JPH05108499A - メモリのテストシステム - Google Patents

メモリのテストシステム

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JPH05108499A
JPH05108499A JP3264848A JP26484891A JPH05108499A JP H05108499 A JPH05108499 A JP H05108499A JP 3264848 A JP3264848 A JP 3264848A JP 26484891 A JP26484891 A JP 26484891A JP H05108499 A JPH05108499 A JP H05108499A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bank
address
data
ram
bus
Prior art date
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Pending
Application number
JP3264848A
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English (en)
Inventor
Yukio Kunihiro
幸雄 国広
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Fuji Facom Corp
Original Assignee
Fuji Facom Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明はメモリのテストシステムに関し、更
に詳しくは大容量のメモリのライト/リード試験を行う
メモリのテストシステムに関し、メモリチェックに要す
る時間を大幅に短縮することができるメモリのテストシ
ステムを提供することを目的としている。 【構成】 CPU1にデータバス2とアドレスバス3が
接続され、かつそれぞれのバスに複数のバンクRAM4
が接続されたシステムにおいて、バンクRAM4にデー
タを書き込む時に、CPU1からの指令によりアドレス
データの上位ビットをマスクするマスク信号を出力する
写像レジスタ10と、該写像レジスタ10の出力とアド
レスデータを受け、そのデコード信号が前記バンクRA
M4にチップセレクト信号として与えられるアドレスデ
コーダ11を設けて構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はメモリのテストシステム
に関し、更に詳しくは大容量のメモリのライト/リード
試験を行うメモリのテストシステムに関する。
【0002】近年のプロセッサシステムにおいて、シス
テムの持つ記憶容量(メモリ容量)は急激に増加してい
る。これらのCPUシステムにおいて、アドレスマッピ
ングされているRAM領域もまた増大している。このR
AM領域は、ほとんどのシステムにおいて増設機能があ
り、増設可能な領域も含めると膨大なメモリ容量とな
る。
【0003】これらのアドレスマッピングされたRAM
領域は、そのシステムの立ち上げ時毎にそのRAM領域
が有効かどうかチェックされ、そのシステムの信頼性を
高めている。一般に、このRAM領域のチェックは、C
PUのアドレス空間にリニアにマッピングされたRAM
領域に既知のデータをライト/リードしてチェックして
いる。
【0004】前述したように、チェックされるRAM領
域の容量は、非常に大きくこのライト/リードチェック
だけでも多くの時間が必要である。また、こうしたプロ
セッサシステムでは、RAMデータの信頼性を高めるた
めにパリティチェック機能がほとんどのシステムで取り
入れられている。このパリティチェック機能のために、
システム立ち上げ時に既知のデータをRAM領域にライ
トしてパリティジェネレートする必要がある。このパリ
ティジェネレートに際しても、全RAM領域に行うため
には、多くの時間が必要である。
【0005】
【従来の技術】図4は従来システムの構成例を示すブロ
ック図である。図において、CPU1にはデータバス2
とアドレスバス3がそれぞれ接続されている。これらデ
ータバス2及びアドレスバス3には複数のバンクRAM
4が接続されている。5はアドレスデータを受けてデコ
ードし、これらバンクRAM4にバンクセレクト信号を
与えるアドレスデコーダである。6はCPU1と接続さ
れ、各バンクRAM4にライト(WT)/リード(R
D)制御信号を与えるCPUインタフェース制御部であ
る。このように構成されたシステムの動作を説明すれ
ば、以下のとおりである。
【0006】システム立ち上げ時には、メモリ領域のラ
イト/リードチェックを行う。バンクRAM領域はアド
レスに対してリニアにマッピングされている。そこで、
CPU1はRAM領域に対して順次アドレスデータを更
新していく。それと同時に、データバス2には既知のデ
ータを出力する。
【0007】アドレスデコーダ5は、アドレスバス3の
アドレスデータを受けてデコードし、当該アドレスの場
合に唯一セレクトされるバンクRAM4を1個セレクト
し、そのバンクRAM4に対してのみバンクセレクト信
号を出力する。今、例えばバンクRAM(1)がセレク
トされたものとする。
【0008】CPUインタフェース制御部6は、このバ
ンクRAM(1)に対してライトモードに設定し、デー
タバス2に乗っている既知データにパリティビットを付
して書き込む。以下、バンクRAM(2)以下に対して
も同様にして既知データを書き込んでいく。
【0009】次に、CPUインタフェース制御部6は各
バンクRAM4をリードモードに設定する。全てのRA
M領域に対する既知データの書き込みが終了したら、C
PU1はデータライト時と同様にアドレスを順次更新し
ていく。そして、アドレスデコーダ5によりセレクトさ
れたバンクRAM4から順次データが読み出される。C
PU1は、読み出されたデータとパリティビットとを読
み込み、ライト時とリード時とでデータに不一致又はパ
リティエラーが発生していないかチェックする。このよ
うにして、RAM領域におけるライト/リードチェック
が行われる。
【0010】図5は従来システムの他の構成例を示すブ
ロック図である。図4と同一のものは、同一の符号を付
して示す。この従来例は、アドレスデコーダ7の出力を
受けるバンクレジスタ8を持っている。そして、該バン
クレジスタ8により指定されるバンクはコード化されて
おり、そのコードの指定によりアクセスされるバンクR
AM4は必ず1つに限定される構成になっている。
【0011】このように構成されたシステムにおけるシ
ステム立ち上げ時のライト/リードチェック動作は、バ
ンクRAM4がバンクレジスタ8によりセレクトされる
ようになっている他は図4と同じである。つまり、バン
クレジスタ8によりセレクトされるバンクRAM4に対
して既知データの書き込みが行われ、バンクレジスタ8
によりセレクトされるバンクRAM4から書き込まれた
データの読出しが行われる。CPU1はライトデータと
リードデータの比較及びパリティチェックによりRAM
領域のチェックを行うことになる。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来システム
では、各バンクRAMがアドレス空間にリニアにマッピ
ングされているため、マッピングされているRAM領域
全域のライト/リードチェックを行うためにはマッピン
グされたアドレス全域にライトとリードを行う必要があ
った。つまり、セレクトされたバンクRAMに対する処
理が終了したら、次のバンクRAMをセレクトして処理
を行うという操作をバンクRAMの数だけ繰り返す必要
がある。
【0013】また、図5に示すバンクレジスタを持つ構
成では、コード化されたバンクコードをバンクレジスタ
にライトし、バンク内のコードをセットして同様なチェ
ックを行なわなければならない。従って、従来のシステ
ムによればメモリチェックに膨大な時間を要してしまう
という問題があった。
【0014】本発明はこのような課題に鑑みてなされた
ものであって、メモリチェックに要する時間を大幅に短
縮することができるメモリのテストシステムを提供する
ことを目的としている。
【0015】
【課題を解決するための手段】図1は本発明の原理ブロ
ック図である。図4と同一のものは、同一の符号を付し
て示す。図に示すシステムは、CPU1にデータバス2
とアドレスバス3が接続され、かつそれぞれのバスに複
数のバンクRAM4が接続されている。このようなシス
テムにおいて、10はバンクRAM4にデータを書き込
む時に、CPU1からの指令によりアドレスデータの上
位ビットをマスクするマスク信号を出力する写像レジス
タ、11は該写像レジスタ10の出力とアドレスデータ
を受け、そのデコード信号が前記バンクRAM4にチッ
プセレクト信号として与えられるアドレスデコーダ、6
は各バンク4に対するライト/リード制御を行うCPU
インタフェース制御部である。
【0016】
【作用】写像レジスタ10は、ライトモード時にアドレ
スの上位ビットをマスクするマスク信号をアドレスデコ
ーダ11に与える。この結果、本来なら各バンクRAM
4を切り分けるアドレス上位ビットがなくなり、アドレ
スデコーダ11は全てのバンクRAM4に対するセレク
ト信号を出力する。この結果、全てのバンクRAM4が
セレクトされ、同一のデータが書き込まれることにな
る。
【0017】リードモード時には、写像レジスタ10は
アドレスデコーダ11にアドレスマスク信号をオフにし
て与える。この結果、アドレスデコーダ11は通常のモ
ードになり、バンクRAM4を1個ずつ順次セレクトす
る。アドレスデコーダ11によりセレクトされたバンク
RAM4の内容は読み出されてCPU1に与えられ、デ
ータチェックが行われる。
【0018】このように、本発明によればライトモード
時には全てのバンクRAM4に同時にデータを書き込む
ことができるので、メモリチェックに要する時間を大幅
に短縮することができる。
【0019】
【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。図2は本発明の一実施例の要部を示す構成
ブロック図である。図1と同一のものは、同一の符号を
付して示す。写像レジスタ10は、データ受信部10a
とアドレス受信部10bから構成されている。一方、ア
ドレスデコーダ11はアドレスの上位ビットを受信する
MSB受信部11aとデコード回路11bから構成され
ている。この上位ビットは、例えばMSBとそのすぐ下
のビットを含む数ビット程度である。
【0020】データ受信部10aの出力はアドレス受信
部10bに入り、アドレス受信部10bの出力はMSB
受信部11aに入っている。デコード回路11bには、
MSBを含む全アドレスビットが入る場合と、上位ビッ
ト以外のアドレスビットが入る場合とがある。このよう
に構成された回路の動作を説明すれば、以下のとおりで
ある。
【0021】データ受信部10aは、CPU2から出力
されるコマンドデータを受信し、ライトモードであるこ
とを認識すると、アドレス受信部10bにその旨を通知
する。アドレス受信部10bはライトモード通知を受け
ると、アドレスデコーダ11に対して上位ビットマスク
信号を出力する。
【0022】アドレスデコーダ11側では、MSB受信
部11aがこのマスク信号を受信する。そして、上位ビ
ットをマスクした状態(例えば全て0ビット)でデコー
ド回路11bに入れる。この結果、デコード回路11b
は、上位ビットがマスクされているため、全てのバンク
セレクト信号がアクティブとなるような信号を出力す
る。
【0023】この状態で、例えば(1)のバンクRAM
4にライトを行うと、バンク(1)で指定されたアドレ
スのデータが他のバンクの同一オフセットアドレス(各
バンクの先頭アドレスからのオフセットアドレス)に同
一シーケンスでライトされる。また、パリティのジェネ
レートデータも各バンクRAM4の同一オフセットアド
レスにライトされる。
【0024】このように、各バンクRAM4のアドレス
を写像化することにより、CPU1からの1回のアクセ
スにより、複数のバンクRAM4内のアドレスに対して
ライトすることが可能である。これにより、CPU1か
らRAM領域へのライトアクセスは、若しバンクRAM
4の数がn個あれば、従来の方法によりアクセスされる
回数の1/n回のアクセスにより全領域のRAMに既知
のデータがライトされたことになる。
【0025】その後、CPU1はリードモードに変更す
るコマンドを発行する。写像レジスタ10内のデータ受
信部10aは、このコマンドを受信すると、アドレス受
信部10bに指令を送る。アドレス受信部10bは、リ
ードモードになったことを認識すると、上位ビットのマ
スクの解除(オフ)信号をアドレスデコーダ11に対し
て出力する。
【0026】アドレスデコーダ11側では、MSB受信
部11aがこのマスク解除信号を受けると、デコード回
路11bに対してマスクしないアドレス上位ビットを与
える。従って、この場合にはバンク領域のアドレスは元
のリニアなアドレスに戻る。そして、デコード回路11
bはアドレスに応じて唯1個のバンクRAM4のみをセ
レクトするバンクセレクト信号を出力する。リードモー
ド時には、各バンクRAM4からのリードデータがデー
タバス2上で衝突するのを回避するため、元のリニアア
クセス状態に戻してやる必要があるためである。
【0027】図3は本発明の他の実施例を示す構成ブロ
ック図である。図1と同一のものは、同一の符号を付し
て示す。図において、20はアドレスデコーダ12の出
力を受け、各バンクに1対1に対応するバンクセレクト
のイネーブルビットENを持ち、該イネーブルビットE
Nが各バンクRAM4のセレクト信号になると共に、ラ
イトモードの時に全てを同時にイネーブルにするバンク
レジスタである。その他の構成は図1と同じである。
【0028】このように構成されたシステムにおいて、
バンクレジスタ20の各イネーブルビットENはビット
対応でそれぞれのバンクRAM4にセレクト信号として
入っている。そして、CPUインタフェース制御部6か
らライトモード信号を受けると、バンクセレクトイネー
ブルビットENの全てをイネーブルにする。この結果、
全てのバンクRAM4がセレクトされた状態になり、同
時に既知データをライトすることができる。パリティビ
ットも同時にライトされる。
【0029】一方、リードモード時にはCPUインタフ
ェース制御部6からリードモード信号を受けると、バン
クレジスタ20はアドレスデコーダ12からの出力に応
じてそれぞれのバンクRAMA4を1個ずつセレクトす
るようになる。そして、読み出されたデータはデータバ
ス2を介してCPU1に読み込まれ、データのチェック
が行われることになる。
【0030】
【発明の効果】以上、詳細に説明したように、本発明に
よればメモリチェックに要する時間を大幅に短縮するこ
とができるメモリのテストシステムを提供することがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の原理ブロック図である。
【図2】本発明の一実施例の要部を示す構成ブロック図
である。
【図3】本発明の他の実施例を示す構成ブロック図であ
る。
【図4】従来システムの構成例を示すブロック図であ
る。
【図5】従来システムの他の構成例を示すブロック図で
ある。
【符号の説明】
1 CPU 2 データバス 3 アドレスバス 4 バンクRAM 6 CPUインタフェース制御部 10 写像レジスタ 11 アドレスデコーダ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 CPU(1)にデータバス(2)とアド
    レスバス(3)が接続され、かつそれぞれのバスに複数
    のバンクRAM(4)が接続されたシステムにおいて、 バンクRAM(4)にデータを書き込む時に、CPU
    (1)からの指令によりアドレスデータの上位ビットを
    マスクするマスク信号を出力する写像レジスタ(10)
    と、 該写像レジスタ(10)の出力とアドレスデータを受
    け、そのデコード信号が前記バンクRAM(4)にチッ
    プセレクト信号として与えられるアドレスデコーダ(1
    1)を設けたことを特徴とするメモリのテストシステ
    ム。
  2. 【請求項2】 ライトモード時には前記写像レジスタ
    (10)の出力によりアドレス上位ビットをマスクし
    て、アドレスデコーダ(11)から各バンクRAM
    (4)を共通にアクセスし、リードモード時には前記写
    像レジスタ(10)の出力をオフにして、アドレスデコ
    ーダ(11)から各バンクRAM(4)を独立にアクセ
    スするようにしたことを特徴とする請求項1記載のメモ
    リのテストシステム。
  3. 【請求項3】 CPU(1)にデータバス(2)とアド
    レスバス(3)が接続され、かつそれぞれのバスに複数
    のバンクRAM(4)が接続されたシステムにおいて、 アドレスデータを受けるアドレスデコーダ(12)と、 該アドレスデコーダ(12)の出力を受け、各バンクに
    1対1に対応するバンクセレクトのイネーブルビットを
    持ち、該イネーブルビットが各バンクRAM(4)のセ
    レクト信号になると共に、ライトモードの時に全てを同
    時にイネーブルにするバンクレジスタ(20)を設けた
    ことを特徴とするメモリのテストシステム。
JP3264848A 1991-10-14 1991-10-14 メモリのテストシステム Pending JPH05108499A (ja)

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JP3264848A Pending JPH05108499A (ja) 1991-10-14 1991-10-14 メモリのテストシステム

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