JPH0474322A - サンプルトラッキングエラー信号検出回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野１ この発明は、トラッキング情報が光ディスクの円周方向
に所定の間隔で配列されているウォーブリングピットを
検出することによって得られるサンプルトラッキングエ
ラー信号検出回路に関するものである。

［発明の概要］ 本発明のサンプルトラッキングエラー信号検圧回路は、
光ディスクの円周方向に所定の間隔で配列されているウ
ォーブリングピットを検出する際に、該ウォーブリング
ピットをサンプル位置が３点となるようなサンプリング
信号を形成する。

そして、第１のウォーブリングピットを標本化した３点
のサンプリング信号の合成値と、第２のウォーブリング
ピットを標本化した３点のサンプリング信号の合成値を
得る第１及び第２の演算手段を設け、該第１の演算手段
の出力から第２の演算手段の出力を差し引くことによっ
てトラッキングエラー信号を生成するようにしているの
で、マスタリングされているウォーブリングピットの位
置誤差や、クロックの位相ずれがあるときでも、より正
確なトラッキングエラー信号を形成することができる。

［従来の技術］ データを書き換えることかで光磁気ディスクには、トラ
ッキング情報や、クロック情報が光磁気ディスクの円周
方向に所定の間隔で配列されているサンプルサーボピッ
トから得られるようにしたものがある。

第５図は、かかるサンプルサーボビットによって記録ト
ラックが形成されるディスクの１部を模式的に示したも
ので、各トラックＴには所定の回転角度毎に少なくとも
３個のサンプルサーボピットＳＰが放射状に配列されて
いる。

すなわち、トラック線上にはクロックの基準となるクロ
ックビットＰｃが配置され、トラックから内周及び外周
側にストラックずらしたところに２個のウォーブリング
ピットＰＡ、Ｐａが配置される。

これらの各サンプルサーボピットは、通常クロックビッ
トＰＣを基準として形成されたクロック信号になって所
定のタイミングで検出される。

すなわち、第６図（Ｃ）に示すようにトラックに対して
つオーブリングしている２つのウォーブリングピットＰ
Ａ、Ｐ１１はクロック信号ＣＬＫの立下がり点を基準と
して同図（ａ）に示すようにサンプリングされ、そのレ
ベルＥＡとＥＢが等しくなるようにトラッキングサーボ
をかけることによって、レーザスポットが記録トラック
上を走査するようにコントロールされている。

［発明が解決しようとする問題点］ ところで、上記したようなサンプルサーボピットは、通
常光磁気ディスクを製造する際にエンボス加工等によっ
て形成されることになるが、このサンプルサーボピット
が原盤からスタンピングされるときの精度や、温度変化
の影響によってウォーブリングピットＰＡ、Ｐ、間の距
離りが第６図（ｂ）に示すように僅かに（ΔＬ）変動し
ているときがある。

又、クロックピットの位置精度が悪いときも、つオーブ
リングピットのサンプリング位置が僅かに（ΔＬ）変動
する。

このような光磁気ディスクはサンプルサーボピットの位
置変動によってサンプルされた信号のレベルが少なくと
もＳｉｎΔＬ／２だけ変化することになるため、この変
化がトラッキングサーボ回路にオフセットを生じ、正確
なトラッキング状態を達成することができないという問
題がある。

又、光ディスクの内外周で線速度が異なると、ＭＴＦの
影響によってウォーブリングピットの検出レベルが変化
し、上記オフセット値が変動すると共に、光磁気ディス
クの反射率が異なっているディスクではトラッキングサ
ーボ回路のゲインが変動することにより、サーボ回路の
安定性が損われるという問題があった。

［問題点を解決するための手段］ 本発明は、かかる問題点を低減することを目的としてな
されたもので、１個のウォーブリングピットのサンプル
点が３となるようなサンプリングパルスによってウォー
ブリングピットのレベルを検出すると共に、各サンプリ
ング点のレベルの合成信号を得る手段を備え、この合成
信号をそれぞれ減算することによってサンプルトラッキ
ングエラー信号が得られるようにしたものである。

［作用］ 各ウォーブリングピットの反射光を３個のサンプル点で
検出すると、ウォーブリングピットとサンプルクロック
間に多少の位相ずれがあるときでも、各サンプル点から
得られた標本化レベルの合成信号成分は大きな変動とな
らないので、トラッキングエラーの精度が著しく改善さ
れ、トラッキングサーボ回路の動作が安定になる。

〔実施例１ 第１図は、本発明のサンプルトラッキングエラー信号検
出回路の一実施例を示すブロック図で、１０は光学ヘッ
ドから照射されたレーザビームの反射光を受光するホト
ディテクタを示す。

このホトディテクタ１０は各サンプルサーボビットから
反射されレーザ光を電気信号に変換して出力するもので
、本例ではウォーブリングピットＰＡ、Ｐ、の反射強度
レベルが第１のサンプルホールド回路群１１Ａ〜ＩＩｃ
と、第２のサンプルホールド回路部１２Ａ〜１２Ｃに供
給される。

上記各サンプルホールド回路１１Ａ、１２Ａ。

１３Ａ、及びＩＩＢ、１２Ｂ、１３Ｂにはクロック信号
を基準として形成されたサンプルパルス信号Ｐ　Ｉ　Ａ
−Ｐ　３　Ａ　、及びＰ１８〜Ｐ３Ｂが図示しない制御
回路から供給されている。

第２図（ａ）は一方のウォーブリングピットＰＡからの
反射光ＳＡに対する各サンプルパルス信号ｐ、Ａ−ｐ、
＾のサンプル点をＡ　１．　Ａ　ｔ　、　Ａ３で示した
ものである。（なお、ウォーブリングピットＰ８につい
ても同一位相のサンプルパルスＰ　＋ａ−Ｐ　３Ｂが供
給される。

したがって、各サンプルホールド回路１１Ａ。

１２Ａ、１３Ａ及びＩＩＢ、１２Ｂ、１３Ｂから、それ
ぞれ標本化された信号Ｓ　ＩＡ、　Ｓ　２Ａ。

Ｓ　３Ａ、及びＳ　ＩＢ、　Ｓ　２Ｂ＋　Ｓ　３！ｌが
出力され、それぞれ、加算器１４Ａ、１４Ｂで合成され
る。

さらに加算器１４Ａ、１４Ｂの出力は減算器１５に供給
されている。

したがって、減算器１５の出力Ｓ　（ｔ）は、Ｓ　（ｔ
ｌ・（Ｓ＋Ａ”ＳｚＡ＋５３ａｌ　　ｆｓ＋６＋ｓｚＢ
＋５３１１）・・・・（１）となる。

そして、トラッキングサーボ回路はこのサンプルトラッ
キングエラー信号Ｓ　（ｔｌが零となるようにトラッキ
ングアクチュエータを制御する。

本発明では上記したような回路方式でトラッキングエラ
ー信号を形成するように構成しているので、例えば、第
２図（ｂ）に示すように反射光ＳＡのピーク点Ａ１とク
ロック信号ＣＬＫの中心のサンプル点の間に位相ψが生
じたときは、図示されているようにサンプルの点Ａ、、
Ａ２の標本化信号のレベルは低下するが、サンプル点Ａ
３の標本化レベルが高（なり、加算器１４Ａから出力さ
れる合成レベル値は、あまり変化しないことになる。　
同様にウォーブリングピットＰ８の場合も、第２の加算
器１４Ｂから出力される合成レベル値は位相ずれによっ
て大きく変動することがない。

したがって、ビットの位置ずれによって減算器１５から
出力されるトラッキングエラーが変動することを低減す
ることができる。

第３区は、本発明の他の実施例を示すサンプルトラッキ
ングエラー信号検出回路を示したもので、第１図と同一
記号は同一部分を示している。

この実施例で第１のサンプリング回路群にはサンプリン
グホールド回路１１Ａと１３Ａの出力を加算する加算器
１６Ａと、２つの２東回路１７Ａ、１８Ａ、及び残乗算
器１９Ａが追加されており、また第２の回路群には、同
様にサンプリングホールド回路１１Ｂと１３Ｂの出力を
加算する加算器１６Ｂと、２つの２東回路１７Ｂ。

１８Ｂ１％乗算器１９Ｂが追加されている。

以下、この実施例の演算動作をウォーブリングピットＰ
Ａ側で説明する。前記第２図の波形図（ｂ）において、
反射波ＳＡのピークレベル点Ａ２の位相を０・、サンプ
ル点Ａ１とＡ２間の時間的な位相差をπ／２、Ａ２とＡ
３間の時間的な位相差を−π／２とすると、上記第３図
の実施例では、加算器１４Ａから出力される合成電圧Ｓ
、（ｔｌは、 ＳＡ　（ｔｌ・［＋ｓｚＡ＋　２十属ｉｓ、Ａ＋Ｓ、Ａ
＋”］　　・　・　・（２）となる。又、サンプルトラ
ッキングエラー信号Ｓ　（ｔ）は加算器１４Ｂの合成電
圧をＳ　ｔｓ　ｆｔｌとすると、 Ｓ　＋ｔ＋・Ｓａ　（ｔｌ　−ＳＲｍ　　・　・　・　
・　・　・　・　・　・（３）但し、Ｓｓ　（ｔｌ　”
　［ｆｓｚｓ）　”＋　’Ａ　（Ｓ１ｍ＋５３ｔｓ）　
”）となる。

ところで、ウォーブリングピットＰＢのピーク点と、ウ
ォーブリングピットＰ１のピーク点の位相がそれぞれの
信号波形のピーク点のレベルＳＰＡ及びＳ　ＰＩに対し
てそれぞれΔＡ、ΔＢだけ時間的にずれているとすると
、 であるから、 ＳＡ　（ｔｌ　＝ＳＰＡ　　（（ｃｏｓ△Ａ）　２＋’
Ａ　（ｓｉｎΔＡ＋　　ｓｉｎ△Ａ）２　］＝ＳＰＡ 同様に ５ｓ（ｔ）　：Ｓｐａ　Ｅ　Ｉｃｏｓ△Ｂ）　”＋４４
　（ｓｉｎΔ１３＋　ｓｉｎΔＢ）２］”ｓｐａ したがってウォーブリングピットＰＡでは、波形のピー
クレベルとクロックかへＡの位相差を有するときでも、
一定のエラー信号が得られることになり、ウォーブリン
グピットＰＢも一定のエラー信号になる。

そのため、ΔＡ、ΔＢが９０・以内であるときは、総合
的なトラッキングエラーは位相ずれΔＡ、ΔＢに関係な
く一定にすることができる。

次に、光磁気ディスクの種類によって反射率が異なる場
合は、上記した実施例の回路から得られるサンプルトラ
ッキングエラーの振幅値が変動することになるが、この
場合は、第４図に示すように加算器１４Ａと１４Ｂの出
力に対して加算器２０と減算器２１を設け、加算器２０
から出力される反射光の総体的なレベルであるプルイン
信号ＳＰで減算器１５によって検出されたサンプルトラ
ッキングエラー信号を割算器２２で除算することによっ
て、常に一定レベルのトラッキングエラー信号を得るよ
うにすることもできる。

〔発明の効果１ 以上説明したように、本発明のサンプルトラッキングエ
ラー信号検出回路は１対のウォーブリングピットから得
られる反射光を３点で標本化するようなサンプリングパ
ルスを形成し、この３点で得られた検出信号を演算する
ことによって、サンプルサーボビットからトラッキング
エラー信号を生成するようにしているから、サンプル時
点が時間的にずれた場合でも、より精度の高いサンプル
トラッキングエラー信号を得ることができるという効果
がある。

プルサーボビットの説明図、第６図はウォーブリングピ
ットから得られる反射光のサンプリングの従来例を示す
説明図である。

図中、１０はホトディテクタ、１１Ａ〜１３Ａ、及びＩ
ＩＢ〜１３Ｂはサンプルホールド回路、１４Ａ、１４Ｂ
は加算器、１５は減算器を示

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のサンプルトラッキングエラー信号検出
回路の一実施例を示す回路図、第２図はトラッキング信
号の標本化の説明図、第３図は本発明の他の実施例を示
す回路図、第４図は本発明のさらに他の実施例を示す回
路図、第５図はサンＳＡＭＰ、ＣＬに 第 図 第 図 第 図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光ディスクの円周方向に所定の間隔で配列されて
   いる第１及び第２のウォーブリングピットをサンプリン
   グホールドすることによってトラッキングエラー信号を
   形成するとラッキングエラー検出回路において、前記ク
   ロックパルスにより前記第１及び第２のウォーブリング
   ピットを３点で標本化するサンプリングパルスを形成し
   、前記第１のウォーブリングピットの各サンプル点から
   得られるサンプル電圧の合成信号と、前記第２のウォー
   ブリングピット各サンプル点から得られるサンプル電圧
   の合成信号を形成する手段と、前記各合成信号の差を演
   算する演算手段を備え、前記演算手段よりトラッキング
   エラー信号を検出することを特徴とするサンプルトラッ
   キングエラー信号検出回路。
2. （２）合成信号は第１、および第２のサンプル電圧を加
   算した信号を２乗した後１／４にした値と、第３のサン
   プル電圧を２乗した値とを加算する手段によって構成さ
   れていることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載
   のサンプルトラッキングエラー信号検出回路。