JPH0486668A - 投影露光装置 - Google Patents

投影露光装置

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JPH0486668A
JPH0486668A JP2200838A JP20083890A JPH0486668A JP H0486668 A JPH0486668 A JP H0486668A JP 2200838 A JP2200838 A JP 2200838A JP 20083890 A JP20083890 A JP 20083890A JP H0486668 A JPH0486668 A JP H0486668A
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JP
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optical system
projection optical
projection
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exposure apparatus
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JP2200838A
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Yasuo Hasegawa
康生 長谷川
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70216Mask projection systems

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Projection-Type Copiers In General (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は投影露光装置に関し、特にIC,LSI等の半
導体素子を製造する際にレチクル面上の電子回路パター
ンをウェハ面上に投影光学系により投影するときの環境
変化、特に温度変化に伴う光学特性の変化を良好に補正
し、高鯖度な投影パターン像が得られる投影露光装置に
関するものである。
(従来の技術) 従来よりIC,LSI等の半導体素子製造用の投影露光
装置(アライナ−)においては非常に高い組立精度と光
学性能が要求されている。
このうち電子回路パターンが形成されているレチクル面
上のパターンをウェハ面上に投影する投形光学系には特
に高い光学性能(結像性能)か要求されている。
般に投影光学系は温度変化かあると投影倍率やピント位
置等が変化し、光学性能が低下してくる。
この為、例えば特開昭1i0−136746号公報では
レンズ間の空気圧を外部的手段を用いて変化させたり、
又はレンズ間に混合ガスを封入して空気の屈折力を変え
たりして温度変化に伴う光学性能の低下を防止した投影
露光装置を提案している。
(発明が解決しようとする問題点) 投影露光装置においてレチクル面上のIC。
LSI等の電子回路の微細なパターンを投影光学系によ
りウェハ面上に投影露光する際には、そのパターン像が
所定の結像倍率でかつ所定形状で、即ち正規の結像倍率
及び結像状態で投影されることか要求される。
しかしながら良く調整された投影光学系でも環境状態か
変化したり、又長い間使用すると結像状態か変化してく
る為、常に一定の結像状態でパターン像をウェハ面上に
投影するのは大変能しい課題となっている。
例えば、長期間連続使用すると露光光の吸収によりレン
ズの材質の温度が変化し、材質の屈折率が変化してきて
諸収差やピント位置等の結像状態が変化してくるという
問題点が生じてくる。
本発明はレチクル面上のパターンを投影光学系によりウ
ェハ面上に投影する際、投影光学系を構成するレンズの
材質の温度が変化し材質の屈折率が変化しても、例えば
ピント位置や結像倍率等が変化せず一定となるように適
切に構成した投影光学系を有した高い光学性能が得られ
る投影露光装置の提供を目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明の投影露光装置は、照明系からの光束で照明され
た第1物体面上のパターンを投影光学系により可動ステ
ージ上に載置した第2物体面上に投影する投影露光装置
において、該投影光学系は屈−折率の温度係数d N/
d Tの符号が異なる少なくとも2つの材質より成る複
数のレンズを有し、各レンズの材質に温度変化があって
も該投影光学系のピント位置又は/及び結像倍率が略一
定となるように構成されていることを特徴としている。
特に本発明では、前記照明系から放射される光束の波長
入がKrFレーザの入=248nm近傍のときは前記2
つの材質は石英カラスと螢石であることを特徴としてい
る。
又本発明では、前記2つの材質は前記投影光学系を単一
種類のレンズより構成した場合に比べて温度変化による
ピント位置の変化量が1℃あたり±0.25nm以下又
はバックフォーカスに対し5xto−4%以下又は/及
び結像倍率の変化量が1℃あたり0.25%以下となる
ように設定されていることを特徴としている。
(実施例) 第1図は本発明の投影露光装置の一実施例の要部概略図
である。図中1は光源で本実施例ではエキシマレーザ−
より成っている。Mは第1物体でありエキシマレーザ−
1からの光に対して透過性のある溶融石英カラス、螢石
等から成る平行平面カラス板上にエキシマレーザ−から
の光に対して非透過の例えばクロム等の金属より成る回
路パターンが形成されたマスク、レチクル等である。
2は照明系であり、第1物体Mを均一照明している。
この照明系2を構成するレンズはエキシマレーザ−から
の光に対して透過性及び屈折性を有するガラス材料で形
成されている。3は投影光学系であり、第1物体M面上
の回路パターンをウニへ等の第2物体W面上に縮少投影
している。
投影光学系3は後述するように屈折率Nの温度係数(f
f1度変化dTに対する屈折率変化dNの比dN/dT
)の符号が異なる少なくとも2つの材質より成る複数の
レンズより成っている。
後述する数値実施例では2つの材質として石英(S i
 02 、 dN/ dT= 1 、5x 10−5.
人=0、 21 μm)と螢石(Ca F 2 、 d
 N / d T =−9,3X10−6.人=0.2
μm)を用いている。
又、投影光学系3は第1物体M面上のパターンの投影露
光を縁り返し行う為にレンズの材質の温度が変化して、
材質の屈折率が変化しても結像特性、特に結像倍率とピ
ント位置が変動せず、略定(後述するように従来例に比
べて±35%以内)となるように各レンズを構成してい
る。
4は支持部材で第1物体Mを光路中で支持している。5
は可動ステージでx、y、z方向に移動可能であり第2
物体Wを載置している。6は駆動手段で可動ステージ5
を所定方向にステップ駆動させている。
本実施例においてはエキシマレーザ−1からの光束によ
り照明系2を介して第1物体Mを照明する。第1物体M
は投影光学系3によって第2物体Wの一部区域上に縮少
投影される。投影露光後、駆動手段6によって第2物体
Wを1ステツプ移動し、第2物体Wの他の一部区域が投
影光学系3により投影露光される。これを順次縁り返し
て第2物体Wの前面を投影露光している。
次に本発明に係る投影光学系3のレンズ構成の特徴につ
いて説明する。
第2図は本発明に係る投影光学系3の後述する数値実施
例1のレンズ断面図である。同図において斜線の、ない
レンズは屈折率の温度係数dN/dTの符号か正の材質
(本実施例では石英)より成っている。又斜線で示すレ
ンズは屈折率の温度係数dN/dTの符号が負の材質(
本実施例では螢石)より成フている。
■は正の屈折力の第1群で単一の正レンズG1より成っ
ている。■は負の屈折力の第2群で2枚のメニスカス状
の負レンズG2.G3より成っている。■は正の負の屈
折力の第3群で2枚の両レンズ面が凸面の正レンズG4
.、G5より成っている。■は負の屈折力の第4群でメ
ニスカス状の負レンズG6と両レンズ面が凹面の負レン
ズG7そしてメニスカス状の負レンズG8より成ってい
る。■は正の屈折力の第5群で4つのレンズ69〜G1
2より成っている。
般に温度変化による結像性能の劣化を少なくする為には
、レンズの材質として屈折率の温度係数dN/dT(以
下[係数dN/dTJと称する。)の小さい材質を選択
して使用するのが良い。しかしながらエキシマレーザ−
等の゛短波長の光を用いた投影露光装置の投影光学系用
のレンズとして使用可能な材質は現在のところ材質の係
数d N/d Tが例えばd N/d T =〜10−
5/”Cのものしかなく、係数dN/dTは比較的大き
い。この為係数dN/dTの小さい材質を選択しても温
度変化に伴う結像性能の変化を少なくするのは大変難し
い課題となっている。
そこで本実施例では係数dN/dTの符号が異なる少な
くとも2つの材質より成る複数のレンズを適切に組み合
せることにより、温度変化に伴う光学性能(結像性能)
の変動を良好に防止している。
本実施例では前述のように係数dN/dT>0の材質と
して石英(Si02)を、係数dN/dT<0の材質と
して螢石(CaF2)を用いている。
d N/d Tの符号を変えて光学性能の変動を補正す
るには光学系を構成する各レンズ群内で同様な光学的作
用をする所定の屈折力を有したレンズ間で各々行うのが
効果的である。
そこて本実施例では第2図に示すようにまず負の屈折力
の第2群を構成する2つの負レンズG2.G3を係数d
N/dTの符号が異なる2つの材質より構成している。
又、正の屈折力の第3群を構成する2つの正レンズG4
.G5も同様に係数dN/dTの符号が異なる2つの材
質より構成している。第4群は全体として弱い負の屈折
力である為1種類の材質(石英、SiO□)より構成し
ている。
そして正の屈折力の第5群の4つの正レンズのうち、2
つの正レンズGIO,G12を係数dN/dTの符号が
正の材質で、又他の2つの正レンズG9.Gllを係数
d N/d Tの符号が負の材質より構成している。
以上のように投影光学系を係数dN/dTの符号の異な
る少なくとも2つの材質の複数のレンズより構成するこ
とにより、温度変化に伴う光学性能、例えば後述するよ
うに結像倍率やピント位置の変動を良好に補正し、高い
光学性能を維持することかできる投影露光装置を達成し
ている。
尚、本実施例において好ましくは照明系から放射される
光束の波長λかλ<300nm特に、KrFエキシマレ
ーザ−が放射する光の波長λ=248nm近傍のときは
少なくとも2つの材質を石英と螢石より構成するのか良
く、又波長λがλ=365nmあるいはλ=436 n
m近傍のときは前記の2種類の材質に限らず、一般カラ
スの中からもdN/dTの符号か正負のものがあり、こ
れらの中からdN/dTの符号の異なるものを含む少な
くとも2つ以上の材質を選ぶことができる。
次に本発明に係る投影光学系の温度変化(レンズ全体が
2℃変化するような温度変化)による光学特性の変動と
本発明に係る投影光学系と同様の投影光学系を例えば係
数dN/dTの符号が正の単一の材質(石英5i02)
より構成した第4図に示す従来例の投影光学系の温度変
化による光学特性の変動とを比較した結果を表−1に示
す。
表−1に示すように本実施例によれば、従来例に比べて
、例えばピント位置の変動は9(μm)→0(μm)と
改善率100%となり、又球面収差は0.3(μm)→
0.06(μm)と改善率94%となる等、各光学性能
を大幅に改善することかできる。
特に本発明においては係数d N/d Tの異なる2つ
の材質は従来の投影光学系に比べて温度変化によるピン
ト位置の変化量が0.25nm/deg−5X10−4
%/ d e g%以下、又は/及び結像倍率の変化量
か0.25%/ d e g%以下となるように各要素
を設定している。
このように本実施例によれば温度変化に対して従来のよ
うにレンズ間の空気厚調整等を行う外部的制御手段を用
いることなく、安定した光学性能を有した投影露光装置
を得ることができる。
本発明に係る投影光学系は前述のように係数d N/d
 Tの符号の異なる少なくとも2つの材質より成る複数
のレンズを用いて構成し、温度変化による光学性能の変
動量を少なくしているか、係数d N/d Tの符号の
異なるレンズの数及びその配置はレンズ構成に応じて適
切に設定すれば前述と同様に本発明の目的を達成するこ
とかできる。
例えば後述する数値実施例2,3ては数値実施例1に比
べて係数dN/dTの符号が正の材質(石英、5i02
)と係数dN/dTの符号か負の材質(螢石、CaF2
 )のレンズの位置を種々と変えて構成し、数値実施例
1と同様の効果を得ている。
表−2は数値実施例2,3について表−1の部の光学性
能と同様の値を示している。表−2には数値実施例2.
3においても温度変化6丁による光学性能の変動量を従
来の投影光学系に比べて極めて良好に補正することがで
きることを示している。
尚、本発明において投影光学系を構成する各レンズとし
て石英と螢石の2種類の材質を用いた場合を示したが、
2種類以上の材質のレンズを用いて構成しても良いこと
は当然である。
表−1 表−2 数値実施例1 次に本発明に係る投影光学系と従来として用いた投影光
学系の数値実施例を示す。数値実施例は第2図に示すよ
うに第1物体側から順にRiはレンズ面の曲率半径、D
iはレンズ厚又はレンズ間隔、GLASSは材質を示し
ている。
2+1.062 3175.891 380.750 113.922 757.078 119.786 260.477 207.205 +77.259 562.220 77.8]0 56.477 74.396 96.942 36.565 53.388 955.2]4 85.995 366.409 185.935 141.854 1596.330 72.565 145.884 15.000 208.785 73.512 24.000 20.000 39.787 27.000 62.694 12.000 26.178 20.000 1.000 18.000 1.000 16.500 1.000 +8.500 1.000 20.000 G mA S S S+02 (、AF2 AF2 S+02 AF2 S+02 AF2 数値実施例2 2]3.180 3932.788 383.085 114.598 773.630 120.381 255.603 214.504 176.696 591.383 77.869 56.451 −73.804 95.776 −.36.569 −53.496 951.049 86.347 364.828 −185.507 141.429 1580.894 71.838 146.687 +5.000 204.000 8.000 8.000 73.512 24.000 20.000 39.787 27.000 62.594 12.000 26.178 20.000 1.000 18.000 1.000 16.500 1.000 18.500 ]、000 20.000 78.960 GLASS S+02 IO2 AF2 AF2 AF2 IO2 S+02 AF2 数値実施例3 178.315 1471.403 498.551 109.769 1093.845 103.218 225.597 185.355 162.149 473.847 56.020 49.94+ 75.579 107.410 37.590 52.619 534.854 93.681 302.700 215.894 114.531 947.024 66.3+3 114.567 +5.000 200.000 5.850 60.000 24.000 20.000 30.000 27.000 55.000 12.000 29.999 20.000 18.000 1.000 16.500 18.500 1.000 20.000 72.352 G mA S S 5+02 AF2 S[02 AF2 IO2 S+02 AF2 従来例 R 223,62+ 3002.347 447.096 120.412 1361.153 116.038 233.102 +94.782 183.543 539.459 68.35] 49.484 −74.381 121.201 −36.949 53.054 B64.389 −89.100 358.305 −215.205 122.348 608.002 68.110 103.072 +5.000 198.584 s、oo。
6.850 s、oo。
60.000 24.000 1.000 20.000 30.000 27.000 55.000 12.000 30.000 20.000 1.000 1B、000 1.000 16.500 1.000 18.500 1.000 20.000 LASS IO2 IO2 l02 (発明の効果) 本発明によれば投影露光装置で用いる投影光学系を前述
のように屈折率の温度係数dN/dTの符号が異なる少
なくとも2つの材質の複数のレンズを適当に組合わせて
構成することにより、温度変化に伴う光学性能、特に結
像倍率とピント位置の変動を外部的な制御手段を用いず
に良好に補正した安定した高い光学性能を有した投影露
光装置を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の要部概略図、第2図、第3
図は本発明に係る投影光学系の数値実施例1のレンズ断
面図と収差図、第4図、第5図は従来の投影光学系のレ
ンズ断面図と収差図である。 図中、1は光源、2は照明系、3は投影光学系、Mは第
1物体、Wは第2物体、5は可動ステージ、r、n、m
、rv、vは各々第1〜第5レンズ群、01〜G12は
レンズ、ΔSはサジタル像面、ΔMはメリディオナル像
面である。 第 図 秦 4叉 推

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)照明系からの光束で照明された第1物体面上のパ
    ターンを投影光学系により可動ステージ上に載置した第
    2物体面上に投影する投影露光装置において、該投影光
    学系は屈折率の温度係数dN/dTの符号が異なる少な
    くとも2つの材質より成る複数のレンズを有し、各レン
    ズの材質に温度変化があっても該投影光学系のピント位
    置又は/及び結像倍率が略一定となるように構成されて
    いることを特徴とする投影露光装置。
  2. (2)前記照明系から放射される光束の波長入がKrF
    レーザの入=248nm近傍のときは前記2つの材質は
    石英ガラスと螢石であることを特徴とする請求項1記載
    の投影露光装置。
  3. (3)前記2つの材質は前記投影光学系を単一種類のレ
    ンズより構成した場合に比べて温度変化によるピント位
    置の変化量が1℃あたり±0.25nm以下又はバック
    フォーカスに対し5×10^−^4%以下又は/及び結
    像倍率の変化量が1℃あたり0.25%以下となるよう
    に設定されていることを特徴とする請求項1記載の投影
    露光装置。
JP2200838A 1990-07-27 1990-07-27 投影露光装置 Pending JPH0486668A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1099963A2 (en) * 1999-11-11 2001-05-16 Nippon Sheet Glass Co., Ltd. Optical element
USRE38320E1 (en) 1995-08-07 2003-11-18 Nikon Corporation Projection exposure apparatus wherein focusing of the apparatus is changed by controlling the temperature of a lens element of the projection optical system

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