JPH05136735A - 光周波数安定化装置 - Google Patents
光周波数安定化装置Info
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- JPH05136735A JPH05136735A JP3300334A JP30033491A JPH05136735A JP H05136735 A JPH05136735 A JP H05136735A JP 3300334 A JP3300334 A JP 3300334A JP 30033491 A JP30033491 A JP 30033491A JP H05136735 A JPH05136735 A JP H05136735A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体レーザ出力部、入力光を合成並びに分
配するカプラ部、光周波数検出部、光制御部のシステム
機構を少くとも２つ以上に多重化し、半導体レーザ出力
部や制御部、検出部等のシステム機構の如何なる点に障
害が発生しようとも、ただちに作動回復する機能を有す
るように構成されており、信頼性の高い光周波数安定化
装置を提供することを目的とする。 【構成】 現用の半導体レーザ出力部、光周波数検出
部、制御部システム機構以外に予備用の半導体レーザ出
力部、光周波数検出部、制御部システム機構を有し通常
は予備の周波数検出部、制御部システム機構を用いて監
視を行う。
配するカプラ部、光周波数検出部、光制御部のシステム
機構を少くとも２つ以上に多重化し、半導体レーザ出力
部や制御部、検出部等のシステム機構の如何なる点に障
害が発生しようとも、ただちに作動回復する機能を有す
るように構成されており、信頼性の高い光周波数安定化
装置を提供することを目的とする。 【構成】 現用の半導体レーザ出力部、光周波数検出
部、制御部システム機構以外に予備用の半導体レーザ出
力部、光周波数検出部、制御部システム機構を有し通常
は予備の周波数検出部、制御部システム機構を用いて監
視を行う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は光周波数多重もしくは波
長多重に使われる光周波数安定化装置に関する。
長多重に使われる光周波数安定化装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の光周波数安定化装置の例を図５に
示す。
示す。
【０００３】図５に示した、１〜３は半導体レーザ（Ｌ
Ｄ）であり、それぞれのレーザ出力光はカプラ４で合成
される。カプラ４で合成及び分配された一部の合成波の
出力光は、周波数検出部５に導かれ、ここで半導体レー
ザの光周波数が検出され、そして、この検出された光信
号は制御部６で解析され、各半導体レーザの出力光の光
周波数が所定の周波数値になるように安定化させるもの
である。
Ｄ）であり、それぞれのレーザ出力光はカプラ４で合成
される。カプラ４で合成及び分配された一部の合成波の
出力光は、周波数検出部５に導かれ、ここで半導体レー
ザの光周波数が検出され、そして、この検出された光信
号は制御部６で解析され、各半導体レーザの出力光の光
周波数が所定の周波数値になるように安定化させるもの
である。
【０００４】この従来の光周波数安定化装置は各半導体
レーザの光周波数を一括して検出し、制御するため装置
の小形化、簡易化が図れる。しかし、周波数検出部５及
び制御部６に障害が発生すると光周波数が多重している
全チャンネルに障害が及び動作が不能となる。
レーザの光周波数を一括して検出し、制御するため装置
の小形化、簡易化が図れる。しかし、周波数検出部５及
び制御部６に障害が発生すると光周波数が多重している
全チャンネルに障害が及び動作が不能となる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の光周波数安定化
装置が光周波数検出部及び光制御部に障害が発生すると
全チャンネルが動作不能となる欠点があるのに対し、本
発明による光周波数安定化装置は上記の欠点を解決した
ものであり、光周波数検出部機構、光制御部機構、所定
の光周波数スイープ制御機構は、云うまでもなくその他
の部分に障害が発生しても、ただちに回復する機能を有
する光周波数安定化装置を提供することを目的とする。
装置が光周波数検出部及び光制御部に障害が発生すると
全チャンネルが動作不能となる欠点があるのに対し、本
発明による光周波数安定化装置は上記の欠点を解決した
ものであり、光周波数検出部機構、光制御部機構、所定
の光周波数スイープ制御機構は、云うまでもなくその他
の部分に障害が発生しても、ただちに回復する機能を有
する光周波数安定化装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】第１の発明の光周波数安
定化装置は、複数の半導体レーザ光を出力するレーザ光
出力部と、前記複数の半導体レーザ光を合成した後一部
の合成波光を分配し取り出すカプラ部と、分配された合
成波光の光周波数を検出する現用並びに予備の光周波数
検出部及び、現用並びに予備の光制御部を有し、前記複
数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の光
周波数に安定化するために前記現用の光周波数検出部と
現用の光制御部を用いてフィードバック制御を行ない、
障害が発生した場合は現用並びに予備の光周波数検出部
と現用並びに予備の光制御部が相互に補助し合いなが
ら、前記光周波数安定化装置の障害の箇所を発見するこ
とを特徴とする。
定化装置は、複数の半導体レーザ光を出力するレーザ光
出力部と、前記複数の半導体レーザ光を合成した後一部
の合成波光を分配し取り出すカプラ部と、分配された合
成波光の光周波数を検出する現用並びに予備の光周波数
検出部及び、現用並びに予備の光制御部を有し、前記複
数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の光
周波数に安定化するために前記現用の光周波数検出部と
現用の光制御部を用いてフィードバック制御を行ない、
障害が発生した場合は現用並びに予備の光周波数検出部
と現用並びに予備の光制御部が相互に補助し合いなが
ら、前記光周波数安定化装置の障害の箇所を発見するこ
とを特徴とする。
【０００７】第２の発明の光周波数安定化装置は、複数
の半導体レーザ光を出力するレーザ光出力部と、前記複
数の半導体レーザ光を合成した後一部の合成波光を分配
し取り出すカプラ部と、分配された合成波光の光周波数
を検出する光周波数検出部及び光制御部を有し、前記複
数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の光
周波数に安定化するために前記光周波数検出部と光制御
部を用いてフィードバック制御を行なう光周波数安定化
装置において、基準となる光周波数を出力する半導体レ
ーザを用いて、光周波数を検出する際、前記基準周波数
出力光の半導体レーザを現用と予備との２基を配備した
機構を有することを特徴とする。
の半導体レーザ光を出力するレーザ光出力部と、前記複
数の半導体レーザ光を合成した後一部の合成波光を分配
し取り出すカプラ部と、分配された合成波光の光周波数
を検出する光周波数検出部及び光制御部を有し、前記複
数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の光
周波数に安定化するために前記光周波数検出部と光制御
部を用いてフィードバック制御を行なう光周波数安定化
装置において、基準となる光周波数を出力する半導体レ
ーザを用いて、光周波数を検出する際、前記基準周波数
出力光の半導体レーザを現用と予備との２基を配備した
機構を有することを特徴とする。
【０００８】第３の発明の光周波数安定化装置は、複数
の半導体レーザ光を出力するレーザ光出力部と、前記複
数の半導体レーザ光を合成した後一部の合成波光を分配
し取り出すカプラ部と、分配された合成波光の光周波数
を検出する光周波数検出部及び光制御部を有し、前記複
数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の光
周波数に安定化するために前記光周波数検出部と光制御
部を用いてフィードバック制御を行なう光周波数安定化
装置において、光周波数検出部が、光周波数スイープ用
半導体レーザが設置された機構となっており、前記光周
波数スイープ用半導体レーザは現用と予備の２基を配備
した機構であることを特徴とする。
の半導体レーザ光を出力するレーザ光出力部と、前記複
数の半導体レーザ光を合成した後一部の合成波光を分配
し取り出すカプラ部と、分配された合成波光の光周波数
を検出する光周波数検出部及び光制御部を有し、前記複
数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の光
周波数に安定化するために前記光周波数検出部と光制御
部を用いてフィードバック制御を行なう光周波数安定化
装置において、光周波数検出部が、光周波数スイープ用
半導体レーザが設置された機構となっており、前記光周
波数スイープ用半導体レーザは現用と予備の２基を配備
した機構であることを特徴とする。
【０００９】第４の発明の光周波数安定化装置は、複数
の半導体レーザ光を出力するレーザ光出力部と、前記複
数の半導体レーザ光を合成した後一部の合成波光を分配
し取り出すカプラ部と、分配された合成波光の光周波数
を検出する光周波数検出部及び光制御部を有し、前記複
数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の光
周波数に安定化するために前記光周波数検出部と光制御
部を用いてフィードバック制御を行なう光周波数安定化
装置において、前記複数の半導体レーザの他に光周波数
スイープが可能な半導体レーザを設け、前記複数の半導
体レーザのうちどれかの半導体レーザに障害が生じた際
は、前記光周波数スイープが可能な半導体レーザの光周
波数を障害の生じた半導体レーザの光周波数に合せバッ
クアップすることを特徴とする。
の半導体レーザ光を出力するレーザ光出力部と、前記複
数の半導体レーザ光を合成した後一部の合成波光を分配
し取り出すカプラ部と、分配された合成波光の光周波数
を検出する光周波数検出部及び光制御部を有し、前記複
数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の光
周波数に安定化するために前記光周波数検出部と光制御
部を用いてフィードバック制御を行なう光周波数安定化
装置において、前記複数の半導体レーザの他に光周波数
スイープが可能な半導体レーザを設け、前記複数の半導
体レーザのうちどれかの半導体レーザに障害が生じた際
は、前記光周波数スイープが可能な半導体レーザの光周
波数を障害の生じた半導体レーザの光周波数に合せバッ
クアップすることを特徴とする。
【００１０】第５の発明の光周波数安定化装置は、光周
波数スイープが可能な半導体レーザの出力部に光スイッ
チング機構が設けてあり、前記複数の半導体レーザのう
ちどれかの半導体レーザに障害が生じた際は、前記光周
波数スイープが可能な半導体レーザの出力光を光周波数
検出部に入力し、障害の生じた半導体レーザの周波数に
相応する様に制御し、この制御機能がほぼ終了した時点
で、前記光スイッチング機構の光スイッチを切り替え他
の複数の半導体レーザ出力光と合成、分配させる機能を
有する構成から成ることを特徴とする
波数スイープが可能な半導体レーザの出力部に光スイッ
チング機構が設けてあり、前記複数の半導体レーザのう
ちどれかの半導体レーザに障害が生じた際は、前記光周
波数スイープが可能な半導体レーザの出力光を光周波数
検出部に入力し、障害の生じた半導体レーザの周波数に
相応する様に制御し、この制御機能がほぼ終了した時点
で、前記光スイッチング機構の光スイッチを切り替え他
の複数の半導体レーザ出力光と合成、分配させる機能を
有する構成から成ることを特徴とする
【００１１】
【作用】この光周波数安定化装置の信頼性はレーザ光出
力部、レーザ光を合成並びに分配するカプラ部、光周波
数検出部、光制御部、所定の光周波数スイープ機構等の
構成でできており、これらのシステム機構を２重化する
ことにより、光周波数、安定化−性能、ならびに信頼性
をさらに向上出来る。
力部、レーザ光を合成並びに分配するカプラ部、光周波
数検出部、光制御部、所定の光周波数スイープ機構等の
構成でできており、これらのシステム機構を２重化する
ことにより、光周波数、安定化−性能、ならびに信頼性
をさらに向上出来る。
【００１２】更に２重化により現用機構システムが正常
に動作しているかどうか監視する監視機構が必要とな
る。本発明では予備の光検出部、制御部機構をそのまま
監視機構に用いるものであり、装置規模が最小で信頼性
の大幅な向上を可能とするものである。
に動作しているかどうか監視する監視機構が必要とな
る。本発明では予備の光検出部、制御部機構をそのまま
監視機構に用いるものであり、装置規模が最小で信頼性
の大幅な向上を可能とするものである。
【００１３】
【実施例】以下本発明の光周波数安定化装置の実施例を
図面を用いて詳細に説明する。
図面を用いて詳細に説明する。
【００１４】図１は本発明の第１の実施例を示す構成図
である。
である。
【００１５】第１半導体レーザ１１（ＬＤ１），第２半
導体レーザ（ＬＤ２）１２，第Ｎ半導体レーザ（ＬＤ
Ｎ）１３から出力された光はカプラ部１４で合成・分配
されカプラ部１４から分配された１部の合成波出力光は
現用システム機構の第１周波数検出部１５と予備用シス
テム機構の第２周波数検出部１７に入力され、入力され
た分配レーザ光は、次のような機能で光周波数を安定化
させるように光周波数の光制御がなされる。この機能は
現用システム機構の第１光制御部１６と予備用システム
機構の第２光制御部１８がそれぞれシステム的に接続さ
れ、相互に補助し合って、フィードバック制御と同期し
て入力された分配レーザ光をたえず監視しつつ、所定の
光周波数安定化を保持する。このような機能システムを
有しているのが本発明の前記光周波数安定化装置であ
る。
導体レーザ（ＬＤ２）１２，第Ｎ半導体レーザ（ＬＤ
Ｎ）１３から出力された光はカプラ部１４で合成・分配
されカプラ部１４から分配された１部の合成波出力光は
現用システム機構の第１周波数検出部１５と予備用シス
テム機構の第２周波数検出部１７に入力され、入力され
た分配レーザ光は、次のような機能で光周波数を安定化
させるように光周波数の光制御がなされる。この機能は
現用システム機構の第１光制御部１６と予備用システム
機構の第２光制御部１８がそれぞれシステム的に接続さ
れ、相互に補助し合って、フィードバック制御と同期し
て入力された分配レーザ光をたえず監視しつつ、所定の
光周波数安定化を保持する。このような機能システムを
有しているのが本発明の前記光周波数安定化装置であ
る。
【００１６】現用のシステム機構では現用の第１周波数
検出部１５と現用の第１光制御部１６が第１半導体レー
ザ（ＬＤ１）１１から第Ｎ半導体レーザ（ＬＤＮ）１３
までのレーザ光を制御しつつ光周波数を安定化する。そ
して予備システム機構の第２光周波数検出部１７と予備
用システム機構の第２光制御部１８は各半導体レーザＬ
Ｄ１からＬＤ３までが所定の光周波数として安定化され
ている事を確認する監視機能として動作する。
検出部１５と現用の第１光制御部１６が第１半導体レー
ザ（ＬＤ１）１１から第Ｎ半導体レーザ（ＬＤＮ）１３
までのレーザ光を制御しつつ光周波数を安定化する。そ
して予備システム機構の第２光周波数検出部１７と予備
用システム機構の第２光制御部１８は各半導体レーザＬ
Ｄ１からＬＤ３までが所定の光周波数として安定化され
ている事を確認する監視機能として動作する。
【００１７】現用システム機構の第１周波数検出部１５
に障害が発生した場合、現用並びに予備用システム機構
の第１光制御部１６，第２光制御部１８で前記第１光検
出部の障害を確認し予備システム機構の第２光周波数検
出部１７に切り替えることが出来る。
に障害が発生した場合、現用並びに予備用システム機構
の第１光制御部１６，第２光制御部１８で前記第１光検
出部の障害を確認し予備システム機構の第２光周波数検
出部１７に切り替えることが出来る。
【００１８】現用システム機構の第１光制御部１６で障
害が発生した場合は現用システムの第１光制御部１６の
自己診断機能により障害が検出できる場合もあるが、自
己診断機能で検出できなかった場合でも予備システム機
構の第２光周波数検出部１７と第２光制御部１８による
監視システム機構で検出されるようにシステム化されて
いるが、このような時、監視システム機構に障害が発生
している場合もあるので、現用システム機構の第１光制
御部１６と、予備システム機構の第２光制御部１８とで
相互に補助し合い相互診断し、障害部を特定して、シス
テム機構を切り替えたり、アラームを発する事により信
頼性の向上を図ることが出来る。
害が発生した場合は現用システムの第１光制御部１６の
自己診断機能により障害が検出できる場合もあるが、自
己診断機能で検出できなかった場合でも予備システム機
構の第２光周波数検出部１７と第２光制御部１８による
監視システム機構で検出されるようにシステム化されて
いるが、このような時、監視システム機構に障害が発生
している場合もあるので、現用システム機構の第１光制
御部１６と、予備システム機構の第２光制御部１８とで
相互に補助し合い相互診断し、障害部を特定して、シス
テム機構を切り替えたり、アラームを発する事により信
頼性の向上を図ることが出来る。
【００１９】現用システム機構と予備用システム機構の
切り替えは、現用システム機構の第１光周波数検出部１
５と予備用システム機構の第２光制御部１８との組合せ
や、予備用システム機構の第２光周波数検出部１７と現
用システム機構の第１制御部１６との組合せとなるよう
に相互補助し助し合って所定の光周波数を安定化する為
に監視し、機能システムを変換する為に切り替えしても
良い事は云うまでもないことである。
切り替えは、現用システム機構の第１光周波数検出部１
５と予備用システム機構の第２光制御部１８との組合せ
や、予備用システム機構の第２光周波数検出部１７と現
用システム機構の第１制御部１６との組合せとなるよう
に相互補助し助し合って所定の光周波数を安定化する為
に監視し、機能システムを変換する為に切り替えしても
良い事は云うまでもないことである。
【００２０】光検出部機構の構成は種々あり、図２は、
基準となる光周波数を出力する半導体レーザを用いた例
を示している。基準となる光周波数を出力する半導体レ
ーザ（ＬＤＯ）２０，（ＬＤＯ）２１が配置されており
基準とする光周波数を出力する半導体レーザ（ＬＤＯ）
２１を予備システム半導体レーザとする。この２つのレ
ーザは光カプラ２２で結合し、一方は光周波数検出部２
３、次に制御部２４へと接続され、スイッチ２５を介し
て基準となる光周波数を出力する半導体レーザ（ＬＤ
Ｏ）２０，（ＬＤＯ）２１を所定の基準光周波数に安定
化させる。
基準となる光周波数を出力する半導体レーザを用いた例
を示している。基準となる光周波数を出力する半導体レ
ーザ（ＬＤＯ）２０，（ＬＤＯ）２１が配置されており
基準とする光周波数を出力する半導体レーザ（ＬＤＯ）
２１を予備システム半導体レーザとする。この２つのレ
ーザは光カプラ２２で結合し、一方は光周波数検出部２
３、次に制御部２４へと接続され、スイッチ２５を介し
て基準となる光周波数を出力する半導体レーザ（ＬＤ
Ｏ）２０，（ＬＤＯ）２１を所定の基準光周波数に安定
化させる。
【００２１】光周波数が安定化された光は、カプラ２２
から出力され、カプラ１４を通し、現用システム機構の
第１光周波数検出部１５並びに予備用システム機構の第
２光周波数検出部１７へ送られて図には示されていない
光受信等の基準信号として使われる。
から出力され、カプラ１４を通し、現用システム機構の
第１光周波数検出部１５並びに予備用システム機構の第
２光周波数検出部１７へ送られて図には示されていない
光受信等の基準信号として使われる。
【００２２】第１光周波数検出部１５、第２光周波数検
出部１７と第１光制御部１６、第２光制御部１８では基
準信号を検出しているため、障害が発生した場合はスイ
ッチング機構のスイッチ２５を切り替える。
出部１７と第１光制御部１６、第２光制御部１８では基
準信号を検出しているため、障害が発生した場合はスイ
ッチング機構のスイッチ２５を切り替える。
【００２３】基準光周波数を出力する半導体レーザを２
重化するだけで大幅な信頼性向上が期待出来るが、周波
数検出部２３、制御部２４の現用並びに予備のシステム
機構を２重化する事によりさらに信頼性が向上する。
重化するだけで大幅な信頼性向上が期待出来るが、周波
数検出部２３、制御部２４の現用並びに予備のシステム
機構を２重化する事によりさらに信頼性が向上する。
【００２４】次に、第１光周波数検出部１５、第２光周
波数検出部１７の具体的な構成の例を図３に示す。この
構成例では、半導体レーザ（ＬＤ）３０若しくは半導体
レーザ（ＬＤ）３１にノコギリ波を加え、光周波数をス
イープさせる。
波数検出部１７の具体的な構成の例を図３に示す。この
構成例では、半導体レーザ（ＬＤ）３０若しくは半導体
レーザ（ＬＤ）３１にノコギリ波を加え、光周波数をス
イープさせる。
【００２５】スイープした光信号は、カプラ３２で２光
に分配し、一方の光は光共振器３３に入射し、光検出器
３５で光／電変換して基準パルス列を作る。カプラ３２
で分配されたもう一方の光は、カプラ１４からの合成波
信号と混合・合成するために、カプラ３４に入射し、ビ
ート信号を造る。
に分配し、一方の光は光共振器３３に入射し、光検出器
３５で光／電変換して基準パルス列を作る。カプラ３２
で分配されたもう一方の光は、カプラ１４からの合成波
信号と混合・合成するために、カプラ３４に入射し、ビ
ート信号を造る。
【００２６】カプラ３４で造られたこのビート信号を光
検出器３６に入射させると、低周波領域のビートパルス
列が得られる。このビートパルスを基準パルスと一致さ
せる様にする事により、各レーザの周波数を光共振器の
共振周波数に合せることが出来る。
検出器３６に入射させると、低周波領域のビートパルス
列が得られる。このビートパルスを基準パルスと一致さ
せる様にする事により、各レーザの周波数を光共振器の
共振周波数に合せることが出来る。
【００２７】このような光周波数検出部システム機構に
おいても所定の光周波数スイープ用半導体レーザを２重
化する事により又著しく信頼性の向上を図る事が出来
る。
おいても所定の光周波数スイープ用半導体レーザを２重
化する事により又著しく信頼性の向上を図る事が出来
る。
【００２８】次に、図４は半導体レーザ（ＬＤ１）１
１，（ＬＤ２）１２，…（ＬＤＮ）１３に障害が発生し
た場合に対応出来る装置である。
１，（ＬＤ２）１２，…（ＬＤＮ）１３に障害が発生し
た場合に対応出来る装置である。
【００２９】第１半導体レーザ（ＬＤ１）１１から第Ｎ
半導体レーザ（ＬＤＮ）１３までの発振光周波数領域す
べての所定の光周波数をスイープ出来るスイープ半導体
レーザ（ＬＤ）４０は光スイッチ４１を介してカプラ１
４に接続する。
半導体レーザ（ＬＤＮ）１３までの発振光周波数領域す
べての所定の光周波数をスイープ出来るスイープ半導体
レーザ（ＬＤ）４０は光スイッチ４１を介してカプラ１
４に接続する。
【００３０】光スイッチ４１のもう一方の出力端は光カ
プラ４２，４３を介して現用システム機構の第１光周波
数検出部１５、予備システム機構の第２光周波数検出部
１７に接続する。
プラ４２，４３を介して現用システム機構の第１光周波
数検出部１５、予備システム機構の第２光周波数検出部
１７に接続する。
【００３１】光カプラ４２，４３は結合係数が数〜十数
％の小さなものを用いればよい。
％の小さなものを用いればよい。
【００３２】第１半導体レーザ（ＬＤ１）〜第Ｎ半導体
レーザ（ＬＤＮ）のうちどれかの半導体レーザ（ＬＤ）
に障害が発生した場合は、まず障害を起した半導体レー
ザ（ＬＤ）の発振を止め、光スイッチ４１の出力を光カ
プラ４２，４３側にし、光周波数スイープ半導体レーザ
（ＬＤ４０）を発振させる。そして、前記半導体レーザ
（ＬＤ４０）の発振光周波数を、障害の生じた半導体レ
ーザＬＤが発振していた本来あるべき所定の周波数に合
せ、スイッチ４１の出力をカプラ１４側に切り替えるシ
ステム機構を有する光周波数安定化装置である。
レーザ（ＬＤＮ）のうちどれかの半導体レーザ（ＬＤ）
に障害が発生した場合は、まず障害を起した半導体レー
ザ（ＬＤ）の発振を止め、光スイッチ４１の出力を光カ
プラ４２，４３側にし、光周波数スイープ半導体レーザ
（ＬＤ４０）を発振させる。そして、前記半導体レーザ
（ＬＤ４０）の発振光周波数を、障害の生じた半導体レ
ーザＬＤが発振していた本来あるべき所定の周波数に合
せ、スイッチ４１の出力をカプラ１４側に切り替えるシ
ステム機構を有する光周波数安定化装置である。
【００３３】このようにスイッチング機構のスイッチ４
１で所定の光周波数になってからスイッチを切り替える
ことにより、他の半導体レーザ（ＬＤ）の送信光に妨害
を与えることがない利点を有する。
１で所定の光周波数になってからスイッチを切り替える
ことにより、他の半導体レーザ（ＬＤ）の送信光に妨害
を与えることがない利点を有する。
【００３４】半導体レーザ（ＬＤＮ）１３のＮの数字が
大きくなると、１つの予備半導体レーザ（ＬＤ）で全て
の光周波数のスイープをカバー出来ない時には、光周波
数帯ごとに複数の予備半導体レーザを配置して所定の光
周波数をスイープ出来るようにしておけばよい。
大きくなると、１つの予備半導体レーザ（ＬＤ）で全て
の光周波数のスイープをカバー出来ない時には、光周波
数帯ごとに複数の予備半導体レーザを配置して所定の光
周波数をスイープ出来るようにしておけばよい。
【００３５】
【発明の効果】以上説明したように本発明による光周波
数安定化装置は複数の半導体レーザ光出力部と光周波数
検出部、光制御部、基準光周波数を出力する半導体レー
ザなどのシステム機構のどこかの部に障害が発生して
も、ただちに回復する機能を有することから極めて信頼
性が高い通信や放送を確保できる効果を有する。
数安定化装置は複数の半導体レーザ光出力部と光周波数
検出部、光制御部、基準光周波数を出力する半導体レー
ザなどのシステム機構のどこかの部に障害が発生して
も、ただちに回復する機能を有することから極めて信頼
性が高い通信や放送を確保できる効果を有する。
【図１】本発明による光周波数安定化装置の第１の実施
例を示す構成図。
例を示す構成図。
【図２】本発明による光周波数安定化装置の第２の実施
例を示す構成図。
例を示す構成図。
【図３】本発明による周波数検出部の実施例。
【図４】本発明による光周波数安定化装置の第３の実施
例を示す構成図。
例を示す構成図。
【図５】従来の光周波数安定化装置を示す構成図。
１１ 半導体レーザ １２ 半導体レーザ １３ 半導体レーザ １４ カプラ １５ 周波数検出部１ １６ 制御部１ １７ 周波数検出部２ １８ 制御部２ ２０ 基準半導体レーザ（現用） ２１ 基準半導体レーザ（予備） ３０ スイープ半導体レーザ（予備） ３１ スイープ半導体レーザ（予備） ４０ スイープ半導体レーザ（予備） ４１ 光スイッチ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｈ０４Ｂ 10/04
Claims (5)
- 【請求項１】 複数の半導体レーザ光を出力するレーザ
光出力部と、前記複数の半導体レーザ光を合成した後一
部の合成波光を分配し取り出すカプラ部と、分配された
合成波光の光周波数を検出する現用並びに予備の光周波
数検出部及び、現用並びに予備の光制御部を有し、前記
複数の半導体レーザ光の周波数がそれぞれ異なる所定の
光周波数に安定化するために前記現用の光周波数検出部
と現用の光制御部を用いてフィードバック制御を行な
い、障害が発生した場合は現用並びに予備の光周波数検
出部と現用並びに予備の光制御部が相互に補助し合いな
がら、前記光周波数安定化装置の障害の箇所を発見する
ことを特徴とした光周波数安定化装置。 - 【請求項２】 複数の半導体レーザ光を出力するレーザ
光出力部と、前記複数の半導体レーザ光を合成した後一
部の合成波光を分配し取り出すカプラ部と、分配された
合成波光の光周波数を検出する光周波数検出部及び光制
御部を有し、前記複数の半導体レーザ光の周波数がそれ
ぞれ異なる所定の光周波数に安定化するために前記光周
波数検出部と光制御部を用いてフィードバック制御を行
なう光周波数安定化装置において、基準となる光周波数
を出力する半導体レーザを用いて光周波数を検出する
際、前記基準周波数出力光の半導体レーザを現用と予備
との２基を配備した機構を有することを特徴とした光周
波数安定化装置。 - 【請求項３】 複数の半導体レーザ光を出力するレーザ
光出力部と、前記複数の半導体レーザ光を合成した後一
部の合成波光を分配し取り出すカプラ部と、分配された
合成波光の光周波数を検出する光周波数検出部及び光制
御部を有し、前記複数の半導体レーザ光の周波数がそれ
ぞれ異なる所定の光周波数に安定化するために前記光周
波数検出部と光制御部を用いてフィードバック制御を行
なう光周波数安定化装置において、光周波数検出部は、
光周波数スイープ用半導体レーザが設置された機構とな
っており、前記周波数スイープ用半導体レーザは現用と
予備の２基を配備した機構であることを特徴とした光周
波数安定化装置。 - 【請求項４】 複数の半導体レーザ光を出力するレーザ
光出力部と、前記複数の半導体レーザ光を合成した後一
部の合成波光を分配し取り出すカプラ部と、分配された
合成波光の光周波数を検出する光周波数検出部及び光制
御部を有し、前記複数の半導体レーザ光の周波数がそれ
ぞれ異なる所定の光周波数に安定化するために前記光周
波数検出部と光制御部を用いてフィードバック制御を行
なう光周波数安定化装置において、前記複数の半導体レ
ーザの他に光周波数スイープが可能な半導体レーザを設
け、前記複数の半導体レーザのうちどれかの半導体レー
ザに障害が生じた際は、前記光周波数スイープが可能な
半導体レーザの光周波数を障害の生じた半導体レーザの
光周波数に合せバックアップすることを特徴とした光周
波安定化装置。 - 【請求項５】 請求項４に記載の光周波数安定化装置に
おいて、光周波数スイープが可能な半導体レーザの出力
部に光スイッチング機構が設けてあり、前記複数の半導
体レーザのうちどれかの半導体レーザに障害が生じた際
は、前記光周波数スイープが可能な半導体レーザの出力
光を光周波数検出部に入力し、障害の生じた半導体レー
ザの周波数に相応する様に制御し、この制御機能がほぼ
終了した時点で、前記光スイッチング機構の光スイッチ
を切り替え他の複数の半導体レーザ出力光と合成、分配
させる機能を有する構成から成ることを特徴とする光周
波数安定化装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3300334A JPH05136735A (ja) | 1991-11-15 | 1991-11-15 | 光周波数安定化装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3300334A JPH05136735A (ja) | 1991-11-15 | 1991-11-15 | 光周波数安定化装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05136735A true JPH05136735A (ja) | 1993-06-01 |
Family
ID=17883524
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3300334A Pending JPH05136735A (ja) | 1991-11-15 | 1991-11-15 | 光周波数安定化装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05136735A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08321825A (ja) * | 1995-03-22 | 1996-12-03 | Toshiba Corp | 波長多重光伝送装置および光中継器 |
| JPH0983493A (ja) * | 1995-09-19 | 1997-03-28 | Canon Inc | 波長多重通信システム |
| JP2001024287A (ja) * | 1999-07-09 | 2001-01-26 | Nec Corp | Ｗｄｍ用半導体レーザ光モジュール |
| WO2001015291A1 (fr) * | 1999-08-23 | 2001-03-01 | Fujitsu Limited | Multiplexeur de longueur d'onde |
-
1991
- 1991-11-15 JP JP3300334A patent/JPH05136735A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08321825A (ja) * | 1995-03-22 | 1996-12-03 | Toshiba Corp | 波長多重光伝送装置および光中継器 |
| JPH0983493A (ja) * | 1995-09-19 | 1997-03-28 | Canon Inc | 波長多重通信システム |
| JP2001024287A (ja) * | 1999-07-09 | 2001-01-26 | Nec Corp | Ｗｄｍ用半導体レーザ光モジュール |
| WO2001015291A1 (fr) * | 1999-08-23 | 2001-03-01 | Fujitsu Limited | Multiplexeur de longueur d'onde |
| US6707963B2 (en) | 1999-08-23 | 2004-03-16 | Fujitsu Limited | Wavelength division multiplexing apparatus |
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