JPH05136561A - スルーホールを有するセラミツクス基板の製造方法 - Google Patents
スルーホールを有するセラミツクス基板の製造方法Info
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- JPH05136561A JPH05136561A JP29598491A JP29598491A JPH05136561A JP H05136561 A JPH05136561 A JP H05136561A JP 29598491 A JP29598491 A JP 29598491A JP 29598491 A JP29598491 A JP 29598491A JP H05136561 A JPH05136561 A JP H05136561A
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Abstract
にカーバイド化することを未然に防止することにより、
電気抵抗の低いスルーホールを備えたセラミックス基板
を簡単にかつ確実に製造する方法を提供する。 【構成】 グリーンシート1にスルーホール2を多数設
け、それらの周囲に更にダミースルーホール3を形成す
る。次いで、スルーホール2及びダミースルーホール3
内にタングステンペーストPを充填すると共に、グリー
ンシート1の両面に炭素を捕捉する物質の層5を形成す
る。その後、焼成を施した後にダミースルーホール3及
び炭素を捕捉する物質の層5を除去する。
Description
に治具を配置した状態で焼成を行うセラミックス基板の
製造方法に関するものである。
れたグリーンシートのスルーホールには、主としてタン
グステン粒子からなるペーストを充填した後、乾燥して
タングステン粒子をスルーホール内に定着させていた。
そして、炭素等からなる治具をグリーンシートの周囲に
接触するように配置した後、その状態で焼成を施すこと
により、スルーホールを有するセラミックス基板を製造
していた。
は酸化イットリウム等の焼結助剤が含まれており、治具
にグリーンシートを接触させた状態で焼成を行うと、治
具の表面まで酸化イットリウムを主成分とする酸化相が
滲み出して、治具中の炭素と結合し、グリーンシートが
治具に誤って接着するという不都合が生じる。従来では
このような事態を回避するため、グリーンシートと治具
との間には、付着防止材として酸化イットリウムを含ま
ない窒化アルミニウム製の生成形体が配置される。
有機物バインダーを使用して成形されるため、前記グリ
ーンシートの焼成時にはバインダーに含まれる炭素がペ
ースト中のタングステン粒子と反応して、タングステン
カーバイドを生成する。このようにタングステンがカー
バイド化した場合、スルーホール内に形成される導体回
路の電気抵抗は40mΩ〜60mΩになり、タングステ
ン本来の電気抵抗(5mΩ〜6mΩ)に比して非常に高
くなってしまう。
のであり、その目的は、スルーホール内におけるタング
ステンカーバイドの生成を未然に防止することにより、
スルーホール内の電気抵抗を低くすることができるスル
ーホールを有するセラミックス基板の製造方法を提供す
ることである。
決するために、本発明では、グリーンシートにスルーホ
ールを設けると共に、前記孔の周囲にダミースルーホー
ルを形成し、各孔内に主としてタングステンからなるペ
ーストを充填し、このペーストの露出面を覆うように炭
素を捕捉する物質の層を設けた後、グリーンシートを焼
成している。
ンシートの厚さ方向に配置される付着防止材から炭素が
漏出した場合、その炭素はペーストの露出面を覆うよう
に設けられた炭素捕捉物質層によって確実に捕捉され
る。また、スルーホールの周囲に連設されたダミースル
ーホール内には、タングステンからなるペーストが充填
されており、そのペーストによって、グリーンシートの
周縁部から侵入しようとする炭素が確実に捕捉される。
従って、焼成時にスルーホールのペースト内にタングス
テンカーバイドが生成されることはなく、スルーホール
内の導体回路はタングステン本来の理論抵抗値に近いも
のとなる。
ラミックス基板の製造方法について詳述する。本発明を
適用可能なセラミックス基板は、窒化アルミニウム、ア
ルミナ、窒化珪素等のセラミックス粉末材料によって成
形された基板であるが、特に窒化アルミニウム基板に適
用することが好ましい。窒化アルミニウムは、電気絶縁
性、熱伝導性、機械的強度に優れ、熱膨張率が低く寸法
安定性にも優れるため、スルーホールを有するセラミッ
クス基板の材料として極めて好適だからである。このよ
うなセラミックス粉末に有機樹脂バインダー等を添加し
た後、混練することにより原料スラリーが製造される。
前記原料スラリーは、例えば、金型プレスやラバープレ
ス等の常法によって所定のサイズ及び形状のグリーンシ
ートに加圧成形される。
方向に沿って貫通する複数のスルーホールが透設され
る。また、スルーホールの透設作業は、例えばドリル加
工等の任意の加工方法によって行われ、このとき各孔の
間隔は0.45mm〜2.54mm前後に、内径は0.1mm
〜0.3mm前後に設定される。
ートの厚さ方向に沿って貫通する複数のダミースルーホ
ールが形成される。このようなダミースルーホールは、
間隔が0.45mm〜2.54mmであり、内径が0.1mm
〜0.3mmであることが望ましい。この間隔及び内径が
前記範囲内であれば、充填されたペーストによって確実
に炭素のスルーホール内への侵入を阻止できるからであ
る。前記スルーホールの透設には、例えばドリル加工等
の任意の加工方法が適用可能である。また、前記スルー
ホール及びダミースルーホールは、同一の加工方法を用
いて同径に透設することが極めて好適である。これによ
れば、工程数が多くなることなく、短時間にかつ容易に
各スルーホールを透設することが可能になる。
ダミースルーホール内には、導電性ペーストが充填され
る。このペーストは平均粒径が1〜10μmのタングス
テン粒子に、α−テルピネオール、ブチラール、グリコ
ール等の分散溶媒、及び、必要に応じてひまし油、ポリ
ビニルアルコール等のチクソ剤等を適宜配合して調製さ
れるものである。このペーストは、例えばスクリーン印
刷機等によって、グリーンシートの各スルーホール内に
充填される。
られる炭素を捕捉する物質について説明する。前記炭素
を捕捉する物質は、タングステン、モリブデン、タンタ
ルから選択される少なくとも何れか一種であることが望
ましい。この物質は、窒化アルミニウム生成形体に含ま
れるバインダー中の炭素、焼成炉内の雰囲気中の一酸化
炭素、グリーンシート形成用に配合されたバインダーの
うち炭化して残存している遊離炭素などを吸収する。そ
して、これらと反応して炭化物を形成することにより炭
素を捕捉するものである。
シート側のペースト露出面または付着防止材として窒化
アルミニウム生成形体を用いる場合にはその表面の何れ
かに形成される。この層を形成するには、先ず、前記物
質の粉末に分散溶媒を適量配合して高粘度のスラリーに
調整されることが好ましい。このスラリーは、刷毛塗
り、スクリーン印刷、スプレー塗布等によって前記表面
に付着させられた後に、乾燥、焼結される。
10μmの範囲のものを使用することが有利である。そ
の理由は、平均粒径が0.5μm未満の場合、単位重量
あたりの粒子表面積が増大し、これら微細粒子をゾル化
させるための分散溶媒が多く必要となって、被覆厚が薄
くなるからである。また、平均粒径が10μmを超える
場合、単位重量あたりの粒子表面積が小さくなり、相対
的に炭素を捕捉する能力が低下するからである。
成後に15μm〜25μmになることが好ましい。この
厚さが15μm未満であると、セラミックス基板からの
炭素化合物を確実に吸収して、ペーストのカーバイド化
を防止することができない。また、この厚さが25μm
を越える場合、前記炭素を捕捉する物質の必要量が増
え、製造コストが増大する。更に、上記のように被覆層
を厚くすると、その層を除去する工程に時間がかかり、
生産性の悪化を招く。
を捕捉する物質で被覆された後に焼成される。この場
合、グリーンシートの周囲に窒化アルミニウム製の生成
形体を配置し、かつその周囲に治具を配置した状態で行
うことが望ましい。その理由は、グリーンシートと治具
との間に、窒化アルミニウム生成形体を介在させて焼結
を行うことにより、グリーンシートから滲出する酸化イ
ットリウムを主成分とす酸化物が治具に付着することを
防止できるからである。
ニウム生成形体及び治具を焼成炉に装入し、所定温度
(1650℃〜1950℃)で焼成することにより、ス
ルーホールを有する単層のセラミックス基板が製造され
る。この焼成温度が前記範囲未満であると、粒界にセラ
ミックスと焼結助剤とからなる共晶相が形成されないた
め、未焼結状態になってしまう。また、この焼成温度が
前記範囲を越える場合には、セラミックス粒子が成長し
すぎて、焼結体の強度低下を招く。また、上述のグリー
ンシートを複数枚積層し、この積層物の上下両側に位置
するグリーンシートのペースト露出面を前記物質で被覆
して焼成を施すことにより、スルーホールを有するセラ
ミックス多層基板を製造することが可能である。
される場合、焼成後にこれを表面研削加工によって除去
することが好ましく、前記物質が除去された焼結体上に
は、例えばメタライズペーストにより回路パターンが形
成され、その回路パターンにメッキが施される。
る場合に、前記ダミースルーホール内の導体回路が回路
パターンにメッキを施すためのメッキリードとなること
が望ましい。ダミースルーホールはメッキリードとして
使用した後にダイサー等によって除去されるため、製品
自体には残ることはない。
に形成された導体回路は、メッキ後に除去されることが
望ましい。その理由は、機能を全うした後には他に使用
できる余地がないからである。
有する窒化アルミニウム基板の製造方法に具体化した実
施例1,2及び比較例1,2について図1〜図7に基づ
き詳しく説明する。 [実施例1]平均粒径が約1.5μmで酸素含有率が
1.5重量%の窒化アルミニウム粉末950gと、平均
粒径が2〜3μmの酸化イットリウム粉末50gと、ポ
リアクリロニトリル系バインダー50gと、ベンゼン3
000ミリリットルとをボールミル中へ装入し、5時間
混合した後、凍結乾燥を施した。この乾燥混合物を適量
採取し、金型プレスによりシート形状(長さ45.0mm×幅
45.0mm×厚さ 2.0mm)に成形した。その後、ドリルを用
いてこのシートに内径0.15mmのスルーホール2を
0.45mm〜2.45mm間隔で複数透設すると共に、こ
れらの孔2の周囲に同一内径のダミースルーホール3を
一列に透設した(図1参照)。次いで、窒素雰囲気下に
て1600℃、1時間の仮焼成を施して、グリーンシー
ト1を製造した。
ン微粒子5000gに、ジエチレングリコール−モノ2
−ヘキシルエーテル50重量%のアクリルバインダーを
配合した混合溶媒2000gと、分散剤5gとを配合し
た混合物を三本ロール混合機を使用し、1時間混練して
タングステンペーストPを調製した。そして、図2に示
されるように、予めα−テルピネオールを真空含浸させ
た前記グリーンシート1にスクリーン印刷を施すことに
より、スルーホール2及びダミースルーホール3内に前
記タングステンペーストPを充填し、その後、乾燥を施
して前記孔2,3内にタングステン微粒子を定着させ
た。
素を捕捉する物質として、純度が99.9%、平均粒径
が3.4μmのタングステン微粒子1000gを用い、
この微粒子をジエチレングリコール−モノ2−ヘキシル
エーテル400gに均一に分散させて、スラリーを調製
した。そして、図3に示すようにグリーンシート1の両
面に厚さ約20μmのタングステン層5を形成した。
ーンシート1の上下両面に板状の窒化アルミニウム生成
形体6aを密着配置すると共に、側面には枠状の窒化ア
ルミニウム生成形体6bを密着配置した(図4参照)。
そして、これらの周囲に炭素製の治具7a,7bを配置
して焼成炉内に装入し、窒素雰囲気かつ200kg/cm2の
加圧下にて、1800℃、3時間の本焼成を行うこと
で、窒化アルミニウム焼結体8を製造した。
たタングステン層5を平面研削により除去して、スルー
ホール2及びダミースルーホール3内に形成された導体
回路9,10を露出させた(図5参照)。次いで、焼結
体8の側面を研削することにより、ダミースルーホール
3及びその中に形成された導体回路10を除去した後、
焼結体8の上下両面にメタライズペーストを用いて回路
パターン11を形成することによりスルーホール2を有
する単層の窒化アルミニウム基板を得た(図6参照)。
基板について、スルーホール2内に形成された導体回路
10の電気抵抗値(mΩ)を測定した結果を表1に示
す。表1から明らかなように、スルーホール2内の導体
回路10の電気抵抗値は、基板中央部で10〜20m
Ω、基板周縁部で10〜20mΩを示し、何れもタング
ステンステン本来の電気抵抗値に近い好適なものであっ
た。以上の結果から、本実施例1ではタングステンのカ
ーバイド化が確実に防止されていることが確認された。 〔実施例2〕前記実施例1と同じグリーンシート用原料
を金型プレスによりシート成形した後に、シートの外形
を60mm角にカットした。次いで、ドリルを用いてこの
グリーンシート1に内径0.2mmのスルーホール2を
1.25mm間隔で複数透設すると共に、これらの孔2の
周囲にスルーホール2と同一内径及び同一間隔のダミー
スルーホール3を一列に透設した。
ホール3内に前記実施例1のタングステンペーストPを
印刷充填した後、乾燥を施して前記孔2,3内にタング
ステン微粒子を定着させた。前記グリーンシート1に所
定の内層導体回路を形成すると共に、それらを複数枚
(本実施例2では4枚)積層プレスして、窒素雰囲気下
にて1600℃、1時間仮焼成した。
積層物の上下両側にタングステン層5を形成した後、図
5のように積層物を配置して加圧下にて本焼成を行っ
た。以下、タングステン層5、スルーホール2及びダミ
ースルーホール3等の除去、及び回路パターン11の形
成を行って、所望のスルーホール2を有する窒化アルミ
ニウム多層基板を得た(図7参照)。尚、この多層基板
ではダミースルーホール3をメッキリードLとして導体
回路パターン11を形成し、その後でダミースルーホー
ル3を除去することとした。
板について、スルーホール2内に形成された導体回路1
0の電気抵抗値(mΩ)を測定した結果を表1に示す。
表1から明らかなように、スルーホール2内の導体回路
10の電気抵抗値は、基板中央部で10〜20mΩ、基
板周縁部で10〜20mΩを示し、何れもタングステン
ステン本来の電気抵抗値に近い好適なものであった。以
上の結果から、本実施例2の多層基板においても前記実
施例1と同様にタングステンのカーバイド化が確実に防
止されていることが確認された。 [比較例1,2]比較例1では、グリーンシートにスル
ーホールのみを透設した後、前記実施例1と同様にし
て、ペーストの充填、露出面の被覆及び焼成を施して窒
化アルミニウム基板を得た。また、比較例2では、グリ
ーンシートにスルーホールのみを透設した後、前記実施
例1と同様にペーストの充填を行い、ペースト露出面に
何ら被覆を施すことなく、その部分を露出させたまま焼
成を施して窒化アルミニウム基板を得た。比較例1,2
の窒化アルミニウム基板について行われた電気抵抗値の
測定結果を表1に示す。
では、基板中央部に位置する導体回路の電気抵抗は10
〜20mΩと好適であった。しかし、基板周縁部に位置
する導体回路の電気抵抗は30〜50mΩという高い値
を示し、基板周縁部にてタングステンのカーバイド化が
生じていることが示唆された。また、比較例2の基板に
おける導体回路の電気抵抗は、基板中央部で30〜60
mΩ、基板周縁部で30〜60mΩであり、何れもタン
グステン本来の電気抵抗値に比して高い値を示した。
気抵抗値は、3回測定した場合の平均値である。
ールを有するセラミックス基板の製造方法によれば、主
としてタングステンからなるペーストを充填したスルー
ホール内においてタングステンカーバイドの生成が未然
に防止されるため、スルーホール内の電気抵抗を低くで
きるという優れた効果を奏する。
された実施例1のグリーンシートを示す概略図である。
填された実施例1のグリーンシートを示す概略図であ
る。
ーンシートを示す概略図である。
アルミニウム生成形体及び治具を配置した状態を示す概
略図である。
す概略図である。
ミニウム基板)を示す概略図である。
概略図である。
ルーホール、5 炭素を捕捉する物質の層としてのタン
グステン層、6a,6b (窒化アルミニウム製の)生
成形体、7a,7b 治具、10 (ダミースルーホー
ル内の)導体回路、11 (基板表面上に形成される)
回路パターン、P (主としてタングステンからなる)
ペースト、L メッキリード。
Claims (6)
- 【請求項1】グリーンシート(1)にスルーホール
(2)を設けると共に、前記孔(2)の周囲にダミース
ルーホール(3)を形成し、各孔(2,3)内に主とし
てタングステンからなるペースト(P)を充填し、この
ペースト(P)の露出面を覆うように炭素を捕捉する物
質の層(5)を設けた後、グリーンシート(1)を焼成
することを特徴とするスルーホールを有するセラミック
ス基板の製造方法。 - 【請求項2】前記グリーンシート(1)の焼成は、グリ
ーンシート(1)の周囲に窒化アルミニウム製の生成形
体(6a,6b)を密接して配置し、かつその周囲に治
具(7a,7b)を配置した状態で行うことを特徴とす
る請求項1に記載のスルーホールを有するセラミックス
基板の製造方法。 - 【請求項3】前記炭素を捕捉する物質は、タングステ
ン、モリブデン、タンタルから選択される少なくとも何
れか一種であることを特徴とする請求項1または2に記
載のスルーホールを有するセラミックス基板の製造方
法。 - 【請求項4】前記ダミースルーホール(3)の間隔は
0.45mm〜2.54mmであり、内径は0.1mm〜0.
3mmであることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一
項に記載のスルーホールを有するセラミックス基板の製
造方法。 - 【請求項5】前記セラミックス基板が多層基板である場
合に、前記ダミースルーホール(3)内の導体回路(1
0)が、多層基板表面上に形成される回路パターン(1
1)をメッキするためのメッキリード(L)となること
を特徴とする請求項1乃至4の何れか一項に記載のスル
ーホールを有するセラミックス基板の製造方法。 - 【請求項6】前記ダミースルーホール(3)及びその中
に形成された導体回路(10)は、メッキ後に除去され
ることを特徴とする請求項5に記載のスルーホールを有
するセラミックス基板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29598491A JP2986596B2 (ja) | 1991-11-12 | 1991-11-12 | スルーホールを有するセラミックス基板の製造方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP29598491A JP2986596B2 (ja) | 1991-11-12 | 1991-11-12 | スルーホールを有するセラミックス基板の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH05136561A true JPH05136561A (ja) | 1993-06-01 |
JP2986596B2 JP2986596B2 (ja) | 1999-12-06 |
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JP (1) | JP2986596B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4731790B2 (ja) * | 2000-06-07 | 2011-07-27 | 株式会社トクヤマ | 半導体搭載基板用小チップの製造方法 |
-
1991
- 1991-11-12 JP JP29598491A patent/JP2986596B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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