JPH05129454A - Ｉｃキヤリア - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】ＩＣキャリアに磁記録部をもたせ、キャリアへ
ＩＣの検査結果である分類情報を書込むこと。 【構成】ＩＣキャリア２の側面に磁気記録部３をもたせ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、ＩＣ（集積回路）チャ
リアに関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、表面実装タイプのＩＣは、その製
造ライン特に検査工程では、ＩＣリードの変形が生じや
すく、またＩＣそのものが軽薄短小である為、ＩＣキャ
リアを用いた物流形態となっている。図２に示すよう
に、このＩＣキャリア２は、プラスチックによる成形品
で、中へＩＣ１をセットする形状となっている。ＩＣ１
の検査工程では、ＩＣキャリア２単位にハンドリングが
行われ、試験結果によりキャリアを分類している。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】このような従来のＩＣ
キャリア２では、キャリア自体に情報をもたせることが
できない。たとえば、検査工程における分類結果等が記
録できないという問題点がある。

【０００４】本発明の目的は、前記問題点を解決し、検
査結果が記録できるようにしたＩＣキャリアを提供する
ことにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明の構成は、ＩＣキ
ャリアの側面に磁気記録部を備えていることを特徴とす
る。

【０００６】

【実施例】図１は本発明の一実施例のＩＣキャリアの外
観図である。

【０００７】図１において、本実施例は、ＩＣ１をホー
ルドするキャリア２の側面部に磁気記録部３を設ける。

【０００８】この磁気記録部３にＩＣ１の分類情報など
を記録する。メモリＩＣの検査工程では、多数個同時に
試験を行うが、ＩＣ１のハンドリング装置においては、
複数の分類信号に基づいて、ＩＣ１の分類収納を行わね
ばならず、これに時間を要する。この時間より試験時間
が短かいと、試験装置の不稼働の時間が表面化してく
る。本実施例のＩＣキャリア２では、この分類情報をハ
ンドリング装置で磁気記録部３へ書込み、これを一括し
て収納する。この磁気記録をもとに、後工程で別途分類
収納する。

【０００９】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のＩＣキャ
リアは、磁気記録部を有する為、この部分へＩＣの検査
結果である分類情報を書込むことができるから、特にハ
ンドリング装置で分類情報をキャリアにもたせハンドリ
ング装置では一括収納した場合、マシンインデックスを
短かくできるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例のＩＣキャリアの斜視図であ
る。

【図２】従来タイプのＩＣキャリアの斜視図である。

【符号の説明】

１ ＩＣ ２ ＩＣキャリア ３ 磁気記録部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 磁気記録部を側面に備えたことを特徴と
   するＩＣキャリア。