JPH05118879A - 位置検出装置 - Google Patents

位置検出装置

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JPH05118879A
JPH05118879A JP30969091A JP30969091A JPH05118879A JP H05118879 A JPH05118879 A JP H05118879A JP 30969091 A JP30969091 A JP 30969091A JP 30969091 A JP30969091 A JP 30969091A JP H05118879 A JPH05118879 A JP H05118879A
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JP
Japan
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light
reflection
detection
detection light
partial
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Application number
JP30969091A
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English (en)
Inventor
Naotaka Shin
直隆 新
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Omron Corp
Original Assignee
Omron Corp
Omron Tateisi Electronics Co
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 検出光量を増大して位置検出信号のS/N比
を向上し、後処理回路の負担を軽減することのできる位
置検出装置を提供する。 【構成】 投光部1が部分反射部4に出射する検出光の
入射角と、部分反射部4により反射し受光部により受光
される検出光の反射角とを等しくした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光学的手段を用いた位置
検出装置に係り、特に位置検出信号のS/N比を向上す
ることのできる位置検出装置に関する。
【0002】
【従来の技術】位置検出装置としては従来から光透過型
ロータリエンコーダが知られている。このロータリエン
コーダは回転ディスクに一定のピッチ毎にスリットを設
け、これと同一ピッチのスリットが設けられた固定スリ
ット板を前記回転ディスクに対向させ、固定スリット板
と回転ディスクとを挾んで投光部と受光部とを設けたも
のである。
【0003】しかしながら、このような構造では投光部
と受光部とが回転ディスク及び固定スリット板の両側に
振り別けて配置されているため、位置検出装置の薄型化
が困難であった。
【0004】また、反射型の位置検出装置としては、回
折光干渉方式のリニアエンコーダが知られている。これ
は、回折格子付きのスケールにレーザ光を照射させ、そ
の回折光の干渉縞の移動量から変位を計測しようとする
ものである。
【0005】このような回折光干渉方式のエンコーダ
は、高分解能ではあるが光学系が複雑で形状も大きくな
り、高価になるという問題があった。
【0006】上記の従来技術の問題点を解決するため、
本出願人は特願平2−404582号により薄型で構造
が簡単であり、安価な変位信号出力装置を提案してい
る。この装置は図5に示すように、発光ダイオードなど
の投光部1、フォトトランジスタなどの受光部2、第1
の部材である部分透過板3及び第2の部材である部分反
射部4からなっている。そして部分透過板3と投受光部
1、2とは一体に静止させてあり、部分反射部4を変位
させ、その変位に同調させて受光部2から変位信号を出
力させるようになっている。
【0007】部分透過板3には非透過領域5と透過領域
6とが交互に一定のピッチpで配列されている。部分反
射部4の表面には低反射率領域7と高反射率領域8と
が、部分透過板3のパターンと同じピッチpで交互に配
列されており、各領域5、6、7、8は互いに平行にか
つ部分反射板4の変位方向と直角の方向に設けられてい
る。
【0008】上記のように構成された変位信号出力装置
によると、部分透過板3の透過領域6と部分反射部4の
高反射率領域8とが一致しているときは、投光部1から
出射された光線は、透過領域6を通過して高反射率領域
8で反射され、再び透過領域6を通過して受光部2に入
射され、受光部2では強度の大きな光を検出する。これ
に対し、部分透過板3の非透過領域5と部分反射部4の
高反射率領域8が一致していて、高反射率領域8が非透
過領域5で遮蔽されているときには、投光部1から出射
された光線は、透過領域6を通過して低反射率領域7で
反射される。そして再び透過領域6を通過して受光部2
に入射され、受光部2では強度の弱い光を検出する。
【0009】従って受光部2からの出力波数に同期パタ
ーンのピッチ寸法pを掛けることにより、部分反射部4
の変位量を計測することができる。なお図3は前記提案
の一例の構成を示したものであり、種々の変形例があ
る。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上記のように構成され
た変位信号出力装置によると、受発光部1、2は部分透
過板3及び部分反射部4の同じ側に配置することがで
き、装置の薄型化が可能となる。しかし投光部1及び受
光部2の光軸は部分反射部4に対して垂直の方向に向か
っている。従って投光部1から出射する検出光が部分反
射部4によって正反射する反射光が十分に受光部2に入
射できない。この結果位置検出信号のS/N比が悪くな
り、受光部2から出力される信号を処理する電気回路に
負担がかかるという問題があった。
【0011】本発明は、このような状況に鑑みてなされ
たもので、検出光量を増大して位置検出信号のS/N比
を向上し、後処理回路の負担を軽減することのできる位
置検出装置を提供することを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明の位置検出装置
は、検出光を出射する投光部と、検出光を受光する受光
部と、透過率の高い領域と透過率の低い領域とからなる
パターンが一定ピッチで連続的に形成された第1の部材
と、強度の大きな反射光を生成する領域と強度の小さな
反射光を生成する領域とからなるパターンが、第1の部
材のパターンと同じピッチで連続的に形成された第2の
部材とからなる位置検出装置であって、投光部が第2の
部材に出射する検出光の入射角と、第2の部材により反
射し受光部により受光される検出光の反射角とを等しく
したことを特徴とする。
【0013】
【作用】上記構成の位置検出装置においては、投光部か
ら出射した検出光は第2の部材によって正反射され、正
反射された検出光のみが受光部により受光される。従っ
て検出光が最適に受光部に入射し、位置検出信号のS/
N比が向上する。
【0014】
【実施例】以下、本発明の位置検出装置の一実施例を図
面を参照して説明する。
【0015】図1に本発明の一実施例の構成を示す。図
1において、図5に示す従来例の部分と対応する部分に
は同一符号を付して示し、その説明は適宜省略する。本
実施例の特徴は投光部1の光軸と受光部2の光軸とが部
分反射部4の反射面上で同一点で交わっており、しかも
投光部1からの検出光の入射角と、部分反射部4からの
検出光の反射角とは等しくなっており、入射光は前記一
点に集光されていることにある。なお、部分反射部4は
表面が鏡面状の長方形の板に、光を吸収する塗料によっ
て低反射領域7を一定のピッチで印刷して構成されてい
るか、エッチングで構成されている。または低反射領域
7を図2に示すように、エッチングなどで貫通孔11と
して構成してもよく、図3に示すようにエッチングなど
で凹部21として構成してもよい。この場合凹部21は
エッチングによって粗面となるので低反射領域となる。
またこの構成はフラット・リニア・パルスモータのスラ
イダとして好適である。
【0016】本実施例によれば、投光部1から出射した
検出光は部分透過板3を通って部分反射部4に当たり、
正反射された検出光のみが部分透過板3を介して受光部
2に入射する。従って検出光が最適に受光部2に入射
し、位置検出信号のS/N比が向上する。また検出光の
光量も増えるので、信号増幅などの後処理回路の負担が
軽減される。
【0017】図4に本発明の他の実施例の構成を示す。
図1に示す実施例では投光部1から出射する検出光が部
分反射部4の表面の一点に集光する場合について説明し
たが、この実施例では投光部1から出射する検出光を図
示しないレンズにより平行光とした。この場合も図1の
実施例の場合と同様に効果が得られる。
【0018】なお、上記実施例では部分透過板3と投受
光部1、2とが一体に固定され、部分反射部4の変位を
検出する場合について説明したが、部分反射部と投受光
部1、2とを一体に固定し、部分透過板3の変位を検出
するようにしてもよい。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の位置検出
装置によれば投光部が第2の部材に出射する検出光の入
射角と、第2の部材により反射し受光部により受光され
る検出光の反射角とを等しくしたので、正反射光のみが
受光部に最適に入射し、位置検出信号のS/N比が向上
する。また検出光の光量も増えるので、信号増幅などの
後処理回路の負担が軽減される。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の位置検出装置の一実施例の要部の構成
を示す説明図
【図2】図1の部分反射部の他の構成例を示す斜視図
【図3】図1の部分反射部の別の構成例を示す正面図
【図4】本発明の位置検出装置の他の実施例の要部の構
成を示す説明図
【図5】従来の位置検出装置の他の実施例の要部の構成
を示す説明図
【符号の説明】
1 投光部 2 受光部 3 部分透過板(第1の部材) 4 部分反射部(第2の部材) 5 非透過領域 6 透過領域 7 低反射率領域 8 高反射率領域

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 検出光を出射する投光部と、検出光を受
    光する受光部と、透過率の高い領域と透過率の低い領域
    とからなるパターンが一定ピッチで連続的に形成された
    第1の部材と、強度の大きな反射光を生成する領域と強
    度の小さな反射光を生成する領域とからなるパターン
    が、前記第1の部材の前記パターンと同じピッチで連続
    的に形成された第2の部材とからなる位置検出装置であ
    って、前記投光部が前記第2の部材に出射する検出光の
    入射角と、前記第2の部材により反射し前記受光部によ
    り受光される検出光の反射角とを等しくしたことを特徴
    とする位置検出装置。
JP30969091A 1991-10-29 1991-10-29 位置検出装置 Pending JPH05118879A (ja)

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JP30969091A JPH05118879A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 位置検出装置

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JP30969091A JPH05118879A (ja) 1991-10-29 1991-10-29 位置検出装置

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007232689A (ja) * 2006-03-03 2007-09-13 Nissan Motor Co Ltd 操舵角検出装置および操舵角検出方法
JP2013117512A (ja) * 2011-10-31 2013-06-13 Alone Co Ltd 光学式エンコーダに用いられる反射板及びその製造方法
JP2019525157A (ja) * 2016-07-01 2019-09-05 フィジック インストゥルメント(ピーアイ)ゲーエムベーハー アンド ツェーオー.カーゲー センサ装置

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