JPS6126624B2 - - Google Patents
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- JPS6126624B2 JPS6126624B2 JP6943078A JP6943078A JPS6126624B2 JP S6126624 B2 JPS6126624 B2 JP S6126624B2 JP 6943078 A JP6943078 A JP 6943078A JP 6943078 A JP6943078 A JP 6943078A JP S6126624 B2 JPS6126624 B2 JP S6126624B2
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 21
- 238000003491 array Methods 0.000 claims description 16
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 28
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 108091027981 Response element Proteins 0.000 description 1
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- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は物体の相対的速度を検出する速度検出
方法及びその装置に関する。
方法及びその装置に関する。
従来、物体の相対的速度を非接触で知る方法と
しては光検知方法がある。この光検知方法では第
１図に示すように空間的に離れた２個所において
光電変換素子１，２により物体３のパターンを検
出し、光電変換素子１が物体３のパターンを検出
した時間と、それから物体３が相対的に移動して
光電変換素子２によりそのパターンが検出された
時間との差をカウンタ４で発振器５からのパルス
をカウントすることによつて測定して物体３の相
対的速度を検出している。
しては光検知方法がある。この光検知方法では第
１図に示すように空間的に離れた２個所において
光電変換素子１，２により物体３のパターンを検
出し、光電変換素子１が物体３のパターンを検出
した時間と、それから物体３が相対的に移動して
光電変換素子２によりそのパターンが検出された
時間との差をカウンタ４で発振器５からのパルス
をカウントすることによつて測定して物体３の相
対的速度を検出している。
しかし、このような速度検出方法では物体３の
パターンがあらかじめ定められた黒地に白いマー
ク、又は逆に白地に黒いマークよりなる特殊なパ
ターンでなければ物体３の相対的速度を検出する
ことが困難であり、そのような特殊なパターンを
物体３に常に設置できる状況は少ない。
パターンがあらかじめ定められた黒地に白いマー
ク、又は逆に白地に黒いマークよりなる特殊なパ
ターンでなければ物体３の相対的速度を検出する
ことが困難であり、そのような特殊なパターンを
物体３に常に設置できる状況は少ない。
本発明は上記欠点を除去し、速度検出を物体に
特殊なパターンがなくとも簡単に行うことができ
るコンパクトな速度検出方法及びその装置を提供
することを目的とする。
特殊なパターンがなくとも簡単に行うことができ
るコンパクトな速度検出方法及びその装置を提供
することを目的とする。
以下図面を参照しながら本発明の実施例につい
て説明する。
て説明する。
第２図に示すように物体６を検出する検出器
９，１０には光電変換素子アレイが用いられ、こ
の光電変換素子アレイは光応答素子１１〜１４，
１５〜１８の直線的なアレイよりなる。図では４
つの光応答素子１１〜１４，１５〜１８が同一平
面上に並んで示されているが、その数が増加すれ
ばそれから得られる結果は明確さと信頼度が向上
する。検出器９，１０の面上に形成される物体６
の像は識別可能な空間輻射分布を示す程度に光学
系７，８により集光される。光学系７，８、検出
器９，１０により物体６を空間的に離れている２
個所Ａ，Ｂで時間的に順次検出すれば検出器９，
１０への輻射強度パターンは物体６がＡ位置にあ
る時と、それからＢ位置に移動した時とで同一に
なつて検出器９，１０の対応する素子１１〜１
４，１５〜１８からの出力が同一になる。
９，１０には光電変換素子アレイが用いられ、こ
の光電変換素子アレイは光応答素子１１〜１４，
１５〜１８の直線的なアレイよりなる。図では４
つの光応答素子１１〜１４，１５〜１８が同一平
面上に並んで示されているが、その数が増加すれ
ばそれから得られる結果は明確さと信頼度が向上
する。検出器９，１０の面上に形成される物体６
の像は識別可能な空間輻射分布を示す程度に光学
系７，８により集光される。光学系７，８、検出
器９，１０により物体６を空間的に離れている２
個所Ａ，Ｂで時間的に順次検出すれば検出器９，
１０への輻射強度パターンは物体６がＡ位置にあ
る時と、それからＢ位置に移動した時とで同一に
なつて検出器９，１０の対応する素子１１〜１
４，１５〜１８からの出力が同一になる。
第３図〜第５図には検出器９，１０の対応する
素子１１〜１４，１５〜１８の関係を示す。ここ
で、物体６の相対的移動方向と光電変換素子アレ
イ９，１０の配列方向は平行であり、光電変換素
子アレイ９，１０は同一平面上にありかつ同一直
線上にある。今、光学系７，８の光軸間距離をｌ
とし、物体６の相対的移動速度をｖとし、又光電
変換素子アレイ９，１０を構成する光応答素子１
１と１５，１２と１６，１３と１７，１４と１８
が対応している。第３図は光電変換素子アレイ９
が検出する物体６からの光入力と、それから物体
６が移動してｌ／ｖ後に光電変換素子アレイ１０
が検出する物体６からの光入力とが等しいことを
示している。つまり、光応答素子１１と１５の輻
射強度が等しくてその出力信号が等しく、同様に
光応答素子１２と１６，１３と１７，１４と１８
の出力信号も等しい。このように第３図は２つの
光電変換素子アレイ９，１０の輻射強度パターン
が同じひろがりを持つ場合を示す。第４図，第５
図は光電変換素子アレイ９が物体６を検出する時
間に対して光電変換素子アレイ１０が物体６を検
出する時間が遅い場合及び早い場合を示す。第４
図のように光電変換素子アレイ９が検出した輻射
強度パターンをta＞ｌ／ｖなるta秒後に光電変換
素子アレイ１０が検出すると、光電変換素子アレ
イ９，１０の輻射強度パターンが同じ広がりを示
さず各光応答素子１１と１５，１２と１６，１３
と１７，１４と１８の出力信号が対応しない。同
様に第５図のように光電変換素子アレイ９が検出
した輻射強度パターンをtb＞ｌ／ｖなるtb秒後に
光電変換素子アレイ１０が検出すると、各光応答
素子１１と１５，１２と１６，１３と１７，１４
と１８の出力信号が対応しない。このように光電
変換素子アレイ９が物体６を検出する時から光電
変換素子アレイ１０が物体６を検出する時までの
時間ｔが物体６が光電変換素子９，１０の光軸間
距離ｌを移動する時間ｌ／ｖに対し早すぎたり遅
すぎたりすると、光電変換素子アレイ９，１０の
とり入れる輻射強度パターンが相対的にずれ、そ
のずれ量は時間ｔの関数として変化する。
素子１１〜１４，１５〜１８の関係を示す。ここ
で、物体６の相対的移動方向と光電変換素子アレ
イ９，１０の配列方向は平行であり、光電変換素
子アレイ９，１０は同一平面上にありかつ同一直
線上にある。今、光学系７，８の光軸間距離をｌ
とし、物体６の相対的移動速度をｖとし、又光電
変換素子アレイ９，１０を構成する光応答素子１
１と１５，１２と１６，１３と１７，１４と１８
が対応している。第３図は光電変換素子アレイ９
が検出する物体６からの光入力と、それから物体
６が移動してｌ／ｖ後に光電変換素子アレイ１０
が検出する物体６からの光入力とが等しいことを
示している。つまり、光応答素子１１と１５の輻
射強度が等しくてその出力信号が等しく、同様に
光応答素子１２と１６，１３と１７，１４と１８
の出力信号も等しい。このように第３図は２つの
光電変換素子アレイ９，１０の輻射強度パターン
が同じひろがりを持つ場合を示す。第４図，第５
図は光電変換素子アレイ９が物体６を検出する時
間に対して光電変換素子アレイ１０が物体６を検
出する時間が遅い場合及び早い場合を示す。第４
図のように光電変換素子アレイ９が検出した輻射
強度パターンをta＞ｌ／ｖなるta秒後に光電変換
素子アレイ１０が検出すると、光電変換素子アレ
イ９，１０の輻射強度パターンが同じ広がりを示
さず各光応答素子１１と１５，１２と１６，１３
と１７，１４と１８の出力信号が対応しない。同
様に第５図のように光電変換素子アレイ９が検出
した輻射強度パターンをtb＞ｌ／ｖなるtb秒後に
光電変換素子アレイ１０が検出すると、各光応答
素子１１と１５，１２と１６，１３と１７，１４
と１８の出力信号が対応しない。このように光電
変換素子アレイ９が物体６を検出する時から光電
変換素子アレイ１０が物体６を検出する時までの
時間ｔが物体６が光電変換素子９，１０の光軸間
距離ｌを移動する時間ｌ／ｖに対し早すぎたり遅
すぎたりすると、光電変換素子アレイ９，１０の
とり入れる輻射強度パターンが相対的にずれ、そ
のずれ量は時間ｔの関数として変化する。
第６図は光電変換素子アレイ９，１０のとり入
れた輻射強度パターンのずれを取り出す回路の一
例を示す。光電変換素子９の各光応答素子１１〜
１４の出力信号はそれぞれ保持回路１９〜２２で
保持され、光電変換素子アレイ１０の各光応答素
子１５〜１８の出力信号と対応するもの同志で処
理回路２３〜２６により差がとられ、それらの差
の絶対値がとられて混合され１つの出力２７とな
る。今、物体６の速度が仮に少くともｌ／ｔnax
より早いとすれば出力信号２７と上記時間ｔの関
係は第７図のようになる。光応答素子１１〜１４
の出力信号を保持回路１９〜２２でt0の時点より
ｔnax秒間保持させておくと、t0の時点よりt1秒
後，t2秒後，……ｔnax秒後における出力２７は
第７図のようになる。出力２７はt1秒後には大き
な値を示し、t1，t2，t3……秒後と次第に小さい
値になる。つまり、出力２７は時間ｔがｌ／ｖに
近ずくに従い最小値に近ずき、出力２７が最小値
となる時間tmはｌ／ｖとなり、時間ｔがｔnをす
ぎると、出力２７が次第に大きくなる。従つて出
力２７が最小値を示す時間ｔnを求めれば２つの
光電変換素子アレイ９，１０の光学軸間距離ｌよ
り物体６の相対的移動速度ｖが求まる。又物体６
の限界速度vm＝ｌ／ｔnaxがあらかじめ決められ
ている場合にはt0〜ｔnax以内に必ず出力２７の
最小値が存在する。そこでｔnax後に光電変換素
子アレイ９において輻射入力を新たにとり入れて
保持回路１９〜２２で保持すれば同様に次の時点
での物体６の相対的速度が求められる。このよう
にｔnax秒を周期して上記動作を繰り返えせば物
体６の刻々変化する相対的速度の測定が可能とな
る。
れた輻射強度パターンのずれを取り出す回路の一
例を示す。光電変換素子９の各光応答素子１１〜
１４の出力信号はそれぞれ保持回路１９〜２２で
保持され、光電変換素子アレイ１０の各光応答素
子１５〜１８の出力信号と対応するもの同志で処
理回路２３〜２６により差がとられ、それらの差
の絶対値がとられて混合され１つの出力２７とな
る。今、物体６の速度が仮に少くともｌ／ｔnax
より早いとすれば出力信号２７と上記時間ｔの関
係は第７図のようになる。光応答素子１１〜１４
の出力信号を保持回路１９〜２２でt0の時点より
ｔnax秒間保持させておくと、t0の時点よりt1秒
後，t2秒後，……ｔnax秒後における出力２７は
第７図のようになる。出力２７はt1秒後には大き
な値を示し、t1，t2，t3……秒後と次第に小さい
値になる。つまり、出力２７は時間ｔがｌ／ｖに
近ずくに従い最小値に近ずき、出力２７が最小値
となる時間tmはｌ／ｖとなり、時間ｔがｔnをす
ぎると、出力２７が次第に大きくなる。従つて出
力２７が最小値を示す時間ｔnを求めれば２つの
光電変換素子アレイ９，１０の光学軸間距離ｌよ
り物体６の相対的移動速度ｖが求まる。又物体６
の限界速度vm＝ｌ／ｔnaxがあらかじめ決められ
ている場合にはt0〜ｔnax以内に必ず出力２７の
最小値が存在する。そこでｔnax後に光電変換素
子アレイ９において輻射入力を新たにとり入れて
保持回路１９〜２２で保持すれば同様に次の時点
での物体６の相対的速度が求められる。このよう
にｔnax秒を周期して上記動作を繰り返えせば物
体６の刻々変化する相対的速度の測定が可能とな
る。
上記速度検出方法によれば空間的に離れた２個
所からの輻射線を２つの類似する光応答素子アレ
イに光学系により結像させることにより物体の相
対的速度を検出するので、物体が特殊なパターン
を有しなくても速度検出を非接触で行うことがで
きる。又光応答素子アレイは単一の基板上にホト
トランジスタ，ホトダイオードなどの固体光電変
換素子よりなる光応答素子を狭い間隔で配列して
もよいが、同一のチツプ上に複数の光応答素子を
並べて集積回路に構成すればコンパクトになる。
なお、光応答素子アレイ９，１０は第８図に示す
ように近接して平行に配置しても差支えない。
所からの輻射線を２つの類似する光応答素子アレ
イに光学系により結像させることにより物体の相
対的速度を検出するので、物体が特殊なパターン
を有しなくても速度検出を非接触で行うことがで
きる。又光応答素子アレイは単一の基板上にホト
トランジスタ，ホトダイオードなどの固体光電変
換素子よりなる光応答素子を狭い間隔で配列して
もよいが、同一のチツプ上に複数の光応答素子を
並べて集積回路に構成すればコンパクトになる。
なお、光応答素子アレイ９，１０は第８図に示す
ように近接して平行に配置しても差支えない。
上記速度検出方法は例えば第６図及び第９図の
装置にて実現される。第６図の装置では前述の如
く所定の時点t0で光応答素子１１〜１４の出力信
号が保持回路１９〜２２により保持され、検出器
１０は相対的に移動する物体６からの輻射エネル
ギーに従い輻射分布パターンが刻々と変化して出
力信号が変化する。処理回路２３〜２６では光応
答素子１１と１５，１２と１６，１３と１７，１
４と１８の出力信号の差をとり、さらにその絶対
値をとる。この処理回路２３〜２６の出力信号は
混合されて１つの信号２７となる。一方、第９図
の装置ではその信号27の最小値が判定回路２８に
より求められ、その判定回路２８の出力が出され
た時点が保持回路１９〜２２、検出器１０の出力
信号が同一になつたことを示す。即ち、検出器９
がとらえて保持回路１９〜２２で保持した物体６
のパターンが、ある時間ｔn後に検出器１０でと
らえた物体６のパターンと同一になり、その時間
ｔnで物体６が検出器９の検出位置から検出器の
検出位置に相対的に移動したことになつて物体６
の相対的速度ｖがｌ／ｔnになる。判定回路２８
は信号２７の最小値を連続的に判定し、ラツチ回
路２９は判定回路２８の出力信号によりカウンタ
３０の内容を取り込んでラツチする。カウンタ３
０は判定回路２８の出力信号によりクリアされて
発振器３１からのクロツクの新たなカウントを開
始し、又保持回路１９〜２２は判定回路２８の出
力信号により光応答素子１１〜１４からの新たな
信号を保持する。従つてラツチ回路２９の内容は
時間ｔnに応じた速度情報となり、刻々と更新さ
れる。つまり、信号２７の最小値が検出される周
期で、言い換えれば物体６が検出器９，１０の検
出位置間を移動する時間毎に物体６の速度検出を
繰り返すことになる。たとえばｖ＝200mm／sec，
ｌ＝100μｍとすれば0.5msec毎に速度検出を繰
り返すことになる。このように物体６の相対的速
度が一定ではなく刻々と変化している場合でも高
速にその瞬時速度を求めることができる。この場
合光応答素子の大きさが小さく検出位置間の距離
が小さい程、速度ｖの変化を精確に知ることがで
きる。この意味で検出器はフオトダイオードをア
レイ状に集積化したものが最も好ましい。
装置にて実現される。第６図の装置では前述の如
く所定の時点t0で光応答素子１１〜１４の出力信
号が保持回路１９〜２２により保持され、検出器
１０は相対的に移動する物体６からの輻射エネル
ギーに従い輻射分布パターンが刻々と変化して出
力信号が変化する。処理回路２３〜２６では光応
答素子１１と１５，１２と１６，１３と１７，１
４と１８の出力信号の差をとり、さらにその絶対
値をとる。この処理回路２３〜２６の出力信号は
混合されて１つの信号２７となる。一方、第９図
の装置ではその信号27の最小値が判定回路２８に
より求められ、その判定回路２８の出力が出され
た時点が保持回路１９〜２２、検出器１０の出力
信号が同一になつたことを示す。即ち、検出器９
がとらえて保持回路１９〜２２で保持した物体６
のパターンが、ある時間ｔn後に検出器１０でと
らえた物体６のパターンと同一になり、その時間
ｔnで物体６が検出器９の検出位置から検出器の
検出位置に相対的に移動したことになつて物体６
の相対的速度ｖがｌ／ｔnになる。判定回路２８
は信号２７の最小値を連続的に判定し、ラツチ回
路２９は判定回路２８の出力信号によりカウンタ
３０の内容を取り込んでラツチする。カウンタ３
０は判定回路２８の出力信号によりクリアされて
発振器３１からのクロツクの新たなカウントを開
始し、又保持回路１９〜２２は判定回路２８の出
力信号により光応答素子１１〜１４からの新たな
信号を保持する。従つてラツチ回路２９の内容は
時間ｔnに応じた速度情報となり、刻々と更新さ
れる。つまり、信号２７の最小値が検出される周
期で、言い換えれば物体６が検出器９，１０の検
出位置間を移動する時間毎に物体６の速度検出を
繰り返すことになる。たとえばｖ＝200mm／sec，
ｌ＝100μｍとすれば0.5msec毎に速度検出を繰
り返すことになる。このように物体６の相対的速
度が一定ではなく刻々と変化している場合でも高
速にその瞬時速度を求めることができる。この場
合光応答素子の大きさが小さく検出位置間の距離
が小さい程、速度ｖの変化を精確に知ることがで
きる。この意味で検出器はフオトダイオードをア
レイ状に集積化したものが最も好ましい。
保持回路１９〜２２の例をあげれば保持時間が
信号２７の最小値を検出するまでの時間ｔnであ
つて非常に短いので、第１０図に示すような抵抗
Ｒ及びコンデンサＣよりなる回路で実現できる。
信号２７の最小値を検出するまでの時間ｔnであ
つて非常に短いので、第１０図に示すような抵抗
Ｒ及びコンデンサＣよりなる回路で実現できる。
処理回路２３〜２６は一例として第１１図に示
すような回路があげられる。この回路では保持回
路１９〜２２の出力信号と光応答素子１５〜１８
の出力信号を演算増幅器よりなる差動増幅器３２
〜３５でそれぞれ比較して差を取り、それらの差
の絶対和を点線内の回路３６で作り出す。このよ
うに演算増幅器３２〜３５を用いれば入力インピ
ーダンスが高くなるので、保持回路１９〜２２の
精度を上げるためにも都合が良い。上記回路３６
では差動増幅器３２〜３５の出力の正成分がダイ
オード３７〜４０を通り混合されて反転増幅器４
１で極性を反転される。又差動増幅器３２〜３５
の出力の負成分はダイオード４２〜４５を通つて
混合され反転増幅器４１の出力と混合されて反転
増幅器４６で反転増幅される。
すような回路があげられる。この回路では保持回
路１９〜２２の出力信号と光応答素子１５〜１８
の出力信号を演算増幅器よりなる差動増幅器３２
〜３５でそれぞれ比較して差を取り、それらの差
の絶対和を点線内の回路３６で作り出す。このよ
うに演算増幅器３２〜３５を用いれば入力インピ
ーダンスが高くなるので、保持回路１９〜２２の
精度を上げるためにも都合が良い。上記回路３６
では差動増幅器３２〜３５の出力の正成分がダイ
オード３７〜４０を通り混合されて反転増幅器４
１で極性を反転される。又差動増幅器３２〜３５
の出力の負成分はダイオード４２〜４５を通つて
混合され反転増幅器４１の出力と混合されて反転
増幅器４６で反転増幅される。
又第１２図に示すように検出器９，１０のバイ
アスを反対極性で与えれば検出器９，１０の出力
信号が互いに逆極性になる。従つてこれらの出力
信号を対応するもの同志で混合すればその差をと
ることができ、差動増幅器３２〜３５が省略され
る。
アスを反対極性で与えれば検出器９，１０の出力
信号が互いに逆極性になる。従つてこれらの出力
信号を対応するもの同志で混合すればその差をと
ることができ、差動増幅器３２〜３５が省略され
る。
差動増幅器３２〜３５の出力信号の絶対和をと
る回路３６は第１３図に示すように増幅器４７〜
５０で実現してもよい。この増幅器４７〜５０は
絶対値回路もしくは二乗回路を構成し、差動増幅
器３２〜３５の出力信号は増幅器４７〜５０によ
り絶対値がとられもしくは二乗されて１つに混合
される。
る回路３６は第１３図に示すように増幅器４７〜
５０で実現してもよい。この増幅器４７〜５０は
絶対値回路もしくは二乗回路を構成し、差動増幅
器３２〜３５の出力信号は増幅器４７〜５０によ
り絶対値がとられもしくは二乗されて１つに混合
される。
判定回路２８は簡単な比較器又はクランプ回路
などよりなる最小値検出回路で実現でき、第１４
図に一例を示す。この例ではクランプ用ダイオー
ドＤに電源５１から適正なバイアス電圧Ｅが加え
られ、入力信号が電圧Ｅにクランプされる。バイ
アス電圧Ｅは入力信号が最小値になつたときに出
力信号が生ずるように設定される。入力信号は第
１５図に示すようにカーブ５２を描くが、ダイオ
ードＤによりクランプされてカーブ５３を描くよ
うになり最小値が求まる。
などよりなる最小値検出回路で実現でき、第１４
図に一例を示す。この例ではクランプ用ダイオー
ドＤに電源５１から適正なバイアス電圧Ｅが加え
られ、入力信号が電圧Ｅにクランプされる。バイ
アス電圧Ｅは入力信号が最小値になつたときに出
力信号が生ずるように設定される。入力信号は第
１５図に示すようにカーブ５２を描くが、ダイオ
ードＤによりクランプされてカーブ５３を描くよ
うになり最小値が求まる。
第１６図には判定回路２８の他の例を示す。こ
の例では入力信号が電源５４のバイアス電圧Ｅと
比較器５５により比較され、入力信号がバイアス
電圧Ｅより小さい時に出力信号が生ずる。
の例では入力信号が電源５４のバイアス電圧Ｅと
比較器５５により比較され、入力信号がバイアス
電圧Ｅより小さい時に出力信号が生ずる。
以上のように本発明によれば空間的に離れた２
個所からの輻射線を２つの光応答素子アレイで受
けて物体の相対的速度を検出するので、物体が特
殊なパターンを有していなくても速度検出を非接
触で行うことができ、又光応答素子アレイを集積
化すれば装置がコンパクトになる。さらに２つの
光応答素子アレイのうち一方の出力と他方の出力
との差を２つの光応答素子アレイの光応答素子対
ごとにとつてこれらの差の絶対和の最小値を検出
することによつて物体の速度を検出するので、光
応答素子対の数を増加して速度検出精度を向上さ
せてもそれほど上記演算の時間が増加せず、光応
答素子アレイ出力の処理を早くできる。
個所からの輻射線を２つの光応答素子アレイで受
けて物体の相対的速度を検出するので、物体が特
殊なパターンを有していなくても速度検出を非接
触で行うことができ、又光応答素子アレイを集積
化すれば装置がコンパクトになる。さらに２つの
光応答素子アレイのうち一方の出力と他方の出力
との差を２つの光応答素子アレイの光応答素子対
ごとにとつてこれらの差の絶対和の最小値を検出
することによつて物体の速度を検出するので、光
応答素子対の数を増加して速度検出精度を向上さ
せてもそれほど上記演算の時間が増加せず、光応
答素子アレイ出力の処理を早くできる。
第１図は従来の速度検出装置を示すブロツク
図、第２図は本発明の実施例の一部を示す斜視
図、第３図〜第５図は同実施例を説明するための
図、第６図は同実施例の他の一部を示すブロツク
図、第７図は同実施例を説明するための波形図、
第８図は本発明の変形例を説明するための図、第
９図は上記実施例の他の一部を示すブロツク図、
第１０図〜第１４図は本発明の実施例における各
部を示す結線図、第１５図は第１４図回路を説明
するための図、第１６図は本発明の実施例におけ
る比較回路を示す結線図である。 ６……物体、７，８……光学系、９，１０……
光応答素子アレイ、１９〜２２……保持回路、２
３〜２６……処理回路、２８……判定回路、２９
……ラツチ回路、３０……カウンタ、３１……発
振器。
図、第２図は本発明の実施例の一部を示す斜視
図、第３図〜第５図は同実施例を説明するための
図、第６図は同実施例の他の一部を示すブロツク
図、第７図は同実施例を説明するための波形図、
第８図は本発明の変形例を説明するための図、第
９図は上記実施例の他の一部を示すブロツク図、
第１０図〜第１４図は本発明の実施例における各
部を示す結線図、第１５図は第１４図回路を説明
するための図、第１６図は本発明の実施例におけ
る比較回路を示す結線図である。 ６……物体、７，８……光学系、９，１０……
光応答素子アレイ、１９〜２２……保持回路、２
３〜２６……処理回路、２８……判定回路、２９
……ラツチ回路、３０……カウンタ、３１……発
振器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 空間的に離れた光応答素子対の一方の素子群
と他方の素子群とで形成される二種の光応答素子
アレイに沿つてこの光応答素子アレイと相対的に
移動する物体の空間輻射分布パターンを、前記光
応答素子アレイを含む光学系により検出するに際
し、時間的に先に検出される空間輻射分布パター
ンに基づく輻射強度パターンの第１の光応答素子
アレイによる出力と、後に検出される空間輻射分
布パターンに基づく輻射強度パターンの第２の光
応答素子アレイによる出力との差を前記光応答素
子対ごとにとり、これらの各差の絶対和の最小値
を検出して前記物体の相対的速度を検出すること
を特徴とする速度検出方法。 ２ 空間的に離れた光応答素子対の一方の素子群
で形成される第１の光応答素子アレイ及び前記光
応答素子対の他方の素子群で形成される第２の光
応答素子アレイと、これらの光応答素子アレイと
相対的に移動する物体の輻射パターンを受ける光
学系と、空間輻射分布パターンに基づく輻射強度
パターンの第１の光応答素子アレイによる出力を
保持する保持手段と、この保持手段の出力と空間
輻射分布パターンに基づく輻射強度パターンの第
２の光応答素子アレイによる出力との差を前記光
応答素子対ごとにとり、これらの各差の絶対和の
最小値を求めて出力する演算手段とを具備するこ
とを特徴とする移動物体の速度検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6943078A JPS54161376A (en) | 1978-06-09 | 1978-06-09 | Speed detecting method and device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6943078A JPS54161376A (en) | 1978-06-09 | 1978-06-09 | Speed detecting method and device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS54161376A JPS54161376A (en) | 1979-12-20 |
| JPS6126624B2 true JPS6126624B2 (ja) | 1986-06-21 |
Family
ID=13402395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6943078A Granted JPS54161376A (en) | 1978-06-09 | 1978-06-09 | Speed detecting method and device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS54161376A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63164025U (ja) * | 1987-04-16 | 1988-10-26 |
-
1978
- 1978-06-09 JP JP6943078A patent/JPS54161376A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63164025U (ja) * | 1987-04-16 | 1988-10-26 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS54161376A (en) | 1979-12-20 |
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