KR19980017628U - 3차원 측정장치용 탭 홀 측정게이지 - Google Patents
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Abstract
본 고안은 3차원 측정장치를 이용함에도 불구하고 정확히 측정하지 못하는 탭이 형성된 볼트공의 진원을 그 진원과 동일한 크기의 측정부재를 사용하여 측정하도록 하는 등의 목적을 갖는 3차원 측정장치용 탭 홀 측정 게이지에 관한 것으로서, 3차원 측정기(1)를 이용하여 워크(10)의 탭(12)이 형성된 볼트공(14)의 진원(眞圓)을 측정함에 있어서,
상기 볼트공(14)의 탭(12)에 끼워져 나설되는 볼트부(22)을 갖고 그 상부에 탭(12)을 제외시킨 볼트공(11)의 진원의 내경과 동일한 외경을 갖게 가상 진원부(24)을 형성하므로서, 볼트공(11) 대신 상기 가상 진원부(24)를 읽어 진원을 측정하도록 하는 것이다.
Description
본 고안은 3차원 측정장치를 이용함에도 불구하고 정확히 측정하지 못하는 탭이 형성된 볼트공의 진원을 그 진원과 동일한 크기의 측정부재를 사용하여 측정하도록 하는 3차원 측정장치용 탭 홀 측정게이지에 관한 것이다.
일반적으로, 3차원 측정기란 주로 측정점 검출기(prove)가 서로 직각인 X, Y, Z축 방향으로 운동하고 각축이 움직인 이동량을 측정창치에 의해 측정점의 공간 좌표값을 읽어서 피측정물의 위치, 거리, 윤곽, 형상 등을 측정하는 만능 측정기를 말하며, 공작물, 제품의 치수, 형상 등을 측정하는데 중요한 비중을 차지하고 있다.
3차원 측정기는 단슨한 조작으로 정확한 결과가 얻어지는 치수, 각도, 피치 등의 단순 측정 이외에 데이터 처리의 연산기능에 의해 가공점(架空點)의 치수측정, 공간에 있어서 2축의 교점, 평면도, 구멍, 축의 경사각, 직각도, 동심도, 원통도, 진직도 등의 특수측정을 할 수 있다.
측정 대상인 6측정면의 경우 테이블에 고정시킨 1면을 제외한 전면을 측정할 수 있으며, 측정순서는 컴퓨터에 기억되므로 간단하게 재현시킬 수 있는 등 측정시간을 크게 단축시킬 수 있다.
또한, 측정점의 수와 위치를 자유롭게 선택할 수 있으며, 금형과 같이 복잡한 형상의 측정, 가공점, 선, 면의 위치, 방향을 결정할 수 있기 때문에 복잡한 측정에 대응할 수 있다.
또한, 자동화된 CNC 3차원 측정기로는 숙련, 비숙련에 관계없이 측정력을 항상 일정한 조건으로 유지해서 측정을 할 수 있으며, 측정의 고정밀화를 가능하게 한다.
3차원 측정기는 컴퓨터를 이용해서 위치, 형상, 자세같은 1차적인 데이터 처리뿐만 아니라 통계적인 자료처리나 오차보정 등 보다 고도한 처리를 가능하게 한다.
또한, CNC 3차원 측정기를 이용하면 공정간의 검사업무나 대량 생산품, 다품종 소량 생산제품 검사의 자동화에 적극 활용할 수 있다.
이러한 3차원 측정기는 구조형태상으로 분류를 하자면 브리지 문 이동형(moving brige type), 고정 브리지형(fixed bridge type), 캔틸레버 Y축 이동형(fixed table cantilever type), 칼럼형(column type), 브리지 플로어형(gantry type)등이 있고, 가장 일반적인 형태는 브리지 문 이동형이다.
도 1은 3차원 측정기의 가장 일반적인 형태인 브리지 문 이동형을 도시한 개략적인 사시도로서, 피측정물(work)의 일측부를 면접시키고 항상 수평을 이루도록 작업 테이블(2)이 구비되고, 그 작업 테이블(2)의 양 가장자리에 구동되는 구동수단(도시안됨)에 의해 길이방향으로 이동하는 Y축 스핀들(3)가 설치되고, 상기 Y축 스핀들(3)상에 작업 테이블(2)에서 구동되는 구동수단과 수평으로 직교되게 구동되는 별도의 구동수단(도시안됨)에 의해 길이 반대방향으로 구동되는 X축 스핀들(4)가 설치되는 한편, 상기 X축 스핀들(4)상에 또 다른 별도의 구동수단(도시안됨)에 의해 X축 스핀들(4) 및 Y축 스핀들(3)의 구동방향과 수직되게 구동하는 Z축 스핀들(5)가 설치되어 있다.
한편, 상기 Z축 스핀들(5)의 하부 끝단에는 측정이 가능한지의 여부 또는 어느 정도 정확한 데이터를 얻을 수 있는지의 여부를 결정하는 측정점 검출기(prove)(6)가 설치되어 있다.
상기 프로브(6)는 3차원 측정기의 Z축 스핀들(5)에 부착할 수 있도록 생크(shank)부(도시안됨)를 가지고 있으며, 프로브 교환시에도 측정 위치 관계가 틀리지 않도록 측정 선단부의 위치와 생크 중심과의 관련 정도를 보증하고 있는 것이 많다.
그러나, 이와 같은 3차원 측정기도 한계상황이 발생하게 마련인데, 그 예는 측정을 받는 워크에서 내주면에 탭이 형성된 소정직경과 깊이를 갖는 볼트공에 대해 진원(眞圓)을 측정하지 못하는 문제점이 바로 그것이다.
즉, 측정점 검출기(PROVE)는 구멍에 형성된 댑의 형상을 읽기 때문에 보다 정확한 진원을 측정하지 못하였던 것이었다.
따라서, 본 고안은 3차원 측정장치를 이용함에도 불구하고 정확히 측정하지 못하는 탭이 형성된 볼트공의 진원을 그 진원과 동일한 크기의 측정부재를 사용하여 측정하도록 하는 3차원 측정장치용 탭 홀 측정 게이지를 제공함에 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 고안은, 3차원 측정기를 이용하여 워크의 탭이 형성된 볼트공의 진원(眞圓)을 측정함에 있어서,
상기 볼트공의 탭에 끼워져 나설되는 볼트부을 갖고 그 상부에 탭을 제외시킨 볼트공의 진원의 내경과 동일한 외경을 갖게 가상 진원부을 형성하므로서, 볼트공 대신 상기 가상 진원부를 읽어 진원을 측정하도록 하는 특징을 갖는다.
도 1은 3차원 측정기를 도시한 개략적인 사시도.
도 2는 본 고안에 따른 3차원 측정장치용 탭 홀 측정 게이지를 도시한 사시도.
도 3은 본 고안의 탭 홀 측정 게이지의 작동상태를 도시한 요부 측단면도.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *
1: 3차원 측정기,2: 작업 테이블.
3: Y축 스핀들,4: X축 스핀들,
5: Z축 스핀들,6: 측정점 검출기(prove),
10: 피측정물,12: 탭,
14: 볼트공,20: 측정 게이지,
22: 볼트부,24: 가상 진원부,
이하, 본 고안의 일실시예를 첨부도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 2는 본 고안에 따른 3차원 측정장치용 탭 홀 측정 게이지를 도시한 사시도이고, 도 3은 본 고안의 탭 홀 측정 게이지의 작동상태를 도시한 요부 측단면도이다.
본 고안은, 3차원 측정기(1)를 이용하여 피측정물(10)의 탭(12)이 형성된 볼트공(14)의 진원(眞圓)을 측정함에 있어서,
상기 볼트공(14)의 탭(12)에 끼워져 나설되는 볼트부(22)를 갖고 그 상부에 탭(12)을 제외시킨 볼트공(11)의 진원의 내경과 동일한 외경을 갖게 가상 진원부(24)을 형성하므로서, 볼트공(11) 대신 상기 가상 진원부(24)를 읽어 진원을 측정하도록 하는 것이다.
상기와 같이 구성된 본 고안의 작용상태를 설명하면 다음과 같다.
3차원 측정기(1)를 이용하여 피측정물(10)의 탭(12)이 형성된 볼트공(11)의 진원을 측정하고자 할 경우에는 먼저 상기 볼트공(11)의 진원과 동일한 외경을 갖는 가상 진원부(24)가 형성된 측정 게이지(20)를 상기 가상 진원부(24) 하부의 볼트부(22)를 그 피측정물(10)의 볼트공(11)내로 나설시킨다.
이후, 상기 3차원 측정기(1)의 측정점 검출기(prove)(1')가 측정 게이지(20)의 가상 진원부(24)의 외주면을 접촉하면서 볼트공(11)의 진원을 대신 측정하게 되는 것이다.
따라서, 상기와 같은 본 고안을 적용하게 되면, 간단히 제조될 수 있는 측정게이지에 의해 볼트공의 진원을 따로 오차보정을 할 필요가 없이 용이하게 검출할 수 있게 되어 측정시간이 단축되는 매우 유용한 효과가 발생된다.
Claims (1)
- 3차원 측정기(1)를 이용하여 피측정물(10)의 탭(12)이 형성된 볼트공(14)의 진원(眞圓)을 측정함에 있어서,상기 볼트공(14)의 탭(12)에 끼워져 나설되는 볼트부(22)을 갖고 그 상부에 탭(12)을 제외시킨 볼트공(11)의 진원의 내경과 동일한 외경을 갖게 가상 진원부(24)을 형성하므로서, 볼트공(11) 대신 상기 가상 진원부(24)를 읽어 진원을 측정하도록 하는 3차원 측정장치용 탭 홀 측정게이지
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR2019960031016U KR19980017628U (ko) | 1996-09-24 | 1996-09-24 | 3차원 측정장치용 탭 홀 측정게이지 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR2019960031016U KR19980017628U (ko) | 1996-09-24 | 1996-09-24 | 3차원 측정장치용 탭 홀 측정게이지 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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KR19980017628U true KR19980017628U (ko) | 1998-07-06 |
Family
ID=53977178
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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KR2019960031016U KR19980017628U (ko) | 1996-09-24 | 1996-09-24 | 3차원 측정장치용 탭 홀 측정게이지 |
Country Status (1)
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KR (1) | KR19980017628U (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20030089617A (ko) * | 2002-05-16 | 2003-11-22 | 한국항공우주산업 주식회사 | 탭홀 측정용 핀 |
KR20030090357A (ko) * | 2002-05-23 | 2003-11-28 | 한국항공우주산업 주식회사 | 경사진 탭홀 측정용 핀 |
-
1996
- 1996-09-24 KR KR2019960031016U patent/KR19980017628U/ko not_active Application Discontinuation
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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KR20030089617A (ko) * | 2002-05-16 | 2003-11-22 | 한국항공우주산업 주식회사 | 탭홀 측정용 핀 |
KR20030090357A (ko) * | 2002-05-23 | 2003-11-28 | 한국항공우주산업 주식회사 | 경사진 탭홀 측정용 핀 |
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