JPH0466056B2 - - Google Patents
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- JPH0466056B2 JPH0466056B2 JP21048484A JP21048484A JPH0466056B2 JP H0466056 B2 JPH0466056 B2 JP H0466056B2 JP 21048484 A JP21048484 A JP 21048484A JP 21048484 A JP21048484 A JP 21048484A JP H0466056 B2 JPH0466056 B2 JP H0466056B2
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- signal
- tracking
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- circuit
- shock
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 25
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims description 24
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
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- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0946—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for operation during external perturbations not related to the carrier or servo beam, e.g. vibration
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、光デイスクに記録されている情報
を再生する光学式デイスクプレーヤにかかわり、
特に光ピツクアツプに付加されているサーボコン
トロール回路に関するものである。
を再生する光学式デイスクプレーヤにかかわり、
特に光ピツクアツプに付加されているサーボコン
トロール回路に関するものである。
映像信号や音声信号に関する情報を光デイスク
の記録面に渦巻状に記録し、この光デイスクにレ
ーザ光を照射してその反射光から映像信号、また
は音声信号を再生する光学式デイスクプレーヤで
は、通常、ピツクアツプ装置から出力されるレー
ザ光のスポツトが記録トラツクを正確にトレース
しながら移動するようにトラツキングサーボをか
けることが不可欠な条件となる。
の記録面に渦巻状に記録し、この光デイスクにレ
ーザ光を照射してその反射光から映像信号、また
は音声信号を再生する光学式デイスクプレーヤで
は、通常、ピツクアツプ装置から出力されるレー
ザ光のスポツトが記録トラツクを正確にトレース
しながら移動するようにトラツキングサーボをか
けることが不可欠な条件となる。
トラツキングサーボをかけるためには、よく知
られているように、光デイスクから反射されたス
ポツト光線の強弱を演算し、いわゆるトラツキン
グエラー信号を検出する必要があるが、光デイス
クの表面に傷、またはブラツクドツト
（BlackDot）等があるときは、反射光のレベルが
変動するため、正常のトラツキング位置が再生さ
れているにもかかわらず、疑似のトラツキングエ
ラー信号が出力されることがある。すると、この
間違つたトラツキングエラー信号によつてスポツ
ト光が隣接するトラツクに移動するトラツクジヤ
ンプ等が発生し、曲飛び、映像の乱れ等が発生す
る。
られているように、光デイスクから反射されたス
ポツト光線の強弱を演算し、いわゆるトラツキン
グエラー信号を検出する必要があるが、光デイス
クの表面に傷、またはブラツクドツト
（BlackDot）等があるときは、反射光のレベルが
変動するため、正常のトラツキング位置が再生さ
れているにもかかわらず、疑似のトラツキングエ
ラー信号が出力されることがある。すると、この
間違つたトラツキングエラー信号によつてスポツ
ト光が隣接するトラツクに移動するトラツクジヤ
ンプ等が発生し、曲飛び、映像の乱れ等が発生す
る。
また、光デイスクプレーヤーが車等に搭載され
ているときは、外部から加えられる衝撃等によつ
てトラツキング、およびフオーカスがはずれ、こ
のときもトラツキングジヤンプを引き起す。
ているときは、外部から加えられる衝撃等によつ
てトラツキング、およびフオーカスがはずれ、こ
のときもトラツキングジヤンプを引き起す。
ところで、トラツキングサーボやフオーカスサ
ーボに対して耐振性を持たせるには特にトラツキ
ングサーボのループ利得を高くする方がよく、前
述したデイスクの欠陥（傷、ブラツクドツトの付
着）に対しては逆にトラツキングサーボのループ
利得を下げて耐欠陥性をよくすることが好まし
い。
ーボに対して耐振性を持たせるには特にトラツキ
ングサーボのループ利得を高くする方がよく、前
述したデイスクの欠陥（傷、ブラツクドツトの付
着）に対しては逆にトラツキングサーボのループ
利得を下げて耐欠陥性をよくすることが好まし
い。
第３図は、本出願人が提案した特願昭58−
180606号に記載されているトラツキングサーボ回
路の概要を示すブロツク図で、１０が正相の増幅
器、１１は逆相の増幅器、１２，１３は基準電圧
Vr1，Vr2が一方の入力端子に付加されている比
較器、１４，１５はダイオード、１６，１７は時
定数回路、１８，１９は出力増幅器である。
180606号に記載されているトラツキングサーボ回
路の概要を示すブロツク図で、１０が正相の増幅
器、１１は逆相の増幅器、１２，１３は基準電圧
Vr1，Vr2が一方の入力端子に付加されている比
較器、１４，１５はダイオード、１６，１７は時
定数回路、１８，１９は出力増幅器である。
以下、この回路の動作を第４図の波形図を参照
して説明する。
して説明する。
光ピツクアツプ装置から出力されているRF信
号ＡはＩ点で光デイスクの傷、またはゴミの部分
に遭遇し、Ｓ点で外部シヨツクを受けたものとす
る。また、RF信号Ｂは逆相の増幅器１１の出力
を示している、正相の増幅器１０の出力となつて
いるRF信号Ａは次の比較器１２によつて基準電
圧Vr1と比較されるため、基準電圧Vr1より低い
レベルでダイオード１４が導通し、コンデンサ
C1を充電する。したがつて、出力増幅器１８か
らＩ点で発生したRF信号Ａの欠陥部分が検出信
号Ｃとして出力されるが、Ｓ点のシヨツク性によ
るRF信号Ａの歪は基準電圧Vr1が高く設定され
ているためダイオード１４を導通しないので検出
されない。
号ＡはＩ点で光デイスクの傷、またはゴミの部分
に遭遇し、Ｓ点で外部シヨツクを受けたものとす
る。また、RF信号Ｂは逆相の増幅器１１の出力
を示している、正相の増幅器１０の出力となつて
いるRF信号Ａは次の比較器１２によつて基準電
圧Vr1と比較されるため、基準電圧Vr1より低い
レベルでダイオード１４が導通し、コンデンサ
C1を充電する。したがつて、出力増幅器１８か
らＩ点で発生したRF信号Ａの欠陥部分が検出信
号Ｃとして出力されるが、Ｓ点のシヨツク性によ
るRF信号Ａの歪は基準電圧Vr1が高く設定され
ているためダイオード１４を導通しないので検出
されない。
また、逆相となつたRF信号Ｂが供給されてい
る比較器１３でも基準電圧Vr2より低いレベルで
ダイオード１５が導通するが、この部分では光デ
イスクの傷であるＩ点の欠陥信号は出されず、Ｓ
点のシヨツク性の歪変調が検出され、検出信号Ｄ
が出力増幅器１９から出力される。
る比較器１３でも基準電圧Vr2より低いレベルで
ダイオード１５が導通するが、この部分では光デ
イスクの傷であるＩ点の欠陥信号は出されず、Ｓ
点のシヨツク性の歪変調が検出され、検出信号Ｄ
が出力増幅器１９から出力される。
したがつて、この回路によると、光ピツクアツ
プ装置から出力されるRF信号の歪変調を原因別
に検出することができるので、光デイスクの傷、
ゴミ等を検出した検出信号Ｃによつてトラツキン
グサーボ回路のループ利得Ｅを降下させるように
制御し、外乱性のシヨツク、または振動を検出し
ている検出信号Ｄによつてトラツキングサーボ回
路のループ利得Ｅを増加させると、トラツキング
サーボの機能が向上することになる。
プ装置から出力されるRF信号の歪変調を原因別
に検出することができるので、光デイスクの傷、
ゴミ等を検出した検出信号Ｃによつてトラツキン
グサーボ回路のループ利得Ｅを降下させるように
制御し、外乱性のシヨツク、または振動を検出し
ている検出信号Ｄによつてトラツキングサーボ回
路のループ利得Ｅを増加させると、トラツキング
サーボの機能が向上することになる。
しかしながら、上記の回路では次のような問題
点が見られる。
点が見られる。
すなわち、光デイスクの欠陥をRF信号のエン
ベローブによつて検出すると、その検出信号Ｃは
光スポツトが欠陥部分にあたつたのちに検出さ
れ、その結果、トラツキングサーボ回路の利得を
下げることになる。
ベローブによつて検出すると、その検出信号Ｃは
光スポツトが欠陥部分にあたつたのちに検出さ
れ、その結果、トラツキングサーボ回路の利得を
下げることになる。
しかし、光スポツトが欠陥部分に照射されると
その瞬間に反射光がすでに減少しているため、光
学系のオフセツトや迷い光の影響をうけて疑似の
フオーカスエラー信号がすでに出力されており、
この疑似のフオーカスエラー信号によつてデフオ
ーカスの状態となるとともに疑似のトラツキング
信号が出力されるが、このとき、トラツキングサ
ーボ回路のループ利得が減少していないため、こ
のような疑似のトラツキングエラー信号によつて
曲飛び、および画像の乱れが生じるという問題が
ある。特に、光デイスクの欠陥は少なくとも数10
トラツクから数100トラツク（0.5mm）位の範囲に
わたつているので、光デイスクの１回転毎にかか
る疑似トラツク信号によつてトラツクジヤンプを
起す危険性が強い。
その瞬間に反射光がすでに減少しているため、光
学系のオフセツトや迷い光の影響をうけて疑似の
フオーカスエラー信号がすでに出力されており、
この疑似のフオーカスエラー信号によつてデフオ
ーカスの状態となるとともに疑似のトラツキング
信号が出力されるが、このとき、トラツキングサ
ーボ回路のループ利得が減少していないため、こ
のような疑似のトラツキングエラー信号によつて
曲飛び、および画像の乱れが生じるという問題が
ある。特に、光デイスクの欠陥は少なくとも数10
トラツクから数100トラツク（0.5mm）位の範囲に
わたつているので、光デイスクの１回転毎にかか
る疑似トラツク信号によつてトラツクジヤンプを
起す危険性が強い。
この発明は、かかる問題点を解決するためにな
されたもので、再生中の光デイスクに欠陥部分が
あつたときは、少なくとも、この欠陥部分を光ス
ポツトがラジアル方向に行き過ぎるまではトラツ
キングサーボの利得の上昇を禁止するように制御
し、トラツキングジヤンプの発生を防止するよう
にしたものである。
されたもので、再生中の光デイスクに欠陥部分が
あつたときは、少なくとも、この欠陥部分を光ス
ポツトがラジアル方向に行き過ぎるまではトラツ
キングサーボの利得の上昇を禁止するように制御
し、トラツキングジヤンプの発生を防止するよう
にしたものである。
この発明は、光デイスクの欠陥部分を検出する
欠陥検出回路と、この欠陥検出回路から得られる
信号を少なくとも、光デイスクが１回転する時間
ホールドすることができるラツチ回路と、光学式
デイスクプレーヤに加わるシヨツクによつて発生
するトラツキングエラー信号を検出するシヨツク
検出回路と、制御信号によつて利得を増加し、ト
ラツキングエラー信号をトラツキングコイルに供
給しているトラツキングアンプを設ける。
欠陥検出回路と、この欠陥検出回路から得られる
信号を少なくとも、光デイスクが１回転する時間
ホールドすることができるラツチ回路と、光学式
デイスクプレーヤに加わるシヨツクによつて発生
するトラツキングエラー信号を検出するシヨツク
検出回路と、制御信号によつて利得を増加し、ト
ラツキングエラー信号をトラツキングコイルに供
給しているトラツキングアンプを設ける。
そして、前記欠陥部分を欠陥検出回路により検
出した信号がラツチされたときはこの信号を禁止
回路に入力し、前記トラツキングアンプに制御信
号として供給されているシヨツク検出回路の検出
信号をトラツキングアンプに供給しないように構
成したものである。
出した信号がラツチされたときはこの信号を禁止
回路に入力し、前記トラツキングアンプに制御信
号として供給されているシヨツク検出回路の検出
信号をトラツキングアンプに供給しないように構
成したものである。
光ピツクアツプが光デイスクの欠陥部分に遭遇
し、欠陥を示す疑似のトラツキング信号が検出さ
れたときは、前記ラツチ回路から出力される信号
によつて、光ピツクアツプが欠陥部分を通過する
まで前記トラツキングアンプの利得を高くしない
ように制御する。したがつて、疑似のトラツキン
グ信号によつてサーボ回路が動作し、トラツクジ
ヤンプを起すことを効果的に抑圧することができ
る。
し、欠陥を示す疑似のトラツキング信号が検出さ
れたときは、前記ラツチ回路から出力される信号
によつて、光ピツクアツプが欠陥部分を通過する
まで前記トラツキングアンプの利得を高くしない
ように制御する。したがつて、疑似のトラツキン
グ信号によつてサーボ回路が動作し、トラツクジ
ヤンプを起すことを効果的に抑圧することができ
る。
第１図はこの発明の一実施例である光学式デイ
スクプレーヤのサーボコントロール回路を示すブ
ロツク図、第２図は第１図のブロツク図に示され
ている符号の主要な波形図である。
スクプレーヤのサーボコントロール回路を示すブ
ロツク図、第２図は第１図のブロツク図に示され
ている符号の主要な波形図である。
これらの図において、１は光デイスクから反射
された再生信号（以下RF信号という）が入力さ
れている欠陥検出回路、２は前記欠陥検出回路１
の検出信号をほぼ光デイスクの１回転時間
（330ms）保持するラツチ回路で、たとえばリト
リガータイプの単安定マルチバイブレータにして
もよい。３はトラツキングエラー信号に含まれて
いる異状な周期のレベルを検出しているシヨツク
検出回路を示し、衝撃等によつて発生する周期の
高い信号成分を検出するバンドパスフイルタ４
と、そのレベルが所定以上になつたときに信号を
出力するウインドコンパレータ５によつて構成さ
れている。６はトラツキングエラー信号をトラツ
キングコイルLtに供給しているトラツキングア
ンプで、後述するようにアンドゲートＡから信号
が出力されたときにその増幅利得を高くするとと
もに若干の位相定数の変更を行つている。７はフ
オーカスエラー信号を増幅し、フオーカスコイル
Lfに供給しているフオーカスアンプである。
された再生信号（以下RF信号という）が入力さ
れている欠陥検出回路、２は前記欠陥検出回路１
の検出信号をほぼ光デイスクの１回転時間
（330ms）保持するラツチ回路で、たとえばリト
リガータイプの単安定マルチバイブレータにして
もよい。３はトラツキングエラー信号に含まれて
いる異状な周期のレベルを検出しているシヨツク
検出回路を示し、衝撃等によつて発生する周期の
高い信号成分を検出するバンドパスフイルタ４
と、そのレベルが所定以上になつたときに信号を
出力するウインドコンパレータ５によつて構成さ
れている。６はトラツキングエラー信号をトラツ
キングコイルLtに供給しているトラツキングア
ンプで、後述するようにアンドゲートＡから信号
が出力されたときにその増幅利得を高くするとと
もに若干の位相定数の変更を行つている。７はフ
オーカスエラー信号を増幅し、フオーカスコイル
Lfに供給しているフオーカスアンプである。
なお、Q1，Q2はトラツキングエラー信号およ
びフオーカスエラー信号をミユーテイングするた
めのトランジスタ、IVはインバータを示してい
る。
びフオーカスエラー信号をミユーテイングするた
めのトランジスタ、IVはインバータを示してい
る。
つづいて、第２図の波形図を参照して回路の動
作を説明する。
作を説明する。
光デイスクから再生されたRF信号を示す波形
ａには、Ｓ点で示すようにシヨツク性の変調歪と
BD1，BD2，BD3点で示すようなデイスクの傷、
ブラツクドツトにより変調された歪が含まれてい
る。
ａには、Ｓ点で示すようにシヨツク性の変調歪と
BD1，BD2，BD3点で示すようなデイスクの傷、
ブラツクドツトにより変調された歪が含まれてい
る。
Ｓ点で発生したシヨツクによりRF信号が波形
ａに示すように変調されると（通常、シヨツクの
場合は、RF信号の下側のエンベロープが変調さ
れる）、この点で波形f0で示すようなトラツキン
グエラー信号etと、波形j0で示すフオーカスエラ
ー信号efが出力されるが、トラツキングエラー信
号etに含まれているシヨツク性の波形f0は検出回
路３におけるバンドパスフイルタ４で検出され、
さらにウインドコンパレータ５に設定されている
基準レベルEr1，Er2以上となつたときの信号が波
形ｇに示すように検出される。
ａに示すように変調されると（通常、シヨツクの
場合は、RF信号の下側のエンベロープが変調さ
れる）、この点で波形f0で示すようなトラツキン
グエラー信号etと、波形j0で示すフオーカスエラ
ー信号efが出力されるが、トラツキングエラー信
号etに含まれているシヨツク性の波形f0は検出回
路３におけるバンドパスフイルタ４で検出され、
さらにウインドコンパレータ５に設定されている
基準レベルEr1，Er2以上となつたときの信号が波
形ｇに示すように検出される。
そして、この波形ｇがアンドゲートＡを介して
トラツキングアンプ６の利得を高くするので、光
学式デイスクプレーヤに衝撃が加わつたときはト
ラツキングサーボのループ利得が向上し、シヨツ
クによるトラツクジヤンプを効果的に防止してい
る。
トラツキングアンプ６の利得を高くするので、光
学式デイスクプレーヤに衝撃が加わつたときはト
ラツキングサーボのループ利得が向上し、シヨツ
クによるトラツクジヤンプを効果的に防止してい
る。
一方、BD1，BD2，BD3点で発生した欠陥によ
りRF信号が変調されると、欠陥検出回路１のダ
イオードD1、および時定数回路R1，C1によつて
その上側エンベロープが検出されるので、波形ｂ
に示す信号がコンデンサC0を介して比較器CMP
の−入力端子に供給される。さらに、ダイオード
D2、および大きな時定数回路R2，C2によつてRF
信号のピークレベルを示す波形ｃが出力され、比
較器CMPの＋入力端子に供給される。そして、
波形ｂにはダイオードD3の順方向電圧分が加え
られているため、比較器CMPの出力には波形ｄ
に示すように欠陥部分であるBD点の位置を示す
信号が出力される。
りRF信号が変調されると、欠陥検出回路１のダ
イオードD1、および時定数回路R1，C1によつて
その上側エンベロープが検出されるので、波形ｂ
に示す信号がコンデンサC0を介して比較器CMP
の−入力端子に供給される。さらに、ダイオード
D2、および大きな時定数回路R2，C2によつてRF
信号のピークレベルを示す波形ｃが出力され、比
較器CMPの＋入力端子に供給される。そして、
波形ｂにはダイオードD3の順方向電圧分が加え
られているため、比較器CMPの出力には波形ｄ
に示すように欠陥部分であるBD点の位置を示す
信号が出力される。
この波形ｄは、トランジスタQ1，Q2に加えら
れて、この欠陥部分で発生する疑似のトラツキン
グエラー信号et、およびフオーカスエラー信号ef
をミユーテイングし、かかる疑似の誤差信号がト
ラツキングコイルLt、およびフオーカスコイル
Lfに印加されることを防止する。
れて、この欠陥部分で発生する疑似のトラツキン
グエラー信号et、およびフオーカスエラー信号ef
をミユーテイングし、かかる疑似の誤差信号がト
ラツキングコイルLt、およびフオーカスコイル
Lfに印加されることを防止する。
しかしながら、前述したように欠陥信号を示す
波形ｄが検出されたときは、すでに欠陥信号によ
る疑似のトラツキングエラー信号etの一部（前端
部）がトラツキングアンプ６を介してトラツキン
グコイルLtに供給されているため、この点でト
ラツクジヤンプが発生する恐れがある。
波形ｄが検出されたときは、すでに欠陥信号によ
る疑似のトラツキングエラー信号etの一部（前端
部）がトラツキングアンプ６を介してトラツキン
グコイルLtに供給されているため、この点でト
ラツクジヤンプが発生する恐れがある。
このような現象は、欠陥部分が通常丸みをもつ
たかなり広い面積（mm、オーダ）を占めているた
め、数トラツクにわたつて光デイスクの一回転毎
に、BD2，BD3点に示すように連続して出力さ
れ、しかも漸次その振幅が大きくなる傾向があ
る。そのため、光デイスクの１回転毎にトラツク
ジヤンプの危険性が増大する。そこで、この発明
では、欠陥部分で、検出した波形ｄはさらに、ラ
ツチ回路２におけるダイオードD4、および時定
数回路R3，C3によりデイスクの１回転以上保持
され、波形ｅに示すようにアンドゲートＡの一方
の入力を低レベルに保持するようにしている。
たかなり広い面積（mm、オーダ）を占めているた
め、数トラツクにわたつて光デイスクの一回転毎
に、BD2，BD3点に示すように連続して出力さ
れ、しかも漸次その振幅が大きくなる傾向があ
る。そのため、光デイスクの１回転毎にトラツク
ジヤンプの危険性が増大する。そこで、この発明
では、欠陥部分で、検出した波形ｄはさらに、ラ
ツチ回路２におけるダイオードD4、および時定
数回路R3，C3によりデイスクの１回転以上保持
され、波形ｅに示すようにアンドゲートＡの一方
の入力を低レベルに保持するようにしている。
そのため、次の欠陥部分であるBD2点、および
BD3点によつて発生した疑似のトラツキングエラ
ー信号et（波形f2，f3）が、シヨツク検出回路３お
よびアンドゲートＡを介してトラツキングアンプ
６のゲインを高くするように働く動作を未然に防
ぐことができるようになる。
BD3点によつて発生した疑似のトラツキングエラ
ー信号et（波形f2，f3）が、シヨツク検出回路３お
よびアンドゲートＡを介してトラツキングアンプ
６のゲインを高くするように働く動作を未然に防
ぐことができるようになる。
なお、最初に遭遇したトラツク上の欠陥部分で
あるBD1点による疑似のトラツキングエラー信号
etは、その初期の部分がトラツキングコイルLtに
供給されることになるが、第１番目の欠陥がトラ
ツクにかかる部分は小さいので、トラツクジヤン
プを起すほど影響を与えることはない。
あるBD1点による疑似のトラツキングエラー信号
etは、その初期の部分がトラツキングコイルLtに
供給されることになるが、第１番目の欠陥がトラ
ツクにかかる部分は小さいので、トラツクジヤン
プを起すほど影響を与えることはない。
上記の実施例では欠陥部分ではアンチシヨツク
機能が働かないように構成されているが、トラツ
キングアンプ６の利得を３段階に制御できるよう
に構成し、欠陥部分でもシヨツク性のノイズが検
出されたときは、トラツキングサーボのループ利
得を中間の値になるように構成してもよい。
機能が働かないように構成されているが、トラツ
キングアンプ６の利得を３段階に制御できるよう
に構成し、欠陥部分でもシヨツク性のノイズが検
出されたときは、トラツキングサーボのループ利
得を中間の値になるように構成してもよい。
以上説明したように、この発明の光学式デイス
クプレーヤは、アンチシヨツク機能を備えている
とともに、光デイスクに欠陥があるときでも、そ
の欠陥によつて発生する疑似のトラツキングエラ
ー信号によつてトラツクジヤンプを起すことがな
いという効果を有し、さらに、シヨツクに対する
耐振性も優れたものになるという利点がある。
クプレーヤは、アンチシヨツク機能を備えている
とともに、光デイスクに欠陥があるときでも、そ
の欠陥によつて発生する疑似のトラツキングエラ
ー信号によつてトラツクジヤンプを起すことがな
いという効果を有し、さらに、シヨツクに対する
耐振性も優れたものになるという利点がある。
第１図はこの発明の一実施例の光学式デイスク
プレーヤのサーボコントロール回路を示すブロツ
ク図、第２図は第１図のブロツク図における主要
な波形図、第３図はトラツキングサーボ回路の先
行技術の概要を示すブロツク図、第４図は第３図
の動作波形図を示す。 図中、１は欠陥検出回路、２はラツチ回路、３
はシヨツク検出回路、４はバンドパスフイルタ、
５はウインドコンパレータ、６はトラツキングア
ンプ、７はフオーカスアンプ、R1，C1，R2，C2，
R3，C3は時定数回路である。
プレーヤのサーボコントロール回路を示すブロツ
ク図、第２図は第１図のブロツク図における主要
な波形図、第３図はトラツキングサーボ回路の先
行技術の概要を示すブロツク図、第４図は第３図
の動作波形図を示す。 図中、１は欠陥検出回路、２はラツチ回路、３
はシヨツク検出回路、４はバンドパスフイルタ、
５はウインドコンパレータ、６はトラツキングア
ンプ、７はフオーカスアンプ、R1，C1，R2，C2，
R3，C3は時定数回路である。
Claims (1)
- １ 光デイスクの欠陥部分を検出する欠陥検出回
路と、この欠陥検出回路から出力された信号を少
なくとも光デイスクの１回転周期保持するラツチ
回路と、シヨツク性のトラツキングエラー信号を
検出するシヨツク検出回路と、このシヨツク検出
回路の出力が供給されたとき利得が高くなるよう
に制御されるトラツキングアンプと、前記ラツチ
回路に出力があるとき、前記シヨツク検出回路の
出力が前記トラツキングアンプに供給されないよ
うに禁止する禁止回路とを備えていることを特徴
とする光学式デイスクプレーヤ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21048484A JPS6190335A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 光学式デイスクプレ−ヤ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21048484A JPS6190335A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 光学式デイスクプレ−ヤ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6190335A JPS6190335A (ja) | 1986-05-08 |
| JPH0466056B2 true JPH0466056B2 (ja) | 1992-10-22 |
Family
ID=16590107
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21048484A Granted JPS6190335A (ja) | 1984-10-09 | 1984-10-09 | 光学式デイスクプレ−ヤ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6190335A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2544393B2 (ja) * | 1987-07-23 | 1996-10-16 | シャープ株式会社 | ピックアップ素子の変位修正サ−ボ装置 |
| JPH064923U (ja) * | 1992-06-12 | 1994-01-21 | 株式会社ケンウッド | 光ディスク再生装置の傷検出回路および光ディスク再生装置 |
-
1984
- 1984-10-09 JP JP21048484A patent/JPS6190335A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6190335A (ja) | 1986-05-08 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |