JPH05100284A - Aeロツク装置付カメラ - Google Patents

Aeロツク装置付カメラ

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Publication number
JPH05100284A
JPH05100284A JP3262160A JP26216091A JPH05100284A JP H05100284 A JPH05100284 A JP H05100284A JP 3262160 A JP3262160 A JP 3262160A JP 26216091 A JP26216091 A JP 26216091A JP H05100284 A JPH05100284 A JP H05100284A
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JP
Japan
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photometric
photometry
mode
zoom
zoom lens
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Application number
JP3262160A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Dobashi
敏夫 土橋
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Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
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Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPH05100284A publication Critical patent/JPH05100284A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 本発明は、AEロック操作時の測光値を記憶
し、この測光値に基づいて露出を設定するAEロック装
置を備えたAEロック装置付カメラに関し、AEロック
操作により露出を記憶すべき被写体の主要部分が暗い時
にも、測光を確実に行うことを目的とする。 【構成】 オートズーム手段と、AEロック操作手段
と、測光手段と、ズ−ム位置記憶手段と、測光限界検知
手段と、低輝度測光限界であることを検知し、かつ、A
Eロック操作が行われた時に、測光手段を、小領域測光
モードから大領域測光モードに切り換える測光モード切
換手段と、大領域測光モードへの切り換え後に、ズ−ム
レンズを、予め定められた所定条件を満たすまで望遠側
にズ−ムして、この位置でズ−ムレンズを停止するズ−
ム制御手段と、測光値記憶手段と、ズ−ムレンズ復帰手
段とを備えて構成する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、カメラに係わり、特
に、AEロック操作時の測光値を記憶し、この測光値に
基づいて露出を設定するAEロック装置を備えたAEロ
ック装置付カメラに関する。
【0002】
【従来の技術】近時、AF一眼レフカメラ等では、カメ
ラ内に露出計を内蔵させ、カメラを構えシャッターレリ
ーズ釦の半押しで撮影範囲を測光し、シャッタースピー
ドや絞り値を決め、シャッターレリーズと同時に適正な
露光値をフィルムに与えるようにしたAE(Automatic
Exposure)が主流となっている。
【0003】しかしながら、従来のAEでは、主要被写
体に関係なく測光が行われるため、例えば、人物の背景
が明るい場合には、顔の部分の露出がアンダーになる虞
れがある。
【0004】そこで、AEロック操作により、例えば、
被写体の主要部分である、顔の部分の露出をカメラに記
憶させ、これにより、適正な露光値をフィルムに与える
AEロック装置を備えたカメラが開発されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
AEロック装置付カメラでは、AEロック操作を行う
と、例えば、スポット測光のような測光領域の小さな小
領域測光モードに自動的に変更されるため、露出を記憶
すべき被写体の主要部分が比較的暗い時には、低輝度測
光限界により、AEロック装置を使用することが困難に
なるという問題があった。
【0006】本発明は、かかる従来の問題を解決するた
めになされたもので、AEロック操作により露出を記憶
すべき被写体の主要部分が暗い時にも、測光を確実に行
うことができるAEロック装置付カメラを提供すること
を目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】図1は、請求項1のAE
ロック装置付カメラの構成を示すもので、符号101
は、ズ−ムレンズの駆動を行うオートズーム手段であ
る。
【0008】符号102は、AEロック操作を行うAE
ロック操作手段である。符号103は、複数の測光素子
からなり、例えば、スポット測光のような小領域測光モ
ードと、この小領域測光モードより測光領域の大きい、
例えば、中央部重点測光のような大領域測光モードを有
する測光手段である。
【0009】符号104は、前記AEロック操作手段1
02によるAEロック操作が行われた時の前記ズ−ムレ
ンズのズ−ム位置を記憶するズ−ム位置記憶手段であ
る。符号105は、前記小領域測光モード時の低輝度測
光限界を検知する測光限界検知手段である。
【0010】符号106は、前記測光限界検知手段10
5が低輝度測光限界であることを検知し、かつ、前記A
Eロック操作手段102のAEロック操作が行われた時
に、前記測光手段103を、小領域測光モードから大領
域測光モードに切り換える測光モード切換手段である。
【0011】符号107は、前記測光モード切換手段1
06による大領域測光モードへの切り換え後に、前記ズ
−ムレンズを、予め定められた所定条件を満たすまで望
遠側にズ−ムして、この位置でズ−ムレンズを停止する
ズ−ム制御手段である。
【0012】符号108は、前記ズ−ム制御手段107
によりズ−ムされたズ−ムレンズの前記停止位置で前記
測光手段103の大領域測光モードにより測光された測
光値を記憶する測光値記憶手段である。
【0013】符号109は、前記測光値記憶手段108
による測光値の記憶終了後に、前記ズ−ムレンズの位置
を、前記停止位置から前記ズ−ム位置まで復帰させるズ
−ムレンズ復帰手段である。
【0014】請求項2のAEロック装置付カメラでは、
ズ−ム制御手段107は、ズ−ムレンズを、ズ−ミング
による測光値の変化量が、予め定められた所定量以下に
なるまで望遠側にズ−ムする。
【0015】請求項3のAEロック装置付カメラでは、
ズ−ム制御手段107は、小領域測光モードに使用され
る測光素子の面積と、大領域測光モードに使用される測
光素子の面積に対応して予め定められた倍率だけ、ズ−
ムレンズを望遠側にズ−ムする。
【0016】
【作用】請求項1のAEロック装置付カメラでは、AE
ロック操作手段102のAEロック操作が行われ、測光
限界検知手段105が低輝度測光限界であることを検知
した時に、測光モード切換手段106により、測光手段
103が、小領域測光モードから大領域測光モードに切
り換えられ、この切り換え後に、ズ−ム制御手段107
により、ズ−ムレンズが、予め定められた所定条件を満
たすまで望遠側にズ−ムされ、この位置でズ−ムレンズ
が停止され、この停止位置で測光手段103の大領域測
光モードにより測光された測光値が測光値記憶手段10
8に記憶され、記憶終了後に、ズ−ムレンズ復帰手段1
09により、ズ−ムレンズの位置が、停止位置からズ−
ム位置まで自動的に復帰される。
【0017】請求項2のAEロック装置付カメラでは、
ズ−ム制御手段107により、ズ−ムレンズが、ズ−ミ
ングによる測光値の変化量が、予め定められた所定量以
下になるまで望遠側にズ−ムされる。
【0018】請求項3のAEロック装置付カメラでは、
ズ−ム制御手段107により、小領域測光モードに使用
される測光素子の面積と、大領域測光モードに使用され
る測光素子の面積に対応して予め定められた倍率だけ、
ズ−ムレンズが望遠側にズ−ムされる。
【0019】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面を用いて詳細に
説明する。図2は、本発明のAEロック装置付カメラの
一実施例のブロック図である。
【0020】図2において、符号201は、この実施例
のAEロック装置付カメラの全体的な制御を行うマイク
ロコンピューター(マイコン)を示している。符号S1
は、図示しないレリーズ釦の半押し状態でオンする半押
しスイッチであり、符号S2は、レリーズ釦の全押し状
態でオンするレリーズスイッチである。
【0021】ここで、半押しスイッチS1がオンする
と、カメラの電気回路が起動して、測光,オートフォー
カス,オートズーム等が作動を開始する。また、レリー
ズスイッチS2がオンすると、絞り制御,シャッターレ
リーズ等の一連の露出動作、フィルム巻き上げ、各種機
構部のチャージが行われる。
【0022】符号202は、例えば、ROMからなるレ
ンズ情報部であり、レンズの焦点距離,開放絞り,ズ−
ム等のレンズに関する各種情報が記憶されており、半押
しスイッチS1のオンにより、装着レンズのレンズ情報
が、ボディ側に読み込まれる。
【0023】符号203は、レンズ制御部であり、レン
ズ情報部202や、図示しない測距部で得られた被写体
距離情報、その他のレンズ駆動に関する情報に基づい
て、オートフォーカス,オートズーム等のレンズ駆動を
行う。
【0024】符号204は、AE測光部であり、後述す
る図4に示す多分割測光素子401により被写体輝度を
測光する。符号205は、測光値記憶部であり、AEロ
ック操作時等に、AE測光部204で測光した被写体輝
度を記憶する。
【0025】符号206は、測光モード変更部で、マル
チパターン測光,中央部重点測光,スポット測光等の各
測光モードの切り換えを行う。なお、この切り換えは、
自動または手動により行われる。
【0026】符号207は、測光重点度変更部であっ
て、多分割測光素子401の任意の一つの素子を選択し
て、その素子の測光重点度を高くしている。すなわち、
各素子で得られた測光データから露出値を決める時に、
この測光重点度変更部207で選択された素子の測光デ
ータの重点度を高くして露出値が決められる。
【0027】符号208は、露出制御部であり、シャッ
タースピード,絞り値を制御して露出の制御を行う。符
号209は、AEロック操作部であり、この操作部20
9には、スイッチS3とスイッチS4が含まれる。
【0028】このAEロック操作部209では、後述す
る図5に示すAEロック操作部材501の第1ストロー
クでスイッチS3がオンし、第2ストロークでスイッチ
S4がオンする。
【0029】そして、カメラの電気回路が起動している
時に、AEロック操作部材501の第1ストロークでス
イッチS3がオンするとAEロックのサブルーチンに入
り、必要に応じてレンズのオートズームが行われる。
【0030】AEロック操作部材501をさらに移動す
ると、第2ストロークでスイッチS4がオンして、AE
ロックとAFロックが行われる。そして、AEロックさ
れた状態でレリーズすると、AEロックされた測光値に
基づいて露出制御が行われる。
【0031】符号210は、撮影種目設定部であり、こ
の撮影種目設定部210によりポートレート,スポー
ツ,接写等多くの種類の中から、どんな写真を撮影する
のか設定すれば、自動的にカメラが最適な撮影条件を設
定する。
【0032】符号211は、被写体倍率設定部であり、
撮影時に、画面内にどのくらいの大きさで主要被写体を
入れるかを設定する。ここで、設定された被写体倍率に
なるように、レンズ制御部203でレンズがズ−ミング
される。
【0033】符号212は、セルフタイマー設定部であ
り、セルフタイマー撮影の延長時間の設定と、自動的に
連続セルフタイマー撮影する回数の設定を行う。符号2
13は、表示部であり、測光モード,シャッタースピー
ド,絞り値等の撮影情報を表示する。
【0034】図3は、上述したAEロック装置付カメラ
による撮影時の電源オンから露出制御までの動作を示す
フローチャートである。ステップ301においてカメラ
の電源がオンされると、ステップ302で初期化された
後ステップ303に進む。
【0035】ここで半押しスイッチS1がオンされてい
るか否かが判別され、オフの時には、ステップ304で
AE測光がストップされ、次のステップ305でオート
フォーカスがストップされ、ステップ306で表示が消
灯される。
【0036】ステップ303で半押しスイッチS1がオ
ンしている時には、ステップ307に進み、レンズ情報
が読み込まれる。次のステップ308では、AE測光が
行われる。
【0037】ステップ309では、レンズ情報とAF検
出手段からの情報に基づいてオートフォーカス制御が行
われる。ステップ310では、ステップ308で得られ
た測光データに基づいて、露出が適正となる絞り値とシ
ャッタースピードの値が演算される。
【0038】ステップ311では、絞り値、シャッター
スピード等の必要な情報が表示される。次いで、ステッ
プ312で、レリーズスイッチS2がオンかどうかが判
断される。
【0039】レリーズスイッチS2がオンの時には、ス
テップ313で、オートフォーカスがストップされ、次
いで、ステップ314で絞りが制御され、ステップ31
5でシャッターが制御され、ステップ303にリターン
する。
【0040】なお、フィルムの巻き上げ動作は、シャッ
ター制御後に行われる。一方、ステップ312でレリー
ズスイッチS2がオフの時には、ステップ303に進
み、半押しスイッチS1がオンかどうかが判別される。
【0041】半押しスイッチS1がオンの状態を継続し
ている時には、ステップ307へ進み、露出制御のため
の一連の動作が繰り返される。半押しスイッチS1がオ
フの時には、ステップ304に進む。
【0042】図4は、図2に示したAE測光部204に
配置される多分割測光素子401を示している。この多
分割測光素子401は、符号1から6までの測光素子に
より形成されている。
【0043】マルチパターン測光の時には、(a)に示
すように、符号1から6までの測光素子の測光データに
基づいてカメラが最適な露出値を設定するが、マルチパ
ターン測光中に、測光重点度変更部207により、符号
1から6までの測光素子の任意の測光素子の重点度を高
くすると、通常のマルチパターン測光と異なり、主に選
択された測光素子の測光している被写体輝度が適正にな
るように露出演算が行われる。
【0044】スポット測光の時には、(b)に示すよう
に、測光素子1の測光データから露出値が決められ、中
央部重点測光の時には、(c)に示すように、主に測光
素子1および2の測光データから露出値が決められる。
【0045】図5は、図2に示したAEロック操作部2
09に配置されるAEロック操作部材501を示すもの
で、この実施例では、AEロック操作部材501は、カ
メラボディ本体502の背面の巻き上げ側上部に配置さ
れている。
【0046】AEロック操作部材501は、図の矢符方
向にスライド可能であり、矢符方向にスライドすると、
第1ストロークで、AEロック操作部209のスイッチ
S3がオンし、第2ストロークでスイッチS4がオンす
る。
【0047】なお、AEロック操作部材501は、図示
しないバネにより矢符と反対方向に付勢されており、A
Eロック操作部材501から手を離すと、元の位置に復
帰するように構成されている。
【0048】図6は、図3のステップ308(AE測
光)のサブルーチンであり、AEロック操作部209の
スイッチS3がオンされた時に、このサブルーチンが行
われる。
【0049】先ず、ステップ601では、スポット測光
かどうかが判別される。スポット測光の時には、ステッ
プ602に進み、ここでスポット測光の低輝度測光限界
以下かどうかが判別される。
【0050】低輝度測光限界以下である時には、ステッ
プ603に進み、測光モードがスポット測光から中央部
重点測光に切り換えられる。次に、ステップ604にお
いて、装着レンズがズ−ムレンズであるかどうかが判断
される。
【0051】ズ−ムレンズである時には、ステップ60
5において、現在のズ−ムレンズの位置が記憶される。
この後、ステップ606で、ズ−ムレンズのズ−ムが開
始される。
【0052】次に、ステップ607で、ズ−ミングによ
る測光値の変化量ΔEが、予め定められた所定量E0
り小さいかどうかが判別される。なお、E0 は、この値
0 より、ズ−ミングによる測光値の変化量ΔEが小さ
い時には、意図する被写体が中央部重点測光の測光範囲
内に充分にとり入れられているとの判断を許容できる値
であり、予め記憶されている。
【0053】ここで、ΔEがE0 より小さい時、すなわ
ち、ズ−ミングによる測光値の変化が小さい時には、意
図する被写体が中央部重点測光の測光範囲内に充分にと
り入れられ、意図する測光が行われていると判断し、ス
テップ609に進みズ−ム駆動が停止される。
【0054】一方、ΔEがE0 より大きい時、すなわ
ち、ズ−ミングによる測光値の変化が大きい時には、意
図する被写体が中央部重点測光の測光範囲内に充分にと
り入れられておらず、意図する測光が行われていないた
め、ステップ608において、ズ−ムレンズの望遠限界
かどうかが判別される。
【0055】望遠限界でない時には、ステップ607に
戻り、ズ−ミングが継続される。ステップ608におい
て、望遠限界の時には、ステップ609に進み、ズ−ム
駆動が停止される。
【0056】ステップ610では、スイッチS3のオ
ン,オフが判別される。スイッチS3がオフの時には、
ステップ614に飛び、ズ−ム位置が、ステップ605
において記憶した位置まで復帰され、リターンされる。
【0057】スイッチS3がオンの時には、ステップ6
11に進み、スイッチS4のオン,オフが判別される。
スイッチS4がオフの時には、ステップ610に戻り、
スイッチS4がオンになると、ステップ612に進み、
測光値が記憶される。
【0058】次いで、ステップ613において、フォー
カスロックが行われる。そして、ステップ614におい
て、ズ−ム位置が、ステップ605において記憶した位
置まで復帰され、リターンされる。
【0059】一方、ステップ601において、スポット
測光でない時、ステップ602において低輝度測光限界
以下でない時、ステップ604において、ズ−ムレンズ
でない時には、ステップ615に進み、スイッチS3の
オン,オフが判別される。
【0060】スイッチS3がオフの時には、リターンに
進み、スイッチS3がオンの時には、ステップ616に
進み、スイッチS4のオン,オフが判別される。スイッ
チS4がオフの時には、ステップ615に戻り、オンの
時には、ステップ617に進み、測光値が記憶される。
【0061】そして、次のステップ618において、フ
ォーカスロックが行われ、リターンされる。しかして、
以上のように構成されたAEロック装置付カメラでは、
AEロック操作をした時に、スポット測光であり、か
つ、スポット測光の低輝度測光限界以下であると、中央
部重点測光に切り換えられ、ズ−ムレンズが自動的に望
遠側にズ−ミングされ、この状態で被写体の測光値が記
憶され、さらに、ズ−ムレンズが元の位置まで自動的に
復帰されるため、AEロック操作により露出を記憶すべ
き被写体の主要部分が暗い時にも、測光を確実に行うこ
とができる。
【0062】また、上述したAEロック装置付カメラで
は、ズ−ミングによる測光値の変化量ΔEにより、意図
する被写体が中央部重点測光の測光範囲内に充分にとり
入れられているかどうかを判断するようにしたので、ズ
−ムレンズを測光に必要な位置まで確実にズ−ミングす
ることが可能となる。
【0063】さらに、上述したAEロック装置付カメラ
では、ΔEがE0 より小さくならない時には、ズ−ムレ
ンズを望遠限界まで作動し、この位置でズ−ムレンズを
停止して測光値を記憶するようにしたので、露出を合わ
せたい被写体の露出を可能な限り正確に測定することが
できる。
【0064】なお、以上述べた実施例では、フォーカス
ロックをした後に、ズ−ムレンズを元の位置に復帰した
例について説明したが、本発明はかかる実施例に限定さ
れるものではなく、ズ−ムレンズを元の位置に復帰した
後に、フォーカスロックをするようにしても良いことは
勿論である。
【0065】図7は、本発明のAEロック装置付カメラ
の他の実施例のフローチャートを示すもので、この実施
例では、図6に示したサブルーチンのステップ607の
換わりにステップ701が挿入されている。
【0066】すなわち、この実施例では、ステップ70
1において、スポット測光に使用される測光素子の面積
と、中央部重点測光に使用される測光素子の面積に対応
して予め定められた倍率だけ、ズ−ムレンズが望遠側
に、機械的にズ−ムされる。
【0067】具体的には、例えば、スポット測光に使用
される測光素子1の面積をAとし、中央部重点測光に使
用される測光素子1,2の面積をBとすると、ズ−ムレ
ンズは、現在の撮影画面内の被写体の大きさが、B/A
倍になるまで、望遠側にズ−ムされる。
【0068】そして、ズ−ムレンズが所定の倍率までズ
−ムされた時には、ステップ609において、ズ−ムが
停止され、所定の倍率までズ−ムされない時には、ステ
ップ608において、望遠限界かどうかが判断される。
【0069】なお、これ以外は、前述した実施例と同様
に構成されているため、詳細な説明は省略する。この実
施例のAEロック装置付カメラにおいても、前述したA
Eロック装置付カメラとほぼ同様の効果を得ることがで
きるが、この実施例では、スポット測光に使用される測
光素子の面積と、中央部重点測光に使用される測光素子
の面積に対応して予め定められた倍率だけ、ズ−ムレン
ズを望遠側に、機械的にズ−ムするようにしたので、ズ
−ムレンズの駆動を容易,迅速に行うことが可能とな
る。
【0070】なお、この実施例では、ステップ701に
おいて、単に、ズ−ムレンズを所定倍率だけ機械的にズ
−ミングした例について説明したが、本発明はかかる実
施例に限定されるものではなく、例えば、ズ−ムレンズ
を所定倍率だけ機械的にズ−ミングした後に、図6のス
テップ607を行うようにしても良い。
【0071】
【発明の効果】以上述べたように請求項1のAEロック
装置付カメラでは、AEロック操作が行われ、かつ、低
輝度測光限界である時に、測光モードが、小領域測光モ
ードから大領域測光モードに切り換えられ、この切り換
え後に、ズ−ムレンズが、予め定められた所定条件を満
たすまで望遠側にズ−ムされ、この位置でズ−ムレンズ
が停止され、この停止位置で大領域測光モードにより測
光された測光値が記憶され、記憶終了後に、ズ−ムレン
ズの位置が、停止位置からズ−ム位置まで自動的に復帰
されるため、AEロック操作により露出を記憶すべき被
写体の主要部分が暗い時にも、測光を確実に行うことが
可能となる。
【0072】請求項2のAEロック装置付カメラでは、
ズ−ムレンズを、ズ−ミングによる測光値の変化量が、
予め定められた所定量以下になるまで望遠側にズ−ムす
るようにしたので、ズ−ムレンズを測光に必要な位置ま
で確実にズ−ミングすることが可能となる。
【0073】請求項3のAEロック装置付カメラでは、
小領域測光モードに使用される測光素子の面積と、大領
域測光モードに使用される測光素子の面積に対応して予
め定められた倍率だけ、ズ−ムレンズを、望遠側に機械
的にズ−ムするようにしたので、ズ−ムレンズの駆動
を、容易,迅速に行うことが可能になるという利点があ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のAEロック装置付カメラの構成を示す
図である。
【図2】本発明のAEロック装置付カメラの一実施例を
示すブロック図である。
【図3】図2のAEロック装置付カメラの流れ図であ
る。
【図4】多分割測光素子を示す説明図である。
【図5】AEロック操作部材の配置状態を示す説明図で
ある。
【図6】図3のAE測光のサブルーチンを示す図であ
る。
【図7】本発明の他の実施例のAE測光のサブルーチン
を示す図である。
【符号の説明】
101 オートズーム手段 102 AEロック操作手段 103 測光手段 104 ズ−ム位置記憶手段 105 測光限界検知手段 106 測光モード切換手段 107 ズ−ム制御手段 108 測光値記憶手段 109 ズ−ムレンズ復帰手段

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ズ−ムレンズの駆動を行うオートズーム
    手段と、 AEロック操作を行うAEロック操作手段と、 複数の測光素子からなり、小領域測光モードと、この小
    領域測光モードより測光領域の大きい大領域測光モード
    とを有する測光手段と、 前記AEロック操作手段によるAEロック操作が行われ
    た時の前記ズ−ムレンズのズ−ム位置を記憶するズ−ム
    位置記憶手段と、 前記小領域測光モード時の低輝度測光限界を検知する測
    光限界検知手段と、 前記測光限界検知手段が低輝度測光限界であることを検
    知し、かつ、前記AEロック操作手段のAEロック操作
    が行われた時に、前記測光手段を、小領域測光モードか
    ら大領域測光モードに切り換える測光モード切換手段
    と、 前記測光モード切換手段による大領域測光モードへの切
    り換え後に、前記ズ−ムレンズを、予め定められた所定
    条件を満たすまで望遠側にズ−ムして、この位置でズ−
    ムレンズを停止するズ−ム制御手段と、 前記ズ−ム制御手段によりズ−ムされたズ−ムレンズの
    前記停止位置で前記測光手段の大領域測光モードにより
    測光された測光値を記憶する測光値記憶手段と、 前記測光値記憶手段による測光値の記憶終了後に、前記
    ズ−ムレンズの位置を、前記停止位置から前記ズ−ム位
    置まで復帰させるズ−ムレンズ復帰手段と、を有するこ
    とを特徴とするAEロック装置付カメラ。
  2. 【請求項2】 ズ−ム制御手段は、ズ−ムレンズを、ズ
    −ミングによる測光値の変化量が、予め定められた所定
    量以下になるまで望遠側にズ−ムすることを特徴とする
    請求項1記載のAEロック装置付カメラ。
  3. 【請求項3】 ズ−ム制御手段は、小領域測光モードに
    使用される測光素子の面積と、大領域測光モードに使用
    される測光素子の面積に対応して予め定められた倍率だ
    け、ズ−ムレンズを望遠側にズ−ムすることを特徴とす
    る請求項1記載のAEロック装置付カメラ。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006053272A (ja) * 2004-08-10 2006-02-23 Pentax Corp 露出計およびデジタルカメラ

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JP2006053272A (ja) * 2004-08-10 2006-02-23 Pentax Corp 露出計およびデジタルカメラ

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