JP3065017B2 - 投影露光装置及びデバイスの製造方法 - Google Patents

投影露光装置及びデバイスの製造方法

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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は投影露光装置及びデ
バイスの製造方法に関し、特に回折光学素子を含む投影
光学系によってレチクル又はマスク(以下「マスク」と
総称する)面上のデバイスパターンをウエハ上の複数箇
所にステップアンドリピート方式又はステップアンドス
キャン方式で投影露光することにより、IC,LSI,
CCD,液晶パネル等のサブミクロン又はクォーターミ
クロン以下のパターンを有するデバイスを製造する際に
好適なものである。
【0002】
【従来の技術】最近、回折光学素子(Diffractive Opti
cal Element 、以下「DOE」ともいう)を利用した光
学系が数多く提案されている。例えば、SPIE Vol.1354
International Lens Design Conference(1990)や特開平
4−213421号公報、特開平6−324262号公
報、特開平6−331941号公報、USP5,04
4,706は回折光学素子の色収差の出方が通常の屈折
素子であるレンズに対して逆方向であるという現象を利
用し、レンズの表面や或いは透明な板の表面に正の光学
パワーを有する回折光学素子を設けて光学系の色収差を
減じる方法が提案されている。
【0003】又、素子を構成する各単位を2段以上の階
段で構成した回折光学素子、所謂バイナリオプティクス
素子(Binary Optics Elements、例えばG.J.Swanson,Tec
hnical Report 854,MIT Lincoln Laboratory,14 Aug 19
89やG.J.Swanson,TechnicalReport 914,MIT Lincoln La
boratory,1 Mar 1991 等で提案されている。
【0004】一方、投影光学系に回折光学素子を導入し
てこの素子の作用で諸収差を従来よりも補正した半導体
素子製造用の投影露光装置も、例えば特開平6−331
941号公報,特開平7−128590号公報,特開平
8−17719号公報等で提案されている。
【0005】これらの装置の投影光学系は、1つ又は複
数の回折光学素子を用いて、主に軸上色収差や倍率色収
差を補正している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】光の利用効率という点
では位相型の回折光学素子を用いることが好ましい。位
相型の回折光学素子は理想的にキノフォーム(Kinofor
m)が作製された場合、回折効率が100%となる。こ
れに対して前述のバイナリオプティクス素子はキノフォ
ームを階段で近似している為、それが理想的に製作され
ても回折効率が100%とならず、例えば8段の階段で
回折効率が95%程度しか得られず、結像に寄与しない
不必要な回折光(不要回折光)が発生してくる。
【0007】この不要回折光は正しい位置に結像しない
為、フレアー光として像面に遠く像質を低下させてい
た。前述の先行技術はいずれも、この不要回折光に対す
る有効な対策法を有していない。
【0008】回折光学素子からこのような不要回折光が
発生した場合、該不要回折光が像面にまで達するには鏡
筒の内壁などで1回以上反射されてから達する場合と、
このような反射をせずに、そのまま光学系の有効径内を
通過して達する場合とがある。我々の検討によれば不要
回折光のうち、鏡筒で反射するものは鏡筒の設計、及び
内壁の反射防止処理により、その強度を無視できる程度
に低減することができるが、光学系の有効径内をそのま
ま通過して像面に達する不要回折光は露光むら等の原因
となることが判明した。
【0009】
【0010】
【0011】本発明は、回折光学素子から生ずる不要回
折光に悪影響を極力少なくし、高い光学性能を容易に得
られる投影露光装置及びデバイスの製造方法の提供を目
的とする。不要回折光の像質への影響を判断するには、
像面における設計次数の回折光強度(結像に用いる正規
の回折光強度)に対する不要回折光の強度と、像面にお
ける不要回折光の強度分布の両方に注目する必要があ
る。不要回折光の像面での強度がほとんど0であること
が好ましいが、このようにすることは簡単でない。我々
は検討により、不要回折光の強度が設計次数の回折光の
強度の数%程度であっても、その強度分布が像面上では
ほぼ一様となるときは不要回折光の像質への影響が実質
的になくなることに気づいた。
【0012】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明の投影露
光装置は、光源からの光でマスクを照明する照明光学系
と、前記照明されたマスクのパターンの像を基板上に投
影する、回折光学素子を備える投影光学系とを有する投
影露光装置において、前記回折光学素子から、前記像の
投影に用いる所定の次数の回折光と、該回折光とは次数
が異なっていて且つ前記基板に入射してそこに均一な光
強度分布を形成する他の回折光とが生じていることを特
徴としている。
【0013】請求項2の発明は請求項1の発明におい
て、前記回折光学素子は、前記投影光学系の開口絞りの
位置または該開口絞りの近くの位置にあることを特徴と
している。
【0014】請求項3の発明は請求項2の発明におい
て、前記回折光学素子は、そこから、更に、前記所定の
次数の回折光とは次数が異なっていて、且つ前記基板に
入射しないで、前記回折光学素子と他の複数の光学素子
とを保持するレンズ鏡筒の内壁に入射させる回折光が生
じていることを特徴としている。
【0015】請求項4の発明は請求項2の発明におい
て、前記回折光学素子が、複数個、前記投影光学系の開
口絞りの位置または該開口絞りの近くにあることを特徴
としている。
【0016】請求項5の発明の投影露光装置は、光源か
らの光でマスクを照明する照明光学系と、前記照明され
たマスクのパターンの像を基板上に投影する、回折光学
素子を備える投影光学系とを有する投影露光装置におい
て、前記回折光学素子から、前記像の投影に用いる所定
の次数の回折光と、該回折光とは次数が異なる他の回折
光とが生じており、前記他の回折光の一部分が前記基板
に入射せず、且つ前記他の回折光の残りの部分が前記基
板に入射してそこに均一な光強度分布を形成しているこ
とを特徴としている。
【0017】請求項6の発明は請求項5の発明におい
て、前記回折光学素子は、前記投影光学系の開口絞りの
位置または該開口絞りの近くの位置にあることを特徴と
している。
【0018】請求項7の発明は請求項5の発明におい
て、前記基板に入射しない前記一部分の回折光を、前記
回折光学素子と他の複数の光学素子とを保持するレンズ
鏡筒の内壁に入射させることにより、その強度を減らし
ていることを特徴としている。
【0019】請求項8の発明は請求項5の発明におい
て、前記回折光学素子が、2個、前記投影光学系の開口
絞りの位置または該開口絞りの近くにあることを特徴と
している。
【0020】請求項9の発明は請求項6の発明におい
て、前記マスクと前記基板間の距離をD、前記開口絞り
の位置から前記回折光学素子のある位置までの距離を
d、前記投影光学系の開口数(NA)を決める最大光線
の前記開口絞りの位置での高さと前記回折光学素子への
入射高さとを各々H,hとするとき 0.005<d/D<0.12 0.8<h/H<1.2 を満足することを特徴としている。
【0021】請求項10の発明は請求項8の発明におい
て、前記マスクと前記基板間の距離をD、前記開口絞り
の位置から前記回折光学素子のある位置までの距離を
d、前記投影光学系の開口数(NA)を決める最大光線
の前記開口絞りの位置での高さと前記回折光学素子への
入射高さとを各々H,hとするとき、前記2個の回折光
学素子の双方に対して、 0.005<d/D<0.12 0.8<h/H<1.2 を満足することを特徴としている。
【0022】請求項11の発明は請求項6の発明におい
て、前記投影光学系は、非球面レンズを有していること
を特徴としている。
【0023】請求項12の発明は請求項8の発明におい
て、前記投影光学系は、非球面レンズを有していること
を特徴としている。
【0024】請求項13の発明は請求項8の発明におい
て、前記複数の回折光学素子は、前記投影光学系の軸上
色収差補正と色のコマ収差補正に寄与していることを特
徴としている。
【0025】請求項14の発明は請求項8の発明におい
て、前記2個の回折光学素子のそれぞれの最大有効径の
位置における回折光学素子の周波数の比が2.5を越え
ないことを特徴としている。
【0026】請求項15の発明は請求項6の発明におい
て、前記光源は、KrFエキシマレーザーまたはArF
エキシマレーザーまたはF2 レーザーを備えることを特
徴としている。
【0027】請求項16の発明は請求項8の発明におい
て、前記投影光学系において使用される硝材は石英のみ
であることを特徴としている。
【0028】請求項17の発明は請求項8の発明におい
て、前記投影光学系において使用される硝材は石英と蛍
石のみであることを特徴としている。
【0029】請求項18の発明は請求項8の発明におい
て、前記パターン像は、線幅0.25ミクロンメートル
以下のパターンを含むことを特徴としている。
【0030】請求項19の発明は請求項8の発明におい
て、前記パターン像を、ステップ&リピート方式によっ
て、前記基板上の相異なる箇所に順次投影することを特
徴としている。
【0031】請求項20の発明は請求項8の発明におい
て、前記パターン像を、ステップ&スキャン方式によっ
て、前記基板上の相異なる箇所に順次投影することを特
徴としている。
【0032】請求項21の発明の投影露光装置は、第1
物体のパターンを投影光学系により第2物体に投影する
投影露光装置において、該投影光学系は開口絞りの位置
又はその近傍に配置した第1回折光学素子及び第2回折
光学素子と、非球面レンズとを有していることを特徴と
している。
【0033】請求項22の発明は請求項21の発明にお
いて、前記開口絞りから前記第i回折光学素子までの距
離をdi、前記第1物体から前記第2物体までの距離を
D、前記投影光学系のNAを決定する最大光線高の該開
口絞りでの高さと該第i回折光学素子への入射高を各々
H,hiとしたとき 0.005<di/D<0.12 0.8<hi/H<1.2 (但しi=1,2) なる条件を満足することを特徴としている。
【0034】請求項23の発明の投影露光装置は、第1
物体のパターンを投影光学系により第2物体に投影する
投影露光装置において、該投影光学系は開口絞りの位置
又はその近傍に配置した第1回折光学素子及び第2回折
光学素子を有し、該開口絞りから該第i回折光学素子ま
での距離をdi、該第1物体から該第2物体までの距離
をD、該投影光学系のNAを決定する最大光線高の該開
口絞りでの高さと該第i回折光学素子への入射高を各々
H,hiとしたとき 0.005<di/D<0.12 0.8<hi/H<1.2 (但しi=1,2) なる条件を満足することを特徴としている。
【0035】請求項24の発明は請求項23の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子は前記開口絞りを挟
んで配置されていることを特徴としている。
【0036】請求項25の発明は請求項23の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子は前記開口絞りより
も前記第1物体側に配置されていることを特徴としてい
る。
【0037】請求項26の発明は請求項23の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子は前記開口絞りより
も前記第2物体側に配置されていることを特徴としてい
る。
【0038】請求項27の発明は請求項23の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子はそれらより生ずる
結像に関係しない不要回折光が前記第2物体上に一様な
光強度分布で入射するように設定されていることを特徴
としている。
【0039】請求項28の発明は請求項23の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子は前記投影光学系の
軸上色収差と色コマ収差を補正していることを特徴とし
ている。
【0040】請求項29の発明は請求項24の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子の最大有効径におけ
る回折格子の周波数をfR1,fR2としたときの相対
比が2.5倍を越えないことを特徴としている。
【0041】請求項30の発明の投影露光装置は、第1
物体のパターンを投影光学系により第2物体に投影する
投影露光装置において、該投影光学系は開口絞りを挟ん
で配置した第1回折光学素子及び第2回折光学素子を有
していることを特徴としている。
【0042】請求項31の発明は請求項30の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子はそれらより生ずる
結像に関係しない不要回折光が前記第2物体上に一様な
光強度分布で入射するように設定されていることを特徴
としている。
【0043】請求項32の発明は請求項30の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子は前記投影光学系の
軸上色収差と色コマ収差を補正していることを特徴とし
ている。
【0044】請求項33の発明は請求項30の発明にお
いて、前記第1,第2回折光学素子の最大有効径におけ
る回折格子の周波数をfR1,fR2としたときの相対
比が2.5倍を越えないことを特徴としている。
【0045】請求項34の発明のデバイスの製造方法
は、請求項1〜33のいずれか1項の発明の、投影露光
装置を用いてレチクル面上のパターンを投影光学系によ
りウエハ面上に投影露光した後、該ウエハを現像処理工
程を介してデバイスを製造していることを特徴としてい
る。
【0046】請求項35の発明の光学設計方法は、回折
光学素子と、他の種類の光学素子を含んだ光学系の光学
設計方法において、該光学系による結像面上の所定の範
囲内において該回折光学素子からの結像に寄与する特定
次数の回折光と、結像に寄与しない不要回折光との比が
略一定となるように該回折光学素子の光路中の位置を設
定した後、各光学素子に関する数値データを決定するこ
とを特徴としている。
【0047】請求項36の発明の結像光学系の製造方法
は、回折光学素子と、屈折光学素子及び/又は反射光学
素子とを有するリソグラフィー用の結像光学系の製造方
法において、光学設計を行なう際に、前記回折光学素子
からの設計次数以外の次数の回折光が像平面に及ぼす好
ましくない影響が他の位置と比して小さくなる位置に前
記回折光学素子の位置を設定した後、前記回折光学素子
と前記屈折光学素子及び/又は反射光学素子に関する数
値データを決定することを特徴としている。
【0048】請求項37の発明は請求項36の発明にお
いて、前記好ましくない影響が光量むらであることを特
徴としている。
【0049】請求項38の発明は請求項36の発明にお
いて、前記好ましくない影響が小さくなる位置としての
開口絞りの位置又はその近傍に、前記回折光学素子の位
置を設定することを特徴としている。
【0050】請求項39の発明は請求項36の発明にお
いて、前記回折光学素子を2個以上有することを特徴と
している。
【0051】請求項40の発明は請求項36の発明にお
いて、前記屈折光学素子及び/又は反射光学素子が非球
面を有することを特徴としている。
【0052】請求項41の発明の結像光学系は、請求項
36乃至請求項40のいずれか1項の発明の、結像光学
系の製造方法によって製造されたことを特徴としてい
る。
【0053】請求項42の発明のデバイスの製造方法
は、請求項41の発明の、結像光学系によってデバイス
パターンを基板上に結像して転写する段階を含むことを
特徴としている。
【0054】請求項43の発明の投影露光装置は、請求
項41の発明の、結像光学系を有し、前記投影光学系に
よりそのパターンが投影されるマスクを照明する照明光
学系を有することを特徴としている。
【0055】
【発明の実施の形態】図1は本発明の投影露光装置の実
施形態1の要部概略図である。本実施形態ではサブミク
ロンやクォーターミクロン以下のリソグラフィー用のス
テップアンドリピート方式又はステップアンドスキャン
方式の投影露光装置に適用した場合を示している。以下
の各実施形態も同様である。図中PLは投影光学系であ
る。同図は電子回路パターン等が形成されている第1物
体としてのレチクル又はマスク(以下「マスク」と総称
する)Mを光源と照明光学系より成る照明装置EDから
の露光光で照明し、該第1物体面上のデバイスパターン
を投影光学系PLによって第2物体としてのSi基板よ
り成るウエハWのショット領域上に縮小投影している場
合を示している。光源としてはKrFエキシマレーザ
ー,ArFエキシマレーザー又はF2 レーザー等が用い
られる。
【0056】SPは絞り(開口絞り)であり、投影光学
系PLの瞳面を定める。BOE1,BOE2は各々レン
ズの表面に形成された第1,第2回折光学素子でありバ
イナリオプティクス素子である。2つの回折光学素子B
OE1,BOE2は瞳面SPの近傍に該瞳面SPを挟む
ように対応するレンズに形成している。
【0057】本実施形態ではそれぞれある回折格子構造
を備える第1,第2回折光学素子BOE1,BOE2が
投影光学系PLの瞳面近傍に前後に配置された構成を有
しているので、色収差を含めた各諸収差を良好に補正す
ると同時にそれぞれの回折光学素子より出る不要回折光
より成るフレアー成分による像面(ショット領域)での
悪影響、すなわち露光ムラを避けている。
【0058】図26に回折光学素子BOEから出る不要
回折光を示す。この回折光は、第1物体Mのパターン像
を形成するために使われる特定次数の回折光とは次数が
異なる回折光であり、その一部は基板に入射しないでレ
ンズ鏡筒の内壁にあたって吸収され、その残りの部分が
基板に入射する。
【0059】露光ムラが出ないように、本発明では基板
に入射する不要回折光のショット領域内での光強度分布
が均一になるように設定してある。
【0060】又、第1,第2回折光学素子BOE1,B
OE2の材質は石英より成っている。投影光学系PLは
石英又は蛍石の単一硝材のレンズ又は石英と蛍石の硝材
のレンズより成っている。尚、以下に示す各実施形態で
は回折光学素子とレンズとを合わせてすべての素子を石
英より構成し、硝材系としている。
【0061】本実施形態においては、前述の条件式
(1),(2)や(1)′,(2)′を満足する2つの
回折光学素子を用いる形態の他に、前述の条件を満足す
る1つの回折光学素子や3つ以上の回折光学素子を用い
る形態もとれる。
【0062】本実施形態では照明装置EDからの波長約
248nm、約193nm又は約157nmの露光光で
照明した第1物体M上のデバイスパターンを投影光学系
PLで第2物体W面上に投影露光し、その後、該ウエハ
を現像処理工程を介してデバイスを製造している。
【0063】次に本実施形態に係る回折光学素子BOE
1,BOE2について説明する。
【0064】本実施形態に係る回折光学素子BOE1,
BOE2について説明する。本実施形態の投影光学系P
Lでは第1,第2回折光学素子BOE1,BOE2とし
て位相型の回折光学素子を用いている。位相型の回折光
学素子では理想的にKinoformが作製された場合、回折効
率(回折光学素子に入射した光に対する目的とする方向
に伝わった光の強度比)は100%になることが知られ
ている。
【0065】本実施形態の位相型の回折光学素子では、
回折光学素子に入射した光の位相を位相関数として与え
た分だけ変化させ、目的とする方向への光の偏向を達成
している。ここで、位相関数とは回折光学素子上の位置
の関数として定義している。
【0066】通常、回折光学素子は回転対称であるの
で、位相関数は光軸からの距離rの関数となる。例え
ば、焦点距離fの無収差レンズの位相関数φ(r)は、
【0067】
【数1】 を与えれば良い。但し、λは使用する光の波長である。
【0068】位相関数φ(r)は位相を表しているが、
実際にこの位相変化を回折光学素子で実現する為に光路
長(光路長関数)opl(r)で表している。光路長o
pl(r)は位相関数φ(r)を2πで割ることで求め
られる。ただし、長さの単位は波長λとしている。
【0069】
【数2】 この光路長opl(r)を得る回折光学素子の形状は、
それが空気中にあるとし、波長λでの硝材の屈折率をn
とすると、形状F(r)は
【0070】
【数3】 となる。
【0071】この形状F(r)は、基本的には屈折光学
素子の面形状を表している。回折光学素子では、光の位
相項が周期2πであることを利用している。まず位相関
数φ(r)で値が2πの整数倍となるr=Rm (mは整
数:R0 =0とし、光軸から外側に向かって順次カウン
トする)を算出し、区間[Rm ,Rm+1 ]での値が
[0,2π]の範囲に入るように2πの整数倍を加えた
位相関数を作っている。これは、光路長関数opl
(r)では区間[Rm ,Rm+1 ]で[0,1]の範囲に
入るようにしたことに相当している。
【0072】この値域が[0,1]の光路長関数opl
(r)に対して、(n−1)で割った関数により回折光
学素子の表面形状を与えることで回折光学素子による無
収差レンズを得ている。回折光学素子において、素子の
表面形状(即ち凹凸)により回折効果を得るものは、通
常、表面レリーフ型と呼ばれている。
【0073】位相型の回折光学素子における、位相関数
φ(r)の与え方により任意の非球面効果が得られる。
また、必要な表面形状F(r)の深さは光路長関数op
l(r)の値域を[0,1]にしているので、波長オー
ダーとなっているので、回折光学素子を薄くできる。
又、回折光学素子には回折による光の偏向は波長が長い
と大きくなるために、通常の硝材等の屈折光学素子での
色分散と逆の特性を持っている。
【0074】そこで、複数の硝材を用いずとも屈折光学
素子と回折光学素子の組み合わせによって色収差の補正
を行うことが可能である。従って図1の回折光学素子B
OE1,BOE2においても、これらの特徴を適宜利用
することができる。
【0075】本実施形態はこれらの特徴を、半導体素子
製造用の投影露光装置(ステップアンドリピート方式又
はステップアンドスキャン方式)の投影光学系に適用し
ている。
【0076】現在ステッパーの投影光学系で使用される
露光光の波長の主流はHgのi線(λ=365nm)で
ある。この他KrFエキシマレーザ(λ=248nm)
や次世代のArFエキシマレーザ(λ=193nm)等
の紫外域の光を露光光に用いる例もある。これらの紫外
域の光に対して十分な透過率を持つ硝材にはSiO2
CaF2 のみで、特に、F2 レーザ(λ=157nm)
の光を使用する投影光学系に用いることができる硝材に
はCaF2 だけである。
【0077】このように屈折光学素子に使用できる硝材
の種類が限られているので、これらの紫外域の露光光を
使用する投影光学系を屈折光学素子のみで構成しようと
すると、色収差の補正が難しくなってくる。又、色収差
補正の為に光源の帯域幅には厳しい条件が課されてく
る。また、光学性能確保に必要な収差補正のためにレン
ズ枚数が多くなってきて、レンズ全厚が増大し、光学系
全体の透過率が悪くなってくる。透過率の低下、すなわ
ちレンズによる吸収の増加は露光収差という点から考え
ても好ましくない。
【0078】本実施形態は紫外域の露光光を使用する投
影光学系におけるこのような色収差とレンズ全厚が増大
するという問題を、前述したように、適切なる形状の回
折光学素子を投影光学系中の瞳位置、又はその近傍に設
定して露光むらが生じないようにして解決している。
【0079】本実施形態における回折光学素子は、透明
基板上に理想的な形状(ブレーズド形状やキノフォーム
形状)を直接作製するのではなく、理想形状を階段形状
により近似して作製している。このような階段形状はリ
ソグラフィ工程により作製している。従来はブレーズド
形状やキノフォーム形状を直接作製することは必要な工
作精度等から極めて困難なものであったが、本実施形態
における回折光学素子の作成装置としてステッパーを用
いることで微細な構造を持つ回折光学素子の作製を可能
にしている。
【0080】本実施形態における回折光学素子は理想形
状を階段で近似した形状を有しているため、回折効率が
100%に達せず、僅かであるが、不要回折光が現れて
くる。
【0081】今、階段の段数をN、目的とする偏向方向
に回折される回折光の回折次数(設計次数)を1とした
場合、1以外の回折次数mの回折光の回折効率ηN mは、
【0082】
【数4】 で表すことができる。ただし、回折光学素子のレリーフ
の深さが最適化されているものと仮定している。尚、仮
に上式のmに1を代入してみると、η 1 =1となるの
で、深さが最適化された理想的な場合は回折効率が10
0%であることがわかるが、回折効率と作製の精度から
実用的には、N=8〜16程度に設定する。製作上の視
点で好ましくはN=8程度である。その場合の回折効率
は、η8 1=0.95となる。さらに、η8 mは、m=…,
−15,−7,1,9,17,…でのみ値を持ち、 η8 m=[sin(πm/8)/ (πm/8) ]2 [式5] と書ける。
【0083】例えば、η8 9 =0.0117,η8 17
=0.0033が得られる。すなわち、8段の回折光学
素子ではm=8n+1(nは0以外の整数)で表される
次数に不要回折光が現れてくる。
【0084】又、さらに近似の精度を上げてN=16と
した場合は、m=16n+1(nは0以外の整数)で表
される次数に不要回折光が現れてくることが同様に分か
る。
【0085】このように回折光学素子を使う場合には不
要回折光が存在するが、これらは結像条件を満たさない
ために像面に入射した場合にはフレア成分となって現
れ、露光むらを引き起こして像質を劣化させる。従っ
て、8段の回折光学素子ではm=‥‥−15,−7,9
−17‥‥の次数、16段の回折光学素子ではm=‥‥
−31,−15,17,33‥‥の次数の光が像面上の
所定の範囲内にできる限り入射しないように除去する必
要がある。
【0086】これに対して従来の回折光学素子を用いた
投影光学系では収差補正能力のみに注目して不要回折光
の影響を何ら考慮していなかった。
【0087】そこで本発明の光学設計方法においては、
図27に示すように回折光学素子とレンズとを含んだ光
学系の光学設計方法において該光学系による結像面上の
所定の範囲内において該回折光学素子からの結像に寄与
する特定次数の回折光と、結像に寄与しない不要回折光
との比が略一定となるように該回折光学素子の光路中の
位置を設定する第1ステップと該第1ステップで設定し
た状態において該回折光学素子と各レンズの光学定数
(曲率半径,肉厚等)を設定する第2ステップとを利用
している。
【0088】本実施形態及び後述する実施形態は、この
光学設計方法により求めたものである。
【0089】又本発明のリソグラフィー用の結像光学系
の製造方法においても図27に示すように、回折光学素
子と、屈折光学素子及び/又は反射光学素子とを有し、
光学設計を行なう際に、回折光学素子からの設計次数以
外の次数の回折光が像平面に及ぼす好ましくない影響が
他の位置と比して小さくなる位置に回折光学素子の位置
を設定し、回折光学素子と屈折光学素子及び/又は反射
光学素子の光学定数(曲率、肉厚等)を決定している。
【0090】本実施形態はこのとき屈折光学素子及び/
又は反射光学素子が非球面を有するようにしており、こ
こで好ましくない影響が光量むらで、そして好ましくな
い影響が小さくなる位置としての開口絞りの位置又はそ
の近傍に回折光学素子の位置を設定している。
【0091】又、本実施形態では投影光学系中の開口絞
り近傍に少なくとも2つの回折光学素子を配置し、収差
補正を良好に行いつつ、不要回折光の悪影響を除去して
いる。
【0092】特に前述の条件式(1),(2)を満足す
るように2つの回折光学素子を配置し、これによって露
光むらを少なくし、良好なる光学性能を得ている。
【0093】条件式(1)は、瞳(開口絞り)と第1又
は第2回折光学素子との距離dを幾何学的に制限したも
のであり、又条件式(2)は物点から射出したN.A.
を決める最大光線の第1又は第2回折光学素子面上での
広がりを制限したものである。
【0094】条件式(1),(2)の上限値又は下限値
のいずれか一方を外れると、像面(基板のショット領
域)での露光むらの発生を少なくするのが難しくなって
くる。
【0095】即ち本実施形態では投影光学系中に少なく
とも2枚の回折光学素子を、投影光学系の開口絞りSP
の近傍に設け、開口絞りSPの物体側と像側に各々少な
くとも1枚ずつを配置している。これによって不要回折
光が像面上で一様な光強度を持つ背景光として正規の像
(マスクパターン像)が加えられるようにしている。こ
のとき像のコントラストは僅かに低下するが、これは像
面全体でコントラストがほぼ一様となっているので後の
プロセスにより対処でき、問題はない。
【0096】本実施形態では回折光学素子(バイナリオ
プティクス素子)の特性を表す為には光路長関数opl
(r)を用いている。
【0097】ここでは回折光学素子の光軸からの距離を
rとしたとき opl(r)=(C12 +C24 +C36 )/λp [式6] として、各係数C1 ,C2 ,C3 と波長λp を与えてい
る。ただし、波長λp は製造波長と呼ばれるものであ
り、設計にあたっては実際に光学系で使用される波長と
同じでも異なってもよい。
【0098】尚、本実施形態で用いる露光光は数百ピコ
(300pm)以下のバンド幅を有している。
【0099】また、非球面形状に関しては、
【0100】
【数5】 として、K,c,A,B,C,D,E,Fを与えること
により決定している。ただし、cは曲率半径である。
【0101】図1に示した本発明の実施形態1の投影光
学系の数値例を次に示す。
【0102】 (数値例1) 物体高 0mm, 35mm, 50mm NA = 0.50 λ=193.00nm 面番号: 曲率半径 面間隔 屈折率 (λ=193.00nm) OBJ: INFINITY 148.52 1.0 1: 630.31 15.00 1.560772 2: 220.99 36.235 1.0 (非球面) K : -2.28 A :0.226 E-07 B : 0.715 E-12 C :-0.299 E-16 D :0.634 E-20 E :-0.168 E-23 F : 0 3: 290.81 30.00 1.560772 (非球面) K : -0.0262 A :-0.214 E-08 B : 0.369 E-12 C :-0.933 E-17 D :-0.141 E-20 E :-0.907 E-25 F : 0 4: -572.22 36.339 1.0 5: 466.216 30.00 1.560772 6: -407.87 164.326 1.0 7: 123.981 13.00 1.560772 8: 110.516 15.00 (非球面) K : 0.000000 A :0.167 E-07 B :0.208 E-10 C :0.783 E-14 D :-0.386 E-18 E :0.347 E-22 F :0 9: 1546.52 13.00 1.560772 10: 174.68 21.00 1.0 (非球面) K : -0.972 A :-0.233 E-07 B :-0.612 E-10 C :-0.145 E-13 D :-0.362 E-17 E : 0.265 E-20 F : 0 11: -140.57862 13.000000 1.560772 (非球面) K : 4.804 A :-0.153 E-06 B :-0.903 E-11 C :0.852 E-14 D :-0.744 E-17 E : 0.512 E-20 F :0 12: 125.62 108.47 1.0 13: -660.11 35.00 1.560772 (BOE)設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 3.24 E-03 C2 : -4.34 E-09 C3 : 2.08 E-13 14: -172.68 1.00 1.0 (非球面) K : 0.0130 A :-0.693 E-09 B : 0.377 E-13 C :0.192 E-17 D :-0.615 E-22 E :-0.247 E-25 F :0.955304 E-30 15: 絞り INFINITY 32.000000 (stop) 16: 424.39 37.00 1.560772 (非球面) K : 0.437 A : 0.675 E-09 B : 0.905 E-15 C :-0.521 E-18 D :-0.758 E-22 E :-0.386 E-26 F :-0.153 E-30 17: -729.28 119.71 1.0 (BOE)設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 1.714 E-03 C2 : -1.654 E-09 C3 : -2.586 E-13 18: 109.24 30.00 1.560772 (非球面) K : -0.212307 A : 0.762 E-09 B :-0.470 E-12 C :-0.145600 E-15 D :-0.346 E-20 E :-0.158 E-23 F :0 19: 462.671 39.20 1.0 20: 139.22 30.00 1.560772 21: 128.21 32.28 1.0 (非球面) K : 1.26 A : 0.180 E-06 B :0.746 E-12 C :-0.270 E-13 D :-0.115 E-16 E :0.481 E-20 F : 0 IMG: 像面 INFINITY 0.001225 図2,図3に、数値例1の収差図を示す。
【0103】各収差は、光学系が単一の硝材で構成され
ているにも関わらず、色収差を含めて良好に補正されて
おり、回折光学素子の効果が現れている。
【0104】図4は本実施形態における像面での不要回
折光の強度分布を、不要回折光の強度を設計次数の回折
光の強度で規格化した形で示した説明図である。
【0105】ここでの不要回折光の計算は、物体面にお
いて半径50mmの円形開口があり、この円形開口全面
で輝度分布、配光分布が一様であること、及び2枚の回
折光学素子は8段の階段形状を持つものとしている。図
4から本実施形態では、設計次数回折光に対する不要回
折光の強度比が、約0.1%でありかつ像面全体でほぼ
一様になっており、不要回折光の影響が極めて小さいこ
とがわかる。
【0106】図21は本実施形態における回折光学素子
の有効半径と周波数との関係を示す説明図である。
【0107】図5は本発明の実施形態2の光学系の要部
概略図である。本実施形態の図1の実施形態1との違い
は、開口絞りSPよりも像面側の2つのレンズの表面に
回折光学素子BOE1,BOE2を設けている点だけで
あり、本実施形態2のその他の構成は実施形態1と同じ
である。
【0108】本実施形態における回折光学素子は瞳の近
傍で且つ、共に像面側に配置している。本実施形態であ
る数値例2の収差図を図6,7に示す。各収差は、光学
系が単一の硝材で構成されているにも拘わらず色収差を
含めて良好に補正されている。
【0109】図8は本例における像面での不要回折光の
強度分布を不要回折光の強度を設計次数の回折光の強度
で規格化した形で示した説明図である。ここでの不要回
折光の計算は物体面において半径50mmの円形開口が
あり、円形開口全面で輝度分布、配光分布が一様である
こと、及び2枚の回折光学素子は8段の階段形状を持つ
ものとしている。
【0110】図8から、本実施形態では設計次数回折光
に対する不要回折光の強度比が、約0、11%であり且
つ像面全体ではぼ一様になっており不要回折光の影響が
極めて小さいことがわかる。
【0111】図22は本実施形態における回折光学素子
の有効半径と周波数との関係を示す説明図である。次に
本実施形態2の数値例である数値例2を示す。
【0112】 (数値例2) 仕様;倍率=1 /4 、 NA = 0.50 λ=193.00nm 面番号: 曲率半径 面間隔 屈折率 (λ=193.00nm) OBJ: INFINITY 110.522 1.0 1: 709.86 15.00 1.560772 2: 165.02 80.486 1.0 (非球面) K : -2.83 A : 0.186 E-07 B : 0.806 E-12 C :-0.525 E-16 D : 0.434 E-19 E :-0.156 E-22 F : 0 3: 308.74 40.00 1.560772 (非球面) K :0.102 A :-0.167 E-08 B : 0.788 E-12 C :-0.274 E-16 D :-0.351 E-20 E : 0.354 E-25 F : 0 4: -313.98 17.21 1.0 5: 246.56 25.00 1.560772 6: 946.85 89.50 1.0 7: 87.38 13.00 1.560772 8: 84.94 15.00 1.0 (非球面) K : 0.000000 A :-0.128 E-08 B : 0.182 E-10 C :0.746 E-14 D : 0.288 E-19 E :-0.279 E-22 F :0 9: -4922.29 13.00 1.560772 10: 178.10 21.00 1.0 (非球面) K : -2.34 A :-0.481 E-07 B :-0.638 E-10 C :-0.104 E-13 D :-0.200 E-17 E : 0.231 E-20 F : 0 11: -136.04 13.000000 1.560772 (非球面) K : 4.64 A : -0.142 E-06 B :0.361 E-12 C :0.143 E-13 D : -0.549 E -17 E :0.469 E-20 F :0 12: 141.97 109.83 1.0 13: -603. 93 35.00 1.560772 (非球面) K : 0.154 A :-0.111 E-09 B :-0.399 E-13 C :-0.144 E-17 D : 0.397 E-21 E :-0.247 E-25 F : 0.977 E-25 14: -163.49 1.00 1.0 (非球面) K : 0.026 A :-0.111 E-08 B : 0.203 E-14 C :-0.140 E-17 D : 0.136 E-23 E : 0.424 E-25 F : 0.347 E-29 15: 絞り INFINITY 32.000000 1.0 (stop) 16: 512.45 37.00 1.560772 (非球面) K : 0.478 A : 0.785 E-09 B : 0.260 E-14 C : 0.692 E-18 D : 0.293 E-22 E : 0.178 E-26 F :-0.497 E-30 17: -564.67 21.55 1.0 (BOE) 設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 2.146 E-03 C2 : -4.714 E-10 C3 : -1.840 E-13 18: 1750.00 20.00 1.560772 19: 629.89 142.99 1.0 (BOE) 設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 1.935 E-03 C2 : 1.153 E-09 C3 : 1.174 E-13 20: 108.30 35.00 1.560772 (非球面) K : -0.212 A : -0.762 E-09 B :-0.470 E-12 C :-0.146 E-15 D : -0.346 E-20 E :-0.157 E-23 F : 0 21: 405.11 40.57 1.0 22: 121.43 30.00 1.560772 23: 155.76 30.39 1.0 (非球面) K : -0.167 A : 0.114 E-06 B : -0.283 E-10 C : 0.251 E-13 D : -0.804 E-16 E : 0.414 E-19 F : 0 24: 絞り(IMG ) INFINITY 0.000939 図9は本発明の実施形態3の光学系の要部概略図であ
る。本実施形態3の図1の実施形態1との違いは開口絞
りSPよりも物体側の2つのレンズの面に回折光学素子
BOE1,BOE2を設けている点が異なっているだけ
であり、実施形態3のその他の構成は実施形態1と同じ
である。
【0113】本実施形態である数値例3の収差図を図1
0、11に示す。各収差は、光学系が単一の硝材で構成
されているにも拘わらず、色収差を含めて良好に補正さ
れている。
【0114】図12は本例に於ける像面での不要回折光
の強度分布を不要回折光の強度を設計次数回折光の強度
で規格化した形で示した説明図である。ここでの不要回
折光の計算は物体面において半径50mmの円形開口が
あり、この円形開口全面で輝度分布、配光分布が一様で
あること、及び2枚の回折光学素子は8段の階段形状を
持つものと仮定している。
【0115】図12から、本実施形態では設計次数回折
光に対する不要回折光の強度比が、約0、13%であり
且つ像面全体ではぼ一様になっており、不要回折光の影
響が極めて小さいことがわかる。
【0116】図23は本実施形態における回折光学素子
の有効半径と周波数の関係を示した説明図である。次に
本実施形態の数値例である数値例3を示す。
【0117】 (数値例3) 仕様;倍率=1 /4 、 NA = 0.50 λ=193.00nm 面番号: 曲率半径 面間隔 屈折率 (λ=193.00nm) OBJ: INFINITY 147.377 1.0 1: - 4548.42 15.00 1.560772 2: 148.52 93.24 1.0 (非球面) K : -2.33 A :0.860 E-08 B :-0.138 E-11 C : 0.121 E-15 D :0.228 E-19 E :-0.661 E-23 F : 0 3: 423.51 30.00 1.560772 (非球面) K : -1.266 A :-0.699 E-08 B :-0.112 E-12 C : 0.818 E-17 D :-0.103 E-20 E : 0.276 E-25 F : 0 4: -474.05 0.21 1.0 5: 198.61 30.00 1.560772 6: -808.86 131.96 1.0 7: -208.81 13.00 1.560772 8: 128.08 15.00 1.0 (非球面) K : 0.000000 A :-0.254 E-07 B : 0.251 E-10 C :0.957 E-14 D : 0.459 E-18 E :-0.477 E-21 F : 0 9: 206.71 18.00 1.560772 10: -710.89 21.00 1.0 (非球面) K : 109.58 A :-0.591 E-07 B :-0.569 E-10 C :-0.126 E-13 D :-0.115 E-17 E : 0.189 E-20 F : 0 11: -142.69 13.000000 1.560772 (非球面) K : 4.75 A : -0.109 E-06 B :0.208 E-10 C :0.117 E-13 D : -0.838 E-17 E :0.522 E-20 F : 0 12: 122.15 70.97 1.0 13: infinity 25.00 1.560772 (BOE) 設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 1.997 E-03 C2 : 8.375 E-10 C3 :-1.522 E-13 14: -437.15 9.21 1.0 15: -717.05 40.00 1.560772 (BOE) 設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 3.000 E-03 C2 : -2.263 E-09 C3 : 2.118 E-13 16: -185.12 5.00 1.560772 (非球面) K : -0.0028 A : 0.604 E-09 B : 0.148 E-12 C : 0.905 E-17 D : 0.253 E-21 E :-0.145 E-25 F :-0.781 E-30 17: 絞り INFINITY 10.000000 1.0 (stop) 18: 534.58 37.00 1.560772 (非球面) K : -0.778 A : 0.177 E-09 B :-0.933 E-13 C :-0.568 E-17 D :-0.113 E-21 E :-0.398 E-26 F :-0.716 E-29 19: -589.91 113.05 1.0 (非球面) K : -0.9515 A : 0.889 E-09 B : 0.557 E-13 C : 0.133 E-17 D :-0.306 E-21 E : 0.298 E-25 F : 0 20: 102.95 30.00 1.560772 (非球面) K : -0.236 A : 0.719 E-09 B : -0.318 E-11 C :-0.675 E-15 D : -0.752 E-19 E : -0.309 E-22 F : 0 21: 318.28 32.79 1.0 22: 230.0 20.00 1.560772 23: 350.93 33.58 1.0 (非球面) K : -18.95 A : 0.107 E-06 B : -0.977 E-10 C : 0.337 E-13 D : -0.799 E-16 E : 0.340 E-19 F : 0 24:像面 IMG: INFINITY -0.0024 図13は上記数値例1,2,3の投影光学系と比較する
光学系の要部概略図である。同図では開口絞りSPから
遠く離れた物体側の1つのレンズの面と開口絞りSP近
傍の像面側の1つのレンズ面に回折光学素子BOE1,
BOE2を設けている。
【0118】図13に示す投影光学系の参考(数値)例
の収差図を図14、15に示す。各収差は光学系が単一
の硝材で構成されているにも拘わらず色収差を含めて良
好に補正されている。
【0119】図16は本例に於ける像面での不要回折光
の強度分布を不要回折光の強度を設計次数の回折光の強
度で規格化した形で示した説明図である。ここでの不要
回折光の計算は物体面において半径50mmの円形開口が
ありこの円形開口全面で輝度分布、配光分布が一様であ
ること、及び2枚の回折光学素子は8段の階段形状を持
つものとしている。
【0120】図16から、設計次数回折光に対する不要
回折光の強度比が、画面中心で約3.2%あり像面での
強度比の一様性をみると、中心と周辺の差が約1%弱あ
り、サブミクロン〜クォーターミクロンのリソグラフィ
ー用投影露光装置としては強度比とその一様性は不十分
である。
【0121】図24は図13に示す投影光学系を用いた
ときの回折光学素子の有効半径と周波数の関係を示した
説明図である。次に図13に示す投影光学系の参考例の
数値データを示す。
【0122】 (参考例の数値データ) 仕様;倍率=1/4 、 NA = 0.50 λ=193.00nm 面番号: 曲率半径 面間隔 屈折率 (λ=193.00nm) OBJ: INFINITY 66.934 1.0 1: - 247.81 15.00 1.560772 2: 84.43 81.29 1.0 (非球面) K : -2.15 A : 0.476 E-08 B :-0.522 E-11 C : 0.132 E-14 D :-0.239 E-18 E : 0.277 E-22 F : 0 3: 343.68 35.00 1.560772 (非球面) K :-3.248 A :-0.115 E-07 B : 0.722 E-12 C :-0.178 E-17 D :-0.692 E-20 E : -0.192 E-24 F : 0 4: -223.10 54.65 1.0 (非球面) K : -0.076 A : 0.148 E-08 B : 0.212 E-12 C :-0.449 E-16 D :-0.149 E-20 E : 0.116 E-23 F :-0.228 E-27 5: 232.87 31.60 1.560772 (BOE)設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 :-1.540 E-03 C2 : 4.054 E-09 C3 : 4.625 E-13 6: -1003.71 61.93 1.0 7: 322.97 12.00 1.560772 8: 171.11 14.75 1.0 (非球面) K : 0.000000 A :-0.184 E-07 B :0.159 E-10 C :0.679 E-14 D :-0.233 E-17 E :0.637 E-22 F :0 9: 317.08 12.5.00 1.560772 10: 176.95 20.88 1.0 (非球面) K : -3.802 A :-0.654 E-07 B :-0.655 E-10 C :-0.109 E-13 D :-0.175 E-17 E : 0.158 E-20 F : 0 11: -137.87 10.750000 1.560772 (非球面) K : 4.32 A : -0.129 E-06 B :-0.104 E-10 C :0.151 E-13 D : -0.108 E-16 E : 0.422 E-20 F :0 12: 145.47 109.56 1.0 (非球面) K : -0.0333 A :-0.130 E-08 B : -0.158 E-11 C :-0.375 E-15 D : 0.308 E-19 E : 0.283 E-22 F :-0.104 E-25 13: -572.00 45.00 1.560772 (非球面) K : 0.117 A :-0.854 E-10 B : -0.114 E-13 C : 0.985 E-18 D : 0.106 E-21 E : 0.131 E-26 F :-0.257 E-25 14: -173.10 1.00 1.0 (非球面) K : 0.008 A :-0.127 E-09 B : 0.851 E-14 C : -0.242 E-17 D :-0.961E-22 E :-0.183 E-27 F : -0.680 E-30 15: 絞り INFINITY 32.800000 1.0 (stop) 16 : 718.77 42.19 1.560772 (非球面) K : -0.261 A : 0.453 E-09 B :-0.174 E-13 C : -0.416 E-18 D : -0.103 E-21 E : 0.591 E-26 F : -0.102 E-30 17: -476.54 267.46 1.0 (BOE) 設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 3.164 E-03 C2 : -4.434 E-11 C3 : -1.147 E-13 20: 93.29 30.34 1.560772 (非球面) K : -0.200 A : 0.174 E-09 B : -0.208 E-12 C :-0.121 E-14 D : 0.235 E-18 E : -0.507 E-22 F : 0 21: 163.11 29.87 1.0 22: 677.38 16.00 1.560772 23: 270.97 15.07 1.0 24: 78.47 30.00 1.560772 25: infinity 9.50 1.0 (非球面) K : -0.813 A : 0.428 E-07 B : 0.276 E-11 C : -0.387 E-11 D : 0.108 E-13 E : -0.108 E-16 F : 0 26: 像面(IMG) INFINITY -0.0024 図17は上記数値例1,2,3の投影光学系と比較する
為の光学系の要部概略図である。同図では開口絞りSP
の近傍で物体側の1つのレンズ面と開口絞りSPより遠
く離れた像面側の1つのレンズの面に回折光学素子BO
E1,BOE2を設けている。
【0123】図17に示す投影光学系の参考例の収差図
を図18、19に示す。各収差は光学系が単一の硝材で
構成されているにも拘わらず色収差を含めて良好に補正
されている。
【0124】図20は像面での不要回折光の強度分布
を、不要回折光の強度を設計次数の回折光の強度で規格
化した形で示した説明図である。ここでの不要回折光の
計算は物体面において半径50mmの円形開口があり円形
開口全面で輝度分布、配光分布が一様であること、及び
2枚の回折光学素子は8段の階段形状を持つものとして
いる。
【0125】図20から、設計次数回折光に対する不要
回折光の強度比が画面中心で約3%あり、且つ像面での
強度比の一様性をみると、中心と周辺の差が約1.2%
強あり、サブミクロン〜クォーターミクロンのリソグラ
フィー用の投影露光装置としては強度比とその一様性が
不十分である。
【0126】図25は図17に示す投影光学系を用いた
ときの回折光学素子の有効半径と周波数の関係を示す説
明図である。次に図17に示す投影光学系の参考例の数
値データを示す。
【0127】 (参考例の数値データ) 仕様;倍率=1/4 、 NA = 0.50 λ=193.00nm 面番号: 曲率半径 面間隔 屈折率 (λ=193.00nm) OBJ: INFINITY 148.522 1.0 1: 364.94 15.00 1.560772 2: 144.69 49.105 1.0 (非球面) K : -1.67 A : 0.269 E-07 B :-0.934 E-12 C : -0.422 E-16 D : 0.180 E-19 E :-0.336 E-23 F : 0 3: 310.34 30.00 1.560772 (非球面) K : 0.437 A :0.117 E-08 B : -0.222 E-12 C : -0.118 E-16 D :0.143 E-20 E : -0.256 E-24 F : 0 4: -548.43 58.28 1.0 5: 299.43 30.00 1.560772 6: -721.07 184.57 1.0 7: 140.06 13.00 1.560772 8: 125.44 15.00 1.0 (非球面) K : 0.000000 A :-0.510 E-08 B : 0.208 E-10 C :0.926 E-14 D :-0.113 E-17 E : 0.184 E-21 F : 0 9: -1018.49 13.00 1.560772 10: 231. 49 21.00 1.0 (非球面) K : 0.398 A :-0.254 E-07 B :-0.734 E-10 C :-0.151 E-13 D :-0.259 E-17 E : 0.232 E-20 F : 0 11: -143.54 13.00 1.560772 (非球面) K : 4.85 A : -0.140 E-06 B :-0.180 E-10 C :0.105 E-13 D : -0.817 E-17 E : 0.503 E-20 F : 0 12: 127.31 109.09 1.0 13: -605.58 35.00 1.560772 (BOE)設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 4.471 E-03 C2 : -2.739 E-09 C3 : 1.234 E-13 14: -166.85 1.00 1.0 (非球面) K : -0.0002 A :-0.658 E-09 B : 0.235 E-12 C : 0.704 E-17 D : 0.186 E-22 E : -0.147 E-26 F :-0.555 E-31 15: 絞り INFINITY 32.00 1.0 (stop) 16 : 322.05 37.00 1.560772 (非球面) K : 0.6368 A : 0.112 E-08 B :-0.551 E-13 C : 0.271 E-17 D : 0.104 E-21 E :-0.287 E-25 F : -0.102 E-30 17: -1103.52 126.01 1.0 (非球面) K : -0.533 A : 0.618 E-10 B : -0.200 E-14 C : 0.234 E-18 D : 0.569 E-22 E : 0.664 E-26 F : -0.834 E-31 18: 114.88 30.00 1.560772 (非球面) K : -0.271 A : -0.824 E-08 B : -0.830 E-13 C :-0.75 E-17 D : -0.889 E-20 E : -0.200 E-22 F : 0 19: 514.74 36.12 1.0 (非球面) K : 9.51 A : 0.122 E-07 B : 0.268 E-11 C : 0.903 E-16 D : -0.130 E-18 E :-0.241 E-22 F : 0 20: 687.47 18.00 1.560772 21: -555.18 16.74 1.0 (BOE)設計次数 -1 λp = 632.80nm C1 : 1.542 E-03 C2 : 1.224 E-08 C3 : -9.748 E-12 22: -287.19 20.00 1.560772 23: -1580.54 18.88 1.0 (非球面) K : -120.54 A : 0.155 E-06 B :-0.454 E-09 C : 0.480 E-12 D : -0.672 E-15 E : 0.400 E-18 F : 0 24:像面(IMG) INFINITY -0.0024 次に前述した本発明に係る条件式(1),(2)や、
(1)′,(2)′と前述した数値例1〜3との関係を
表に示す。
【0128】
【表1】 尚、以上の各実施形態では半導体素子製造用の投影露光
装置について説明したが、本発明に係る投影光学系は回
折光学素子からの不要回折光が像面に達し、露光むらが
生じるなど悪影響を与えるのを防止しなければならない
光学機器においても同様に適用可能である。
【0129】次に以上説明した投影露光装置を利用した
デバイスの製造方法の実施形態を説明する。
【0130】図28は半導体デバイス(ICやLSI等
の半導体チップ、或は液晶パネルやCCD等)の製造の
フローチャートである。
【0131】本実施例においてステップ1(回路設計)
では半導体デバイスの回路設計を行なう。ステップ2
(マスク製作)では設計した回路パターンを形成したマ
スクを製作する。
【0132】一方、ステップ3(ウエハ製造)ではシリ
コン等の材料を用いてウエハを製造する。ステップ4
(ウエハプロセス)は前工程と呼ばれ、前記用意したマ
スクとウエハを用いてリソグラフィ技術によってウエハ
上に実際の回路を形成する。
【0133】次のステップ5(組立)は後工程と呼ば
れ、ステップ4によって作製されたウエハを用いて半導
体チップ化する工程であり、アッセンブリ工程(ダイシ
ング、ボンディング)、パッケージング工程(チップ封
入)等の工程を含む。
【0134】ステップ6(検査)ではステップ5で作製
された半導体デバイスの動作確認テスト、耐久性テスト
等の検査を行なう。こうした工程を経て半導体デバイス
が完成し、これが出荷(ステップ7)される。
【0135】図29は上記ステップ4のウエハプロセス
の詳細なフローチャートである。まずステップ11(酸
化)ではウエハの表面を酸化させる。ステップ12(C
VD)ではウエハ表面に絶縁膜を形成する。
【0136】ステップ13(電極形成)ではウエハ上に
電極を蒸着によって形成する。ステップ14(イオン打
込み)ではウエハにイオンを打ち込む。ステップ15
(レジスト処理)ではウエハに感光剤を塗布する。ステ
ップ16(露光)では前記説明した露光装置によってマ
スクの回路パターンをウエハに焼付露光する。
【0137】ステップ17(現像)では露光したウエハ
を現像する。ステップ18(エッチング)では現像した
レジスト以外の部分を削り取る。ステップ19(レジス
ト剥離)ではエッチングがすんで不要となったレジスト
を取り除く。これらのステップを繰り返し行なうことに
よってウエハ上に多重に回路パターンが形成される。本
実施例の製造方法を用いれば高集積度の半導体デバイス
を容易に製造することができる。
【0138】
【発明の効果】本発明によれば以上のように、回折光学
素子から生ずる不要回折光に悪影響を極力少なくし、高
い光学性能を容易に得られる投影露光装置及びデバイス
の製造方法を達成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1の投影光学系の要部断面図
【図2】本発明の実施形態1の投影光学系の球面収差、
非点収差、歪曲収差を示す説明図
【図3】本発明の実施形態1の投影光学系の横収差を示
す説明図
【図4】本発明の実施形態1の投影光学系による不要回
折光の像面強度分布を示す説明図
【図5】本発明の実施形態2の投影光学系の要部断面図
【図6】本発明の実施形態2の投影光学系の球面収差、
非点収差、歪曲収差を示す説明図
【図7】本発明の実施形態2の投影光学系の横収差を示
す説明図
【図8】本発明の実施形態2の投影光学系による不要回
折光の像面強度分布を示す説明図
【図9】本発明の実施形態3の投影光学系の要部断面図
【図10】本発明の実施形態3の投影光学系の球面収
差、非点収差、歪曲収差を示す説明図
【図11】本発明の実施形態3の投影光学系の横収差を
示す説明図
【図12】本発明の実施形態3の投影光学系による不要
回折光の像面強度分布を示す説明図
【図13】本発明と比較する為の投影光学系の要部断面
【図14】本発明と比較する為の投影光学系の諸収差図
【図15】本発明と比較する為の投影光学系の横収差図
【図16】本発明と比較する為の投影光学系の不要回折
光の像面強度分布を示す説明図
【図17】本発明と比較する為の投影光学系の要部断面
【図18】本発明と比較する為の投影光学系の諸収差図
【図19】本発明と比較する為の投影光学系の横収差図
【図20】本発明と比較する為の投影光学系の不要回折
光の像面強度分布を示す説明図
【図21】本発明の実施形態1の回折光学素子の有効半
径と周波数の関係を示す説明図
【図22】本発明の実施形態2の回折光学素子の有効半
径と周波数の関係を示す説明図
【図23】本発明の実施形態3の回折光学素子の有効半
径と周波数の関係を示す説明図
【図24】本発明と比較する為の投影光学系による回折
光学素子の有効半径と周波数の関係を示す説明図
【図25】本発明と比較する為の投影光学系による回折
光学素子の有効半径と周波数の関係を示す説明図
【図26】不要回折光を示す模式図
【図27】本発明の光学設計法と光学製造方法の一例を
示すフローチャート
【図28】本発明のデバイスの製造方法のフローチャー
【図29】本発明のデバイスの製造方法のフローチャー
【符号の説明】
PL 投影光学系 BOE1 第1回折光学素子 BOE2 第2回折光学素子 SP 開口絞り M 第1物体(レチクル) W 第2物体(ウエハ) ED 照明装置

Claims (43)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源からの光でマスクを照明する照明光
    学系と、前記照明されたマスクのパターンの像を基板上
    に投影する回折光学素子を備える投影光学系とを有す
    る投影露光装置において、前記回折光学素子から、前記
    像の投影に用いる所定の次数の回折光と、該回折光とは
    次数が異なっていて且つ前記基板に入射してそこに均一
    な光強度分布を形成する他の回折光とが生じていること
    を特徴とする投影露光装置。
  2. 【請求項2】 前記回折光学素子は、前記投影光学系の
    開口絞りの位置または該開口絞りの近くの位置にあるこ
    とを特徴とする請求項1の投影露光装置。
  3. 【請求項3】 前記回折光学素子は、そこから、更に、
    前記所定の次数の回折光とは次数が異なっていて、且つ
    前記基板に入射しないで、前記回折光学素子と他の複数
    の光学素子とを保持するレンズ鏡筒の内壁に入射させる
    回折光が生じていることを特徴とする請求項2の投影露
    光装置。
  4. 【請求項4】 前記回折光学素子が、複数個、前記投影
    光学系の開口絞りの位置または該開口絞りの近くにある
    ことを特徴とする請求項2の投影露光装置。
  5. 【請求項5】 光源からの光でマスクを照明する照明光
    学系と、前記照明されたマスクのパターンの像を基板上
    に投影する回折光学素子を備える投影光学系とを有す
    る投影露光装置において、前記回折光学素子から、前記
    像の投影に用いる所定の次数の回折光と、該回折光とは
    次数が異なる他の回折光とが生じており、前記他の回折
    光の一部分が前記基板に入射せず、且つ前記他の回折光
    の残りの部分が前記基板に入射してそこに均一な光強度
    分布を形成していることを特徴とする投影露光装置。
  6. 【請求項6】 前記回折光学素子は、前記投影光学系の
    開口絞りの位置または該開口絞りの近くの位置にあるこ
    とを特徴とする請求項5の投影露光装置。
  7. 【請求項7】 前記基板に入射しない前記一部分の回折
    光を、前記回折光学素子と他の複数の光学素子とを保持
    するレンズ鏡筒の内壁に入射させることにより、その強
    度を減らしていることを特徴とする請求項5の投影露光
    装置。
  8. 【請求項8】 前記回折光学素子が、2個、前記投影光
    学系の開口絞りの位置または該開口絞りの近くにあるこ
    とを特徴とする請求項5の投影露光装置。
  9. 【請求項9】 前記マスクと前記基板間の距離をD、前
    記開口絞りの位置から前記回折光学素子のある位置まで
    の距離をd、前記投影光学系の開口数(NA)を決める
    最大光線の前記開口絞りの位置での高さと前記回折光学
    素子への入射高さとを各々H,hとするとき 0.005<d/D<0.12 0.8<h/H<1.2 を満足することを特徴とする請求項6の投影露光装置。
  10. 【請求項10】 前記マスクと前記基板間の距離をD、
    前記開口絞りの位置から前記回折光学素子のある位置ま
    での距離をd、前記投影光学系の開口数(NA)を決め
    る最大光線の前記開口絞りの位置での高さと前記回折光
    学素子への入射高さとを各々H,hとするとき、前記2
    個の回折光学素子の双方に対して、 0.005<d/D<0.12 0.8<h/H<1.2 を満足することを特徴とする請求項8の投影露光装置。
  11. 【請求項11】 前記投影光学系は、非球面レンズを有
    していることを特徴とする請求項6の投影露光装置。
  12. 【請求項12】 前記投影光学系は、非球面レンズを有
    していることを特徴とする請求項8の投影露光装置。
  13. 【請求項13】 前記複数の回折光学素子は、前記投影
    光学系の軸上色収差補正と色のコマ収差補正に寄与して
    いることを特徴とする請求項8の投影露光装置。
  14. 【請求項14】 前記2個の回折光学素子のそれぞれの
    最大有効径の位置における回折光学素子の周波数の比が
    2.5を越えないことを特徴とする請求項8の投影露光
    装置。
  15. 【請求項15】 前記光源は、KrFエキシマレーザー
    またはArFエキシマレーザーまたはF2 レーザーを備
    えることを特徴とする請求項6の投影露光装置。
  16. 【請求項16】 前記投影光学系において使用される硝
    材は石英のみであることを特徴とする請求項8の投影露
    光装置。
  17. 【請求項17】 前記投影光学系において使用される硝
    材は石英と蛍石のみであることを特徴とする請求項8の
    投影露光装置。
  18. 【請求項18】 前記パターン像は、線幅0.25ミク
    ロンメートル以下のパターンを含むことを特徴とする請
    求項8の投影露光装置。
  19. 【請求項19】 前記パターン像を、ステップ&リピー
    ト方式によって、前記基板上の相異なる箇所に順次投影
    することを特徴とする請求項8の投影露光装置。
  20. 【請求項20】 前記パターン像を、ステップ&スキャ
    ン方式によって、前記基板上の相異なる箇所に順次投影
    することを特徴とする請求項8の投影露光装置。
  21. 【請求項21】 第1物体のパターンを投影光学系によ
    第2物体に投影する投影露光装置において、該投影光
    学系は開口絞りの位置又はその近傍に配置した第1回折
    光学素子及び第2回折光学素子と、非球面レンズとを有
    していることを特徴とする投影露光装置。
  22. 【請求項22】 前記開口絞りから前記第i回折光学素
    子までの距離をdi、前記第1物体から前記第2物体ま
    での距離をD、前記投影光学系のNAを決定する最大光
    線高の該開口絞りでの高さと該第i回折光学素子への入
    射高を各々H,hiとしたとき 0.005<di/D<0.12 0.8<hi/H<1.2 (但しi=1,2) なる条件を満足することを特徴とする請求項21の投影
    露光装置。
  23. 【請求項23】 第1物体のパターンを投影光学系によ
    第2物体に投影する投影露光装置において、該投影光
    学系は開口絞りの位置又はその近傍に配置した第1回折
    光学素子及び第2回折光学素子を有し、該開口絞りから
    該第i回折光学素子までの距離をdi、該第1物体から
    該第2物体までの距離をD、該投影光学系のNAを決定
    する最大光線高の該開口絞りでの高さと該第i回折光学
    素子への入射高を各々H,hiとしたとき 0.005<di/D<0.12 0.8<hi/H<1.2 (但しi=1,2) なる条件を満足することを特徴とする投影露光装置。
  24. 【請求項24】 前記第1,第2回折光学素子は前記開
    口絞りを挟んで配置されていることを特徴とする請求項
    23の投影露光装置。
  25. 【請求項25】 前記第1,第2回折光学素子は前記開
    口絞りよりも前記第1物体側に配置されていることを特
    徴とする請求項23の投影露光装置。
  26. 【請求項26】 前記第1,第2回折光学素子は前記開
    口絞りよりも前記第2物体側に配置されていることを特
    徴とする請求項23の投影露光装置。
  27. 【請求項27】 前記第1,第2回折光学素子はそれら
    より生ずる結像に関係しない不要回折光が前記第2物体
    上に一様な光強度分布で入射するように設定されている
    ことを特徴とする請求項23の投影露光装置。
  28. 【請求項28】 前記第1,第2回折光学素子は前記投
    影光学系の軸上色収差と色コマ収差を補正していること
    を特徴とする請求項23の投影露光装置。
  29. 【請求項29】 前記第1,第2回折光学素子の最大有
    効径における回折格子の周波数をfR1,fR2とした
    ときの相対比が2.5倍を越えないことを特徴とする請
    求項24の投影露光装置。
  30. 【請求項30】 第1物体のパターンを投影光学系によ
    第2物体に投影する投影露光装置において、該投影光
    学系は開口絞りを挟んで配置した第1回折光学素子及び
    第2回折光学素子を有していることを特徴とする投影露
    光装置。
  31. 【請求項31】 前記第1,第2回折光学素子はそれら
    より生ずる結像に関係しない不要回折光が前記第2物体
    上に一様な光強度分布で入射するように設定されている
    ことを特徴とする請求項30の投影露光装置。
  32. 【請求項32】 前記第1,第2回折光学素子は前記投
    影光学系の軸上色収差と色コマ収差を補正していること
    を特徴とする請求項30の投影露光装置。
  33. 【請求項33】 前記第1,第2回折光学素子の最大有
    効径における回折格子の周波数をfR1,fR2とした
    ときの相対比が2.5倍を越えないことを特徴とする請
    求項30の投影露光装置。
  34. 【請求項34】 請求項1〜33のいずれか1項記載の
    投影露光装置を用いてレチクル面上のパターンを投影光
    学系によりウエハ面上に投影露光した後、該ウエハを現
    像処理工程を介してデバイスを製造していることを特徴
    とするデバイスの製造方法。
  35. 【請求項35】 回折光学素子と、他の種類の光学素子
    を含んだ光学系の光学設計方法において、該光学系によ
    る結像面上の所定の範囲内において該回折光学素子から
    の結像に寄与する特定次数の回折光と、結像に寄与しな
    い不要回折光との比が略一定となるように該回折光学素
    子の光路中の位置を設定した後、各光学素子に関する数
    値データを決定することを特徴とする光学設計方法。
  36. 【請求項36】 回折光学素子と、屈折光学素子及び/
    又は反射光学素子とを有するリソグラフィー用の結像光
    学系の製造方法において、光学設計を行なう際に、前記
    回折光学素子からの設計次数以外の次数の回折光が像平
    面に及ぼす好ましくない影響が他の位置と比して小さく
    なる位置に前記回折光学素子の位置を設定した後、前記
    回折光学素子と前記屈折光学素子及び/又は反射光学素
    に関する数値データを決定することを特徴とする結像
    光学系の製造方法。
  37. 【請求項37】 前記好ましくない影響が光量むらであ
    ることを特徴とする請求項36の結像光学系の製造方
    法。
  38. 【請求項38】 前記好ましくない影響が小さくなる位
    置としての開口絞りの位置又はその近傍に、前記回折光
    学素子の位置を設定することを特徴とする請求項36の
    結像光学系の製造方法。
  39. 【請求項39】 前記回折光学素子を2個以上有するこ
    とを特徴とする請求項36の結像光学系の製造方法。
  40. 【請求項40】 前記屈折光学素子及び/又は反射光学
    素子が非球面を有することを特徴とする請求項36の結
    像光学系の製造方法。
  41. 【請求項41】 請求項36乃至請求項40のいずれか
    1項記載の結像光学系の製造方法によって製造されたこ
    とを特徴とする結像光学系。
  42. 【請求項42】 請求項41の結像光学系によってデバ
    イスパターンを基板上に結像して転写する段階を含むこ
    とを特徴とするデバイスの製造方法。
  43. 【請求項43】 投影光学系として請求項41の結像光
    学系を有し、前記投影光学系によりそのパターンが投影
    されるマスクを照明する照明光学系を有することを特徴
    とする投影露光装置。
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