JPH0495252A - 光学読取装置 - Google Patents

光学読取装置

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JPH0495252A
JPH0495252A JP2211869A JP21186990A JPH0495252A JP H0495252 A JPH0495252 A JP H0495252A JP 2211869 A JP2211869 A JP 2211869A JP 21186990 A JP21186990 A JP 21186990A JP H0495252 A JPH0495252 A JP H0495252A
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JP
Japan
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optical
mode
light
magneto
luminous flux
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Pending
Application number
JP2211869A
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English (en)
Inventor
Akihiko Hiroe
昭彦 廣江
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技扛光互 本発明は、光学読取装置に関し、より詳細には、光磁気
ディスクドライブ、光磁気カード、光磁気テープ等の光
磁気情報記録再生装置の光集積型光ピックアップ部に関
する。
災米投先 書き換え可能な光メモリである光磁気ディスクは、光磁
気媒体からの反射光の偏光方向の回転を検出して情報再
生をしている。カー効果による偏光方向の回転は一微小
なので、良好な信号対雑音比(S/N比)を得るために
は、高精度な検光子や差動検出光学系などを必要とする
。現在、これらの光学系にはバルク型光学素子(検光子
、プリズム、レンズなど)が用いられているため、光学
素子相互の位置あわせが難しく、小型化も困難であった
これらのバルク型光学系の欠点を克服する素子として、
検出系を薄膜導波路上に集積化した[光磁気ディスクピ
ックアップ用導波路型差動検出デバイス」(砂川、栖原
、西原、電子情豊通信学会技術研究報告、0QE86−
177、1986)が提案されている。
本発明に係る従来技術を第4図、第5図(a)。
(b)に基づいて以下に説明する。
第4図は、従来の光磁気ディスクピックアップ部の全体
構成図で、第5図は、光磁気信号の差動検出の原理を説
明するための図で、図(、)は側面図、図(b)は平面
図である。図中、51は光磁気ディスク、52は対物レ
ンズ、53は3焦点集光グレーティングカプラー(T 
F G C; TrifocalFocusing G
rating Coupler) 、 54は先導波路
、55は基板、56はフォトダイオード、57はコリメ
ートレンズ、58は半導体レーザ、59は光磁気信号差
動検出部である。
第4図に示した構成によれば、光磁気信号(MO倍信号
とフォーカス誤差信号(FO倍信号とトラッキング誤差
信号(TR信号)が検出できる。光磁気媒体51からの
反射光は電界のP成分(EP)とS渡分(Es)の合成
ベクトルとして表わすことができる。また、先導波路5
4において直交するTEモードおよびTMモードはわず
かであるが異なる実効屈折率を持つ。そこで、反射光の
Ep酸成分中央のフォーカシンググレーティングカプラ
ー(FGC)で位相整合条件を満たし、TMモードを励
振する。一方、Es成分は両端のFCCで位相整合条件
を満たし、TEモートを励振するように構成する。この
ように、3つのFCCは面分割型の互いに直交する2検
光子として動作するので光磁気信号の差動検出ができる
MO信号=(PDl)+(PD2)+(PD4)+(P
D5)−(PD3)フォーカス誤差(F○)信号は、3
つのFGCのうち両端のFGCを用いてフーコー法に類
似した方法により検量している。光磁気媒体51が対物
レンズ52より遠ざかったときは、媒体からの反射光は
集束光となり、FGCの焦光点がフォトダイオード(P
D)56の手前側となり、内側のPD2とPD4に入射
する光量が増す。光磁気媒体51が対物レンズ52に近
づいたときは、該光磁気媒体51からの反射光は発散光
となり、外側のPDIとPD5に入射する光量が増加す
る。すなわち、内側と外側のフォトダイオード(PD)
の検出信号の差からフォーカス誤差信号が得られる。
FO信号=((PD2)+(PD4))−((PDl)
+(PD5))トラッキンク誤差(TR)信号は、やは
り両端のFGCを用い、プッシュプル法で検出している
トラックからずれると光磁気媒体からの反射光のX軸方
向の光強度分布が非対称となり、両端のFGCに入射す
る光量に差がでてくる。
TR信号=((PDl)+(PD2))−((PD4)
+(PD5))このように、従来例においては光磁気信
号を検出するとき、中央のFGCでTMモードを励振し
、両端のFGCでTEモードを励振して、面分割した信
号を差動検出するため、光磁気媒体からの反射光のノイ
ズや強度分布の非対称性が、差動検出してもキャンセル
されずに残ってしまう。これは、3つのFGC面内の光
強度分布が一様でないためである。
したがって、光磁気信号を検出するには、導波路への光
のカップリング部全面でTEモードとTMモードの両方
を励振し、その後、導波路内でTEモードとTMモード
を分離した方が、S/N比の良い光磁気信号が得られる
JL−一眞 本発明は、・上述のごとき実情に鑑みてなされたもので
、S/N比の良い光磁気信号が得られる導波路集積型の
光磁気ディスクピックアップ部を有する光学読取装置を
提供することを目的としてなされたものである。
隻−一双 本発明は、上記目的を達成するために、レーザ光源から
出射された光を、光情報記録媒体に照射し、該光情報記
録媒体からの反射光を基板の上部に形成された先導波路
に導き、その導びかれた導波光を光検出器により検出す
ることによって前記光情報記録媒体に記録された情報の
読み取りを行なう光学読取装置において、前記光情報記
録媒体からの反射光を前記光導波路に導くための光カプ
ラーと、導波された光束の中心線の方向に対して臨界角
と同程度か、該臨界角よりわずかに大きな入射角を有す
る様に形成された全反射ミラーと、該全反射ミラーによ
り反射された後に、該反射光の光束をTEモード及びT
Mモードに分割して検出する複数の光検出器とから成る
ことを特徴としたものである。以下、本発明の実施例に
基づいて説明する。
第1図及び第2図は1本発明による光学読取装置の一実
施例を説明するための構成図で、第1図は全体側面図、
第2図は導波路素子の平面図で、図中、11は高屈折率
プリズム、12は高屈折率接着層、13はクラッド層、
14は5iON導波路層、15はSiN導波路層、16
はバッファ層、17はSi基板、18は対物レンズ、1
9は光磁気記録媒体、20は導波路素子、21a、21
bはフォトディテクタ(PDla、PDlb)。
22a、22bはフォトディテクタ(PD2a。
PD2b)、23はミラーである。
Si基板17上に熱酸化によりS i O2バッファ層
16を作製し、その上に、プラズマCVDによりS i
 ON導波路層14を形成する。カップリング部は、導
波路層よりも屈折率の低い5iONクラッド層13、導
波路層よりも屈折率の高い接着層12および高屈折率プ
リズム11より構成される。TEモードとTMモードの
分離部は。
S i ON導波路層14の上に導波路よりも屈折率の
高いSiN導波路層15が積層されている。各層の屈折
率、膜厚は以下の第1表に示す通りである。(使用波長
は780μm) 第1表 プリズム11の頂角αは54.7度である。カップリン
グ部のTE、モードとTM0モードの等偏屈折率は1.
5375と1.5369となり、はとんど等しい。した
がって、プリズム11への入射角θを45度とすると、
TE0モードもTM0モードも約80%の結合効率で5
iON導波路14内に励振される。
導波路内に励振されたTEoモードとTM、モードは、
ミラー23に入射した後、全反射条件を満す光束はTE
モードとTMモードの分離部に伝搬し、5iON導波路
層14よりも屈折率の高いSiN導波路層15に移る。
このとき、SiN端面が光の波長に対して充分ゆるいテ
ーパとなっているので、SiN導波路層15を伝搬した
光は、次に、5iON導波路層14との境界に入射角度
αAで入射する。SiN導波路層15でのTE。
モードとTM、モードの等偏屈折率は、それぞれ、1.
7096と、1.6492で、5iON導波路層14で
のTE0モードとTM、モードの等偏屈折率は、1.5
356と1.5342である。また、SiN導波路層1
5とS i ON導波路層14との境界部は、光の波長
に対して充分ゆるいテーパとなっているので、入射角度
αAが。
a s i n (1,5356/1.7096)< 
a A< a s i n (1,5342/1.64
92)を満たす範囲にあるとき、すなわち、63.9度
から68.5度のとき、TE、モードは全反射し、TM
0モードは全透過するので、TE、モードとTM0モー
ドを分離できる。
フォトディテクタ21aの出力をPDI a、フォトデ
ィテクタ21bへの出力をPDlb、フォトディテクタ
22aの出力をPD2a、フォトディテクタ22bの出
力をPD2bとすると、光磁気信号(M、O信号)は以
下のようになる。
MO=(PDIa+PD1b)−(PD2a+PD2b
)一方、上記の様な構成とした場合、TE、モードとT
M0モードのミラー23における全反射の臨界角はそれ
ぞれ約40.63°、40.68°となるので、例えば
、全反射ミラーへの入射角度yを40.7″′とし、全
体の光学系の設計によりフォーカスが1μmずれた時に
入射光が平行光より0 、1 deg程度のずれが生ず
る様にすれば、1μm程度以上のデフォーカス時に全光
束の上半分、又は下半分がTEモードとTMモードの両
モードに対し、全反射条件を満たさなくなり、フォーカ
ス誤差信号(FO)は以下のようになる。
FO=(PD1a+PD2a)(PD1b+PD2b)
このように正負により焦点ずれを検出することができる
すなわち、合焦時には、極めて平行光束に近い状態で入
射している信号光は、媒体が合焦より近付いた時には発
散気味となり、21b及び22bへ入射する光は、ミラ
ー面23による全反射条件を満足しなくなり、1部空気
中へ放射される。これによって上記フォーカス誤差信号
(FO)は正の値を取り、この値は合焦からのずれが大
きくなる程大きくなる。一方逆に媒体が遠ざかった時に
は、フォーカス誤差信号(FO)は負となり、やはり、
ずれの大きさに応じて絶対値が変化する様になる。
このように1本発明はディスクからの反射光を導波路層
に導びくプリズムカプラーと、入射光の光束が平行に極
めて近い場合のみに全光束を反射する様な角度に形成さ
れたモード分離領域よりなる。尚、ここでは導波路層に
光を導くのにプリズムカプラーを用いたが、TEモード
とTMモードの両モードの結合効率が同程度のものであ
れば、他の手段によることも可能である。
ここで、上記全反射ミラーは、導波路層を所定のパター
ンにパターニングし、トライ又はウェットエツチングに
より、第3図に示す様な形状を作り、導波路層14と空
気の界面23により全反射ミラーを作成したものである
羞−一米 以上の説明から明らかなように、本発明によると、光情
報記録媒体からの反射光を先導波路に導くための光カッ
プラーと、導波された光束の中心線の方向に対して臨界
角よりわずかに大きな入射角を有する様に形成された全
反射ミラーと、該全反射ミラーにより反射された後に、
該反射光の光束をTEモード及びTMモードに分割して
検出する複数の光検出器とを備えた光集積型ピックアッ
プを構成することにより、媒体からの反射光を全て用い
て、MO(光磁気)信号及びFO(フォーカス誤差)信
号を検出できるので、従来例に示したものに比して、S
/N比の良い光ピツクアップを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図及び第2図は、本発明による光学読取装置の一実
施例を説明するための構成図、第3図は、全反射ミラー
の作成を説明するための図、第4図及び第5図は、従来
の光磁気ディスクピックアップ部の構成図である。 11・・・高屈折率プリズム、12・・・高屈折率接着
層、13・・・クラッド層、14・・・5iON導波路
層、15・・・SiN導波路層、16・・・バッファ層
、17・・・Si基板、18・・・対物レンズ、19・
・・光磁気記録媒体、20・・・導波路素子、21a、
21b・・・フォトディテクタ(PDla、PDlb)
、22a。 22 b−・・フォトディテクタ(PD2a、PD2b
)、23・・・ミラー 特許出願人  株式会社 リ コ − 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、レーザ光源から出射された光を、光情報記録媒体に
    照射し、該光情報記録媒体からの反射光を基板の上部に
    形成された光導波路に導き、その導びかれた導波光を光
    検出器により検出することによって前記光情報記録媒体
    に記録された情報の読み取りを行なう光学読取装置にお
    いて、前記光情報記録媒体からの反射光を前記光導波路
    に導くための光カプラーと、導波された光束の中心線の
    方向に対して臨界角と同程度か、該臨界角よりわずかに
    大きな入射角を有する様に形成された全反射ミラーと、
    該全反射ミラーにより反射された後に、該反射光の光束
    をTEモード及びTMモードに分割して検出する複数の
    光検出器とから成ることを特徴とする光学読取装置。
JP2211869A 1990-08-10 1990-08-10 光学読取装置 Pending JPH0495252A (ja)

Priority Applications (1)

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JP2211869A JPH0495252A (ja) 1990-08-10 1990-08-10 光学読取装置

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JP2211869A JPH0495252A (ja) 1990-08-10 1990-08-10 光学読取装置

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ID=16612964

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JP2211869A Pending JPH0495252A (ja) 1990-08-10 1990-08-10 光学読取装置

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JP (1) JPH0495252A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5621715A (en) * 1994-04-19 1997-04-15 Victor Company Of Japan, Ltd. Optical integrated circuit

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5621715A (en) * 1994-04-19 1997-04-15 Victor Company Of Japan, Ltd. Optical integrated circuit

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