JPH0513370A - ドライエツチング装置 - Google Patents

ドライエツチング装置

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JPH0513370A
JPH0513370A JP16727691A JP16727691A JPH0513370A JP H0513370 A JPH0513370 A JP H0513370A JP 16727691 A JP16727691 A JP 16727691A JP 16727691 A JP16727691 A JP 16727691A JP H0513370 A JPH0513370 A JP H0513370A
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JP
Japan
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substrate
chamber
dry etching
etching
gas
Prior art date
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Pending
Application number
JP16727691A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Itoga
隆志 糸賀
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
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Publication of JPH0513370A publication Critical patent/JPH0513370A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 透明非晶質絶縁基板のドライエッチングにお
いて生じる反応生成物の基板裏面への付着を防止して、
後段のウェットエッチングにおける基板白濁を防止す
る。 【構成】 ドライエッチング装置内において、絶縁体基
板をガスエッチング室内に搬送した際に、基板裏面を保
護するように作動する基板保護手段を、搬送手段に付設
する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ドライエッチング装
置に関する。さらに詳しくは、ことに液晶・EL表示装
置を製造する分野で利用されるガラス基板等の透明非晶
質絶縁体基板上に半導体薄膜や絶縁体薄膜、或いは金属
薄膜を形成したのちフォトレジストを塗布・露光・現像
してパターンニングした後エッチングするのに用いるド
ライエッチング装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より液晶・EL表示装置を製造する
プロセスにおいて無アルカリガラスや石英基板等の透明
非晶質絶縁体基板上に堆積したアモルファス若しくは多
結晶等の非単結晶半導体薄膜や絶縁体薄膜、或いは配線
となる金属薄膜等を成膜後フォトレジストを塗布してフ
ォトマスクを経て露光・現像した後、エッチングする技
術が採用されている。
【0003】そしてかかる過程を経てこれらの各種薄膜
から形成される薄膜トランジスタ(TFT)は、液晶や
EL表示装置を動作させるうえで高度で均一な性能を要
求され、盛んに研究・開発されている。ことにこれらの
TFTで駆動するTFT−LCDやTFT−EL(薄膜
トランジスタ液晶表示装置や薄膜トランジスタEL表示
装置)は、その製造過程前半でTFTのみならずMIM
ダイオードをパターン形成する必要があるが、単純マト
リックス電極方式のLCDやELに比してクロストーク
や画質の点で有利であることから注目を集めている。
【0004】ここで、このTFT−LCD、TFT−E
Lの高品質化のためにはトランジスタを小さくして行く
必要があり、さらに半導体薄膜や絶縁膜膜質の向上、或
いは配線の幅を狭くしたり金属薄膜を抵抵抗化する等い
ままでSiウエハ上において進展して来た集積回路技術
を部分的に導入する必要がある。しかも、無アルカリガ
ラスや石英基板等の非晶質絶縁体基板に約500℃以下
のガラスの歪点以下の温度でTFTを作製して行くうえ
での固有の問題点は枚挙に暇がない。
【0005】このような観点から、TFT製造時におけ
るエッチング技術も向上化、細分化されてきており、従
来のウェットエッチングのみならず、ドライエッチング
を組合せて所望のエッチングを行う手法が採用されてい
る。そして、主として、金属膜のパターンニングのため
にドライエッチングを適用し、その後に絶縁膜や半導体
膜のパターンニングを行う方法が知られている。
【0006】ここで、かかるドライエッチングの実施に
用いられる従来のドライエッチング装置の例を図3及び
図4に示す。このように従来のドライエッチング装置
は、各々減圧手段8(真空排気系)を備えたロードロッ
ク室(圧力調整室)1,3及びガスエッチング室2を各
々密閉可能なシャッター21を介して組合わせてなる。
ガスエッチング室2には図示しないRIE用ガスプラズ
マ供給装置からの反応ガスを導入するガス導入管9が接
続されている。そして、このドライエッチング装置に
は、回転アーム5と基板よりも小面積の基板固定治具6
とからなりロードロック室1からドライエッチング室2
へ、被エッチング面を表面形成したガラス基板4を搬送
する搬送手段が内蔵されている。
【0007】上記搬送手段の治具6は、図4に示すごと
く、ガラス基板4を裏面から嵌合保持するように構成さ
れており、この保持はロードロック室1内で行われる。
この保持の後、ロードロック室1内は高真空とされ、シ
ャッター21が開いてガラス基板はドライエッチング室
2内へ搬送され、その位置で所定の反応ガラスによるド
ライエッチングに付される。ドライエッチングの終了後
にガラス基板は他方のロードロック室3へ搬送され、常
圧に戻されて取出され、以降の種々のウェットエッチン
グプロセスに供されている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】液晶やELパネルにお
いてはガラス基板が透明であることが必要である。しか
し前記の如きウェットエッチングプロセスが大半である
中でドライエッチングプロセスを導入して行くため、種
々の問題が生じる。そして、ことに、ドライエッチング
過程で、露出するガラス裏面にドライエッチングの反応
ガスによる反応生成物が静電的に付着して、後のウェッ
トエッチングプロセス(エッチング液への浸漬)におい
てガラス面にエッチング速度の局所性が現れ、それが凹
凸となってガラス裏面に白濁してしまうという大きな問
題があった。
【0009】そのため、ウェットエッチングの前にガラ
ス裏面に付着した反応生成物を研磨やブラッシング等の
機械的な方法によって除去する作業を余儀なくされてい
た。しかしながら、かかる研摩やブラッシングの作業は
繁雑であって、プロセスの複雑化や工程増加に伴うコス
ト上昇を引き起こし、ガラス面に付着する反応生成物の
除去に対しては積極的で根本的な解決策を与えてはいな
い。
【0010】この発明は、かかる状況下でなされたもの
であり、ことに、上記のごとき繁雑な作業を伴うことな
くドライエッチングプロセスを効率良く行うことができ
るドライエッチング装置を提供しようとするものであ
る。
【0011】
【課題を解決するための手段】かくしてこの発明によれ
ば、各々減圧手段を備えた圧力調整室及びガスエッチン
グ室と、被エッチング膜を表面形成した透明非晶質絶縁
体基板を保持しこれを上記圧力調整室からガスエッチン
グ室へ移送する内蔵搬送手段を有し、上記搬送手段が、
上記透明非晶質絶縁体基板を裏面から支える治具と、こ
の治具からスライド状に延出して当該裏面全体を被覆保
護しうる基板保護手段を備えてなるドライエッチング装
置が提供される。
【0012】この発明は、上記の問題点を解決するため
に、ドライエッチング室内にガラス基板等が搬送された
際にガラス基板裏面がくまなく覆われるようにして、反
応生成物の付着を防止し、以降のウェットエッチングプ
ロセスを通ったときのガラス基板のエッチンググレート
の不均一性をなくしてガラス裏面の白濁をなくそうとす
るものである。
【0013】この発明における圧力調整室及びガスエッ
チング室自体は、公知の構造を種々適用することができ
る。この発明における透明非晶質絶縁基板としては、L
CDやEL表示装置に用いられる種々の透明基板が挙げ
られ、例えば、無アルカリガラス基板や石英基板等が代
表的である。
【0014】この発明の搬送手段は、被エッチング膜
(ポリシリコン膜、アモルファスシリコン膜、絶縁体薄
膜、金属薄膜等)を表面形成した上記基板を、圧力調整
室で保持しこれをガスエッチング室へ搬送するよう機能
すると共に、搬送後のガスエッチング室内で、基板の裏
面全体をガス雰囲気と遮断する基板保護手段を備えてな
る。ここで基板保護手段は、基板の治具からスライド状
に延出するよう構成され、圧力調整室では延出すること
なく、通常、治具面内に収まるように構成される。従っ
て、圧力調整室からドライエッチング室への搬送時には
従来に比してとくに搬送手段の占有面積の拡大を招くこ
となく、圧力調整室やドライエッチング室の構造をとく
に変更する必要がない。そして、ドライエッチング室内
において、かかる保護手段はスライド状に延出して基板
裏面を被覆保護する。従って、上記基板保護手段は、遠
隔的にスライド操作可能(マジックハンド状)に構成さ
れるのが好ましい。
【0015】なお、基板裏面の被覆保護は必ずしも密着
して行われなくてもよく、少なくともドライエッチング
時に反応生成物の付着が防止できるように行われればよ
い。
【0016】
【作用】圧力調整室内で保持された透明非晶質絶縁体基
板は、イオンエッチング室に搬送された後、基板保護手
段によりその裏面が保護されるため、エッチング室内に
残った反応生成物がガラス裏面に付着するのが防止さ
れ、以降のウェットエッチングプロセスにおけるガラス
裏面のエッチングレートが均一化されガラス裏面が白濁
するのを防ぐことができる。
【0017】
【実施例】以下、この発明を添付図面に示した実施例に
より詳説する。図1はこの発明のドライエッチング装置
の一実施例を示すものであり、図2は同じく搬送手段を
示すものである。図に示すごとく、ドライエッチング装
置は、各々減圧手段8を備えたロードロック室1,3及
びガスエッチング室2を、各々シャッター21を介して
組合せた構成からなる。
【0018】ガスエッチング室2には、RIE用ガスプ
ラズマ供給装置からの反応ガス(例えばCF4 +O2
合ガスプラズマ)を導入するガス導入管9が接続されて
いる。そして、この装置内には、回転アーム5と基板固
定治具6とからなり、さらにこの治具6の固定面に沿っ
て摺動して左右方向に延出する板状の基板保護手段7,
7を備えた搬送手段(図2)が内蔵されている。この搬
送手段は、基板固定具6により上下の位置で目的の基板
を挟持固定すると共に、外部制御装置により上記基板保
護手段7,7の延出操作及び収納操作を行うように構成
されており、治具6内には図示しない基板保護手段の移
動用のモータ及びラックピニオン機構が内蔵されてい
る。
【0019】なお、この実施例においては、上記基板固
定治具は320×150mmのステンレス材からなり、
基板保護手段は延出時に320×75mmの保護面を形
成するステンレス材からなる。このようなドライエッチ
ング装置においては、まず、ロードロック室1内におい
て、前述した被エッチング膜形成ガラス基板4(例え
ば、320×300mm)がその膜形成面が表側となる
ように狭持される。次いで、ロードロック室1内は密閉
されてガスエッチング室と同等の真空圧(通常0.01
〜0.1mmHg)迄減圧され、この後シャッター21
を開放して搬送手段は基板4をガスエッチング室2へ搬
入するよう駆動する。
【0020】搬入後、搬送手段の基板保護手段7,7は
図2のごとく左右に延出して、保持する基板の裏面を完
全に被覆保護する。この動作が終了した後、ガスエッチ
ング室2内には、所定の混合ガスプラズマが導入されて
ドライエッチング室2内には、所定の混合ガスプラズマ
が導入されてドライエッチングが行われる。この過程に
おいて、ガラス基板4の裏面は、治具6及び基板保護手
段によって保護されているため、反応生成物(例えば、
金属炭化物や金属酸化物)の裏面への静電的付着が防止
されることとなる。
【0021】そして、このようにしてドライエッチング
されたガラス基板は、続いてロードロック室1又は2へ
移送され、常圧下において外部へ取り出され、次のウェ
ットエッチングプロセスに供される。この際、ガラス基
板の裏面にはドライエッチング過程での反応生成物の付
着が防止されているため、このウェットエッチングプロ
セスで基板をエッチング液に浸漬しても、基板裏面にエ
ッチングレートのむらが生じず、白濁等は全く認められ
なかった。従って、基板の透明性は全く阻害されず、エ
ッチングを行えることが判った。
【0022】
【発明の効果】この発明の装置によれば、透明非晶質絶
縁体基板上に、ドライエッチングとウェットエッチング
を併用して、所定の素子を形成する際のドライエッチン
グ過程での反応物付着を防止できるため、該反応物付着
による基板の白濁等の不都合が防止される。従って、素
子作製のプロセスが著しく簡略化され、コストの低減化
にも有効である。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明のドライエッチング装置の一例を示す
構成説明図である。
【図2】同じく、要部の模式的斜視図である。
【図3】従来のドライエッチング装置を例示する構成説
明図である。
【図4】図3の要部を示す模式的斜視図である。
【符号の説明】
1,3 ロードロック室 2 ガスエッチング室 4 ガラス基板 5 回転アーム 6 基板固定治具 7 基板保護手段 8 減圧手段 9 ガス導入管 10 外部制御装置 21 シャッター

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 【請求項1】 各々減圧手段を備えた圧力調整室及びガ
    スエッチング室と、被エッチング膜を表面形成した透明
    非晶質絶縁体基板を保持しこれを上記圧力調整室からガ
    スエッチング室へ移送する内蔵搬送手段を有し、 上記搬送手段が、上記透明非晶質絶縁体基板を裏面から
    支える治具と、この治具からスライド状に延出して当該
    裏面全体を被覆保護しうる基板保護手段を備えてなるド
    ライエッチング装置。
JP16727691A 1991-07-08 1991-07-08 ドライエツチング装置 Pending JPH0513370A (ja)

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JP16727691A JPH0513370A (ja) 1991-07-08 1991-07-08 ドライエツチング装置

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JPH0513370A true JPH0513370A (ja) 1993-01-22

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JP16727691A Pending JPH0513370A (ja) 1991-07-08 1991-07-08 ドライエツチング装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004087606A (ja) * 2002-08-23 2004-03-18 Sharp Corp Soi基板およびそれを用いる表示装置ならびにsoi基板の製造方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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