JPH05114641A - Semiconductor wafer cassette carrier - Google Patents

Semiconductor wafer cassette carrier

Info

Publication number
JPH05114641A
JPH05114641A JP3301297A JP30129791A JPH05114641A JP H05114641 A JPH05114641 A JP H05114641A JP 3301297 A JP3301297 A JP 3301297A JP 30129791 A JP30129791 A JP 30129791A JP H05114641 A JPH05114641 A JP H05114641A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
arm
semiconductor wafer
cassette
groove
identification mark
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP3301297A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshinori Okawa
吉徳 大川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Nippon Steel Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Steel Corp filed Critical Nippon Steel Corp
Priority to JP3301297A priority Critical patent/JPH05114641A/en
Publication of JPH05114641A publication Critical patent/JPH05114641A/en
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

PURPOSE:To make it possible to load or unload a semiconductor wafer by means of an automatic robot even when a cassette is subjected to any strain by installing an identification mark to a cassette slot, detecting the mark with a sensor and correcting the position of an arm. CONSTITUTION:There are provided sensors 9a and 9b which detect an identification mark 6 installed near each slot 2b and an identification mark 6 installed integrally on an arm 7. The position of the arm 7 is aligned to the slot 2b equivalent to the identification mark 6 based on the output of the sensors 9a and 9b. Since this construction makes it possible to recognize the positions of the slots with high accuracy, both loading and unloading work can be executed at high speed. It is, therefor, possible to perform normal loading and unloading work even if a strain is produced on a cassette.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は、多数枚の半導体ウエハ
を一定間隔に収納するための半導体ウエハカセットキャ
リアに関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor wafer cassette carrier for accommodating a large number of semiconductor wafers at regular intervals.

【0002】[0002]

【従来の技術】半導体装置の製造工程においては、多数
枚(例えば、25枚)の半導体ウエハを一旦カセットに
収納し、このカセットから1枚づつ順番に自動ロボット
のアームによって作業場所へ取り出し、処理の済んだウ
エハを別のカセットへ順番に収納する工程を有してい
る。
2. Description of the Related Art In the process of manufacturing a semiconductor device, a large number (for example, 25) of semiconductor wafers are temporarily stored in a cassette, and one by one is taken out from the cassette in order by an arm of an automatic robot to a work place for processing. The method has a step of sequentially storing the finished wafers in another cassette.

【0003】すなわち、図2に示すように、カセット1
は箱形を成し、その一面が解放され、この解放面から半
導体ウエハが出し入れされる。カセット1の側壁の内側
には垂直方向へ一定間隔にV字形の溝2a,2bが形成
されている。この溝2a,2bは、対称的に形成され、
対向する溝間に半導体ウエハ3を挿入すると、半導体ウ
エハ3は水平に位置する。また、溝2a,2bは挿入し
た上下のウエハが接触しないような上下間隔に設定され
ている。さらに、カセット1は底面4と天井面5を有し
ている。
That is, as shown in FIG.
Has a box shape, one surface of which is released, and the semiconductor wafer is put in and taken out from the released surface. Inside the side wall of the cassette 1, V-shaped grooves 2a and 2b are formed at regular intervals in the vertical direction. The grooves 2a and 2b are formed symmetrically,
When the semiconductor wafer 3 is inserted between the grooves facing each other, the semiconductor wafer 3 is positioned horizontally. Further, the grooves 2a and 2b are set at a vertical interval so that the inserted upper and lower wafers do not come into contact with each other. Further, the cassette 1 has a bottom surface 4 and a ceiling surface 5.

【0004】このような構成のカセット1に対して半導
体ウエハ3を挿入(ローディング)するに際しては、不
図示の自動ロボットによりアーム上に載置された1枚の
半導体ウエハ3を溝の高さに合わせた状態でカセット1
内へ移動し、最下段の溝2a,2b間に挿入する。つい
で、挿入が完了した後、アームを手前に移動させる。こ
の作業を1溝づつ上に進めることにより、多数枚の半導
体ウエハ3が一定間隔に収納される。
When the semiconductor wafer 3 is inserted (loaded) into the cassette 1 having such a structure, one semiconductor wafer 3 placed on the arm is moved to the groove height by an automatic robot (not shown). Cassette 1 in the combined state
It moves inward and is inserted between the lowermost grooves 2a and 2b. Then, after the insertion is completed, the arm is moved toward you. By advancing this operation one groove at a time, a large number of semiconductor wafers 3 are housed at regular intervals.

【0005】一方、半導体ウエハ3を引き出す(アンロ
ーディング)場合には、自動ロボットのアームを半導体
ウエハ3の下面に移動し、そのままアームを上昇すると
半導体ウエハ3がアーム上に載置される。ついでアーム
を手前に移動することにより、半導体ウエハ3を引き出
すことができる。
On the other hand, when pulling out (unloading) the semiconductor wafer 3, the arm of the automatic robot is moved to the lower surface of the semiconductor wafer 3, and the arm is lifted as it is, so that the semiconductor wafer 3 is placed on the arm. Then, the semiconductor wafer 3 can be pulled out by moving the arm toward you.

【0006】なお、自動ロボットのアーム位置と溝2
a,2bの各々との高さ合わせは、正確に行われる必要
がある。具体的には、底面4を認識し、このレベルを基
準にして最下段の溝の高さを把握し、この溝より一定間
隔に溝が増加するものとしてアームを移動させている。
The arm position and groove 2 of the automatic robot
Height adjustment with each of a and 2b needs to be performed accurately. Specifically, the bottom surface 4 is recognized, the height of the groove at the lowest stage is grasped with reference to this level, and the arm is moved assuming that the groove increases at a constant interval from this groove.

【0007】なお、この種の技術に関するものとして、
例えば、特開平1−152640号公報がある。
Incidentally, regarding this kind of technology,
For example, there is JP-A-1-152640.

【0008】[0008]

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記した従来
技術において、カセットの底面を基準にして各溝が等間
隔のピッチであるものとしてローディング及びアンロー
ディングを行っているので、カセットの溝と半導体ウエ
ハが擦れて塵が出るのを防止することが必要であり、そ
のためローディング/アンローディングの高速化に限界
がある。さらに、長期の使用によってカセットに歪みが
生じ、左右の溝高さがずれ、自動ロボットの使用ができ
なくなる。このためカセットの交換頻度が高くなり、コ
スト増を招いていた。
However, in the above-mentioned prior art, since loading and unloading are performed assuming that each groove has an equal pitch with respect to the bottom surface of the cassette, the groove of the cassette and the semiconductor are not processed. It is necessary to prevent the wafer from rubbing and dust, which limits the speed of loading / unloading. Further, the cassette is distorted due to long-term use, the heights of the left and right grooves are displaced, and the automatic robot cannot be used. As a result, the frequency of cassette replacement becomes high, resulting in an increase in cost.

【0009】本発明の目的は、カセットに歪みが生じて
も自動ロボットによる半導体ウエハのローディング/ア
ンローディングを可能にする半導体ウエハカセットキャ
リアを提供することにある。
An object of the present invention is to provide a semiconductor wafer cassette carrier which enables loading / unloading of semiconductor wafers by an automatic robot even if the cassette is distorted.

【0010】[0010]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、この発明は、半導体ウエハを支持する溝を側壁の
内側の対向位置に連続に形成したカセットに対し、自動
ロボットのアームによって前記溝に半導体ウエハを水平
にローディング/アンローディングする半導体ウエハカ
セットキャリアにおいて、前記溝の各々の近傍に設けら
れる識別用のマークと、前記アームに一体的に設けられ
て前記マークを検出するセンサとを備え、該センサの出
力に基づいて前記マークに対応する溝に前記アームの位
置を合わせるようにしている。
In order to achieve the above object, the present invention provides a cassette for continuously forming a groove for supporting a semiconductor wafer at a position facing each other inside a side wall by an arm of an automatic robot. In a semiconductor wafer cassette carrier for horizontally loading / unloading a semiconductor wafer in a groove, an identification mark provided in the vicinity of each groove and a sensor provided integrally with the arm for detecting the mark are provided. The arm is aligned with the groove corresponding to the mark based on the output of the sensor.

【0011】[0011]

【作用】上記した手段によれば、カセットの半導体ウエ
ハを支持するための溝に設けた識別用マークが、センサ
によって検出され、カセットの歪みなどによる左右の溝
の高さのずれなどに応じてアームの位置状態が補正され
る。したがって、溝位置を高精度に認識できるためロー
ディング/アンローディングを高速に行うことができる
と共に、カセットに歪みが生じてもローディング/アン
ローディングを正常に行うことができる。
According to the above-described means, the identification mark provided in the groove for supporting the semiconductor wafer of the cassette is detected by the sensor, and the height of the left and right grooves is displaced due to distortion of the cassette or the like. The position of the arm is corrected. Therefore, since the groove position can be recognized with high accuracy, loading / unloading can be performed at high speed, and loading / unloading can be normally performed even if the cassette is distorted.

【0012】[0012]

【実施例】図1は本発明による半導体ウエハカセットキ
ャリアの一実施例を示す斜視図である(図1において
は、カセットは一部のみについて図示し、また、図2と
同一であるものには同一引用数字を用いている)。
1 is a perspective view showing an embodiment of a semiconductor wafer cassette carrier according to the present invention (in FIG. 1, only a part of the cassette is shown, and the same as FIG. 2). The same reference numerals are used).

【0013】この実施例においては、溝2a,2bの各
々に識別マーク6を設け、各溝の実際の高さを認識でき
るようにしている。この識別マーク6は、種々の形状が
考えられる。ここでは十字形の凹部の例を示してしる
が、十字形の凸部、□,○,△などの凹凸、鏡面仕上げ
のマークなどとしてもよい。あるいは以上の形状に色で
マーキングすることでもよいが、汚れやすい、色が剥げ
るなどの点で凹凸形状よりも劣る。
In this embodiment, an identification mark 6 is provided on each of the grooves 2a and 2b so that the actual height of each groove can be recognized. The identification mark 6 may have various shapes. Although an example of a cross-shaped concave portion is shown here, a cross-shaped convex portion, irregularities such as □, ○, and Δ, or a mirror-finished mark may be used. Alternatively, the above shape may be marked with a color, but it is inferior to the uneven shape in that it is easily soiled and the color is peeled off.

【0014】識別マーク6を認識するために、自動ロボ
ットのアーム7の側部より一対のセンサアーム8a,8
bを突出させ、その先端に非接触式のセンサ9a,9b
を取り付けている。このセンサ9a,9bは、半導体ウ
エハ3のローディング/アンローディング時にカセット
1の溝2a,2bに対向するように配設されている。セ
ンサ9a,9bとしては、例えば、反射光式のフォトセ
ンサ、撮像素子(CCD)などを用いることができる。
In order to recognize the identification mark 6, a pair of sensor arms 8a, 8 is provided from the side of the arm 7 of the automatic robot.
b is projected, and the non-contact type sensors 9a and 9b are attached to the tip thereof.
Is attached. The sensors 9a and 9b are arranged to face the grooves 2a and 2b of the cassette 1 when the semiconductor wafer 3 is loaded / unloaded. As the sensors 9a and 9b, for example, a reflected light type photo sensor, an image sensor (CCD), or the like can be used.

【0015】以上の構成においては、例えば、ローディ
ングを行う場合、挿入対象の溝の高さにアーム7を概略
位置決めし、アーム7のカセット1内への移動を開始す
る。アーム7が移動する過程で、センサ9a,9bは対
向する識別マーク6を検出する。この識別マーク6の検
出状況から、アーム7を現在位置より上昇すべきか下降
すべきか或は右回転すべきが、左回転すべきかを不図示
の制御部によって判定する。この判定結果に基づいてア
ーム7を不図示の駆動部によって駆動し、アーム7を最
適位置にセットする。この後アーム7をカセット1の奥
へ移動し、ついで、アーム7をを少しだけ下降させる。
これによって半導体ウエハ3は左右の溝2a,2bによ
って支持される。ここで、アーム7を手前に移動させる
ことにより、1回のローディング作業が終了する。
In the above configuration, for example, when loading, the arm 7 is roughly positioned at the height of the groove to be inserted, and the movement of the arm 7 into the cassette 1 is started. In the process of moving the arm 7, the sensors 9a and 9b detect the facing identification mark 6. Based on the state of detection of the identification mark 6, it is determined by a control unit (not shown) whether the arm 7 should be moved up or down from the current position or should be rotated to the right, but to be rotated to the left. Based on this determination result, the arm 7 is driven by a drive unit (not shown) to set the arm 7 at the optimum position. After this, the arm 7 is moved to the back of the cassette 1, and then the arm 7 is slightly lowered.
As a result, the semiconductor wafer 3 is supported by the left and right grooves 2a and 2b. Here, by moving the arm 7 to the front, one loading operation is completed.

【0016】[0016]

【発明の効果】以上説明した通り、この発明は、半導体
ウエハを支持する溝を側壁の内側の対向位置に連続に形
成したカセットに対し、自動ロボットのアームによって
前記溝に半導体ウエハを水平にローディング/アンロー
ディングする半導体ウエハカセットキャリアにおいて、
前記溝の各々の近傍に設けられる識別用のマークと、前
記アームに一体的に設けられて前記マークを検出するセ
ンサとを備え、該センサの出力に基づいて前記マークに
対応する溝に前記アームの位置を合わせるようにしたの
で、溝位置を高精度に認識できるためローディング/ア
ンローディングを高速に行うことができると共に、カセ
ットに歪みが生じてもローディング/アンローディング
を正常に行うことができる。また、カセットの交換頻度
が低減できる結果、コストダウンを図ることが可能にな
る。
As described above, according to the present invention, a cassette having a groove for supporting a semiconductor wafer continuously formed at a facing position inside the side wall is loaded horizontally with the arm of an automatic robot. / In the unloading semiconductor wafer cassette carrier,
An identification mark provided in the vicinity of each of the grooves and a sensor that is provided integrally with the arm to detect the mark are provided, and the arm is provided in the groove corresponding to the mark based on the output of the sensor. Since the groove positions can be recognized with high accuracy, loading / unloading can be performed at high speed, and loading / unloading can be performed normally even if the cassette is distorted. Further, the frequency of cassette replacement can be reduced, resulting in cost reduction.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明による半導体ウエハカセットキャリアの
一実施例の主要部を示す斜視図である。
FIG. 1 is a perspective view showing a main part of an embodiment of a semiconductor wafer cassette carrier according to the present invention.

【図2】従来の半導体ウエハカセットを示す正面図であ
る。
FIG. 2 is a front view showing a conventional semiconductor wafer cassette.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 カセット 2a,2b 溝 3 半導体ウエハ 6 識別マーク 7 アーム 8a,8b センサアーム 9a,9b センサ 1 cassette 2a, 2b groove 3 semiconductor wafer 6 identification mark 7 arm 8a, 8b sensor arm 9a, 9b sensor

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 半導体ウエハを支持する溝を側壁の内側
の対向位置に連続に形成したカセットに対し、自動ロボ
ットのアームによって前記溝に半導体ウエハを水平にロ
ーディング/アンローディングする半導体ウエハカセッ
トキャリアにおいて、前記溝の各々の近傍に設けられる
識別用のマークと、前記アームに一体的に設けられて前
記マークを検出するセンサとを備え、該センサの出力に
基づいて前記マークに対応する溝に前記アームの位置を
合わせることを特徴とする半導体ウエハカセットキャリ
ア。
1. A semiconductor wafer cassette carrier in which a groove for supporting a semiconductor wafer is continuously formed at a position facing each other inside a side wall, and a semiconductor wafer is horizontally loaded / unloaded in the groove by an arm of an automatic robot. An identification mark provided in the vicinity of each of the grooves, and a sensor provided integrally with the arm for detecting the mark, and the groove corresponding to the mark is provided on the basis of the output of the sensor. A semiconductor wafer cassette carrier characterized by aligning the positions of arms.
JP3301297A 1991-10-22 1991-10-22 Semiconductor wafer cassette carrier Withdrawn JPH05114641A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3301297A JPH05114641A (en) 1991-10-22 1991-10-22 Semiconductor wafer cassette carrier

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3301297A JPH05114641A (en) 1991-10-22 1991-10-22 Semiconductor wafer cassette carrier

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05114641A true JPH05114641A (en) 1993-05-07

Family

ID=17895147

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3301297A Withdrawn JPH05114641A (en) 1991-10-22 1991-10-22 Semiconductor wafer cassette carrier

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH05114641A (en)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5409348A (en) * 1992-05-15 1995-04-25 Tokyo Electron Limited Substrate transfer method
US6146077A (en) * 1998-01-13 2000-11-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Wafer transfer system of semiconductor fabricating equipment using a serial number detecting device
JP2001287178A (en) * 1999-03-15 2001-10-16 Berkeley Process Control Inc Automatic calibration equipment and automatic calibration method for wafer transfer robot
US6671574B1 (en) 2002-08-30 2003-12-30 Fujitsu Limited Position detecting apparatus and library apparatus
JP2013069875A (en) * 2011-09-22 2013-04-18 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate transfer jig
JP2014113649A (en) * 2012-12-07 2014-06-26 Daihen Corp Robot teaching method, transport method, and transport system
CN109841547A (en) * 2017-11-29 2019-06-04 台湾积体电路制造股份有限公司 Wafer cassette, wafer cassette are to Barebone and wafer cassette alignment methods

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5409348A (en) * 1992-05-15 1995-04-25 Tokyo Electron Limited Substrate transfer method
US6146077A (en) * 1998-01-13 2000-11-14 Samsung Electronics Co., Ltd. Wafer transfer system of semiconductor fabricating equipment using a serial number detecting device
US6149379A (en) * 1998-01-13 2000-11-21 Samsung Electronics Co., Ltd. Wafer transfer method using a serial number detecting device in semiconductor fabricating equipment
JP2001287178A (en) * 1999-03-15 2001-10-16 Berkeley Process Control Inc Automatic calibration equipment and automatic calibration method for wafer transfer robot
US6671574B1 (en) 2002-08-30 2003-12-30 Fujitsu Limited Position detecting apparatus and library apparatus
JP2013069875A (en) * 2011-09-22 2013-04-18 Hitachi Kokusai Electric Inc Substrate transfer jig
JP2014113649A (en) * 2012-12-07 2014-06-26 Daihen Corp Robot teaching method, transport method, and transport system
CN109841547A (en) * 2017-11-29 2019-06-04 台湾积体电路制造股份有限公司 Wafer cassette, wafer cassette are to Barebone and wafer cassette alignment methods
CN109841547B (en) * 2017-11-29 2021-10-26 台湾积体电路制造股份有限公司 Wafer cassette, wafer cassette alignment system, and wafer cassette alignment method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH04321253A (en) Wafer conveyance apparatus and detection method for inclination of wafer
JPH05114641A (en) Semiconductor wafer cassette carrier
TW202103254A (en) Substrate transfer apparatus
JP2006114699A (en) Clamping device for thin board supporting container
CN116581059A (en) Wafer position detection device, machine and detection method in chamber
JP2011003695A (en) Substrate transfer apparatus
JP2882746B2 (en) Substrate transfer device
JPH04340245A (en) Wafer transfer apparatus
JPH06211320A (en) Wafer carrying-in and out device
JPH05238513A (en) Positioning method for semiconductor wafer storage cassette semiconductor wafer carrier mechanism
JPH04154144A (en) Substrate carrying-in and taking-out mechanism
JPH07142553A (en) Method and equipment for sensing position wafer in boat
CN220065628U (en) Wafer position detection device in cavity and machine table
JPH05338737A (en) Semi-conductor manufacturing device
KR20070082144A (en) Wafer teaching apparatus for overlay equipment and method thereof
JPH04215454A (en) Attitude controller for wafer cassette
KR100342397B1 (en) Wafer counting apparatus and method of SMIF
JPH04107841A (en) Apparatus and method for transporting semiconductor wafer
JP2011040569A (en) Substrate carrier device
JP2001044271A (en) Carrier and detection method for housing state of substrate
JPH04242953A (en) Wafer transfer system
KR20060037092A (en) Apparatus for fabricating semiconductor device
JPH05291382A (en) Thin plate storing apparatus
JPH07297264A (en) Detecting device of wafer position
JPH03280447A (en) Detection of substrate

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 19990107