JPH0486731A - 像ぶれ補正装置及び像ぶれ補正のための制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （発明の利用分野） 本発明は、絶対空間に対するカメラの振れ量を手振れ検
出手段にて検出して、その出力を基に補正光学手段を駆
動することにより、手振れに対する防振動作を実行する
カメラの防振装置の改良に関するものである。

（発明の背景） 従来のこの種の装置を第８図に示す。

第８図において、液体３を封入した外筒２の中にはある
特定の回転軸回りに支持された浮体４が置かれており、
この浮体４とヨーク１で構成される閉磁気回路の間にあ
る駆動コイル７へ電流を流すことにより一定常態で支持
されている。この状態でカメラと一体となって動く外筒
２が絶対空間に対してθＩＮだけ回転したとすると、中
の浮体４は内部の液体３の慣性によって絶対空間に静止
した状態を保つ為、相対的には浮体４が外筒２に対して
回転したことになる。

この変位量をカメラ上に設置された光学的検出手段を使
って取り出せば、絶対空間に対するカメラの振れ量を検
出することができる。

一方、手振れによる像の移動を補正する補正光学手段と
しては、第８図の４１に示したような内部に一定の圧接
率を持った液体が封入された可変頂角プリズムを用いて
おり、駆動コイル９８によって所定の回転軸回りに自在
に伸縮することができる。

ここで、この可変頂角プリズム４１の所定回転軸回りの
角変位量をθＯＵＴ　、内部の液体の圧接率をｎとした
時に、この可変頂角プリズム４１を通した後の被写体か
らの入射光の光軸に対する変位角θＸは θｘ＝（ｎ−１）　　θ［］ｌＩＴ で表される。

従って、前述した手振れ検出手段によってカメラの絶対
空間に対する振れ変位量を検出し、この変位に相当する
角度だけ可変頂角プリズム４１の頂角をリアルタイムで
可変させれば、カメラ本体が手振れによって絶対空間に
対して動いても、常に被写体からの入射光をフィルム面
４２の同一位置に導くことでき、手振れに対する像の振
れを抑えることができる。

第８図に示した構成においては、割込みタイマ１０５に
よって一定時間毎にＣＰＵｌ０○に対して割込みが発生
し、この割込み処理の中でＡ／Ｄコンバータ１０２によ
って、上記の絶対空間に対する振れ変位量と可変頂角プ
リズム４１の絶対角変位量をそれぞれディジタルデータ
に変換している。

ＣＰＵ　１００の内部では、絶対空間に対する振れ変位
量に対してＰＩＤ　（比例、微分、積分）の演算を行っ
て、この結果をＰＷＭタイマ１０３とローパスフィルタ
を通してアナログ値に変換し、浮体４を制御する為の駆
動コイル７を駆動する。

更に、ＣＰＵ１００の内部では、絶対空間に対する振れ
変位量と可変頂角プリズム４１の角変位量をディジタル
的に減算し、クローズループとしての位相補償演算を行
って、この結果をＰＷＭタイマ１０４とローパスフィル
タを通してアナログ値に変換し、可変頂角プリズム４１
を制御する為の駆動コイル９８を駆動する。

このように、手振れ検出手段に対しては所定の演算制御
を行うことにより、その特性を可変させることができる
と共に、該手振れ検出手段の振れ変位出力と可変頂角プ
リズム４１の角変位出力が等しくなるように駆動コイル
９８に対してディジタル的なフィードバック制御が実行
される。なお、第８図の各部の構成は第１図とほぼ同様
であり、その詳細は第１図において行う。

しかしながら、従来構成のように、同一のサンプリング
時間毎に手振れ検出手段の振れ変位出力と可変頂角プリ
ズム４１の角変位出力を演算制御し、それぞれの駆動コ
イル７．４８を駆動する方法の場合、第９図に示したよ
うに手振れ検出手段側のフィードバックループの一巡伝
達関数と、可変頂角プリズム４１側のフィードバックル
ープの一巡伝達関数のそれぞれのゲイン交点周波数の違
いが、ディジタル制御を行う場合に大きな障害となって
いた。

例えば、手振れ検出手段側の一巡伝達関数Ｈ（Ｓ）は、
内部液体３の慣性モーメントなＪ、ＣＰＵ１００内部で
のＰＩＤ演算による比例係数をに、微分係数をη、積分
係数をＴとするとＨ（Ｓ１＝＜ηＳ”　＋ＫＳ＋Ｔ）／
ＪＳ３の式で表され、このη、に、Ｔの各係数は慣性モ
ーメントＪと比べるとその特性上非常に小さな為、この
−巡伝達関数Ｈ（Ｓ）が０　（ｄＢ）となるゲイン交点
周波数は０．１〜１．０（Ｈ２）程度となる。

一方、可変頂角プリズム４１側の一巡伝達関数Ｈ（Ｓ）
は、やはり慣性モーメントＪ、粘性係数η、ばね係数に
として Ｈ（Ｓ）＝ａ／　　（ＪＳ２　＋７７３＋Ｋ）の式で表
され、そのループゲインを設定するａの値にもよるが、
手振れの補正周波数範囲を２０〜３０　（Ｈ２）程度と
した場合、そのゲイン交点周波数ハ２００〜３００（Ｈ
２）程度となる。

ここで、位相特性を保ちながら、この周波数特性をディ
ジタル的に保証する為には、ゲイン交点周波数の５〜１
０倍以上のサンプリング周波数が必要な為、可変頂角プ
リズム４１側のフィードバックループの一巡伝達関数か
ら、そのサンプリング周波数は、１０００（Ｈ２）以上
が必要になってしまう。

しかしながら、このサンプリング周波数によって手振れ
検出手段のＰＩＤ制御を実行する場合、その−巡伝達関
数のゲイン交点に対してサンプリング周波数があまりに
高い為、ディジタル演算を行う場合、その演算のビット
数を極端に大きく取らないと、演算途中でオーバフロー
や丸め（四捨五入）が発生し、所望の周波数特性を達成
することができないという問題点があった。

（発明の目的） 本発明の目的は、上述した問題点を解決し、演算のビッ
ト数を増やすことなく、手振れ検出手段と補正光学手段
それぞれの制御を最適に行うことのできるカメラの防振
装置を提供することである。

（発明の特徴） 上記目的を達成するために、本発明は、ディジタル制御
手段内に、手振れ検出手段の出力と位置検出手段の出力
のサンプリング時間を、それぞれ異なる時間間隔に、設
定するサンプリング時間設定手段を設け、以て、手振れ
検出手段の制御をディジタル的に行う為のサンプリング
時間間隔と補正光学手段のフィードバック制御を行う為
のサンプリング時間間隔を異なるものとしたことを特徴
とする。

（発明の実施例） 以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する
。

第１図は本発明の第１の実施例を示す構成図であり、第
１図において、同筒状の外筒２の中に液体３が満たされ
ており、かつその液体３中には所定の回転軸回りに自在
に回転可能な浮体４が設置されている。又、浮体４と閉
磁気回路を構成するごとく設けられたヨークｌとの間だ
け巻線コイル７が図示したように設置されている。

従来例で説明したように、この状態でカメラと一体とな
って動く外筒２が手振れの影響で絶対空間に対してθＩ
Ｎだけ回転したとすると、中の浮体４は液体３の慣性に
よって絶対空間に対して静止状態を維持する為、相対的
に浮体４は外筒２に対して回転したことになる。よって
この相対変位量を、カメラと一体となって動く投光素子
６と受光素子５を有する手振れ検出手段によって検出す
ることができる。

つまり、投光素子６から発せられた信号光は浮体４の表
面で反射して光素子５へ入射し、その結果、浮体４が外
筒２に対して相対的に回転すれば、信号反射光の受光素
子５への入射位置が変化する為、受光素子５の出力電流
１ａ及びＩｂは浮体４の動きによって変化する。この出
力電流Ｉａ及びＩｂは、オペアンプ１０．抵抗１１．キ
ャパシタ１２で構成される電流−電圧変換回路及びオペ
アンプ１３．抵抗１４．キャパシタ１５で構成される電
流−電圧変換回路によって増幅され、それぞれの出力は
オペアンプ２１．抵抗２２２３２４．２５で構成される
加算回路及びオペアンプ１６．抵抗１７，１８，１９．
２０で構成される減算回路へ入力される。前記加算回路
の出力はオペアンプ２６．抵抗２７，２８，３１．キャ
パシタ２９．トランージスタ３０で構成される１ＲＥＤ
ドライバ回路へ入力され、加算回路の出力が基準電圧Ｋ
ＶＣと等しくなるようにフィードバック制御が為されて
いる。

一方、補正光学系として用いる可変頂角プリズム４１の
角変位を検出する位置検出手段も手振れ検出手段と全く
同様にて前記角変位を検出する。

つまり、投光素子４４と受光素子４３の間には、可変頂
角プリズム４１の動きに連動するスリットが設けられて
おり、そのスリットの動きによって受光素子４３から発
生する光電流がＩｃ、Ｉｄとして発生する。この光電流
Ｉｃ、Ｉｄは、前述したのと同様の方法で、オペアンプ
５６．抵抗５７５８．５９．６０で構成される減算回路
及びオペアンプ６１．抵抗６２．６３．６４．６５で構
成される加算回路へ入力され、この加算回路の出力はオ
ペアンプ６６、抵抗６７．６８，７１．キャパシタ６９
．トランジスタ７０で構成される１ＲＥＤドライバ回路
へ入力される為、加算回路の出力は常に基準電圧ＫＶＣ
と等しくなるようにフィードバック制御が為されている
。

このように、オペアンプ１６（手振れ検出手段）の出力
は絶対空間に対する振れ変位量、オペアンプ５６（位置
検出手段）の出力は可変頂角プリズム４１の角変位量を
表しており、それぞれオペアンプ１６の出力としての手
振れ検出手段の単位振れ角当りの電圧値と、オペアンプ
５６の出力としての可変頂角プリズム４１の単位補正角
度当りの電圧値は前述したゲイン抵抗によって、等しく
なるように設定されている。

次に、この第１の実施例における全体制御の方法を第３
図乃至第５図に示したフローチャート及び第２図を用い
て説明していく。

まず、第３図ではＣＰＵ　１００内部のディジタル演算
を実行する為の各係数データを内部メモリに設定する。

ステップ２００では、手振れ検出手段内の駆動コイル７
の制御を行う為の比例項のゲインＧＫを内部メモリＭ（
Ｋｌ）にセットする。

続いてステップ２０１〜２０５では、手振れ検出手段の
微分制御を行う為の演算データをセットするが、ステッ
プ２０１て微分項のゲインＧＨを内部メモリＭ（Ｈｌ）
にセットする。次に実際の微分演算を行う為の係数がス
テップ２０２〜２゜４によって設定を行うが、ここで微
分回路をアナログ的に表現すると、第２図（ａ）に示し
たような一次進み回路（ボール周波数より充分低い周波
数に対しては微分回路と同じ）で表せ、その周波数特性
Ｈ（Ｓ）を既知のＳ−Ｚ変換を使って２平面上のＨ（Ｚ
）の係数に表現すると、サンプリング時間間隔をＴ１と
して たような一次遅れ回路（ボール周波数より充分高い周波
数に対しては積分回路と同じ）で表せ、その周波数特性
Ｈ（Ｓ）を既知のＳ−７変換を使って２平面上のＨ（Ｚ
）の係数に表現すると、サンプリング時間間隔をＴ１と
して となる。従って、ステップ２０２で定数データＡ○Ｈを
メモリＭ　（Ｈ２）に、ステップ２０３で定数データＡ
ＩＨをメモリＭ（Ｈ３）に、ステップ２０４で定数デー
タＢＩＨをメモリＭ　（Ｈ４）に設定し、更にステップ
２０５では演算の途中結果を記憶する内部メモリＭ　（
Ｈ５）を「Ｏ」にリセットする。

続いて、ステップ２０６〜２１０では、手振れ検出手段
の積分制御を行う為の演算データをセットするが、まず
ステップ２０６で積分項のゲインＧＴを内部メモリＭ（
Ｔｌ）にセットする。次に、実際の積分演算を行う為の
係数をステップ２０７〜２０９によって設定するが、こ
こで積分回路をアナログ的に表現すると、第２図（ｂ）
に示しとなる。従って、ステップ２０７で定数データ八
〇ＴをメモリＭ　（Ｔ２）に、ステップ２０８で定数デ
ータＡＬＴをメモリＭ　（Ｔ３）に、ステップ２０９で
定数データＢＩＴをメモリＭ　（Ｔ４）に設定され、更
にステップ２１０では演算の途中結果を記録する内部メ
モリＭ　（Ｔ５）を「０」にリセットする。

更に、ステップ２１１〜２１５では、可変頂角プリズム
４１側のフォードバック制御に必要な位相進み補償を実
現する為に、まずステップ２１１で位相進み補償のゲイ
ンを含めて全体のフィードバックループゲインＧＳを内
部メモリＭ（Ｓｌ）にセットされる。次に、実際の位相
進み補償演算を行う為の係数がステップ２１２〜２１４
によって設定するが、ここで位相進み補償回路をアナロ
グ的に表現すると、第２図（ｃ）に示したような回路で
表せ、その周波数特性Ｈ（Ｓ）を既知のＳ−７変換を使
って、２平面上のＨ（Ｚ）の係数に表現すると、サンプ
リング時間間隔をＴ２としてとなる。従って、ステップ
２１２で定数データＡＯ３をメモリＭ　（Ｓ２）に、ス
テップ２１３で定数データＡＩＳをメモリＭ　（Ｓ３）
に、ステップ２１４で定数データＢＩＳをメモリＭ　（
Ｓ４）　に設定し、更にステップ２１５では演算の途中
結果を記憶する内部メモリＭ（Ｓ５）を「ｏ」にリセッ
トする。

次に、ステップ２１６〜２２３でサンプリング時間間隔
を設定する割込みタイマをスタートさせる。まず、ステ
ップ２１６ではサンプリング時間Ｔ１を内部Ａレジスタ
にセットし、続いてこの設定値を１０５で示した割込み
タイマ１に転送する為に、ステップ２１７でｌＮ５ＴＩ
出力をＨレベルとする。更に、ステップ２１８でＡレジ
スタの値をＩＮＤＡＴＡＩを通して割込みタイマ１に転
送し、ステップ２１９でｌＮ５ＴＩ出力をＬレベルとし
て、タイマをスタートさせる。

同様に、ステップ２２０では、サンプリング時間Ｔ２　
（Ｔ２＜ＴＩ）を内部Ａレジスタにセットし、続いてこ
の設定値を１０６で示した割込みタイマ２に転送する為
に、ステップ２２１でｌＮ５Ｔ２を出力をＨレベルとす
る。更に、ステップ２２２でＡレジスタの値をＩＮＤＡ
ＴＡ２を通して割込みタイマ２に転送し、ステップ２２
３でｌＮ５Ｔ２出力をＬレベルとしてタイマ２をスター
トさせる。

このように、所定の時間毎に割込みを発生するタイマを
スタートさせておき、メインの処理を実行しながら割込
み処理を実行する。

第４図は、１０５で示す割込みタイマ１による割込みフ
ローチャートを示したものである。

まずステップ２５０でＡＤＳＴＩ出力をＨレベルにする
ことにより、Ａ／Ｄコンバータ１０２の動作を開始させ
る。Ａ／Ｄコンバータ１０２はオペアンプ１６の振れ変
位出力をＡ／Ｄ変換し、終了した時点でＡＤＨＮＤ出力
をＨレベルとする。ＣＰＵＩ○Ｏはステップ２５１でＡ
／Ｄコンバータ１０２のＡＤＥＮＤ出力がＨレベルにな
ったことを検知すると、直ちにステップ２５２でそのデ
ィジタル変換値をＡＤＤＡＴＡを通してＡレジスタ内に
取り込み、ステップ２５３でＡＤＳＴＩ出力をＬレベル
として、上記Ａ／Ｄ変換の動作を終了する。

次に、ステップ２５４〜２６４では、実際に手振れ検出
手段のＰＩＤ制御を実行する為の演算部分である。まず
、ステップ２５４では上記手段の振れ変位出力がセット
されているＡレジスタと、比例項のゲインがセットされ
ているメモリＭ（Ｋｌ）の値を乗算して、その結果をＢ
レジスタにセットして、比例演算を実行する。

次に、ステップ２５５では振れ変位出力がセットされて
いるＡレジスタの値から、前述した微分演算係数ＢＬＨ
がセットされているメモリＭ（Ｈ４）の値と、前回の割
込み処理動作で微分演算した途中結果を記憶しているメ
モリＭ　（Ｈ５）の値との乗算値を減算し、Ｃレジスタ
にセットする６ステツプ２５６では、このＣレジスタの
値と前述した微分演算係数ＡＯＨがセットされているメ
モリＭ　（Ｈ２）の値との乗算値に、上記のメモリＭ　
（Ｈ５）の値と前述した微分演算係数ＡＩＨがセットさ
れているメモリＭ　（Ｈ３）の１ｍとの乗算値を加算し
てＤレジスタにセットする。更に、ステップ２５７では
このＤレジスタの値に微分項のゲインがセットされてい
るメモリＭ（Ｈｌ）の値を乗算して、再びＤレジスタに
セットし、ステップ２５８ではこのＤレジスタの値と比
例演算の結果がセットされているＢレジスタとの加算を
行って、再びＢレジスタにセットする。ステップ２５９
では今回の割込み処理動作で微分演算した途中結果を記
憶しているＣレジスタの値を、次回の割込み処理動作で
使用する為に、メモリＭ　（Ｈ５）にセットする。

ステップ２６０〜２６４の積分演算も同様に、まずステ
ップ２６０では振れ変位出力がセットされているＡレジ
スタの値から、前述した積分演算係数ＢＩＴがセットさ
れているメモリＭ　（Ｔ４）の値と、前回の割込み処理
動作で積分演算した途中結果を記憶しているメモリＭ　
（Ｔ５）の値との乗算値を減算し、Ｃレジスタにセット
する。ステップ２６１では、このＣレジスタの値と前述
した微分演算係数ＡＯＴがセットされているメモリＭ　
（Ｔ２）の値との乗算値に、上記メモリＭ（Ｔ５）の値
と前述した積分演算係数ＡＬＴがセットされているメモ
リＭ　（Ｔ３）の値との乗算値を加算してＤレジスタに
セットする。

更に、ステップ２６２ではこのＤレジスタの値に積分項
のゲインがセットされているメモリＭ（Ｔ１）の値を乗
算して、再びＤレジスタにセットし、ステップ２６３で
はこのＤレジスタの値と既に比例演算と微分演算の加算
値がセットされているＢレジスタとの加算を行って、再
びＢレジスタにセットする。ステップ２６４では今回の
割込み処理動作で積分演算した途中結果を記憶している
Ｃレジスタの値を、次回の割込み処理動作で使用する為
に、メモリＭ　（Ｔ５）にセットする。

続いて、この振れ変位出力をＰＩＤ演算した結果を１０
３で示したＰＷＭタイマ１に転送する為に、ステップ２
６５でＰＷＭＳＴＩ出力をＨレベルとし、ステップ２６
６でＢレジスタの値をＰＷＭＤＡＴＡ　１を通してＰＷ
Ｍタイマ１に転送した後、ステップ２６７でＰＷＭＳＴ
Ｉ出力をＬレベルとして、このタイマ１による割込み処
理を終了する。

ここで、この１０３で示したＰＷＭタイマ１の出力は、
一定周期のクロックでそのＨとＬレベルのデユーティ値
が入力されたデータに相当する為、抵抗３５．キャパシ
タ３６で構成されるローパスフィルタの出力は、このデ
ユーティ値に比例したアナログ出力となる。オペアンプ
３２．トランジスタ３３．３４によってプッシュプルタ
イプの電力増幅回路が構成され、ローパスフィルタの出
力がオペアンプ３２の非反転入力端子に接続されている
為に、よってＣＰＵ　１００で演算された結果に相当す
る電流が駆動コイル７に通電されることになり、第９図
（ａ）に示した様な一巡伝達関数を達成することができ
る。

次に、第５図は割込みタイマ２による割込み処理フロー
チャートを示したものである。

まずステップ３００で、ＡＤＳＴＩ出力をＨレベルにす
ることにより、Ａ／Ｄコンバータ１０２の動作を開始す
る。Ａ／Ｄコンバータ１０２はオペアンプ１６の振れ変
位出力から角変位出力値をＡ／Ｄ変換し、変換が終了し
た時点でＡＤＥＮＤ出力をＨレベルとする。

ＣＰＵｌ０ｏは、ステップ３０１１’Ａ／Ｄ：］：／バ
ータ１０２のＡＤＥＮＤ出力がＨレベルになったことを
検知すると、直ちにステップ３０２でそのディジタル変
換値をＡＤＤＡＴＡを通してＡレジスタ内に取り込み、
ステップ３０３でＡＤＳＴｌ出力をＬレベルとして、上
記Ａ／Ｄ変換の動作を終了する。

続いて、ステップ３０４でＡＤＳＴ２出力をＨレベルに
することにより、Ａ／Ｄコンバータ１０２の動作を開始
する。Ａ／Ｄコンバータ１０２はオペアンプ５６の出力
から可変頂角プリズム４１の角変位出力をＡ／Ｄ変換し
、変換が終了した時点でＡＤＥＮＤ出力をＨレベルとす
る。ＣＰＵ１００はステップ３０５でＡ／Ｄコンバータ
１０２のＡＤＥＮＤ出力がＨレベルになったことを検知
すると、直ちにステップ３０６でそのディジタル変換値
をＡＤＤＡＴＡを通してＭレジスタ内に取り込み、ステ
ップ３０７でＡＤＳＴ２出力をＬレベルとして、上記Ａ
／Ｄ変換の動作を終了する。

ステップ３０８では、上述したにレジスタの値からＭレ
ジスタの値を減算して、振れ変位出力と角変位出力の差
分を取り出し、この値をＮレジス夕にセットする。

ステップ３０９〜３１２は、可変頂角プリズム４１側の
フィードバック制御を達成する為に必要な位相補償演算
部分で、第２図（ｃ）に示したような位相進み補償がデ
ィジタル的に演算される。まずステップ３０９では、振
れ変位出力と角変位出力の差分がセットされているＮレ
ジスタの値から、前述した位相補償演算係数ＢＩＳがセ
ットされているメモリＭ　（Ｓ４）の値と、前回の割込
み処理動作で積分演算した途中結果を記憶しているメモ
リＭ　（Ｓ５）の値との乗算値を減算し、Ｓレジスタに
セットする。ステップ３１０では、このＣレジスタの値
と前述した位相補償演算係数ＡＯ８がセットされている
メモリＭ　（Ｓ２）の値との乗算値に、上記メモリＭ　
（Ｓ５）の値と前述した位相補償演算係数ＡＩＳがセッ
トされているメモリＭ　（Ｓ３）の値との乗算値を加算
してＴレジスタにセットする。更に、ステップ３１１で
はこのＴレジスタの値に位相補償を含めてフィードバッ
クゲインがセットされているメモリＭ（Ｓｌ）の値を乗
算して、再びＴレジスタにセットし、ステップ３１２で
は今回の割込み処理動作で位相補償演算した途中結果を
記憶しているＳレジスタの値を、次回の割込み処理動作
で使用する為に、メモリＭ　（Ｓ５）にセットする。

続いて、この演算した結果を１０４で示したＰＷＭタイ
マ２に転送する為に、ステップ３１３でＰＷＭＳＴ２出
力をＨレベルとし、ステップ３１４でＴレジスタの値を
ＰＷＭＤＡＴＡ２を通してＰＷＭタイマ２に転送した後
、ステップ３１５でＰＷＭＳＴ２出力をＬレベルとして
、このタイマ２による割込み処理を終了する。

ここで、この１０４で示したＰＷＭタイマ２の出力は一
定周期のクロックで、そのＨとＬレベルのデユーティ値
が入力されたデータに相当する為、抵抗１１２．キャパ
シタ１１１で構成されるローパスフィルタの出力は、こ
のデユーティ値に比例したアナログ出力となる。オペア
ンプ１１０、トランジスタ１１３，１１４によってプッ
シュプルタイプの電力増幅回路が構成され、ローパスフ
ィルタの出力がオペアンプ１１０の非反転入力端子に接
続されている為、駆動コイル９８には演算した結果であ
るＴレジスタの値に相当する電流が通電されることにな
る。

このように、この第１の実施例では、割込み時間間隔の
異なる２つの割込みタイマを同時に動作させ、割込み時
間間隔の長い割込み処理では手振れ検出手段側の制御を
行い、割込み時間間隔の短い割込み処理では、手振れ検
出手段の出力に対して補正光学系であるところの可変頂
角プリズム４１を追求させるようなフィードバック制御
を実行する。

次に、本発明の第２の実施例について第６図のフローチ
ャートを用いて説明していく。

第６図のフローチャートは、第１図の１０６で示した割
込みタイマ２による割込み処理動作を示したもので、ス
テップ４００〜４１５までは既に説明した第５図のステ
ップ３００〜３１５と全く同様であり、手振れ検出手段
の振れ変位出力と可変頂角プリズム４１（位置検出手段
）の角変位出力の差分を増幅して位相進み補償を施した
結果をＰＷＭ出力によって出力し、駆動コイル９８の通
電電流をコントロールするものである。

次に、ステップ４１６では予め初期リセットされている
ＣＰＵ内部Ｘレジスタの値を１カウントアツプし、続い
てステップ４１７でＸレジスタの値がｒＱＪに達したか
どうかを判定する。ここで、手振れ検出手段側の制御を
行う為のサンプリング時間間隔なＴｏ、可変頂角プリズ
ム４１のフィードバック制御を実行する為のサンプリン
グ時間間隔なＴ、とじた場合、Ｑ＝Ｔｔ／Ｔｚの関係が
成立つものとする。Ｘの値が「Ｑ」に達しない場合は、
直ちにこのタイマ２による割込み処理動作を終了してメ
インへ復帰するが、Ｘの値がｒＱＪに達した場合はステ
ップ４１８へ進んでＸレジスタの値を「Ｏ」にリセット
し、手振れ検出手段の振れ変位出力に対するＰＩＤ演算
を開始する。

ステップ４１９〜４３２については、第４図のステップ
２５４〜２６７と同様であるが、この場合手振れ検出手
段の振れ変位出力をＡ／Ｄ変換した結果はにレジスタの
内にセットされており、このレジスタ値をもとに比例演
算、微分演算、積分演算を実行し、１０３で示し、たＰ
ＷＭタイマ１を通して、この結果を出力し、駆動コイル
７へ通電を行う。

以上のように、この第２の実施例では、割込み時間間隔
の短いタイマのみを動作させ、この割込み処理の中で可
変頂角プリズム４１のフィードバック制御を実行すると
共に、この割込み処置が所定回数に達するごとに、手振
れ検出手段側の制御を実行するようにした。

次に、本発明の第３の実施例について第７図のフローチ
ャートを用いて説明していく。

第７図のフローチャートは第１図の１０６で示した割込
みタイマ２による割込み処理動作を示したものである。

まず、ステップ５００では１０１で示した内部タイマを
スタートさせ、ステップ５０１〜５１６までは第５図の
ステップ３００〜３１５と全く同様であり、手振れ検出
手段の振れ変位出力と可変頂角プリズム４１　（位置検
出手段）の角変位出力の差分を増幅して、位相進み補償
を実行し、その結果をＰＷＭタイマを通して出力するこ
とにより、駆動コイル９８の通電電流をコントロールす
るものである。

次に、ステップ５１７では、予め初期リセットされてい
るＣＰＵ内部のＸレジスタの値を１カウントアツプし、
続いてステップ５１８でＸレジスタの値がｒＱＪに達し
たかどうかを判定する。Ｘの値がｒＱＪに達しない場合
は、直ちにこのタイマ２による割込み処理動作を終了し
てメインへ復帰するが、Ｘの値がｒＱＪに達した場合は
ステップ５１９へ進んでＸレジスタの値をｒＯＪにリセ
ットし、続いてステップ５２０で内部タイマの値がＴ１
に達したかどうかを判定する。内部タイマがＴ１に達す
るまではここで待機し、Ｔ１に達した時点でステップ５
２１へ進んでいく。

ステップ５２１から５３８までは、第４図のステップ２
５０から２６７までと全く同様であり、手振れ検出手段
の振れ変位出力を改めてＡ／Ｄ変換した後、この値をＡ
レジスタにセットし、このレジスタ値をもとに比例演算
、微分演算、積分演算を実行後、１０３で示したＰＷＭ
タイマ１を通してこの結果を出力し、駆動コイル７の通
電を行う。

以上のように、この第３の実施例では、割込み時間間隔
の短いタイマを動作させた状態で、この割込み処理の中
で補正光学系であるところの可変頂角プリズム４１のフ
ィードバック制御を実行する。

更に、割込み処理開始時に別の内部タイマをスタートさ
せ、割込み処理が所定回数に達し、且つこの内部タイマ
の値が所定値に達した時点で改めて手振れ検出手段の振
れ変位出力をＡ／Ｄ変換し、この結果を基づに手振れ検
出手段側の制御を実行するようにした。

以上の各実施例によれば、−巡伝達関数のゲイン交点が
大きく異なる手振れ検出手段の制御と補正光学系である
ところの可変頂角プリズムの制御とを別々のサンプリン
グ時間間隔で行うようにしたことにより、演算上のビッ
ト数やＡ／Ｄ変換のビット数を増やすことなく、最適な
制御を実行することができる。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、ディジタル制御
手段内に、手振れ検出手段の出力と位置検出手段の出力
のサンプリング時間を、それぞれ異なる時間間隔に設定
するサンプリング時間設定手段を設け、以て、手振れ検
出手段の制御をディジタル的に行う為のサンプリング時
間間隔と補正光学手段のフィードバック制御を行う為の
サンプリング時間間隔を異なるものとしたから、演算の
ビット数を増やすことなく、手振れ検出手段と補正光学
手段それぞれの制御を最適に行うことが可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第１の実施例を示す構成図、第２図（
ａ）〜（Ｃ）は第３図のフローにて行われる微分演算、
積分演算、位相補償演算に関する部分を説明するための
図、第３図乃至第５図は本発明の第１の実施例における
動作を示すフローチャート、第６図は本発明の第２の実
施例における主要部分の動作を示すフローチャート、第
７図は本発明の第３の実施例における主要部分の動作を
示すフローチャート、第８図は従来のこの種の装置の構
成図、第９図（ａ）　（ｂ）はこの種の装置における手
振れ検出手段及び補正光学系の一巡伝達関数について示
す図である。 １・・・・・・ヨーク、２・・・・・・外筒、３・・・
・・・液体、４・・・・・・浮体、５・・・・・・受光
素子、６・・・・・・投光素子、７・・・・・・駆動コ
イル、１０，１３．１６・・・・・・オペアンプ、１１
．１４．１７〜２０・・・・・・抵抗、１２．１５・・
・・・・キャパシタ、４１・・・・・・可変頂角プリズ
ム、４３・・・・・・受光素子、４４・・・・・・投光
素子、５ｏ、５３．５６・・・・・・オペアンプ、５１
，５４．５７〜５０・・・・・・抵抗、５２．５５・・
・・・・キャパシタ、９８・・・・・・駆動コイル、１
００・・・・・・ＣＰＵ、１０１・・・川内部タイマ、
１０２・・・・・・Ａ／Ｄコンバータ、１０３・・・・
・・ＰＷＭタイマ１．１０４・・・・・・ＰＷＭタイマ
２．１０５・・・・・・割込みタイマ１．１０６・・・
・・・割込みタイマ２゜

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）カメラ本体の絶対空間に対する振れ変位量を検出
   する手振れ検出手段と、該手振れ検出手段の出力に基づ
   き該手振れ検出手段内に設けられた巻線コイルを駆動す
   る第１の駆動手段と、同じく前記手振れ検出手段の出力
   に基づき撮影レンズに入射する光路を光軸に対して可変
   する補正光学手段と、該補正光学手段の光軸に対する傾
   き変位量を検出する位置検出手段と、前記補正光学手段
   を電気的に駆動する第２の駆動手段と、前記手振れ検出
   手段の出力と前記位置検出手段の出力を設定されるサン
   プリング時間毎にディジタル演算し、上記第１及び第２
   の駆動手段を制御するディジタル制御手段とを備えたカ
   メラの防振装置において、前記ディジタル制御手段内に
   、手振れ検出手段の出力と位置検出手段の出力のサンプ
   リング時間を、それぞれ異なる時間間隔に設定するサン
   プリング時間設定手段を設けたことを特徴とするカメラ
   の防振装置。
2. （２）ディジタル制御手段内に、アナログ量で入力され
   る手振れ検出手段よりの信号と位置検出手段よりの信号
   をディジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換手段を具備した
   ことを特徴とする請求項１記載のカメラの防振装置。