JPH0474903A - 自動測定装置 - Google Patents
自動測定装置Info
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- JPH0474903A JPH0474903A JP18779490A JP18779490A JPH0474903A JP H0474903 A JPH0474903 A JP H0474903A JP 18779490 A JP18779490 A JP 18779490A JP 18779490 A JP18779490 A JP 18779490A JP H0474903 A JPH0474903 A JP H0474903A
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Landscapes
- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、被測定物に形成された孔径等の寸法を測定す
る自動測定装置に関する。
る自動測定装置に関する。
被測定物の寸法を測定する装置として、ノギス、マイク
ロメータを始め、内径測定器、ノ1イトゲージ等、種々
の測定装置が用いられている。これらのノギス等は、そ
の使用箇所、使用目的等が限定されており、汎用性のあ
る測定装置とはいえない。
ロメータを始め、内径測定器、ノ1イトゲージ等、種々
の測定装置が用いられている。これらのノギス等は、そ
の使用箇所、使用目的等が限定されており、汎用性のあ
る測定装置とはいえない。
このため、被測定物に接触式のプローブを三次元的に関
与させ、汎ゆる測定箇所を一台の装置で測定でき、かつ
、測定データも総合的に収集できる装置として三次元測
定機が知られている。
与させ、汎ゆる測定箇所を一台の装置で測定でき、かつ
、測定データも総合的に収集できる装置として三次元測
定機が知られている。
このような三次元測定機として、各種のものが開発され
ているが、操作方式で分類すると、手動式、モータドラ
イブ式、CNC(コンピュータ数値制御)式等に分ける
ことができる。
ているが、操作方式で分類すると、手動式、モータドラ
イブ式、CNC(コンピュータ数値制御)式等に分ける
ことができる。
ところで、従来の三次元測定機は、高精度を維持する目
的で、被測定物の製造ラインとは別個に設けられた恒温
、恒湿の特別な測定室に設置されることが一般的である
。このため、測定にあたっては、被測定物を製造ライン
から抜き出して測定室内に搬入し、ここで測定を行なっ
ている。
的で、被測定物の製造ラインとは別個に設けられた恒温
、恒湿の特別な測定室に設置されることが一般的である
。このため、測定にあたっては、被測定物を製造ライン
から抜き出して測定室内に搬入し、ここで測定を行なっ
ている。
しかしながら、製造の高能率化が要求される現在、三次
元測定機を製造ラインに組み込んで測定する、所謂イン
ライン測定が必要とされる。このインライン測定では、
製造ラインの速度を低下させないため、迅速な測定が要
求され、かつ、自動化も要求される。
元測定機を製造ラインに組み込んで測定する、所謂イン
ライン測定が必要とされる。このインライン測定では、
製造ラインの速度を低下させないため、迅速な測定が要
求され、かつ、自動化も要求される。
しかし、現状の三次元測定機では、例えば孔径を測定す
る場合、孔の内面の3箇所にプローブの先端を当接させ
、演算によりその内径を求めている。この3点接触によ
る測定では、内径寸法の他に、孔中心位置の測定等も行
える反面、1回での測定ではないため、極めて効率が悪
いという問題点がある。また、測定の原点からの極めて
長い寸法(孔径に比べて)から演算して孔径を求めてい
るため、寸法精度の低下を免れないという問題もある。
る場合、孔の内面の3箇所にプローブの先端を当接させ
、演算によりその内径を求めている。この3点接触によ
る測定では、内径寸法の他に、孔中心位置の測定等も行
える反面、1回での測定ではないため、極めて効率が悪
いという問題点がある。また、測定の原点からの極めて
長い寸法(孔径に比べて)から演算して孔径を求めてい
るため、寸法精度の低下を免れないという問題もある。
本発明の目的は、孔の内径の測定が迅速にできてインラ
イン測定への適用も可能な自動測定装置を提供するにあ
る。
イン測定への適用も可能な自動測定装置を提供するにあ
る。
本発明は、本発明者等の調査によると、多数の孔を形成
された被測定物においては、大多数の孔、例えば、7〜
8割の孔が、その直径寸法の値のみを必要とし、番孔の
中心位置、あるいは各孔間の寸法等を必要としないこと
が判明したことに着目してなされたものである。
された被測定物においては、大多数の孔、例えば、7〜
8割の孔が、その直径寸法の値のみを必要とし、番孔の
中心位置、あるいは各孔間の寸法等を必要としないこと
が判明したことに着目してなされたものである。
すなわち、本発明においては、従来の三次元測定機にお
けると同様の接触式プローブを三次元移動手段の一部、
例えば、Zスライダに着脱可能に設ける一方、孔の内径
を1回で測定可能な内径測定ゲージヘッドを同じく三次
元移動手段に着脱可能に設け、内径寸法の測定のみを必
要とする孔に対しては、この内径測定ゲージヘッドを用
いて測定するようにして、前記目的を達成しようとする
ものである。
けると同様の接触式プローブを三次元移動手段の一部、
例えば、Zスライダに着脱可能に設ける一方、孔の内径
を1回で測定可能な内径測定ゲージヘッドを同じく三次
元移動手段に着脱可能に設け、内径寸法の測定のみを必
要とする孔に対しては、この内径測定ゲージヘッドを用
いて測定するようにして、前記目的を達成しようとする
ものである。
具体的には、本発明は、テーブル上に設置、される被測
定物への接触により被測定物の形状等を検出するための
接触式プローブと、前記被測定物に形成された孔内に挿
入可能にされるとともに、孔の半径方向に変位可能な少
なくとも1つの接触子を有する内径測定ゲージヘッドと
、これらの接触式プローブ及び内径測定ゲージヘッドの
それぞれ少なくとも1つを支持可能なストッカと、前記
被測定物並びにストッカ内の接触式プローブ及び内径測
定用ゲージヘッドに対して、水平面内の直交二方向及び
鉛直方向の一方向に相対的に移動可能にされる結果、三
次元方向に移動可能にされ、かつ、接触式プローブ及び
内径測定用ゲージヘッドを着脱可能にされた三次元移動
手段と、この三次元移動手段の各方向の駆動手段と、を
具備したことを特徴とする自動測定装置である。
定物への接触により被測定物の形状等を検出するための
接触式プローブと、前記被測定物に形成された孔内に挿
入可能にされるとともに、孔の半径方向に変位可能な少
なくとも1つの接触子を有する内径測定ゲージヘッドと
、これらの接触式プローブ及び内径測定ゲージヘッドの
それぞれ少なくとも1つを支持可能なストッカと、前記
被測定物並びにストッカ内の接触式プローブ及び内径測
定用ゲージヘッドに対して、水平面内の直交二方向及び
鉛直方向の一方向に相対的に移動可能にされる結果、三
次元方向に移動可能にされ、かつ、接触式プローブ及び
内径測定用ゲージヘッドを着脱可能にされた三次元移動
手段と、この三次元移動手段の各方向の駆動手段と、を
具備したことを特徴とする自動測定装置である。
本発明において、内径測定ゲージヘッドは、接触子を設
けられたゲージボデーを有するとともに、このゲージボ
デーに対し孔の半径方向に揺動可能、すなわち、フロー
ティング状態で連結され、かつ、ゲージボデーに対し所
定位置、例えば中心位置に復帰させる付勢手段を介して
連結されるシャンクを有していることが好ましい。
けられたゲージボデーを有するとともに、このゲージボ
デーに対し孔の半径方向に揺動可能、すなわち、フロー
ティング状態で連結され、かつ、ゲージボデーに対し所
定位置、例えば中心位置に復帰させる付勢手段を介して
連結されるシャンクを有していることが好ましい。
また、本発明において、被測定物が設置されるテーブル
を三次元移動手段に対して水平面内の一方向に移動可能
に設けるとともに、このテーブルに、水平方向の軸線を
中心として揺動可能な揺動テーブル、及び/または、鉛
直方向の軸線を中心として旋回可能な旋回テーブルを付
設してもよい。
を三次元移動手段に対して水平面内の一方向に移動可能
に設けるとともに、このテーブルに、水平方向の軸線を
中心として揺動可能な揺動テーブル、及び/または、鉛
直方向の軸線を中心として旋回可能な旋回テーブルを付
設してもよい。
本発明において、被測定物に形成された孔の内径のみを
測定すれば足りる場合は、三次元移動手段をストッカに
対して三次元的に相対的に移動させ、三次元移動手段に
測定しようとする孔径に対応したサイズの内径測定ゲー
ジヘッドを装着する。
測定すれば足りる場合は、三次元移動手段をストッカに
対して三次元的に相対的に移動させ、三次元移動手段に
測定しようとする孔径に対応したサイズの内径測定ゲー
ジヘッドを装着する。
次いで、三次元移動手段を被測定物に対して三次元的に
移動させて取付けたゲージヘッドを被測定物の所定の孔
内に挿入し、予め零設定されているゲージヘッドに対す
る接触子の移動量を検出して当該孔の内径測定を完了す
る。この際、同一のゲージヘッドで測定可能な孔は、順
次孔径を測定していく。また、異なる孔径の測定に対し
ては、内径測定ゲージヘッドを交換して測定する。
移動させて取付けたゲージヘッドを被測定物の所定の孔
内に挿入し、予め零設定されているゲージヘッドに対す
る接触子の移動量を検出して当該孔の内径測定を完了す
る。この際、同一のゲージヘッドで測定可能な孔は、順
次孔径を測定していく。また、異なる孔径の測定に対し
ては、内径測定ゲージヘッドを交換して測定する。
次に、被測定物の孔の内径以外の寸法、例えば孔の中心
位置、2以上の孔間の寸法、外面形状の寸法等を測定す
る場合は、前述と同様にして三次元移動手段とストッカ
とを相対移動させ、三次元移動手段に取付けられている
内径測定ゲージヘッドを元の位置に戻す。
位置、2以上の孔間の寸法、外面形状の寸法等を測定す
る場合は、前述と同様にして三次元移動手段とストッカ
とを相対移動させ、三次元移動手段に取付けられている
内径測定ゲージヘッドを元の位置に戻す。
次いて、再度、三次元移動手段とストッカとを相対移動
させて三次元移動手段に接触式プローブを取付ける。こ
のプローブによる測定は、三次元移動手段と被測定物と
を相対移動させて一般の三次元測定機と同様にして行な
う。
させて三次元移動手段に接触式プローブを取付ける。こ
のプローブによる測定は、三次元移動手段と被測定物と
を相対移動させて一般の三次元測定機と同様にして行な
う。
以下、所定の内径測定ゲージヘッドと接触式プローブと
を用いて被測定物の所定箇所の寸法を全て測定して測定
を完了する。
を用いて被測定物の所定箇所の寸法を全て測定して測定
を完了する。
測定にあたり、テーブルに揺動テーブル及び/または旋
回テーブルが設けられている場合は、これらのテーブル
を適宜駆動して被測定物の異なる面の測定を前述と同様
な手順で行なう。
回テーブルが設けられている場合は、これらのテーブル
を適宜駆動して被測定物の異なる面の測定を前述と同様
な手順で行なう。
以下、本発明の一実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は、本実施例に係る自動測定装置1の一部を切欠
いた全体構成が示されている。
いた全体構成が示されている。
自動測定装置1は、ベースフレーム11を備え、このベ
ースフレーム11の左右両側には、門形のコラム12が
それぞれ立設されている。
ースフレーム11の左右両側には、門形のコラム12が
それぞれ立設されている。
左右のコラム12の上部間には、所定間隔を離して2本
の第1、第2の横桁13A、13Bが載置固定されてい
る。これらの横桁13A、13Bは、水平方向の一方向
であるX方向に沿って延長されている。
の第1、第2の横桁13A、13Bが載置固定されてい
る。これらの横桁13A、13Bは、水平方向の一方向
であるX方向に沿って延長されている。
2本の横桁13A、13B上には、同一構造の第1、第
2のXスライダ14A、14BがそれぞれX方向に移動
自在に支持されている。これらのXスライダ14A、1
4Bは、各横桁13A、13Bの一端に設けられた第1
、第2のXモータ22A、22B及び各横桁13A、1
3Bに沿って掛は渡された第1、第2のX方向送りねじ
軸23A、23Bにより、X方向に進退駆動されるよう
になっている。
2のXスライダ14A、14BがそれぞれX方向に移動
自在に支持されている。これらのXスライダ14A、1
4Bは、各横桁13A、13Bの一端に設けられた第1
、第2のXモータ22A、22B及び各横桁13A、1
3Bに沿って掛は渡された第1、第2のX方向送りねじ
軸23A、23Bにより、X方向に進退駆動されるよう
になっている。
ここにおいて、第1のXモータ22A及び第1のX方向
送りねじ軸23Aにより第1のX方向駆動手段21Aが
、第2のXモータ22B及び第2のX方向送りねじ軸2
3Bにより第2のX方向駆動手段21Bがそれぞれ構成
されている。
送りねじ軸23Aにより第1のX方向駆動手段21Aが
、第2のXモータ22B及び第2のX方向送りねじ軸2
3Bにより第2のX方向駆動手段21Bがそれぞれ構成
されている。
なお、第1、第2のX方向送りねじ軸23A。
23Bは、図示の都合上、横桁13A、13Bの前面に
露出して設けられているが、実際は、横桁13A、13
Bの後面側のボックス内等に収納されている。
露出して設けられているが、実際は、横桁13A、13
Bの後面側のボックス内等に収納されている。
第11第2のXスライダ14A、14BのX方向の変位
量は、各横桁13A、13BとXスライダ14A、14
Bとの間にそれぞれ設けられた第1、第2のX方向変位
量検出手段31A、31Bにより検出され、その検出信
号は、図示しないコンピュータ等から構成される装置 るようになっている。
量は、各横桁13A、13BとXスライダ14A、14
Bとの間にそれぞれ設けられた第1、第2のX方向変位
量検出手段31A、31Bにより検出され、その検出信
号は、図示しないコンピュータ等から構成される装置 るようになっている。
各X方向変位検出手段31A,31Bは、一般の三次元
測定機と同様に、ガラススケール、磁気スケール、静電
容量スケール等と、それらのスケールに対応した検出器
等とから構成されている。
測定機と同様に、ガラススケール、磁気スケール、静電
容量スケール等と、それらのスケールに対応した検出器
等とから構成されている。
各Xスライダ14A.14Bには、軸状の第1、第2の
Zスライダ15A,15Bが鉛直方向であるZ方向に移
動自在に支持されている。各Zスライダ15A,15B
は、各Xスライダ14A,14Bに設けられた第1、第
2のZ方向駆動手段24A,24Bにより、それぞれZ
方向に進退駆動されるようになっている。各Z方向駆動
手段24A,24Bは、各Xスライダ14A.14B上
に突設された第1、第2のZモータ25A,25Bと、
図示しないZ方向送りねじ軸等とにより構成されている
。
Zスライダ15A,15Bが鉛直方向であるZ方向に移
動自在に支持されている。各Zスライダ15A,15B
は、各Xスライダ14A,14Bに設けられた第1、第
2のZ方向駆動手段24A,24Bにより、それぞれZ
方向に進退駆動されるようになっている。各Z方向駆動
手段24A,24Bは、各Xスライダ14A.14B上
に突設された第1、第2のZモータ25A,25Bと、
図示しないZ方向送りねじ軸等とにより構成されている
。
各Zスライダ15A,15BのZ方向の変位量は、各X
スライダ14A,14BとZスライダ15A,15Bと
の間に設けられた第1、第2のZ方向変位量検出手段3
4A,34Bにより検出される。これらの2方向度位量
検出手段34A,34Bも、X方向変位量検出手段31
A,31Bと同様な構造であり、その検出信号は、図示
しない制御装置に入力されるようになっている。
スライダ14A,14BとZスライダ15A,15Bと
の間に設けられた第1、第2のZ方向変位量検出手段3
4A,34Bにより検出される。これらの2方向度位量
検出手段34A,34Bも、X方向変位量検出手段31
A,31Bと同様な構造であり、その検出信号は、図示
しない制御装置に入力されるようになっている。
各Zスライダ15A,15Bには、後に詳述する内径測
定ゲージヘッド70または接触式プローブ90が着脱可
能に装着できるようになっている。
定ゲージヘッド70または接触式プローブ90が着脱可
能に装着できるようになっている。
内径測定ゲージへラド70は、第2図及び第3図に示さ
れるように、略有底円筒状のゲージボデー71を有して
いる。このゲージボデー71の開口側に形成された角形
のフランジ部72には、両面に補強板73を有する一対
の平板状の平行ばね74を介して四角板状の連結板75
が連結されている。この連結板75には、平行ばね74
と直交する方向に配置され、かつ、両面に補強板76を
有する一対の平板状の平行ばね77を介して、シャンク
78のフランジ部79が連結されている。
れるように、略有底円筒状のゲージボデー71を有して
いる。このゲージボデー71の開口側に形成された角形
のフランジ部72には、両面に補強板73を有する一対
の平板状の平行ばね74を介して四角板状の連結板75
が連結されている。この連結板75には、平行ばね74
と直交する方向に配置され、かつ、両面に補強板76を
有する一対の平板状の平行ばね77を介して、シャンク
78のフランジ部79が連結されている。
これにより、シャンク78は、ゲージボデー71の軸線
に対して半径方向に移動自在、すなわち、フローティン
グ状態で連結され、かつ、付勢手段としての2対の平行
ばね74.77により所定位置、すなわち、ゲージボデ
ー71と中心軸線が略一致するように付勢されて連結さ
れている。
に対して半径方向に移動自在、すなわち、フローティン
グ状態で連結され、かつ、付勢手段としての2対の平行
ばね74.77により所定位置、すなわち、ゲージボデ
ー71と中心軸線が略一致するように付勢されて連結さ
れている。
シャンク78は、フランジ部79の中心部に一体に突設
されたテーパ係合部8lを有するとともに、このテーパ
係合部81の先端に翼状のプルスタッド82を有してい
る。
されたテーパ係合部8lを有するとともに、このテーパ
係合部81の先端に翼状のプルスタッド82を有してい
る。
ゲージボデ−71の底部側には、所定外径寸法の円柱状
に形成された固定アーム83が固定されている。この固
定アーム83の一側には、軸方向に沿った溝84が形成
されるとともに、この溝84内には、ゲージボデー71
の底部に途中を揺動自在に支持された可動アーム85の
先端側が配置されている。
に形成された固定アーム83が固定されている。この固
定アーム83の一側には、軸方向に沿った溝84が形成
されるとともに、この溝84内には、ゲージボデー71
の底部に途中を揺動自在に支持された可動アーム85の
先端側が配置されている。
これらの固定アーム83と可動アーム85の先端側の同
一円周上には、第3図にも示されるように、鋼球等から
なる3個の接触子86が一部を突出されて120度等配
位置に固定されている。これらの3個の接触子86は、
2個が固定アーム83に、1個が可動アーム85に固定
されている。
一円周上には、第3図にも示されるように、鋼球等から
なる3個の接触子86が一部を突出されて120度等配
位置に固定されている。これらの3個の接触子86は、
2個が固定アーム83に、1個が可動アーム85に固定
されている。
この可動アーム85に固定された接触子86は、可動ア
ーム85の揺動に伴って固定アーム83の半径方向、す
なわち、固定アーム83が挿入されて内径が測定される
孔の半径方向に変位可能にされている。
ーム85の揺動に伴って固定アーム83の半径方向、す
なわち、固定アーム83が挿入されて内径が測定される
孔の半径方向に変位可能にされている。
可動アーム85の内端側は、ゲージボデー71内に揺動
自在に支持された側面略し字状の揺動駒87の一端に当
接されている。この揺動駒87の他端には、ゲージボデ
ー71内に取付けられた差動トランス等の変位量検出器
88の検出子89が当接されている。この検出子89は
、図示しないばね等により常時突出方向に付勢され、こ
の付勢力により、揺動駒87を介して可動アーム85の
先端が突出方向に付勢されている。
自在に支持された側面略し字状の揺動駒87の一端に当
接されている。この揺動駒87の他端には、ゲージボデ
ー71内に取付けられた差動トランス等の変位量検出器
88の検出子89が当接されている。この検出子89は
、図示しないばね等により常時突出方向に付勢され、こ
の付勢力により、揺動駒87を介して可動アーム85の
先端が突出方向に付勢されている。
この際、可動アーム85の突出方向の付勢力が検出子8
9の付勢力のみでは小さいときは、必要に応じて可動ア
ーム85とゲージボデー71との間に圧縮コイルばね、
ねじりコイルばね等を設けてもよい。
9の付勢力のみでは小さいときは、必要に応じて可動ア
ーム85とゲージボデー71との間に圧縮コイルばね、
ねじりコイルばね等を設けてもよい。
なお、内径測定ゲージヘッド70は、測定しようとする
孔の形状に応じて、形状、寸法等が変化するが、構成部
品は全て同一なので、外観上相違するものも全て同一符
号で示されている。
孔の形状に応じて、形状、寸法等が変化するが、構成部
品は全て同一なので、外観上相違するものも全て同一符
号で示されている。
また、接触式プローブ90は、第4図に示されるように
、丸軸状のプローブ本体91の上部にフランジ部92を
介してシャンク93が一体に設けられている。このシャ
ンク93は、テーパ係合部94と、プルスタッド95と
から構成され、これらのテーパ係合部94及びプルスタ
ッド95は、内径測定ゲージヘッド70のテーパ係合部
81及びプルスタッド82と同一の形状、寸法に形成さ
れている。
、丸軸状のプローブ本体91の上部にフランジ部92を
介してシャンク93が一体に設けられている。このシャ
ンク93は、テーパ係合部94と、プルスタッド95と
から構成され、これらのテーパ係合部94及びプルスタ
ッド95は、内径測定ゲージヘッド70のテーパ係合部
81及びプルスタッド82と同一の形状、寸法に形成さ
れている。
プローブ本体9Iの下端には、球形の接触子96が一体
に固定されている。
に固定されている。
なお、接触式プローブ9oの形状、寸法は、測定しよう
とする被測定物の部位に応じて変化するが、その形状等
は、従来一般の三次元測定機において使用されているプ
ローブ、例えば、タッチ信号プローブ、一部が折曲げ可
能なユニバーサルプローブ等に、第4図図示のシャンク
93と同一形状のシャンクが連設されたものとされる。
とする被測定物の部位に応じて変化するが、その形状等
は、従来一般の三次元測定機において使用されているプ
ローブ、例えば、タッチ信号プローブ、一部が折曲げ可
能なユニバーサルプローブ等に、第4図図示のシャンク
93と同一形状のシャンクが連設されたものとされる。
内径測定ゲージヘッド70及び接触式プローブ90をZ
スライダ15A、15Bへ着脱する構造は、例えば、特
開昭61−213623号公報等に記載の公知の構造が
用いられる。
スライダ15A、15Bへ着脱する構造は、例えば、特
開昭61−213623号公報等に記載の公知の構造が
用いられる。
すなわち、第5図に示されるように、Zスライダ15A
、15B内には、着脱機構50が設けられている。
、15B内には、着脱機構50が設けられている。
着脱機構50は、Zスライダ15A、15Bに回転自在
、かつ、軸方向移動不可能に支持された中空の中心軸5
1を備えている。この中心軸51内には、下端にボール
ホルダ52を有する駆動軸53が軸方向移動可能に収納
され、この駆動軸53は圧縮コイルばね54により中心
軸51内に弓き込まれるように、図中上方に付勢されて
いる。
、かつ、軸方向移動不可能に支持された中空の中心軸5
1を備えている。この中心軸51内には、下端にボール
ホルダ52を有する駆動軸53が軸方向移動可能に収納
され、この駆動軸53は圧縮コイルばね54により中心
軸51内に弓き込まれるように、図中上方に付勢されて
いる。
ボールホルダ52には、複数のボール55がボールホル
ダ52の半径方向移動自在に支持されている。これらの
ボール55は、駆動軸53が圧縮コイルばね54により
引き上げられ、ボールホルダ52が中心軸51の収納孔
56内に位置されているときは、ボールホルダ52内に
没入される。
ダ52の半径方向移動自在に支持されている。これらの
ボール55は、駆動軸53が圧縮コイルばね54により
引き上げられ、ボールホルダ52が中心軸51の収納孔
56内に位置されているときは、ボールホルダ52内に
没入される。
これにより、ボールホルダ52内に位置される内径測定
ゲージヘッド70あるいは接触式プローブ90のプルス
タッド82あるいは95の首下部にボール55が係合さ
れ、プルスタッド82.95の中心軸51の内方への引
き込みと、脱落防止とがなされている。
ゲージヘッド70あるいは接触式プローブ90のプルス
タッド82あるいは95の首下部にボール55が係合さ
れ、プルスタッド82.95の中心軸51の内方への引
き込みと、脱落防止とがなされている。
また、中心軸51の収納孔56の下方には、収納孔56
より大径の大径孔57及びテーパ孔58が連設されてい
る。このテーパ孔58は、プルスタッド82.95がボ
ール55及び駆動軸53により引き上げられた際、各シ
ャンク78または93のテーパ係合部81または94が
丁度係合する形状とされている。
より大径の大径孔57及びテーパ孔58が連設されてい
る。このテーパ孔58は、プルスタッド82.95がボ
ール55及び駆動軸53により引き上げられた際、各シ
ャンク78または93のテーパ係合部81または94が
丁度係合する形状とされている。
一方、大径孔57は、駆動軸53が圧縮コイルばね54
に抗して下方に移動されたとき、各ボール55がボール
ホルダ52の半径方向外方に移動されるための孔である
。この大径孔57内へのボール55の移動により、ボー
ル55に首下部を保持されるプルスタッド82.95は
、ボールホルダ52から脱出可能あるいはボールホルダ
52内に挿入可能とされる。
に抗して下方に移動されたとき、各ボール55がボール
ホルダ52の半径方向外方に移動されるための孔である
。この大径孔57内へのボール55の移動により、ボー
ル55に首下部を保持されるプルスタッド82.95は
、ボールホルダ52から脱出可能あるいはボールホルダ
52内に挿入可能とされる。
駆動軸53の上端部には、ボール59を介してシリンダ
61のピストンロッド62の先端が当接されている。シ
リンダ61は、Zスライダ15A。
61のピストンロッド62の先端が当接されている。シ
リンダ61は、Zスライダ15A。
15Bに支持されるとともに、シリンダ61内に収納さ
れたピストン63の上部室に圧力流体が供給されること
によって、ピストンロッド62が下方に移動され、駆動
軸53を圧縮コイルばね54に抗して押し下げ得るよう
になっている。
れたピストン63の上部室に圧力流体が供給されること
によって、ピストンロッド62が下方に移動され、駆動
軸53を圧縮コイルばね54に抗して押し下げ得るよう
になっている。
Zスライダ15A、15B内には、中心軸51を回転さ
せる中心軸回転機構65も設けられている。この中心軸
回転機構65は、Zスライダ15A、15Bに支持され
たモータ66と、このモータ66の出力軸に固定された
小歯車67と、この小歯車67に噛合されるとともに、
中心軸51に固定された大歯車68とを含んで構成され
ている。
せる中心軸回転機構65も設けられている。この中心軸
回転機構65は、Zスライダ15A、15Bに支持され
たモータ66と、このモータ66の出力軸に固定された
小歯車67と、この小歯車67に噛合されるとともに、
中心軸51に固定された大歯車68とを含んで構成され
ている。
中心軸回転機構65により中心軸51を回転させると、
中心軸51に、駆動軸53のボールホルダ52を介して
取付けられている接触式プローブ90を回転できるよう
になっている。従って、接触式プローブ90が、ユニバ
ーサルプローブである場合には、プローブ中心軸に対し
て折曲されて取付けられている接触子96の支持軸の傾
斜方向を変更でき、異なる傾斜方向の面や孔等を測定で
きるようになっている。
中心軸51に、駆動軸53のボールホルダ52を介して
取付けられている接触式プローブ90を回転できるよう
になっている。従って、接触式プローブ90が、ユニバ
ーサルプローブである場合には、プローブ中心軸に対し
て折曲されて取付けられている接触子96の支持軸の傾
斜方向を変更でき、異なる傾斜方向の面や孔等を測定で
きるようになっている。
第1図において、ベースフレームll上には、2本のレ
ール16を介してテーブル17が、水平面内の一方向で
あるX方向と直交する他方向、すなわちY方向に移動自
在に支持されている。従って、テーブル17はY方向ス
ライダとして機能している。
ール16を介してテーブル17が、水平面内の一方向で
あるX方向と直交する他方向、すなわちY方向に移動自
在に支持されている。従って、テーブル17はY方向ス
ライダとして機能している。
ここにおいて、ベースフレーム11に立設されたコラム
12に横桁13A、13Bを介してX方向変位可能なX
スライダ14A、14B、このXスライダ14A、14
BにZ方向変位可能なZスライダ15A、15B、及び
、ベースフレーム11にレール16を介してY方向変位
可能なY方向スライダとしてのテーブル17により、三
次元移動手段lOが構成されている。従って、Zスライ
ダ15A、15Bに着脱可能な内径測定ゲージヘッド7
0あるいは接触式プローブ90は、三次元移動手段lO
のZスライダ15A、15Bに装着されると、被測定物
Wに対して相対的に三次元方向に移動可能にされている
。
12に横桁13A、13Bを介してX方向変位可能なX
スライダ14A、14B、このXスライダ14A、14
BにZ方向変位可能なZスライダ15A、15B、及び
、ベースフレーム11にレール16を介してY方向変位
可能なY方向スライダとしてのテーブル17により、三
次元移動手段lOが構成されている。従って、Zスライ
ダ15A、15Bに着脱可能な内径測定ゲージヘッド7
0あるいは接触式プローブ90は、三次元移動手段lO
のZスライダ15A、15Bに装着されると、被測定物
Wに対して相対的に三次元方向に移動可能にされている
。
テーブル17は、ベースフレーム11に設けられたYモ
ータ28と、このYモータ28により駆動されるY方向
に沿ったY方向送りねじ軸29とにより、Y方向に駆動
される。これらのYモータ28とY方向送りねじ軸29
とを含んでY方向駆動手段27が構成されている。
ータ28と、このYモータ28により駆動されるY方向
に沿ったY方向送りねじ軸29とにより、Y方向に駆動
される。これらのYモータ28とY方向送りねじ軸29
とを含んでY方向駆動手段27が構成されている。
テーブル17のY方向の変位量は、テーブル17とベー
スフレーム11の一方のレール16との間に設けられた
Y方向変位量検出手段37により検出される。このY方
向変位量検出手段37も、X方向変位量検出手段31A
、31Bと同様な構造であり、その検出信号は、図示し
ない制御装置に入力されるようになっている。
スフレーム11の一方のレール16との間に設けられた
Y方向変位量検出手段37により検出される。このY方
向変位量検出手段37も、X方向変位量検出手段31A
、31Bと同様な構造であり、その検出信号は、図示し
ない制御装置に入力されるようになっている。
テーブル17には、一対のブラケット17Pを介して上
向きコ字形の揺動テーブル18が水平方向の軸線に対し
矢印Q方向に所定角度、実際には360度以上の角度を
、所定の角度に割り出し可能な状態で、揺動可能に支持
されている。
向きコ字形の揺動テーブル18が水平方向の軸線に対し
矢印Q方向に所定角度、実際には360度以上の角度を
、所定の角度に割り出し可能な状態で、揺動可能に支持
されている。
揺動テーブル18上には、揺動テーブル18が第1図図
示の水平状態にあるとき、鉛直方向となる軸線に対し、
所定角度、実際には360度以上の角度を、所定の角度
に割り出し可能な状態で、旋回テーブル19が矢印R方
向に旋回可能に支持されている。この際、揺動テーブル
18が所定角度に揺動された状態では、旋回テーブル1
9は、鉛直方向の軸線に対して旋回するものではなくな
るが、説明の便宜上、揺動テーブル18が水平位置にあ
る標準状態で、旋回中心軸が鉛直となるため、前述のよ
うに、旋回テーブル19は鉛直軸線を中心として旋回す
ると説明したものである。
示の水平状態にあるとき、鉛直方向となる軸線に対し、
所定角度、実際には360度以上の角度を、所定の角度
に割り出し可能な状態で、旋回テーブル19が矢印R方
向に旋回可能に支持されている。この際、揺動テーブル
18が所定角度に揺動された状態では、旋回テーブル1
9は、鉛直方向の軸線に対して旋回するものではなくな
るが、説明の便宜上、揺動テーブル18が水平位置にあ
る標準状態で、旋回中心軸が鉛直となるため、前述のよ
うに、旋回テーブル19は鉛直軸線を中心として旋回す
ると説明したものである。
旋回テーブル19上には、複数の孔等を形成された被測
定物Wが設置、固定されている。
定物Wが設置、固定されている。
揺動テーブル18及び旋回テーブル19は、図示しない
モータ等の駆動手段により、揺動あるいは旋回され、旋
回テーブル19上に設置される被測定物Wの向きが変更
できるようになっている。
モータ等の駆動手段により、揺動あるいは旋回され、旋
回テーブル19上に設置される被測定物Wの向きが変更
できるようになっている。
従って、各Zスライダ15A、15Bの下面に取付けら
れる内径測定ゲージヘッド70あるいは接触式プローブ
90に対向する被測定物Wの面及びその向きが変更可能
とされている。
れる内径測定ゲージヘッド70あるいは接触式プローブ
90に対向する被測定物Wの面及びその向きが変更可能
とされている。
ベースプレート11の左側のコラム12の前後端近傍に
は、それぞれ1つ、計2つの第1、第2のストッカ40
A、40Bが向き合うように設置されている。
は、それぞれ1つ、計2つの第1、第2のストッカ40
A、40Bが向き合うように設置されている。
これらのストッカ40A、40Bは、基本的には同一構
造であるため、一方の第1のストッカ40Aについて説
明し、他方の第2のストッカ40Bについての説明は省
略するが、各部の構成には、第1のストッカ40A側に
はそれぞれ記号Aを付し、第2のストッカ40B側には
それぞれ記号Bを付して図示しである。
造であるため、一方の第1のストッカ40Aについて説
明し、他方の第2のストッカ40Bについての説明は省
略するが、各部の構成には、第1のストッカ40A側に
はそれぞれ記号Aを付し、第2のストッカ40B側には
それぞれ記号Bを付して図示しである。
第1のストッカ40Aは、−側を開放された箱状のケー
シング41Aと、このケーシング41Aに対し図示しな
い駆動機構により、矢印Y方向に収納及び引出し可能に
された載置フレーム42Aとを主構成要素とされている
。
シング41Aと、このケーシング41Aに対し図示しな
い駆動機構により、矢印Y方向に収納及び引出し可能に
された載置フレーム42Aとを主構成要素とされている
。
載置フレーム42Aは、第6図及び第7図に示されるよ
うに、側面逆り字状の支持台43Aを備え、この支持台
43Aには複数のU字溝44Aが所定間隔を置いて形成
されている。これらのU字溝44Aには、各種形状の内
径測定ゲージへ、ソド70のゲージボデー71、あるい
は、接触式プローブ90のプローブ本体91が係合され
、それぞれのフランジ部72あるいは92が支持台43
Aの上面上に当接されることによって、各ゲージヘッド
70あるいはプローブ90が支持されている。
うに、側面逆り字状の支持台43Aを備え、この支持台
43Aには複数のU字溝44Aが所定間隔を置いて形成
されている。これらのU字溝44Aには、各種形状の内
径測定ゲージへ、ソド70のゲージボデー71、あるい
は、接触式プローブ90のプローブ本体91が係合され
、それぞれのフランジ部72あるいは92が支持台43
Aの上面上に当接されることによって、各ゲージヘッド
70あるいはプローブ90が支持されている。
各内径測定ゲージヘッド70が支持されるU字溝44A
の下方位置には、それぞれ倒伏り手板状のリングゲージ
置台45Aが固定されている。このリングゲージ置台4
5Aには、支持台43A上に支持される内径測定ゲージ
ヘッド70の固定アーム83と略同心の孔46Aが形成
されている。
の下方位置には、それぞれ倒伏り手板状のリングゲージ
置台45Aが固定されている。このリングゲージ置台4
5Aには、支持台43A上に支持される内径測定ゲージ
ヘッド70の固定アーム83と略同心の孔46Aが形成
されている。
各リングゲージ置台45A上には、孔46Aと略同心に
、リング状のゲージホルダ47Aがそれぞれ固定されて
いる。このゲージホルダ4.7 Aの内周には、一部が
突出したボール及び圧縮ばね等からなるゲージ係止手段
48Aが複数箇所設けられており、ゲージホルダ47A
内に装着される各種サイズのマスターリングゲージ49
Aがゲージホルダ47Aにワンタッチで装着でき、かつ
、脱落防止がなされている。
、リング状のゲージホルダ47Aがそれぞれ固定されて
いる。このゲージホルダ4.7 Aの内周には、一部が
突出したボール及び圧縮ばね等からなるゲージ係止手段
48Aが複数箇所設けられており、ゲージホルダ47A
内に装着される各種サイズのマスターリングゲージ49
Aがゲージホルダ47Aにワンタッチで装着でき、かつ
、脱落防止がなされている。
なお、第6図において、支持台43Aに内径測定ゲージ
ヘッド70が載置された状態で、各ゲージヘッド70の
固定アーム83の先端は、マスターリンクゲージ49A
を貫通して下方に突出するようにリングゲージ置台45
Aの位置が設定されている。この際、マスターリングゲ
ージ49Aの厚さ方向の中央と、固定アーム83A及び
可動アーム85Aに設けられた接触子86の頂部との間
の寸法りは、異なる形状の内径測定ゲージヘッド70に
おいても、常に、略等しくなるように設定されている。
ヘッド70が載置された状態で、各ゲージヘッド70の
固定アーム83の先端は、マスターリンクゲージ49A
を貫通して下方に突出するようにリングゲージ置台45
Aの位置が設定されている。この際、マスターリングゲ
ージ49Aの厚さ方向の中央と、固定アーム83A及び
可動アーム85Aに設けられた接触子86の頂部との間
の寸法りは、異なる形状の内径測定ゲージヘッド70に
おいても、常に、略等しくなるように設定されている。
また、第1図において、ストッカ4OA、40Bの載置
フレーム42A、42BがY方向に進退できる結果、三
次元移動手段10のZスライダ15A、15Bは、載置
フレーム42A、43A上に載置される内径測定ゲージ
ヘッド70及び接触式プローブ90に対して相対的に三
次元方向に移動可能にされている。
フレーム42A、42BがY方向に進退できる結果、三
次元移動手段10のZスライダ15A、15Bは、載置
フレーム42A、43A上に載置される内径測定ゲージ
ヘッド70及び接触式プローブ90に対して相対的に三
次元方向に移動可能にされている。
更に、第2図において、外力が加わらない自然状態にお
ける各接触子86の外接円の直径りは、当該内径測定ゲ
ージヘッド70に対応したマスク−リングゲージ49A
の内径より僅かに大きい寸法とされている。
ける各接触子86の外接円の直径りは、当該内径測定ゲ
ージヘッド70に対応したマスク−リングゲージ49A
の内径より僅かに大きい寸法とされている。
本実施例に係る自動測定装置lは、基本的には、以上の
ように構成されるものであり、次に、その作用について
説明する。
ように構成されるものであり、次に、その作用について
説明する。
自動測定装置1を用いての測定を開始するにあたり、自
動測定装置lの旋回テーブル19上に所定の被測定物W
を取付ける。一方、この被測定物Wに形成された各種の
直径の孔や形状等に対応した内径測定ゲージヘッド70
及び接触式プローブ90をストッカ40A、40Bの所
定位置にセットしておく。
動測定装置lの旋回テーブル19上に所定の被測定物W
を取付ける。一方、この被測定物Wに形成された各種の
直径の孔や形状等に対応した内径測定ゲージヘッド70
及び接触式プローブ90をストッカ40A、40Bの所
定位置にセットしておく。
内径測定ゲージヘッド90のセットにあたり、各ゲージ
ヘッド90の形状に対応したマスターリングゲージ49
Aをゲージホルダ48Aに装着しておき、このリングゲ
ージ49A内に各ゲージヘッド90の固定アーム83の
先端を挿通しておく。
ヘッド90の形状に対応したマスターリングゲージ49
Aをゲージホルダ48Aに装着しておき、このリングゲ
ージ49A内に各ゲージヘッド90の固定アーム83の
先端を挿通しておく。
次に、図示しない制御装置等に組み込まれたプログラム
に従い、被測定物Wの所定の孔の直径を測定するには、
当該孔の測定に適した内径測定ゲ−ジヘッド70を所定
のZスライダ、例えば第1のZスライダ15Aに装着す
る。
に従い、被測定物Wの所定の孔の直径を測定するには、
当該孔の測定に適した内径測定ゲ−ジヘッド70を所定
のZスライダ、例えば第1のZスライダ15Aに装着す
る。
この装着は、まず、第1のXスライダ14AのX方向駆
動手段21A、第1のZスライダ15AのZ方向駆動手
段24A及び第1のストッカ40Aの載置フレーム42
Aの駆動手段(図示せず)を駆動して第1のZスライダ
15Aの軸心を当該内径測定ゲージヘッド70の軸心に
一致させる。
動手段21A、第1のZスライダ15AのZ方向駆動手
段24A及び第1のストッカ40Aの載置フレーム42
Aの駆動手段(図示せず)を駆動して第1のZスライダ
15Aの軸心を当該内径測定ゲージヘッド70の軸心に
一致させる。
次いで、第1のZスライダ15A内に設けられた着脱機
構50のシリンダ61に圧力流体を供給してピストンロ
ッド62を下降させ、駆動軸53を圧縮コイルばね54
に抗して下降させておく。′この状態で、Zスライダ1
5Aを下降させてボールホルダ52内に当該ゲージヘッ
ド70のプルスタッド82を挿入させる。
構50のシリンダ61に圧力流体を供給してピストンロ
ッド62を下降させ、駆動軸53を圧縮コイルばね54
に抗して下降させておく。′この状態で、Zスライダ1
5Aを下降させてボールホルダ52内に当該ゲージヘッ
ド70のプルスタッド82を挿入させる。
次いで、シリンダ61への圧力流体の供給を解除すると
、圧縮コイルばね54により駆動軸53が上昇されると
ともに、プルスタッド82が中心軸51内に引き込まれ
てゲージヘッド70の中心軸51すなわちZスライダ1
5Aへの装着が完了する。
、圧縮コイルばね54により駆動軸53が上昇されると
ともに、プルスタッド82が中心軸51内に引き込まれ
てゲージヘッド70の中心軸51すなわちZスライダ1
5Aへの装着が完了する。
ゲージヘッド70のZスライダ15Aへの装着が完了し
たら、Zスライダ15Aを上昇させる。
たら、Zスライダ15Aを上昇させる。
これにより、ゲージへラド70の接触子86がマスター
リングゲージ49Aの内径に接触しながら通過すること
となる。この時、正確には、Z軸スライダ15Aが、ゲ
ージヘッド70の装着後、寸法りだけ上昇したら、ゲー
ジボデー71内に設けられた変位検出器88の出力値は
、不図示の制御手段により、自動的に零に設定される。
リングゲージ49Aの内径に接触しながら通過すること
となる。この時、正確には、Z軸スライダ15Aが、ゲ
ージヘッド70の装着後、寸法りだけ上昇したら、ゲー
ジボデー71内に設けられた変位検出器88の出力値は
、不図示の制御手段により、自動的に零に設定される。
この際、変位検出器88は、当該内径測定ゲージヘッド
70のZスライダ15Aへの装着時に、図示しない接点
等により自動的に制御手段と電気的導通がとられている
。また、接触子86のマスターリングゲージ49A内の
通過時には、接触子86の外接円直径りがリングゲージ
49Aの内径より大きく設定されているため、Zスライ
ダ15Aの上昇により、接触子86は必ずリングゲージ
49Aの内径に接触することとなって、零設定が必ず行
なわれる。
70のZスライダ15Aへの装着時に、図示しない接点
等により自動的に制御手段と電気的導通がとられている
。また、接触子86のマスターリングゲージ49A内の
通過時には、接触子86の外接円直径りがリングゲージ
49Aの内径より大きく設定されているため、Zスライ
ダ15Aの上昇により、接触子86は必ずリングゲージ
49Aの内径に接触することとなって、零設定が必ず行
なわれる。
このようにして零設定がなされた内径測定ゲージヘッド
70を装着されたZスライダ15Aは、再びX方向駆動
手段21A、Z方向駆動手段24A及びテーブル17の
Y方向駆動手段27の駆動により、三次元的に移動され
て被測定物Wの所定の孔内に挿入される。この孔内への
挿入にあたり、孔の中心位置と内径測定ゲージヘッド7
0の中心位置とに多少の位置ずれがあったとしても、ゲ
ージヘッド70のゲージボデー71とシャンク78との
間は、2対の平行ばね74.77により、フローティン
グ状態で、かつ、中心に付勢されて連結されているから
、固定アーム83及び可動アーム85は孔内にスムース
に挿入されることとなる。
70を装着されたZスライダ15Aは、再びX方向駆動
手段21A、Z方向駆動手段24A及びテーブル17の
Y方向駆動手段27の駆動により、三次元的に移動され
て被測定物Wの所定の孔内に挿入される。この孔内への
挿入にあたり、孔の中心位置と内径測定ゲージヘッド7
0の中心位置とに多少の位置ずれがあったとしても、ゲ
ージヘッド70のゲージボデー71とシャンク78との
間は、2対の平行ばね74.77により、フローティン
グ状態で、かつ、中心に付勢されて連結されているから
、固定アーム83及び可動アーム85は孔内にスムース
に挿入されることとなる。
固定アーム83及び可動アーム85の孔内への挿入によ
り、可動アーム85に設けられた接触子86は、孔の半
径方向の内方に移動され、この移動が揺動駒87を介し
て変位検出器88の検出子89に伝達される。このとき
の検出器88の出力値を制御手段で読み取れば、マスタ
ーリングゲージ49Aの内径に対する相対変位量として
孔の内径測定か行なわれる。
り、可動アーム85に設けられた接触子86は、孔の半
径方向の内方に移動され、この移動が揺動駒87を介し
て変位検出器88の検出子89に伝達される。このとき
の検出器88の出力値を制御手段で読み取れば、マスタ
ーリングゲージ49Aの内径に対する相対変位量として
孔の内径測定か行なわれる。
以下、この内径測定ゲージヘッド70で測定し得る内径
の孔は、順次、当該ケージヘッド70で測定がなされ、
制御装置で記憶され、不図示の表示装置、プリンタ等の
出力装置に出力される。
の孔は、順次、当該ケージヘッド70で測定がなされ、
制御装置で記憶され、不図示の表示装置、プリンタ等の
出力装置に出力される。
このようにして1本の内径測定ゲージヘッド70による
測定が完了したら、異なる径の内径測定ゲージへラド7
0を、前述の手順と同様にして第1のZスライダ15A
に取付けて孔径の測定を行なう。
測定が完了したら、異なる径の内径測定ゲージへラド7
0を、前述の手順と同様にして第1のZスライダ15A
に取付けて孔径の測定を行なう。
必要な全ての孔の内径測定が完了したら、Zスライダ1
5Aに接触式プローブ90を取付けて必要な寸法の測定
を行なう。この際、内径測定ゲージヘッド70による孔
径の測定に先立って、あるいは、その途中で接触式プロ
ーブ90による測定を行なってもよく、要するに、測定
の手順は、測定が効率よく行なわれるように設定すれば
よい。
5Aに接触式プローブ90を取付けて必要な寸法の測定
を行なう。この際、内径測定ゲージヘッド70による孔
径の測定に先立って、あるいは、その途中で接触式プロ
ーブ90による測定を行なってもよく、要するに、測定
の手順は、測定が効率よく行なわれるように設定すれば
よい。
また、測定は、第1のZスライダ15A側のみで行なう
必要はなく、各種の内径測定ゲージヘッド70や接触式
プローブ90の着脱による時間のロスを考慮して、第2
のZスライダ15Bと交互にあるいは所定の順序で使用
してもよい。
必要はなく、各種の内径測定ゲージヘッド70や接触式
プローブ90の着脱による時間のロスを考慮して、第2
のZスライダ15Bと交互にあるいは所定の順序で使用
してもよい。
以上のようにして被測定物Wの1つ被測定面の測定が全
て完了したら、揺動テーブル18及び/または旋回テー
ブル19を所定角度、一般には90度所定方向に駆動し
、異なる被測定面を第1、第2のZスライダ15A、1
5Bに対向させ、再び孔径等の測定を行なう。
て完了したら、揺動テーブル18及び/または旋回テー
ブル19を所定角度、一般には90度所定方向に駆動し
、異なる被測定面を第1、第2のZスライダ15A、1
5Bに対向させ、再び孔径等の測定を行なう。
全ての被測定面の測定が完了したら、被測定物Wを取り
換えて順次測定を行なう。
換えて順次測定を行なう。
上述のような本実施例によれば、次のような効果がある
。
。
すなわち、被測定物Wに形成される多数の孔のうち、孔
の直径寸法のみが必要な大半の孔の測定は、1回の挿入
で測定が可能な内径測定ゲージヘッド70を用いるから
、測定時間を大幅に短縮できる。しかも、同一径の孔に
は、ゲージヘッド70を交換することなく、1本のゲー
ジへラド70で測定を行えるから、より時間短縮を行え
る。従って、従来は困難であったインラインでの被測定
物Wの測定が可能となる。
の直径寸法のみが必要な大半の孔の測定は、1回の挿入
で測定が可能な内径測定ゲージヘッド70を用いるから
、測定時間を大幅に短縮できる。しかも、同一径の孔に
は、ゲージヘッド70を交換することなく、1本のゲー
ジへラド70で測定を行えるから、より時間短縮を行え
る。従って、従来は困難であったインラインでの被測定
物Wの測定が可能となる。
また、内径測定ゲージヘッド70の測定は、マスターリ
ングゲージ49Aとの比較測定であるから、測定原点か
らの長距離の移動を伴う一般の三次元測定機による内径
測定に比べて、高精度な測定ができる。
ングゲージ49Aとの比較測定であるから、測定原点か
らの長距離の移動を伴う一般の三次元測定機による内径
測定に比べて、高精度な測定ができる。
更に、内径測定ゲージヘッド70は、ゲージボデー71
に対しシャンク78が2対の平行ばね74.77を介し
て連結されているから、孔位置の誤差に対するフレキシ
ビリティが高<、孔内への円滑なゲージへラド70の挿
入か可能となる。
に対しシャンク78が2対の平行ばね74.77を介し
て連結されているから、孔位置の誤差に対するフレキシ
ビリティが高<、孔内への円滑なゲージへラド70の挿
入か可能となる。
また、内径測定ゲージヘッド70における零点設定は、
ゲージヘッド70のZスピンドル15A。
ゲージヘッド70のZスピンドル15A。
15Bへの装着時に自動的に行なわれるから、効率がよ
く、しかも、ゲージヘッド70の交換毎に必ず行なわれ
るから、常に測定の高精度を保持できる。
く、しかも、ゲージヘッド70の交換毎に必ず行なわれ
るから、常に測定の高精度を保持できる。
更に、ストッカ40A、40Bには、内径測定ゲージヘ
ッド70と接触式プローブ90とが用意されているから
、孔径の測定のみならず、孔間寸法、面間寸法等、汎ゆ
る形状、寸法の測定が可能である。
ッド70と接触式プローブ90とが用意されているから
、孔径の測定のみならず、孔間寸法、面間寸法等、汎ゆ
る形状、寸法の測定が可能である。
また、テーブル17には、揺動テーブルI8及び旋回テ
ーブル19が設けられているから、被測定物Wの多数の
面の測定を、被測定物Wの取付は直しを行なうことなく
行なえ、この点からも測定時間を短縮できる。
ーブル19が設けられているから、被測定物Wの多数の
面の測定を、被測定物Wの取付は直しを行なうことなく
行なえ、この点からも測定時間を短縮できる。
以上、本発明について好適な実施例を挙げて説明したが
、本発明はこの実施例に限定されるものではな(、本発
明の要旨を逸脱しない範囲において種々の改良並びに設
計の変更が可能なことは、勿論である。
、本発明はこの実施例に限定されるものではな(、本発
明の要旨を逸脱しない範囲において種々の改良並びに設
計の変更が可能なことは、勿論である。
例えば、Xスライダ14A、14B及びZスライダ15
A、15B並びにストッカ40A、40Bは、必ずしも
2個設ける必要はなく、少なくとも1個あれば足りる。
A、15B並びにストッカ40A、40Bは、必ずしも
2個設ける必要はなく、少なくとも1個あれば足りる。
しかし、2個設ければ、測定の高速化を実現できるとい
う利点がある。
う利点がある。
また、被測定物Wに対する内径測定ゲージヘッド70あ
るいは接触式プローブ90の動きは、Xスライダ14A
、14B及びZスライダ15A。
るいは接触式プローブ90の動きは、Xスライダ14A
、14B及びZスライダ15A。
15BによるX、Z方向の動きと、テーブル17による
Y方向の動きとによるものに限らず、横桁13A、13
Bを一対のコラムに対してY方向移動可能に設けて対応
させるものでもよく、要するに、ゲージヘッド70等か
被測定物Wに対し、相対的に三次元的に関与できればよ
い。
Y方向の動きとによるものに限らず、横桁13A、13
Bを一対のコラムに対してY方向移動可能に設けて対応
させるものでもよく、要するに、ゲージヘッド70等か
被測定物Wに対し、相対的に三次元的に関与できればよ
い。
同様に、Zスライダ15A、15Bに対するストッカ4
0A、40Bの載置フレーム42A、42Bの動きも、
ストッカ40A、40B側がY方向に移動するものに限
らず、Zスライダ15A。
0A、40Bの載置フレーム42A、42Bの動きも、
ストッカ40A、40B側がY方向に移動するものに限
らず、Zスライダ15A。
15B側がY方向に移動するものでもよい。
更に、コラム12に対してZスライダ15A。
15Bは、Xスライダ14A、14Bを介して支持され
ているが、必ずしもこの構造に限らず、横桁13A、1
3Bをコラム12に対してZ方向移動可能に設けてZス
ライダの機能を持たせ、このZ方向に上下動する横桁に
Xスライダ14A、14BをX方向移動自在に設け、軸
状のZスライダ15A、15Bは省略した構造でもよい
。
ているが、必ずしもこの構造に限らず、横桁13A、1
3Bをコラム12に対してZ方向移動可能に設けてZス
ライダの機能を持たせ、このZ方向に上下動する横桁に
Xスライダ14A、14BをX方向移動自在に設け、軸
状のZスライダ15A、15Bは省略した構造でもよい
。
また、テーブル17に対する揺動テーブル18と旋回テ
ーブル19の設置順序は、テーブル17に旋回テーブル
19を設け、この旋回テーブル19上に揺動テーブル1
8を設けるものでもよい。
ーブル19の設置順序は、テーブル17に旋回テーブル
19を設け、この旋回テーブル19上に揺動テーブル1
8を設けるものでもよい。
更に、揺動テーブル18、旋回テーブル19は、何れか
一方のみでも、あるいは、全く設けな(ともよい。
一方のみでも、あるいは、全く設けな(ともよい。
また、内径測定ゲージヘッド70のシャンク78は、2
対の平行ばね74.77と連結板75とにより連結され
るものに限らず、オルダム継手等を用いて半径方向変位
自在に連結し、コイルばね等でゲージボデー71とシャ
ンク78との中心位置を合わせるようにしてもよく、更
には、ゲージボデー71とシャンク78とを軸方向変位
不能、半径方向変位可能に設け、かつ、筒状のゴムノく
ンド等で両者を連結するような構造でもよい。また、必
ずしもフローティング構造で連結しなくともよく、固定
的に設けて、中心位置のずれはZスライダ15A、15
Bの移動で対応してもよい。
対の平行ばね74.77と連結板75とにより連結され
るものに限らず、オルダム継手等を用いて半径方向変位
自在に連結し、コイルばね等でゲージボデー71とシャ
ンク78との中心位置を合わせるようにしてもよく、更
には、ゲージボデー71とシャンク78とを軸方向変位
不能、半径方向変位可能に設け、かつ、筒状のゴムノく
ンド等で両者を連結するような構造でもよい。また、必
ずしもフローティング構造で連結しなくともよく、固定
的に設けて、中心位置のずれはZスライダ15A、15
Bの移動で対応してもよい。
更に、着脱機構50は、電磁石の吸引力を利用するもの
等、他の機構でもよい。
等、他の機構でもよい。
その他、各部の形状、寸法等は、適宜に変更可能である
。
。
前述のように本発明によれば、被測定物の孔の内径測定
を極めて迅速にでき1インライン測定への適用も可能と
なる効果がある。
を極めて迅速にでき1インライン測定への適用も可能と
なる効果がある。
第1図は本発明に係る自動測定装置の一実施例の全体構
成を示す一部を切欠いた斜視図、第2図は本実施例に用
いられる内径測定ゲージヘッドの一例を示す略第3図の
■−■線に沿う一部断面図、第3図は第2図の■−■線
に沿う拡大断面図、第4図は本実施例に用いられる接触
式プローブの一例を示す正面図、第5図は本実施例に用
いられる内径測定ゲージヘッド及び接触式プローブの着
脱機構の一例を示す断面図、第6図及び第7図はそれぞ
れ本実施例に用いられるストッカの要部の一例を示す断
面図及び斜視図である。 1・・・自動測定装置、lO・・・三次元移動手段、1
4A、14B・・・第11第2のXスライダ、15A。 15B・・・第1、第2のYスライダ、17・・・Yス
ライダとしてのテーブル、18・・・揺動テーブル、1
9・・・旋回テーブル、21A、21B・・・第1、第
2のX方向駆動手段、24A、24B・・・第1、第2
のZ方向駆動手段、27・・・Y方向駆動手段、31A
、31B・・・X方向変位量検出手段、34A、34B
・・・Z方向変位量検出手段、37・・・Y方向変位量
検出手段、40A、40B・・・第1、第2のストッカ
、43A・・・支持台、45A・・・リングゲージ置台
、49A・・・マスターリングゲージ、50・・・着脱
機構、70・・・内径測定ゲージヘッド、71・・・ゲ
ージボデー 74.77・・・付勢手段としての平行ば
ね、78・・・シャンク、83・・・固定アーム、85
・・・可動アーム、86・・・接触子、90・・・接触
式プローブ、91・・・プローブ本体、93・・・シャ
ンク、W・・・被測定物。
成を示す一部を切欠いた斜視図、第2図は本実施例に用
いられる内径測定ゲージヘッドの一例を示す略第3図の
■−■線に沿う一部断面図、第3図は第2図の■−■線
に沿う拡大断面図、第4図は本実施例に用いられる接触
式プローブの一例を示す正面図、第5図は本実施例に用
いられる内径測定ゲージヘッド及び接触式プローブの着
脱機構の一例を示す断面図、第6図及び第7図はそれぞ
れ本実施例に用いられるストッカの要部の一例を示す断
面図及び斜視図である。 1・・・自動測定装置、lO・・・三次元移動手段、1
4A、14B・・・第11第2のXスライダ、15A。 15B・・・第1、第2のYスライダ、17・・・Yス
ライダとしてのテーブル、18・・・揺動テーブル、1
9・・・旋回テーブル、21A、21B・・・第1、第
2のX方向駆動手段、24A、24B・・・第1、第2
のZ方向駆動手段、27・・・Y方向駆動手段、31A
、31B・・・X方向変位量検出手段、34A、34B
・・・Z方向変位量検出手段、37・・・Y方向変位量
検出手段、40A、40B・・・第1、第2のストッカ
、43A・・・支持台、45A・・・リングゲージ置台
、49A・・・マスターリングゲージ、50・・・着脱
機構、70・・・内径測定ゲージヘッド、71・・・ゲ
ージボデー 74.77・・・付勢手段としての平行ば
ね、78・・・シャンク、83・・・固定アーム、85
・・・可動アーム、86・・・接触子、90・・・接触
式プローブ、91・・・プローブ本体、93・・・シャ
ンク、W・・・被測定物。
Claims (4)
- (1)テーブル上に設置される被測定物への接触により
被測定物の形状等を検出するための接触式プローブと、 前記被測定物に形成された孔内に挿入可能にされるとと
もに、孔の半径方向に変位可能な少なくとも1つの接触
子を有する内径測定ゲージヘッドと、 これらの接触式プローブ及び内径測定ゲージヘッドのそ
れぞれ少なくとも1つを支持可能なストッカと、 前記被測定物並びにストッカ内の接触式プローブ及び内
径測定用ゲージヘッドに対して、水平面内の直交二方向
及び鉛直方向の一方向に相対的に移動可能にされる結果
、三次元方向に移動可能にされ、かつ、接触式プローブ
及び内径測定用ゲージヘッドを着脱可能にされた三次元
移動手段と、この三次元移動手段の各方向の駆動手段と
、を具備したことを特徴とする自動測定装置。 - (2)請求項1に記載の自動測定装置において、内径測
定用ゲージヘッドは、前記接触子を設けられたゲージボ
デーを有するとともに、このゲージボデーに対し孔の半
径方向に揺動可能な状態で、かつ、所定位置に復帰させ
る付勢手段を介して連結されたシャンクを有することを
特徴とする自動測定装置。 - (3)請求項1または2に記載の自動測定装置において
、テーブルと三次元移動手段との三次元方向への相対的
移動のうち、水平面内での一方向であるY方向への相対
的移動は、テーブルが基台に対してY方向に移動可能に
設けられることにより可能とされ、このテーブル上には
、被測定物を水平方向の軸線に対して所定角度揺動可能
にする揺動テーブルが設けられていることを特徴とする
自動測定機。 - (4)請求項1または2記載の自動測定装置において、
テーブルと三次元移動手段との三次元方向への相対的移
動のうち、水平面内での一方向であるY方向への相対的
移動は、テーブルが基台に対してY方向に移動可能に設
けられることにより可能とされ、このテーブル上には、
被測定物を鉛直方向の軸線に対して所定角度旋回可能に
する旋回テーブルが設けられていることを特徴とする自
動測定機。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18779490A JPH0474903A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | 自動測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18779490A JPH0474903A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | 自動測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0474903A true JPH0474903A (ja) | 1992-03-10 |
Family
ID=16212346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18779490A Pending JPH0474903A (ja) | 1990-07-16 | 1990-07-16 | 自動測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0474903A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0877224A2 (en) * | 1997-05-07 | 1998-11-11 | Mitutoyo Corporation | Method and instrument with probe for measuring inner or outer dimension of an object |
JP2009507650A (ja) * | 2005-09-13 | 2009-02-26 | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 交換装置 |
JP2012047752A (ja) * | 2004-10-01 | 2012-03-08 | Marposs Spa | 機械部品の寸法および/または形状の検査装置 |
JP2013088163A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Ihi Corp | 多点検査装置と方法 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5965702A (ja) * | 1982-10-07 | 1984-04-14 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 多次元測定機 |
JPS606727U (ja) * | 1983-06-27 | 1985-01-18 | 渋谷工業株式会社 | ブランクシ−トの取出装置 |
JPS6282309A (ja) * | 1985-10-08 | 1987-04-15 | Mitsutoyo Mfg Corp | 三次元測定機 |
-
1990
- 1990-07-16 JP JP18779490A patent/JPH0474903A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5965702A (ja) * | 1982-10-07 | 1984-04-14 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | 多次元測定機 |
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Cited By (7)
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EP0877224A2 (en) * | 1997-05-07 | 1998-11-11 | Mitutoyo Corporation | Method and instrument with probe for measuring inner or outer dimension of an object |
EP0877224A3 (en) * | 1997-05-07 | 1999-04-14 | Mitutoyo Corporation | Method and instrument with probe for measuring inner or outer dimension of an object |
US6065220A (en) * | 1997-05-07 | 2000-05-23 | Mitutoyo Corporation | Measuring instrument, probe for the same, and measuring method |
US6173504B1 (en) | 1997-05-07 | 2001-01-16 | Mitutoyo Corporation | Measuring instrument, probe for the same, and measuring method |
JP2012047752A (ja) * | 2004-10-01 | 2012-03-08 | Marposs Spa | 機械部品の寸法および/または形状の検査装置 |
JP2009507650A (ja) * | 2005-09-13 | 2009-02-26 | カール・ツアイス・インダストリーエレ・メステクニク・ゲーエムベーハー | 交換装置 |
JP2013088163A (ja) * | 2011-10-14 | 2013-05-13 | Ihi Corp | 多点検査装置と方法 |
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