JPH0535484B2 - - Google Patents

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JPH0535484B2
JPH0535484B2 JP59210485A JP21048584A JPH0535484B2 JP H0535484 B2 JPH0535484 B2 JP H0535484B2 JP 59210485 A JP59210485 A JP 59210485A JP 21048584 A JP21048584 A JP 21048584A JP H0535484 B2 JPH0535484 B2 JP H0535484B2
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JP
Japan
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signal
tracking
circuit
detection circuit
error signal
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JP59210485A
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English (en)
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JPS6190334A (ja
Inventor
Kazuhiko Fujiie
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP21048584A priority Critical patent/JPS6190334A/ja
Publication of JPS6190334A publication Critical patent/JPS6190334A/ja
Publication of JPH0535484B2 publication Critical patent/JPH0535484B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0946Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for operation during external perturbations not related to the carrier or servo beam, e.g. vibration

Landscapes

  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、光デイスクに記録されている情報
を再生する光学式デイスクプレーヤにかかわり、
特に光ピツクアツプに付加されているサーボコン
トロール回路に関するものである。
〔従来の技術〕
映像信号や音声信号に関する情報を光デイスク
の記録面に渦巻状に記録し、この光デイスクにレ
ーザ光を照射してその反射光から映像信号、また
は音声信号を再生する光学式デイスクプレーヤで
は、通常、ピツクアツプ装置から出力されるレー
ザ光のスポツトが記録トラツクを正確にトレース
しながら移動するようにトラツキングサーボをか
けることが不可欠な条件となる。
トラツキングサーボをかけるためには、よく知
られているように、光デイスクから反射されたス
ポツト光線の強弱を演算し、いわゆるトラツキン
グエラー信号を検出する必要があるが、光デイス
クの表面に傷、またはブラツクドツト(Black
Dot)等があるときは、反射光のレベルが変動す
るため、正常のトラツキング位置で再生されてい
るにもかかわらず、疑似のトラツキングエラー信
号が出力されることがある。すると、この間違つ
たトラツキングエラー信号によつてスポツト光が
隣接するトラツクに移動するトラツクジヤンプ等
が発生し、曲飛び、映像の乱れ等が発生する。
また、光デイスクプレーヤが車等に搭載されて
いるときは、外部から加えられる衝撃等によつて
トラツキング、およびフオーカスがはずれ、この
ときもトラツクングジヤンプを引き起す。
ところで、トラツキングサーボやフオーカスサ
ーボに対して耐振性を持たせるには特にトラツキ
グサーボのループ利得を高くする方がよく、前述
したデイスクの欠陥(傷、ブラツクドツトの付
着)に対しては逆にトラツキングサーボのループ
利得を下げて耐欠陥性をよくすることが好まし
い。
第3図は、本出願人が提案した特願昭58−
180606号に記載されているトラツキングサーボ回
路の概要を示すブロツク図で、10が正相の増幅
器、11は逆相の増幅器、12,13は基準電圧
Vr1、Vr2が一方の入力端子に付加されている比
較器、14,15はダイオード、16,17は時
定数回路、18,19は出力増幅器である。
以下、この回路の動作を第4図の波形図を参照
して説明する。
光ピツクアツプ装置から出力されているRF信
号AはI点で光デイスクの傷、またはゴミの部分
に遭遇し、S点で外部シヨツクを受けたものとす
る。また、RF信号Bは逆相の増幅器11の出力
を示している、正相の増幅器10の出力となつて
いるRF信号Aは次の比較器12によつて基準電
圧Vr1と比較されるため、基準電圧Vr1より低い
レベルでダイオード14が導通し、コンデンサ
C1を充電する。したがつて、出力増幅器18か
らはI点で発生したRF信号Aの欠陥部分が検出
信号として出力されるが、S点のシヨツク性によ
るRF信号Aの歪は基準電圧Vr1が高く設定され
ているためダイオード14を導通しないので検出
されない。
また、逆相となつたRF信号Bが供給されてい
る比較器13でも基準電圧Vr2より低いレベルで
ダイオード15が導通するが、この部分では光デ
イスクの傷であるI点の欠陥信号は検出されず、
S点のシヨツク性の歪変調が検出され、検出信号
Dが出力増幅器19から出力される。したがつ
て、この回路によると、光ピツクアツプ装置から
出力されるRF信号の歪変調を原因別に検出する
ことができたので、光デイスクの傷、ゴミ等を検
出した検出信号Cによつてトラツキングサーボ回
路のループ利得Eを降下させるように制御し、外
乱性のシヨツク、または振動を検出している検出
信号Dによつてトラツキングサーボ回路のループ
利得Eを増加させると、トラツキングサーボの機
能が向上することになる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記の回路では次のような問題
点が見られる。
光デイスクの欠陥は光デイスクの戻り光から検
出しているので、欠陥信号が検出された時点で
は、すでに反射光が減少しており、特に、欠陥部
分が大きいときは正常なフオーカスエラー信号が
得られないばかりか、疑似のフオーカスエラー信
号が出力され、デフオーカス状態になる。そのた
め、さらに疑似のトラツキングエラー信号も出力
される。
すなわち、第5図に示すように、欠陥を示す
RF信号Aが出力されたとき、エンベロープの検
出によつて期間t1の間、検出信号Cによつてトラ
ツキングサーボ回路の利得Eが低下するように制
御されるが、この期間t1の間は反射光が殆どなく
なるために光学系の迷い光や、オフセツトによつ
て疑似フオーカスエラー信号ef′が出力され、さ
らに疑似トラツク信号et′が出力される。そして、
これらの2つの誤差信号が対物レンズ、また反射
ミラーを正常の位置からずらしてしまう。その結
果、RF信号Aの下側エンベロープにも歪が発生
し、検出信号Cの終了時点でも正常のトラツキン
グサーボ状態にならず、トラツクジヤンプを起す
場合がある。
この発明は、かかる問題点を解決するためにな
されたもので、再生中に光デイスクの欠陥部分に
遭遇したときは、反射光の乱調によつて発生する
疑似フオーカスエラー信号、および疑似トラツキ
ングエラー信号が光ピツクアツプの対物レンズま
たは反射ミラーに作用しないような構成とするこ
とによつて、トラツクジヤンプの発生を未然に抑
圧できるようにした光学式デイスクプレーヤを提
供するものである。
〔問題点を解決するための手段〕
この発明は、光デイスクの欠陥部分を検出する
欠陥検出回路と、この欠陥検出回路から得られた
信号によつてトラツキングエラー信号、およびフ
オーカスエラー信号を抑圧するためのミユーテイ
ング回路を設け、欠陥部分で発生する疑似トラツ
キングエラー信号、または疑似フオーカスエラー
信号がトラツキング制御コイルおよびフオーカス
制御コイルに供給されないようにする。
〔作用〕
光ピツクアツプが光デイスクの欠陥部分に遭遇
すると、欠陥検出回路から出力される検出信号に
よつて、トラツキングエラー信号、およびフオー
カスエラー信号を供給している回路にミユーテイ
ングがかけられる。そのため、欠陥部分で発生す
る疑似トラツキングエラー信号、および疑似フオ
ーカスエラー信号によつて対物レンズ、または反
射ミラーが大きく動かされることを防止するの
で、欠陥部分を通過したあとに正規のトラツキン
グエラー信号、またはフオーカスエラー信号が得
られたとき、この信号に対物レンズ、または反射
ミラーがすぐに追従して正常のトラツキング状態
になり、トラツクジヤンプを抑制することができ
る。
〔実施例〕
第1図はこの発明の一実施例である光学式デイ
スクプレーヤのサーボコントロール回路を示すブ
ロツク図、第2図は第1図のブロツク図における
主要な波形図である。
これらの図において、1は光デイスクから反射
させた再生信号(以下RF信号という)が入力さ
れている欠陥検出回路、2は前記欠陥検出回路1
の検出信号をほぼ光デイスクの1回転時間(330
ms)保持するラツチ回路で、たとえばリトリガ
ータイプの単安定マルチバイブレータにしてもよ
い。3はトラツキングエラー信号に含まれている
異状な周期のレベルを検出しているシヨツク検出
回路を示し、衝撃等によつて発生する周期の高い
信号成分を検出するバンドパスフイルタ4と、そ
のレベルが所定以上になつたときに信号を出力す
るウインドコンパレータ5によつて構成されてい
る。6はトラツキングエラー信号をトラツキング
コイルLtに供給しているトラツキングアンプで、
後述するようにアンドゲートAから信号が出力さ
れたときにその増幅利得を高くしてサーボ回路の
ループ利得を大きくすると共に、若干の位相定数
の変更を行う制御手段を形成する。7はフオーカ
スエラー信号を増幅し、フオーカスコイルLfに
供給しているフオーカスアンプである。
Q1,Q2はトラツキングエラー信号、およびフ
オーカスエラー信号の供給路に形成されているミ
ユーテイング用のトランジスタを示し、前記欠陥
検出回路1の出力によつて導通するものである。
なお、r3、r5は結合抵抗、r4、r6はベース抵抗、
r5、C4は3ms程度の時定数回路を構成し、R4
はC4の電荷放電用抵抗を示す。
つづいて、第2図の波形図を参照して回路の動
作を説明する。
光デイスクから再生されたRF信号を示す波形
(a)には、S点で示すようにシヨツク性の変調
歪とBD点で示すようなデイスクの傷、ブラツク
ドツトにより変調された歪が含まれている。
S点で発生したシヨツクよりRF信号が波形
(a)に示すように変調されると(通常、シヨツ
クの場合は、RF信号の下側のエンベロープが変
調される)、この点で波形(fo)で示すようなト
ラツキングエラー信号etと、波形(jo)で示すフ
オーカスエラー信号efが出力されるが、トラツキ
ングエラー信号etに含まれているシヨツク性の波
形(fo)はシヨツク検出回路3におけるバンドパ
スフイルタ4で検出され、さらにウインドコンパ
レータ5に設定されている基準レベルEr1、Er2
上となつたときの信号が波形(g)に示すように
検出される。
そして、この波形(g)がアンドゲートAを介
してトラツキングアンプ6の利得を高くするの
で、光学式デイスクプレーヤに衝撃が加わつたと
きはトラツキングサーボのループ利得が向上し、
シヨツクによるトラツクジヤンプを効果的に防止
している。
一方、BD点で発生した欠陥によりRF信号が変
調されると、欠陥検出回路1のダイオードD1
および時定数回路R1、C1によつてその上側エン
ベロープが検出されるので、波形(b)に示す信
号がコンデンサCoを介して比較器CMPの−入力
端子に供給される。さらに、ダイオードD2、お
よび大きな時定数回路R2、C2によつてRF信号の
ピークレベルを示す波形(C)が出力され、比較
器CMPの+入力端子に供給される。そして、波
形(b)にはダイオードD3の順方向電圧分が加
えられているため、比較器CMPの出力には波形
(d)に示すように欠陥部分であるBD点の位置
を示す信号が出力される。
この波形(d)は、トランジスタQ1,Q2に加
えられているため、欠陥部分が検出されたときに
発生する疑似のトラツキングエラー信号etの波形
(f1)、および疑似のフオーカスエラー信号efの波
形(jo)はトランジスタQ1,Q2の導通によつて
側路され、トラツキングコイルLt、およびフオ
ーカスコイルLtに供給されないようにしている。
すなわち、このミユーテイング作用によつて光ピ
ツクアツプの対物レンズ、または反射ミラーが疑
似の誤差信号によつて動かされることを防止して
いる。
したがつて、光ピツクアツプのスポツト光が欠
陥部分をはずれたときは、正規のトラツキングエ
ラー信号et、またはフオーカスエラー信号efに追
従することが容易になり、欠陥直後の乱調が効果
的に防止される。
なお、欠陥部分が10ms以上続くと、その間に
対物レンズ、が完全に焦点位置から外れ、ワオー
カシングのロツクレンジを逸脱するおそれがある
ため、フオーカスエラー信号efのミユーテイング
期間は時定数回路C4、r5によつてほぼ3ms位に
制限することが好ましい。
前記欠陥検出回路1の出力はラツチ回路2にお
いてデイスクのほぼ1回転周期(330ms)保持
し、インバータIVを介してアンドゲードAに入
力しておくと、その波形(e)によつて欠陥部分
に遭遇したとき光ピツクアツプのレーザ光が欠陥
部分をラジアル方向に進行してその外側に出るま
でシヨツク検出回路3の検出信号がトラツキング
アンプ5に入力することを禁止する。
そのため、第2回以降のBD2点、BD3点……の
欠陥によつて発生する疑似トラツキング信号
et′がシヨツク検出回路3を介してトラツキング
アンプ5に供給され、トラツキングサーボ回路の
ループ利得をあげる作用を防止する。
なお、フオーカスサーボは3ms程度ミユーテ
イングされてもすぐにデフオーカスとなることが
ないので、通常の光デイスクの欠陥による影響は
少ない。
ミユーテイング回路としてトランジスタQ1
Q2を使用した実施例としたが、他のミユーテイ
ング回路を使用することもできる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明の光学式デイス
クプレーヤは、光デイスクの欠陥によつて発生す
る疑似のトラツキングエラー信号、および疑似フ
オーカスエラー信号を対物レンズ、または反射ミ
ラーの制御コイル供給しないようにミユーテイン
グしているため、欠陥によつて発生する疑似の誤
差信号によつてトラツクジヤンプを起すことを効
果的に阻止することができるという利点がある。
また、衝撃検出回路によつてシヨツクが検出さ
れたときは、サーボ回路のゲインを向上するよう
に制御する制御回路を設けて耐震性を向上すると
共に、この衝撃回路によるサーボ回路の制御が欠
陥検出時には所定期間禁止されるようになされて
いるから、デイスクの欠陥とプレーヤの対衝撃性
を改善することができるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の光学式デイスクプレーヤに
採用されるサーボコントロール回路の一実施例を
示す回路図、第2図は第1図の動作を示す主要な
波形図、第3図は先行技術を示すトラツキングサ
ーボ回路図、第4図は第3図の動作波形図、第5
図は疑似の誤差信号を説明するための波形図であ
る。 図中、1は欠陥検出回路、2はラツチ回路、3
はシヨツク検出回路、4はバンドパスフイルタ、
5はウインドコンパレータ、6はトラツキングア
ンプ、7はフオーカスアンプ、Q1,Q2はミユー
テイング用のトランジスタを示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 光デイスクプレーヤのピツクアツプから出力
    されるRF信号のトツプレベルを検出し、光デイ
    スクの欠陥部分を示す信号を出力する欠陥検出回
    路と、 トラツキングエラー信号が、所定の周波数領域
    内で基準値より大きくなつたことを検出する衝撃
    検出回路と、 上記衝撃検出回路の出力によりトラツキングサ
    ーボ回路のループゲインを増加させる制御手段を
    設け、 上記欠陥検出回路の動作時には上記制御手段の
    動作を所定期間禁止すると共に、フオーカスエラ
    ー信号およびトラツキングエラー信号を少なくと
    も上記欠陥検出回路動作期間中はミユーテイング
    するミユーテイング回路を備えていることを特徴
    とする光学式デイスクプレーヤ。
JP21048584A 1984-10-09 1984-10-09 光学式デイスクプレ−ヤ Granted JPS6190334A (ja)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21048584A JPS6190334A (ja) 1984-10-09 1984-10-09 光学式デイスクプレ−ヤ

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JPS6190334A JPS6190334A (ja) 1986-05-08
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5987667A (ja) * 1982-11-10 1984-05-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd 針飛び防止装置
JPS59101035A (ja) * 1982-11-30 1984-06-11 Nec Home Electronics Ltd デイジタル・オ−デイオデイスクプレ−ヤのレンズサ−ボル−プ遮断回路

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS6190334A (ja) 1986-05-08

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