KR20030089617A - 탭홀 측정용 핀 - Google Patents

Abstract

본 발명은 탭홀 측정용 핀에 관한 것으로, 본 발명에 따른 탭홀 측정용 핀은 탭홀이 형성된 베이스 플레이트의 탭홀에 삽입되어 체결되는 체결부와, 체결부의 상단에 형성되어 3차원 측정장비의 프로브가 접촉하여 탭홀의 3차원 측정이 이루어지는 측정부를 구비하여, 종래의 탭홀 3차원 측정방법과 같이 측정을 위한 별도의 자리파기 홈을 형성하지 않고, 탭홀에 직접 체결되어 프로브에 의한 3차원 측정이 가능하도록 함으로써 보다 정밀한 3차원 측정이 이루어지도록 하고, 더욱이 종래의 자리파기 홈 형성 공정이 불필요하므로 작업공정과 작업효율이 보다 향상되게 되는 효과가 있다.

Description

탭홀 측정용 핀{Measuring pin for tap hole}

본 발명은 탭홀 3차원 측정용 핀에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 탭홀에 대한 보다 정확한 3차원 측정이 가능하도록 한 측정용 핀에 관한 것이다.

일반적으로 3차원 측정장비는 측정을 위한 프로브를 각각의 축방향으로 이동시켜 이 각각의 축을 움직인 이동거리를 측정한 다음 그 공간 좌표값을 읽어 위치, 거리, 형상 등을 측정하는 것이다.

이러한 3차원 측정장비를 사용한 종래의 탭홀에 대한 3차원 측정방법은 도 1과 도 2에 도시된 바와 같이 베이스 플레이트(10)에 탭홀(11)을 가공한 후 이 탭홀(11)의 상단 주변부분으로 별도의 자리파기 홈(12)을 형성하는데, 이 자리파기 홈(12)을 형성하는 이유는 탭 부위에서는 3차원 측정으로 탭홀(11)의 센터를 정확하게 측정할 수 없기 때문이다.

따라서 자리파기 홈(12)을 형성한 후 3차원 측정장비(13)의 프로브(14)를 이 자리파기 홈(12)에서 운동시켜 세군데의 점을 측정하고, 이후 그 중간값을 읽어서 탭홀(11)의 정확한 3차원 측정값을 구하도록 하고 있다. 그리고 탭 가공후 장비 상에서 매뉴얼로 수치를 키인(key-in)하여 위치값을 눈으로 확인하게 된다.

그런데, 이러한 종래의 3차원 측정장비(13)를 이용한 탭홀(11)에 대한 3차원 측정방법은 측정을 위한 자리파기 홈(12) 형성공정을 별도로 시행하여야 하는 번거로움이 있다.

또한 이 자리파기 홈(12)과 탭홀(11)의 센터가 정확히 일치하는가에 대한 수치상의 오차확률이 발생할 우려가 있다. 그리고 장비 상에서 매뉴얼로 위치 이동하여 눈으로 탭의 동심을 확인할 경우 그 정확한 동심을 제대로 읽을 수 없는 문제점도 있다.

본 발명은 전술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 종래의 탭홀 3차원 측정방법과 같이 측정을 위한 별도의 자리파기 홈을 형성하지 않고, 탭홀에 체결되어 3차원 측정이 가능하도록 하는 탭홀 3차원 측정용 핀을 제공하기 위한 것이다.

도 1은 종래의 탭홀 측정상태를 도시한 도면이다.

도 2는 종래의 탭홀 측정상태를 도시한 확대 도면이다.

도 3은 본 발명에 따른 탭홀 측정용 핀의 장착 전 상태를 도시한 도면이다.

도 4는 본 발명에 따른 탭홀 측정용 핀이 장착된 후 측정상태를 도시한 도면이다.

**도면의 주요부분에 대한 부호의 설명**

100...베이스 플레이트

110...탭홀

130...측정장비

140...프로브

200...탭홀 3차원 측정용 핀

210...측정부

220...체결부

전술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 탭홀 3차원 측정용 핀은 탭홀이 형성된 베이스 플레이트의 상기 탭홀에 삽입되어 체결되는 나사부와; 상기 나사부의 상단에 형성되어 3차원 측정장비의 프로브가 접촉하여 상기 탭홀의 3차원 측정이 이루어지는 머리부를 가진 것을 특징으로 한다.

그리고 바람직하게 상기 머리부는 상기 탭홀의 진원과 같은 외경을 가지는 것을 특징으로 한다.

이하에서는 본 발명에 따른 하나의 바람직한 일실시예를 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하기로 한다.

본 발명에 따른 탭홀 3차원 측정용 핀(200)은 도 3과 도 4에 도시된 바와 같이 대체로 볼트 형태로 되어 있으며, 크게 측정부(210)와 체결부(220)로 되어 있다. 여기서 체결부(220)는 탭홀(110) 내부의 탭들과 치합되는 수나사부를 형성하고 있고, 측정부(210)는 체결부(220)의 상측에 소정 직경을 가지는 원형으로 형성되어 있다.

여기서 측정부(210)의 직경 크기는 탭홀(110)의 진원과 동일한 직경을 가지도록 되어 있으므로 이후 탭홀(110)에 대한 3차원 측정시에는 3차원 측정장비(130)의 프로브(140)가 이 측정용 핀(200)의 측정부(210)에 접촉하여 측정을 수행함으로써 탭홀(110)의 정확한 동심을 측정할 수 있게 된다.

이하에서는 전술한 바와 같이 구성된 본 발명에 따른 탭홀 3차원 측정용 핀의 사용상태에 대하여 설명하기로 한다.

본 발명에 따른 탭홀 3차원 측정용 핀(200)을 사용한 탭홀 측정방법은 탭홀(110)이 형성된 베이스 플레이트(100)를 구비한 상태에서 이 베이스 플레이트(100)에 형성된 탭홀(110) 중의 측정이 이루어지는 탭홀(110)에 3차원 측정용 핀(200)을 결합시킨다.

이때의 탭홀(110)과 탭홀 3차원 측정용 핀(200)의 결합방법은 탭홀(110)에 측정용 핀(200)의 체결부(220)를 삽입하여 체결하면 통상적인 볼트 체결상태와 같이 측정용 핀(200)의 결합이 이루어진다.

이러한 상태에서 측정용 핀(200)이 결합된 베이스 플레이트(100)를 3차원 측정장비(130)에 위치시킨 후 탭홀(110)의 동심에 대한 측정을 수행한다. 이때 이루어지는 측정은 3차원 측정장비(130)의 프로브(140)가 측정용 핀(200)의 측정부(210) 외경 중 세군데의 점에 대한 측정을 수행하고, 측정된 세군데의 점에 대한 중간값을 산출함으로써 탭홀에 대한 정확한 센터를 측정할 수 있게 된다.

전술한 바와 같이 본 발명에 따른 탭홀 3차원 측정용 핀(200)은 보다 정확한 탭홀(110)의 동심을 3차원 측정방법으로 측정할 수 있도록 하는 것으로, 변형된 실시예가 측정용 핀(200)의 체결부에 별도의 나사부분을 형성하지 않거나, 또는 체결용 핀(200)의 형상을 측정이 이루어지는 다른 형태의 홀에 맞게 변형하더라도 기본적인 구성이 본 발명에서와 같이 체결부와 측정부분으로 되어 있다면 모두 본 발명의 기술적 범주에 포함된다고 보아야 한다.

이상과 같은 본 발명에 따른 탭홀 3차원 측정용 핀은 종래의 탭홀 3차원 측정방법과 같이 측정을 위한 별도의 자리파기 홈을 형성하지 않고, 탭홀에 직접 체결되어 프로브에 의한 3차원 측정이 가능하도록 함으로써 보다 정밀한 3차원 측정이 이루어지도록 하고, 더욱이 종래의 자리파기 홈 형성 공정이 불필요하므로 작업공정과 작업효율이 보다 향상되게 되는 효과가 있다.

Claims (2)

1. 탭홀이 형성된 베이스 플레이트의 상기 탭홀에 삽입되어 체결되는 체결부와;

   상기 체결부의 상단에 형성되어 3차원 측정장비의 프로브가 접촉하여 상기 탭홀의 3차원 측정이 이루어지는 측정부를 가진 것을 특징으로 하는 탭홀 측정용 핀.
2. 제 1항에 있어서, 상기 측정부는 상기 탭홀의 진원과 같은 외경을 가지는 것을 특징으로 하는 탭홀 측정용 핀.