銅がニッケル層を通り
抜け、プリント回路板の最表面にまで拡散し、その結
果、金の色調が変化すると共に、搭載する電子部品との
電気的接続に問題が生じることがあり、ニッケル層のバ
リヤーとしての性能の向上が求められている。
で表面に金皮膜を必要とするプリント回路板では、銅層
と金皮膜との間に銅の拡散の防止のためのバリヤーとし
てニッケル層が設けられている。このニッケル層は、硫
酸ニッケルを主成分としたワット浴やスルファミン酸ニ
ッケルを主成分としたスルファミン酸浴等のメッキ浴を
用い、電流密度 1〜 5A/cm2 で、一工程の電気メッキに
より厚さ数μｍに形成されるのが一般的である。このよ
うにして得られるプリント回路板では、銅の拡散の防止
のためのバリヤーとしてのニッケル層の性能が不充分な
ため、高温下でニッケル層の下の銅がニッケル層を通り
抜け、プリント回路板の最表面にまで拡散し、その結
果、金の色調が変化すると共に、搭載する電子部品との
電気的接続に問題が生じることがあり、ニッケル層のバ
リヤーとしての性能の向上が求められている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記の事情に鑑み、本
発明の解決しようとする課題は金皮膜を必要とするプリ
ント回路板で、銅の拡散を防止するためのバリヤーとし
てのニッケル層の性能を向上させることである。
発明の解決しようとする課題は金皮膜を必要とするプリ
ント回路板で、銅の拡散を防止するためのバリヤーとし
てのニッケル層の性能を向上させることである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、銅層を有する
絶縁基板の該銅層上に電気メッキによりニッケル層を形
成した後、このニッケル層上に金皮膜を形成するプリン
ト回路板の製法において、前記ニッケル層の形成法が、
該銅層上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケルメッキ
を施して第１のニッケル層を形成した後、この第１のニ
ッケル層をニッケル濃度 5〜50g/l のメッキ浴中で、電
流密度 8A/dm2 以上で電気メッキする方法で表面処理
し、さらにこの表面処理された第１のニッケル層上に電
流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケルメッキを施して、第
２のニッケル層を形成させることを特徴とするプリント
回路板の製法である。
絶縁基板の該銅層上に電気メッキによりニッケル層を形
成した後、このニッケル層上に金皮膜を形成するプリン
ト回路板の製法において、前記ニッケル層の形成法が、
該銅層上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケルメッキ
を施して第１のニッケル層を形成した後、この第１のニ
ッケル層をニッケル濃度 5〜50g/l のメッキ浴中で、電
流密度 8A/dm2 以上で電気メッキする方法で表面処理
し、さらにこの表面処理された第１のニッケル層上に電
流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケルメッキを施して、第
２のニッケル層を形成させることを特徴とするプリント
回路板の製法である。
【０００５】以下、図面を参照して説明する。図１は本
発明に係るプリント回路板の構成を示す断面図ある。図
１に示すように本発明に係るプリント回路板は、銅層２
を有する絶縁基板１にニッケル層３を介して金皮膜４が
形成されている構成となっている。
発明に係るプリント回路板の構成を示す断面図ある。図
１に示すように本発明に係るプリント回路板は、銅層２
を有する絶縁基板１にニッケル層３を介して金皮膜４が
形成されている構成となっている。
【０００６】本発明の絶縁基板１としては、アルミナ基
板などの無機基板あるいはガラス布基材エポキシ樹脂基
板などの有機基板が用いられる。この絶縁基板１の上の
銅層２は例えば、銅箔のラミネート、スパッタリングあ
るいは無電解メッキなどの方法で形成される。本発明
は、この銅層２の上に電流密度 8A/dm2 未満で電気メッ
キを施して形成した第１のニッケル層の表面に対し、表
面処理をし、この表面処理がされたニッケル層上に、さ
らに電流密度 8A/dm2 未満で電気メッキを施して第２の
ニッケル層を形成して、ニッケル層を多層構成にしたも
のである。ここで、第１のニッケル層及び第２のニッケ
ル層を形成するのに電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケ
ルメッキを施すのは、電流密度を 8A/dm2 以上にすると
次の不具合が生じるからである。すなわち、電流密度が
8A/dm2 以上で、メッキ浴のニッケル濃度が50g/l より
も薄い場合は厚い膜が形成出来ないという不具合を生
じ、電流密度が 8A/dm2 以上で、メッキ浴のニッケル濃
度が50g/l よりも濃い場合は形成されるニッケル層の結
晶状態が粗大結晶の多い状態となるため、銅の拡散を防
止する性能が悪いという不具合が生じるからである。
板などの無機基板あるいはガラス布基材エポキシ樹脂基
板などの有機基板が用いられる。この絶縁基板１の上の
銅層２は例えば、銅箔のラミネート、スパッタリングあ
るいは無電解メッキなどの方法で形成される。本発明
は、この銅層２の上に電流密度 8A/dm2 未満で電気メッ
キを施して形成した第１のニッケル層の表面に対し、表
面処理をし、この表面処理がされたニッケル層上に、さ
らに電流密度 8A/dm2 未満で電気メッキを施して第２の
ニッケル層を形成して、ニッケル層を多層構成にしたも
のである。ここで、第１のニッケル層及び第２のニッケ
ル層を形成するのに電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケ
ルメッキを施すのは、電流密度を 8A/dm2 以上にすると
次の不具合が生じるからである。すなわち、電流密度が
8A/dm2 以上で、メッキ浴のニッケル濃度が50g/l より
も薄い場合は厚い膜が形成出来ないという不具合を生
じ、電流密度が 8A/dm2 以上で、メッキ浴のニッケル濃
度が50g/l よりも濃い場合は形成されるニッケル層の結
晶状態が粗大結晶の多い状態となるため、銅の拡散を防
止する性能が悪いという不具合が生じるからである。
【０００７】従来の単に一工程の電気メッキでニッケル
層３を形成させた場合、得られる厚さ数μｍのニッケル
層３の結晶状態は図２の模式図に示すように、素地面で
ある銅層２に近い部分は微細結晶であり、この微細結晶
の上に粗大結晶が成長している状態となる。そして、こ
の一工程の電気メッキを多数回の電気メッキに変えただ
けでは得られるニッケル層３の結晶状態は、一工程で電
気メッキを行ったときの結晶状態と同じものしか得られ
ないが、本発明では第１のニッケル層の上に、ニッケル
濃度 5〜50g/l のメッキ浴を用い、電流密度 8A/dm2 以
上で電気メッキする方法で表面処理を施して、 1μｍ以
下の極めて薄い、そして微細なニッケルの核を多数有す
る表面状態の膜を形成させ、その上に電気ニッケルメッ
キを施して第２のニッケル層を形成するようにしたた
め、図３に示すようなニッケルの結晶状態が実現するも
のである。ここで、図３は本発明の方法により得られる
２層構成のニッケル層３の結晶状態を示す模式図であ
る。図３で明らかなように、本発明による、多層構成の
ニッケル層３の結晶状態は微細結晶の割合が多く、粗大
結晶の割合が少ない状態となる。このように、本発明で
は、ニッケル層３の微細結晶の割合を多くすることによ
り、銅の拡散の防止のためのバリヤーとしてのニッケル
層３の性能を向上させるものである。
層３を形成させた場合、得られる厚さ数μｍのニッケル
層３の結晶状態は図２の模式図に示すように、素地面で
ある銅層２に近い部分は微細結晶であり、この微細結晶
の上に粗大結晶が成長している状態となる。そして、こ
の一工程の電気メッキを多数回の電気メッキに変えただ
けでは得られるニッケル層３の結晶状態は、一工程で電
気メッキを行ったときの結晶状態と同じものしか得られ
ないが、本発明では第１のニッケル層の上に、ニッケル
濃度 5〜50g/l のメッキ浴を用い、電流密度 8A/dm2 以
上で電気メッキする方法で表面処理を施して、 1μｍ以
下の極めて薄い、そして微細なニッケルの核を多数有す
る表面状態の膜を形成させ、その上に電気ニッケルメッ
キを施して第２のニッケル層を形成するようにしたた
め、図３に示すようなニッケルの結晶状態が実現するも
のである。ここで、図３は本発明の方法により得られる
２層構成のニッケル層３の結晶状態を示す模式図であ
る。図３で明らかなように、本発明による、多層構成の
ニッケル層３の結晶状態は微細結晶の割合が多く、粗大
結晶の割合が少ない状態となる。このように、本発明で
は、ニッケル層３の微細結晶の割合を多くすることによ
り、銅の拡散の防止のためのバリヤーとしてのニッケル
層３の性能を向上させるものである。
【０００８】上記の表面処理をニッケル濃度が 5g/l よ
りも薄いメッキ浴を用いて行うと、ニッケルの生成が極
めて少なく、表面処理した上に、電気ニッケルメッキを
施して第２のニッケル層を形成した場合、得られる結晶
状態は粗大結晶が多い結晶状態となる。また、ニッケル
濃度が50g/l より濃いメッキ浴を用いて行ったり、電流
密度が 8A/dm2 未満であったりすると、この表面処理に
よって厚い膜が形成され、その膜は一工程で電気メッキ
を行ったときの結晶状態と同じものに近くなるので、そ
の上に、電気ニッケルメッキを施して第２のニッケル層
を形成した場合、得られる結晶状態は粗大結晶が多い結
晶状態となる。従って、表面処理をニッケル濃度 5〜50
g/l のメッキ浴を用い、電流密度 8A/dm2 以上で電気メ
ッキする方法で行うことが本発明では重要である。
りも薄いメッキ浴を用いて行うと、ニッケルの生成が極
めて少なく、表面処理した上に、電気ニッケルメッキを
施して第２のニッケル層を形成した場合、得られる結晶
状態は粗大結晶が多い結晶状態となる。また、ニッケル
濃度が50g/l より濃いメッキ浴を用いて行ったり、電流
密度が 8A/dm2 未満であったりすると、この表面処理に
よって厚い膜が形成され、その膜は一工程で電気メッキ
を行ったときの結晶状態と同じものに近くなるので、そ
の上に、電気ニッケルメッキを施して第２のニッケル層
を形成した場合、得られる結晶状態は粗大結晶が多い結
晶状態となる。従って、表面処理をニッケル濃度 5〜50
g/l のメッキ浴を用い、電流密度 8A/dm2 以上で電気メ
ッキする方法で行うことが本発明では重要である。
【０００９】本発明においては、さらに多層とするには
第２のニッケル層を前記の表面処理方法で表面処理し、
この上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケルメッキを
施して第３のニッケル層を形成させる方法で順次多層に
していくことが可能である。本発明の各層の厚さ及び層
数については特に限定はなく、各層の厚さが厚いほど、
また、より多層にするほど、銅の拡散の防止のためのバ
リヤーとしてのニッケル層３の性能は向上する。
第２のニッケル層を前記の表面処理方法で表面処理し、
この上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニッケルメッキを
施して第３のニッケル層を形成させる方法で順次多層に
していくことが可能である。本発明の各層の厚さ及び層
数については特に限定はなく、各層の厚さが厚いほど、
また、より多層にするほど、銅の拡散の防止のためのバ
リヤーとしてのニッケル層３の性能は向上する。
【００１０】また、本発明において、第１のニッケル層
及び第２のニッケル層を形成するための電気メッキの前
処理として、脱脂処理や酸洗いの処理を施すことは何ら
差し支えない。
及び第２のニッケル層を形成するための電気メッキの前
処理として、脱脂処理や酸洗いの処理を施すことは何ら
差し支えない。
【００１１】
【作用】本発明の、ニッケル層３の形成法が特定の表面
処理がされたニッケル層上に電気ニッケルメッキを施し
て、次のニッケル層を形成して、ニッケル層３を多層の
ニッケル層で構成することは、ニッケル層３の結晶状態
を微細結晶の割合が多い状態にする働きをし、このニッ
ケル層３の結晶状態を微細結晶の割合が多い状態にする
ことは、銅の拡散の防止のためのバリヤーとしてのニッ
ケル層３の性能を向上させる働きをする。
処理がされたニッケル層上に電気ニッケルメッキを施し
て、次のニッケル層を形成して、ニッケル層３を多層の
ニッケル層で構成することは、ニッケル層３の結晶状態
を微細結晶の割合が多い状態にする働きをし、このニッ
ケル層３の結晶状態を微細結晶の割合が多い状態にする
ことは、銅の拡散の防止のためのバリヤーとしてのニッ
ケル層３の性能を向上させる働きをする。
【００１２】
実施例１ 銅の厚さ10μｍの銅層を片面に形成したアルミナ基板を
メッキ前処理として10％の硫酸を用いて酸洗いをした
後、下記の組成１のメッキ浴を用い電流密度 2A/dm2 の
条件で電気メッキし、厚さ 2μｍの第１のニッケル層を
銅層の上に形成し、次に、ニッケル濃度が 13.7g/l で
ある下記の組成２のメッキ浴を用い電流密度10A/dm2 の
条件で10秒間電気メッキする方法で表面処理をした。さ
らに、メッキ前処理として10％の硫酸を用いて酸洗いを
した後、再び組成１のメッキ浴を用い電流密度 2A/dm2
の条件で電気メッキし、厚さ2μｍの第２のニッケル層
を表面処理された第１のニッケル層の上に形成し、次
に、厚さ 0.5μｍの金皮膜を第２のニッケル層の上に電
気メッキで形成してプリント回路板を作成した。得られ
たプリント回路板を空気中、 350℃の雰囲気で耐熱性の
試験を行い、金表面の色調がレモンイエローから黒色へ
と変化するまでの時間を測定した。その結果を表１に示
す。
メッキ前処理として10％の硫酸を用いて酸洗いをした
後、下記の組成１のメッキ浴を用い電流密度 2A/dm2 の
条件で電気メッキし、厚さ 2μｍの第１のニッケル層を
銅層の上に形成し、次に、ニッケル濃度が 13.7g/l で
ある下記の組成２のメッキ浴を用い電流密度10A/dm2 の
条件で10秒間電気メッキする方法で表面処理をした。さ
らに、メッキ前処理として10％の硫酸を用いて酸洗いを
した後、再び組成１のメッキ浴を用い電流密度 2A/dm2
の条件で電気メッキし、厚さ2μｍの第２のニッケル層
を表面処理された第１のニッケル層の上に形成し、次
に、厚さ 0.5μｍの金皮膜を第２のニッケル層の上に電
気メッキで形成してプリント回路板を作成した。得られ
たプリント回路板を空気中、 350℃の雰囲気で耐熱性の
試験を行い、金表面の色調がレモンイエローから黒色へ
と変化するまでの時間を測定した。その結果を表１に示
す。
【００１３】組成１ 硫酸ニッケル 300g/l 塩化ニッケル 45g/l ほう酸 30g/l 組成２ 塩化ニッケル 50g/l ほう酸 100g/l 実施例２ 実施例１と同様にして第２のニッケル層まで形成後、第
２のニッケル層に対し実施例１の表面処理と同様の表面
処理を行い、さらに、第３のニッケル層を第１のニッケ
ル層の形成の場合と同じ酸洗い条件及びメッキ条件で形
成し、ニッケル層全体の厚さを 6μｍとした。次に、厚
さ 0.5μｍの金皮膜を第３のニッケル層の上に電気メッ
キで形成してプリント回路板を作成した。得られたプリ
ント回路板を空気中、 350℃の雰囲気で耐熱性の試験を
行い、金表面の色調がレモンイエローから黒色へと変化
するまでの時間を測定した。その結果を表１に示す。
２のニッケル層に対し実施例１の表面処理と同様の表面
処理を行い、さらに、第３のニッケル層を第１のニッケ
ル層の形成の場合と同じ酸洗い条件及びメッキ条件で形
成し、ニッケル層全体の厚さを 6μｍとした。次に、厚
さ 0.5μｍの金皮膜を第３のニッケル層の上に電気メッ
キで形成してプリント回路板を作成した。得られたプリ
ント回路板を空気中、 350℃の雰囲気で耐熱性の試験を
行い、金表面の色調がレモンイエローから黒色へと変化
するまでの時間を測定した。その結果を表１に示す。
【００１４】実施例３ 実施例１の第１のニッケル層と第２のニッケル層の厚さ
を、それぞれ 3μｍとし、ニッケル層全体の厚さを 6μ
ｍとした以外は実施例１と同様にして、プリント回路板
を作成した。得られたプリント回路板を空気中、 350℃
の雰囲気で耐熱性の試験を行い、金表面の色調がレモン
イエローから黒色へと変化するまでの時間を測定した。
その結果を表１に示す。
を、それぞれ 3μｍとし、ニッケル層全体の厚さを 6μ
ｍとした以外は実施例１と同様にして、プリント回路板
を作成した。得られたプリント回路板を空気中、 350℃
の雰囲気で耐熱性の試験を行い、金表面の色調がレモン
イエローから黒色へと変化するまでの時間を測定した。
その結果を表１に示す。
【００１５】実施例４ メッキ前処理である、10％の硫酸を用いた酸洗いをせず
に、ニッケルの電気メッキをした以外は実施例１と同様
にして、プリント回路板を作成した。得られたプリント
回路板を空気中、 350℃の雰囲気で耐熱性の試験を行
い、金表面の色調がレモンイエローから黒色へと変化す
るまでの時間を測定した。その結果を表１に示す。
に、ニッケルの電気メッキをした以外は実施例１と同様
にして、プリント回路板を作成した。得られたプリント
回路板を空気中、 350℃の雰囲気で耐熱性の試験を行
い、金表面の色調がレモンイエローから黒色へと変化す
るまでの時間を測定した。その結果を表１に示す。
【００１６】比較例１ 銅の厚さ10μｍの銅層を片面に形成したアルミナ基板を
メッキ前処理として10％の硫酸を用いて酸洗いをした
後、前記の組成１のメッキ浴を用い電流密度 2A/dm2 の
条件で電気メッキし、厚さ 4μｍのニッケル層を銅層の
上に形成し、次に、厚さ 0.5μｍの金皮膜をニッケル層
の上に電気メッキで形成してプリント回路板を作成し
た。得られたプリント回路板を空気中、 350℃の雰囲気
で耐熱性の試験を行い、金表面の色調がレモンイエロー
から黒色へと変化するまでの時間を測定した。その結果
を表１に示す。
メッキ前処理として10％の硫酸を用いて酸洗いをした
後、前記の組成１のメッキ浴を用い電流密度 2A/dm2 の
条件で電気メッキし、厚さ 4μｍのニッケル層を銅層の
上に形成し、次に、厚さ 0.5μｍの金皮膜をニッケル層
の上に電気メッキで形成してプリント回路板を作成し
た。得られたプリント回路板を空気中、 350℃の雰囲気
で耐熱性の試験を行い、金表面の色調がレモンイエロー
から黒色へと変化するまでの時間を測定した。その結果
を表１に示す。
【００１７】
【表１】
【００１８】
【発明の効果】本発明によれば、銅層と金皮膜との間に
銅の拡散の防止のためのバリヤーとしてニッケル層が設
けられているプリント回路板において、該ニッケル層の
バリヤーとしての性能が向上する。その結果、金皮膜へ
の銅の拡散により生じる、金皮膜と搭載する電子部品と
の電気的接続不良を減少できる効果がある。
銅の拡散の防止のためのバリヤーとしてニッケル層が設
けられているプリント回路板において、該ニッケル層の
バリヤーとしての性能が向上する。その結果、金皮膜へ
の銅の拡散により生じる、金皮膜と搭載する電子部品と
の電気的接続不良を減少できる効果がある。
【図１】本発明に係るプリント回路板の構成を示す断面
図である。
図である。
【図２】従来のプリント回路板の製法により得られるニ
ッケル層の結晶状態を示す模式図である。
ッケル層の結晶状態を示す模式図である。
【図３】本発明のプリント回路板の製法により得られる
２層構成のニッケル層の結晶状態を示す模式図である。
２層構成のニッケル層の結晶状態を示す模式図である。
１ 絶縁基板 ２ 銅層 ３ ニッケル層 ４ 金皮膜
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 銅層を有する絶縁基板の該銅層上に電気
メッキによりニッケル層を形成した後、このニッケル層
上に金皮膜を形成するプリント回路板の製法において、
前記ニッケル層の形成法が、該銅層上に電流密度 8A/dm
2 未満で電気ニッケルメッキを施して第１のニッケル層
を形成した後、この第１のニッケル層をニッケル濃度 5
〜50g/l のメッキ浴中で、電流密度 8A/dm2 以上で電気
メッキする方法で表面処理し、さらにこの表面処理され
た第１のニッケル層上に電流密度 8A/dm2 未満で電気ニ
ッケルメッキを施して、第２のニッケル層を形成させる
ことを特徴とするプリント回路板の製法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14706191A JPH051396A (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | プリント回路板の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14706191A JPH051396A (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | プリント回路板の製法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH051396A true JPH051396A (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=15421609
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14706191A Pending JPH051396A (ja) | 1991-06-19 | 1991-06-19 | プリント回路板の製法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH051396A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1297693C (zh) * | 2003-02-26 | 2007-01-31 | 株式会社太洋工作所 | 生产电镀模制产品的方法 |
| WO2016115702A1 (zh) * | 2015-01-22 | 2016-07-28 | 华为技术有限公司 | 一种小尺寸器件的散热装置和电路板散热系统 |
| US11223002B2 (en) | 2016-08-22 | 2022-01-11 | Lg Electronics Inc. | Superlattice thermoelectric material and thermoelectric device using same |
-
1991
- 1991-06-19 JP JP14706191A patent/JPH051396A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN1297693C (zh) * | 2003-02-26 | 2007-01-31 | 株式会社太洋工作所 | 生产电镀模制产品的方法 |
| WO2016115702A1 (zh) * | 2015-01-22 | 2016-07-28 | 华为技术有限公司 | 一种小尺寸器件的散热装置和电路板散热系统 |
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