JPH0473522B2 - - Google Patents
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- JPH0473522B2 JPH0473522B2 JP24579384A JP24579384A JPH0473522B2 JP H0473522 B2 JPH0473522 B2 JP H0473522B2 JP 24579384 A JP24579384 A JP 24579384A JP 24579384 A JP24579384 A JP 24579384A JP H0473522 B2 JPH0473522 B2 JP H0473522B2
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- linear mark
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- light
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
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- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、フイルム、紙、ゴム、布帛、金属
板、プラスチツクス及び他の板状物体の表面上の
線状マークの位置を検出するために、光源及び複
数個の受光素子を組合せて構成した位置検出方法
の改良に関する。
板、プラスチツクス及び他の板状物体の表面上の
線状マークの位置を検出するために、光源及び複
数個の受光素子を組合せて構成した位置検出方法
の改良に関する。
(従来の技術)
従来、例えば走行するフイルム、ゴム、紙等の
シート状乃至板状の走行物の位置検出手段として
は、通常、該走行物の耳端又は全幅における反射
光あるいは透過光を受光素子に投影し、その受光
量に比例した出力電圧により物体の位置を検出す
る方法が知られている。
シート状乃至板状の走行物の位置検出手段として
は、通常、該走行物の耳端又は全幅における反射
光あるいは透過光を受光素子に投影し、その受光
量に比例した出力電圧により物体の位置を検出す
る方法が知られている。
ところが、この方法の場合は、走行物の耳端又
は全幅が波状に変化した場合、正常な位置信号が
得られなくなつたり、また、透明物体では耳端又
は全幅の光量変化が極めて小さいため位置信号が
得られないという大きな欠点を有している。
は全幅が波状に変化した場合、正常な位置信号が
得られなくなつたり、また、透明物体では耳端又
は全幅の光量変化が極めて小さいため位置信号が
得られないという大きな欠点を有している。
そこで、上記の欠点を除去するために、第1図
に示すような受光素子1、および2を用いた線状
マークの光電式位置検出方法が提案されている。
に示すような受光素子1、および2を用いた線状
マークの光電式位置検出方法が提案されている。
該受光素子は一種の光半導体であり、線状マー
ク3に対し、光源4による投影により受光量が変
化する。受光素子1および2の中心位置より線状
マークの中心の偏位dに対する受光素子1および
増幅器5の出力電圧e1の特性を第2図上側e1に示
す。同様に受光素子2および増幅器6の特性を第
2図の上側にe2で示す。
ク3に対し、光源4による投影により受光量が変
化する。受光素子1および2の中心位置より線状
マークの中心の偏位dに対する受光素子1および
増幅器5の出力電圧e1の特性を第2図上側e1に示
す。同様に受光素子2および増幅器6の特性を第
2図の上側にe2で示す。
この出力電圧e1およびe2の差を演算増幅7によ
り求めて出力e0を得る。線状マークの偏位dに対
するこの出力電圧e0の関係を第2図の下側に示
す。
り求めて出力e0を得る。線状マークの偏位dに対
するこの出力電圧e0の関係を第2図の下側に示
す。
この様にして、受光素子の中心より線状マーク
の偏位dの+、−に対し、比例した+、−の出力電
圧e0により線状マークの位置が検出できる。
の偏位dの+、−に対し、比例した+、−の出力電
圧e0により線状マークの位置が検出できる。
ところが、この検出器の検出信号は受光素子の
受光面の範囲内に限られており、線状マークの偏
位dが、その範囲を越えて、第2図の下側に示す
ようにdm+以上あるいはdm−以下になると出力
電圧が零になり、位置検出信号が得られなくなる
という欠点を有している。
受光面の範囲内に限られており、線状マークの偏
位dが、その範囲を越えて、第2図の下側に示す
ようにdm+以上あるいはdm−以下になると出力
電圧が零になり、位置検出信号が得られなくなる
という欠点を有している。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は、上記の欠点を除去するために研究、
開発されたものである。すなわち、従来の検出器
の検出信号は受光面の範囲内に限られて比例出力
信号をだしており、線状マークの偏位が受光面を
越えた場合は出力電圧が零になるという欠点があ
つたのに鑑み、この欠点を除去し得る線状マーク
の位置検出方法を提供することを目的とする。
開発されたものである。すなわち、従来の検出器
の検出信号は受光面の範囲内に限られて比例出力
信号をだしており、線状マークの偏位が受光面を
越えた場合は出力電圧が零になるという欠点があ
つたのに鑑み、この欠点を除去し得る線状マーク
の位置検出方法を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段)
本発明に係る線状マークの位置検出方法は、線
状マークを透過又は反射した光線を2個の光電素
子に投影して線状マークの位置を検出する位置検
出方法において、線状マークの移動方向の記憶の
ために、2個の受光素子からの信号を演算増幅器
により合成して線状マークの位置に比例した差信
号を得、さらに、該差信号からの信号の正負によ
り論理判断して、記憶回路により線状マークの移
動している方向を記憶する方向信号を得、また、
これとは別系統に、上記2個の受光素子からの信
号を比較器及び論理回路により論理判断し、合成
して、線状マークの位置が比例領域内か比例領域
外かの判断をする制御信号を得、これらの差信
号、方向信号及び制御信号の3信号により、線状
マークの移動方向信号を連続的に発生させる信号
処理を行なつて、線状マークが受光素子から離れ
た位置にあつても該線状マークの移動方向を記憶
して、シート状、板状等の物体の位置を幅広く検
出することを特徴とする線状マークの位置検出方
法。
状マークを透過又は反射した光線を2個の光電素
子に投影して線状マークの位置を検出する位置検
出方法において、線状マークの移動方向の記憶の
ために、2個の受光素子からの信号を演算増幅器
により合成して線状マークの位置に比例した差信
号を得、さらに、該差信号からの信号の正負によ
り論理判断して、記憶回路により線状マークの移
動している方向を記憶する方向信号を得、また、
これとは別系統に、上記2個の受光素子からの信
号を比較器及び論理回路により論理判断し、合成
して、線状マークの位置が比例領域内か比例領域
外かの判断をする制御信号を得、これらの差信
号、方向信号及び制御信号の3信号により、線状
マークの移動方向信号を連続的に発生させる信号
処理を行なつて、線状マークが受光素子から離れ
た位置にあつても該線状マークの移動方向を記憶
して、シート状、板状等の物体の位置を幅広く検
出することを特徴とする線状マークの位置検出方
法。
(作 用)
本発明は、2個の受光素子の差信号により位置
に比例した信号を得、これに線状マークの移動方
向信号を発生させる信号処理回路を付加し、これ
らの信号を組合せることにより、これらの受光素
子から離れた位置に線状マークがあつても線状マ
ークの移動方向を記憶させ得ているために一定の
位置信号を得ることができる。
に比例した信号を得、これに線状マークの移動方
向信号を発生させる信号処理回路を付加し、これ
らの信号を組合せることにより、これらの受光素
子から離れた位置に線状マークがあつても線状マ
ークの移動方向を記憶させ得ているために一定の
位置信号を得ることができる。
(実施例)
以下、図面を参照しながら本発明の実施例につ
いて説明する。
いて説明する。
実施例 1
第3図は実施例1の概略構成図を示すものであ
つて、8は光源、9はフイルム、紙、ゴム等のシ
ート状走行物上に書かれた線状マークの光電素子
10,11上での投影である。光電素子10,1
1の出力は増幅器12,13により増幅された出
力電圧e1,e2を作る。この出力電圧e1およびe2は
演算増幅器14により次式の演算を行い出力eDを
得る。
つて、8は光源、9はフイルム、紙、ゴム等のシ
ート状走行物上に書かれた線状マークの光電素子
10,11上での投影である。光電素子10,1
1の出力は増幅器12,13により増幅された出
力電圧e1,e2を作る。この出力電圧e1およびe2は
演算増幅器14により次式の演算を行い出力eDを
得る。
すなわち、
eD=e2−e1
光電素子10および11の中心と線状マークの
中心との偏位dに対する出力電圧e1,e2の特性を
第4図Aに、光電素子10および11の中心と線
状マークの中心との偏位dに対する出力eDの関係
を第4図Bに示す。
中心との偏位dに対する出力電圧e1,e2の特性を
第4図Aに、光電素子10および11の中心と線
状マークの中心との偏位dに対する出力eDの関係
を第4図Bに示す。
次に出力eDに対して比較器15によつて零ボル
トで比較を行い、整流器16,17により+側お
よび−側を別々に取り出し、第4図D,Eに示す
電圧eSおよびRを作る。そしてRを符号反転器1
8により反転させたものが電圧eRである。
トで比較を行い、整流器16,17により+側お
よび−側を別々に取り出し、第4図D,Eに示す
電圧eSおよびRを作る。そしてRを符号反転器1
8により反転させたものが電圧eRである。
この電圧eSおよびeRを記憶回路19に入力する
ことにより、記憶回路入力Sがひとたび「高」に
なれば、記憶回路入力Rが「高」にならない限り
記憶回路の出力は「高」を保持する。また、記憶
回路入力Rがひとたび「高」になれば、記憶回路
入力Sが「高」にならない限り記憶回路19の出
力は「低」を保持する。したがつて線状マークの
偏位dの零を基準に記憶回路の出力「高」および
「低」の信号を得ることができる。この記憶回路
19の出力を3ステートゲート回路20のコント
ロール入力に加える。この3ステートゲート回路
20の信号入力に+信号および−信号を加えつづ
けることにより、3ステートゲート回路20の出
力は線状マークの偏位dの零を基準に∞>d>0
の時は+、0>d>−∞の時は−の出力信号を
夫々作ることができる。
ことにより、記憶回路入力Sがひとたび「高」に
なれば、記憶回路入力Rが「高」にならない限り
記憶回路の出力は「高」を保持する。また、記憶
回路入力Rがひとたび「高」になれば、記憶回路
入力Sが「高」にならない限り記憶回路19の出
力は「低」を保持する。したがつて線状マークの
偏位dの零を基準に記憶回路の出力「高」および
「低」の信号を得ることができる。この記憶回路
19の出力を3ステートゲート回路20のコント
ロール入力に加える。この3ステートゲート回路
20の信号入力に+信号および−信号を加えつづ
けることにより、3ステートゲート回路20の出
力は線状マークの偏位dの零を基準に∞>d>0
の時は+、0>d>−∞の時は−の出力信号を
夫々作ることができる。
次に第4図Aにおいて出力電圧e1、およびe2に
対し、線状マークの偏位d=0の交点から比較器
21,22によつて比較レベルをかけると、それ
ぞれ第4図Cに示す−−−−−なる
電圧e1Cおよび−−−−なる電圧e2Cを
作ることができる。この2つの電圧e1C、e2Cを論
理回路23にて論理積を作ることにより−−
−−−なる電圧信号を得ることができ
る。この電圧信号、3ステートゲート回路20の
出力電圧信号および、演算増幅器14の出力電圧
信号を3ステートゲート回路24に加えることに
よつて3ステートゲート回路24の出力電圧信号
eDをつくりだすことができる。
対し、線状マークの偏位d=0の交点から比較器
21,22によつて比較レベルをかけると、それ
ぞれ第4図Cに示す−−−−−なる
電圧e1Cおよび−−−−なる電圧e2Cを
作ることができる。この2つの電圧e1C、e2Cを論
理回路23にて論理積を作ることにより−−
−−−なる電圧信号を得ることができ
る。この電圧信号、3ステートゲート回路20の
出力電圧信号および、演算増幅器14の出力電圧
信号を3ステートゲート回路24に加えることに
よつて3ステートゲート回路24の出力電圧信号
eDをつくりだすことができる。
その結果、3ステートゲート回路20のコント
ロール入力が「高」である期間、すなわち、線状
マークが光電素子の外側で、演算増幅器14の出
力電圧eDが零になる直前に、∞>d>0で+、0
<d<−∞で−の信号に切替える。また3ステー
トゲート回路20のコントロール入力が「低」で
ある期間は、演算増幅器14の出力電圧eDのレベ
ルに切り替える。したがつて、3ステートゲート
回路24の出力電圧eOは第4図Bに示す−−
−−−−−−−となる。
ロール入力が「高」である期間、すなわち、線状
マークが光電素子の外側で、演算増幅器14の出
力電圧eDが零になる直前に、∞>d>0で+、0
<d<−∞で−の信号に切替える。また3ステー
トゲート回路20のコントロール入力が「低」で
ある期間は、演算増幅器14の出力電圧eDのレベ
ルに切り替える。したがつて、3ステートゲート
回路24の出力電圧eOは第4図Bに示す−−
−−−−−−−となる。
以上の様に、線状マークの偏位が受光素子の寸
法に比べて大であつても正負の位置出力電圧が得
られ、動作範囲を広範囲に広めることができた。
法に比べて大であつても正負の位置出力電圧が得
られ、動作範囲を広範囲に広めることができた。
実施例 2
第5図は実施例2の概略構成図を示すものであ
つて、25は光源、26はフイルム、紙、ゴム等
のシート状走行物上に書かれた線状マークの光電
素子27,28上での投影である。光電素子2
7,28の出力は増幅器30,31により増幅さ
れた出力電圧e1、e2を作る。この出力電圧e1およ
びe2は演算増幅器32により次式の演算を行い出
力eDを得る。すなわち eD=e2−e1 光電素子27および28の中心と線状マークの
中心との偏位dに対する出力電圧e1、e2の特性を
第6図Aに、光電素子27および28の中心と線
状マークの中心との偏位dに対する演算増幅器3
2の出力電圧eDの関係を第6図Bに示す。
つて、25は光源、26はフイルム、紙、ゴム等
のシート状走行物上に書かれた線状マークの光電
素子27,28上での投影である。光電素子2
7,28の出力は増幅器30,31により増幅さ
れた出力電圧e1、e2を作る。この出力電圧e1およ
びe2は演算増幅器32により次式の演算を行い出
力eDを得る。すなわち eD=e2−e1 光電素子27および28の中心と線状マークの
中心との偏位dに対する出力電圧e1、e2の特性を
第6図Aに、光電素子27および28の中心と線
状マークの中心との偏位dに対する演算増幅器3
2の出力電圧eDの関係を第6図Bに示す。
次に光電素子27,28の出力が増幅器30,
31により増幅された出力電圧e1およびe2に対
し、線状マークの偏位d=0の交点から比較器3
3,33′によつて比較レベルをかけると、それ
ぞれ第6図Cに示す−−−−−なる
電圧e1Cおよび−−−−−なる電圧
e2Cを作ることができる。
31により増幅された出力電圧e1およびe2に対
し、線状マークの偏位d=0の交点から比較器3
3,33′によつて比較レベルをかけると、それ
ぞれ第6図Cに示す−−−−−なる
電圧e1Cおよび−−−−−なる電圧
e2Cを作ることができる。
この2つの電圧e1C、e2Cを論理回路29にて論
理積を作ることによつて−−−−−
−−−−なる電圧信号を得ることができ
る。これを比較器34によつて比較レベル(バイ
アス)をかけると、第6図Dに点線で示される電
圧Hが作れる。この電圧Hの反転電圧eHを符号反
転器35により求め、これを第6図Dに実線で示
す。
理積を作ることによつて−−−−−
−−−−なる電圧信号を得ることができ
る。これを比較器34によつて比較レベル(バイ
アス)をかけると、第6図Dに点線で示される電
圧Hが作れる。この電圧Hの反転電圧eHを符号反
転器35により求め、これを第6図Dに実線で示
す。
今、もし、偏位dがd1<d<d2とすると、第6
図BのeD+と第6図DのeHとの論理積が論理回路
(AND)36により得られる。したがつて記憶回
路(フリツプフロツプ)37はセツトされ、その
出力は「O」=ON、「」=OFFとなる。
図BのeD+と第6図DのeHとの論理積が論理回路
(AND)36により得られる。したがつて記憶回
路(フリツプフロツプ)37はセツトされ、その
出力は「O」=ON、「」=OFFとなる。
これによりアナログゲート38は開くが、この
範囲の偏位dでは比較器34の出力Hは負であ
り、整流器39の出力は零であるので、アナログ
ゲート38の出力は零である。
範囲の偏位dでは比較器34の出力Hは負であ
り、整流器39の出力は零であるので、アナログ
ゲート38の出力は零である。
ところが偏位dがd>d2となると、第6図Dに
示すように比較器34の出力Hが発生するので最
大値回路40の出力e0は第6図BのHの様にな
り、したがつてd>d2の間では最大値回路40の
出力e0は保持される。
示すように比較器34の出力Hが発生するので最
大値回路40の出力e0は第6図BのHの様にな
り、したがつてd>d2の間では最大値回路40の
出力e0は保持される。
次に、偏位dが減少し、d4まで変化した場合、
これに対応して最大値回路40の出力e0は第6図
Bに示す様に、−−−−−の軌跡を
たどつて変化する。このとき、偏位dの範囲がd3
>d>d4では比較器34の出力Hの反転信号が符
号反転器41で得られ、また演算増幅器32の出
力eD-(第6図B)の反転信号が符号反転器42で
得られる。これらの信号の論理積の演算が論理回
路43により得られる。したがつて記憶回路44
はリセツトされ、その出力「」=ON、「O」=
OFFとなる。これによりアナログゲート38は
開くが、この範囲の偏位dでは符号反転器35の
出力eHは正であり、整流器45の出力は零である
のでアナログゲート44の出力は零となる。
これに対応して最大値回路40の出力e0は第6図
Bに示す様に、−−−−−の軌跡を
たどつて変化する。このとき、偏位dの範囲がd3
>d>d4では比較器34の出力Hの反転信号が符
号反転器41で得られ、また演算増幅器32の出
力eD-(第6図B)の反転信号が符号反転器42で
得られる。これらの信号の論理積の演算が論理回
路43により得られる。したがつて記憶回路44
はリセツトされ、その出力「」=ON、「O」=
OFFとなる。これによりアナログゲート38は
開くが、この範囲の偏位dでは符号反転器35の
出力eHは正であり、整流器45の出力は零である
のでアナログゲート44の出力は零となる。
ところが、偏位dがd<d4となると、第6図D
に示すように符号反転器の出力eHが発生するの
で、最大値回路40の出力e0は第6図BのeH-の
ようになり、したがつてd<d4の間では最大値回
路40の出力e0は保持する。
に示すように符号反転器の出力eHが発生するの
で、最大値回路40の出力e0は第6図BのeH-の
ようになり、したがつてd<d4の間では最大値回
路40の出力e0は保持する。
以上のようにして偏位dの値が+∞>d>−∞
に対して、本線状マーク位置検出器の出力は第4
図Bに示すように−−−−−−−
−となる。
に対して、本線状マーク位置検出器の出力は第4
図Bに示すように−−−−−−−
−となる。
以上のように線状マークの偏位が受光素子の寸
法に比べて大であつても正負の位置出力電圧が得
られ、動作範囲を広範囲に広めることができた。
法に比べて大であつても正負の位置出力電圧が得
られ、動作範囲を広範囲に広めることができた。
(発明の効果)
以上詳述したように、本発明は、2個の受光素
子のみの検出であり、且つ線状マークの移動方向
記憶のための信号処理回路を有する検出方法であ
るため、シート状乃至板状物体の線状マークの位
置を直線性よく、かつまた、極めて広範囲にわた
つて検出できる多大の特徴を有する。
子のみの検出であり、且つ線状マークの移動方向
記憶のための信号処理回路を有する検出方法であ
るため、シート状乃至板状物体の線状マークの位
置を直線性よく、かつまた、極めて広範囲にわた
つて検出できる多大の特徴を有する。
さらに、シート状乃至板状物体の耳端が波状に
変形していても、また、静止中あるいは移動中で
も位置検出が可能であり、本発明に係る検出方法
はすべてのシート状乃至板状物体の表面上の線状
マークの位置検出に有効に適用できるものであ
る。
変形していても、また、静止中あるいは移動中で
も位置検出が可能であり、本発明に係る検出方法
はすべてのシート状乃至板状物体の表面上の線状
マークの位置検出に有効に適用できるものであ
る。
第1図は従来の線状マークの光電式位置検出器
の概略構成図、第2図はその検出器の偏位、電気
特性図、第3図は本発明の実施例1の概略構成
図、第4図はその偏位、電気特性図を示すもの
で、Aは光電素子出力電圧特性、Bは出力電圧特
性、Cは光電素子出力電圧に対する比較電圧特
性、D及びEは記憶回路入力特性を夫々示してお
り、第5図は本発明の実施例2の概略構成図、第
6図はその偏位、電気特性図を示すもので、Aは
光電素子出力電圧特性、Bは出力電圧特性、Cは
光電素子出力電圧に対する比較電圧特性、Dは記
憶回路信号処理入力特性を夫々示すものである。 8…光源、9…投影、10,11…光電素子、
12,13…増幅器、14…演算増幅器、15…
比較器、16,17…整流器、18…符号反転
器、19…記憶回路、20…3ステートゲート回
路、21,22…比較器、23…論理回路、24
…3ステートゲート回路、25…光源、26…投
影、27,28…光電素子、30,31…増幅
器、32…演算増幅器、33,33′…比較器、
29…論理回路、34…比較器、35…符号反転
器、36…論理回路、37…記憶回路、38…ア
ナログゲート、39…整流器、40…最大値回
路、41,42…符号反転器、43…論理回路、
44…アナログゲート、45…整流器。
の概略構成図、第2図はその検出器の偏位、電気
特性図、第3図は本発明の実施例1の概略構成
図、第4図はその偏位、電気特性図を示すもの
で、Aは光電素子出力電圧特性、Bは出力電圧特
性、Cは光電素子出力電圧に対する比較電圧特
性、D及びEは記憶回路入力特性を夫々示してお
り、第5図は本発明の実施例2の概略構成図、第
6図はその偏位、電気特性図を示すもので、Aは
光電素子出力電圧特性、Bは出力電圧特性、Cは
光電素子出力電圧に対する比較電圧特性、Dは記
憶回路信号処理入力特性を夫々示すものである。 8…光源、9…投影、10,11…光電素子、
12,13…増幅器、14…演算増幅器、15…
比較器、16,17…整流器、18…符号反転
器、19…記憶回路、20…3ステートゲート回
路、21,22…比較器、23…論理回路、24
…3ステートゲート回路、25…光源、26…投
影、27,28…光電素子、30,31…増幅
器、32…演算増幅器、33,33′…比較器、
29…論理回路、34…比較器、35…符号反転
器、36…論理回路、37…記憶回路、38…ア
ナログゲート、39…整流器、40…最大値回
路、41,42…符号反転器、43…論理回路、
44…アナログゲート、45…整流器。
Claims (1)
- 1 線状マークを透過又は反射した光線を2個の
光電素子に投影して線状マークの位置を検出する
位置検出方法において、線状マークの移動方向の
記憶のために、2個の受光素子からの信号を演算
増幅器により合成して線状マークの位置に比例し
た差信号を得、さらに、該差信号からの信号の正
負により論理判断して、記憶回路により線状マー
クの移動している方向を記憶する方向信号を得、
また、これとは別系統に、上記2個の受光素子か
らの信号を比較器及び論理回路により論理判断
し、合成して、線状マークの位置が比例領域内か
比例領域外かの判断をする制御信号を得、これら
の差信号、方向信号及び制御信号の3信号によ
り、線状マークの移動方向信号を連続的に発生さ
せる信号処理を行なつて、線状マークが受光素子
から離れた位置にあつても該線状マークの移動方
向を記憶して、シート状、板状等の物体の位置を
幅広く検出することを特徴とする線状マークの位
置検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24579384A JPS61122506A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 線状マークの位置検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24579384A JPS61122506A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 線状マークの位置検出方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61122506A JPS61122506A (ja) | 1986-06-10 |
| JPH0473522B2 true JPH0473522B2 (ja) | 1992-11-24 |
Family
ID=17138910
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24579384A Granted JPS61122506A (ja) | 1984-11-20 | 1984-11-20 | 線状マークの位置検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS61122506A (ja) |
-
1984
- 1984-11-20 JP JP24579384A patent/JPS61122506A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS61122506A (ja) | 1986-06-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |