JPH0465010A - 銅導体ペースト - Google Patents
銅導体ペーストInfo
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- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims abstract description 113
- 239000010949 copper Substances 0.000 title claims abstract description 47
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 title claims abstract description 46
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 23
- 238000010301 surface-oxidation reaction Methods 0.000 claims abstract description 17
- 239000004020 conductor Substances 0.000 claims description 38
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims description 19
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims description 8
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 20
- 239000000843 powder Substances 0.000 abstract description 16
- 230000032683 aging Effects 0.000 abstract description 12
- 238000005476 soldering Methods 0.000 abstract description 3
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 26
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 25
- 238000000034 method Methods 0.000 description 18
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 14
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 14
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 7
- 238000007639 printing Methods 0.000 description 6
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 4
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 4
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 4
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 239000003989 dielectric material Substances 0.000 description 3
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 3
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 3
- 238000007650 screen-printing Methods 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 2
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N dibutyl phthalate Chemical compound CCCCOC(=O)C1=CC=CC=C1C(=O)OCCCC DOIRQSBPFJWKBE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 2
- 230000003628 erosive effect Effects 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 238000004898 kneading Methods 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 2
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 238000005245 sintering Methods 0.000 description 2
- 230000003685 thermal hair damage Effects 0.000 description 2
- 230000004580 weight loss Effects 0.000 description 2
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 241000167854 Bourreria succulenta Species 0.000 description 1
- QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N Copper oxide Chemical compound [Cu]=O QPLDLSVMHZLSFG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005751 Copper oxide Substances 0.000 description 1
- 229910018471 Cu6Sn5 Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001856 Ethyl cellulose Substances 0.000 description 1
- ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N Ethyl cellulose Chemical compound CCOCC1OC(OC)C(OCC)C(OCC)C1OC1C(O)C(O)C(OC)C(CO)O1 ZZSNKZQZMQGXPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GUTKPTLYNQSWGI-UHFFFAOYSA-N [Cu].[Sn].[Sn] Chemical compound [Cu].[Sn].[Sn] GUTKPTLYNQSWGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000905 alloy phase Inorganic materials 0.000 description 1
- WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N alpha-terpineol Chemical compound CC1=CCC(C(C)(C)O)CC1 WUOACPNHFRMFPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 235000019693 cherries Nutrition 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 150000001879 copper Chemical class 0.000 description 1
- 229910000431 copper oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007797 corrosion Effects 0.000 description 1
- 238000005260 corrosion Methods 0.000 description 1
- SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N delta-terpineol Natural products CC(C)(O)C1CCC(=C)CC1 SQIFACVGCPWBQZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000000280 densification Methods 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- -1 dibutylcarpitol Chemical compound 0.000 description 1
- 229910001873 dinitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920001249 ethyl cellulose Polymers 0.000 description 1
- 235000019325 ethyl cellulose Nutrition 0.000 description 1
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 1
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000009766 low-temperature sintering Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 description 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 description 1
- 239000006060 molten glass Substances 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N palladium Substances [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 229920001490 poly(butyl methacrylate) polymer Polymers 0.000 description 1
- 238000000518 rheometry Methods 0.000 description 1
- 229940116411 terpineol Drugs 0.000 description 1
- 230000009974 thixotropic effect Effects 0.000 description 1
- 238000009736 wetting Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)
- Paints Or Removers (AREA)
- Conductive Materials (AREA)
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、セラミックス等の絶縁性基板上に電極や配線
パターンを形成するために用いられる、銅粉を導電粒子
とした銅導体ペーストに関し、さらに詳しくは、導電性
および半田濡れ性に優れ、かつ基板との密着性も良好な
銅導体ペーストに関する。
パターンを形成するために用いられる、銅粉を導電粒子
とした銅導体ペーストに関し、さらに詳しくは、導電性
および半田濡れ性に優れ、かつ基板との密着性も良好な
銅導体ペーストに関する。
(従来の技術)
導体ペーストは、ガラス、セラミックス等の絶縁性基板
に、スクリーン印刷法、直接描画法等で所定パターンと
なるように塗布した後、焼成することにより導体厚膜を
形成するものである。従来、かかる導体ペーストには、
金、銀、銀/Pd、銅、ニッケルなどの粉末が用いられ
ているが、近年銅導体ペーストを用いる傾向になりつつ
あることは周知の通りである。
に、スクリーン印刷法、直接描画法等で所定パターンと
なるように塗布した後、焼成することにより導体厚膜を
形成するものである。従来、かかる導体ペーストには、
金、銀、銀/Pd、銅、ニッケルなどの粉末が用いられ
ているが、近年銅導体ペーストを用いる傾向になりつつ
あることは周知の通りである。
すなわち、金導体ペーストは大気中でも焼成できるが高
価であり、銀導体ペーストはエレクトロマイグレーショ
ンが起こりやすく、銀/Pd導体ペーストも高価であり
、ニッケル導体ペーストは配線抵抗が高いなどの欠点を
有するが、銅導体ペーストは低コストであるうえに、配
線抵抗も低く、さらに、マイグレーションも起こりにく
く、理想的な導体材料といえる。
価であり、銀導体ペーストはエレクトロマイグレーショ
ンが起こりやすく、銀/Pd導体ペーストも高価であり
、ニッケル導体ペーストは配線抵抗が高いなどの欠点を
有するが、銅導体ペーストは低コストであるうえに、配
線抵抗も低く、さらに、マイグレーションも起こりにく
く、理想的な導体材料といえる。
この銅導体ペーストは、銅の酸化を防くため、窒素ガス
等の中性雰囲気下で焼成するのであるが、焼成温度によ
り900°C近傍で焼成する高温焼成タイプのものと、
750°C以下600°C近傍で焼成する中温焼成タイ
プのものとに分けられる。
等の中性雰囲気下で焼成するのであるが、焼成温度によ
り900°C近傍で焼成する高温焼成タイプのものと、
750°C以下600°C近傍で焼成する中温焼成タイ
プのものとに分けられる。
高温焼成タイプの銅導体ペーストは、優れた導体特性、
特に導電性、および基板との密着性が得られるものの、
印刷抵抗体および誘電体等に熱的ダメージを与えてしま
うという欠点がある。
特に導電性、および基板との密着性が得られるものの、
印刷抵抗体および誘電体等に熱的ダメージを与えてしま
うという欠点がある。
これに対して、中温焼成タイプのものは、現行の印刷抵
抗体および誘電体をそのまま使用して回路形成ができる
という長所を有する反面、導体特性が高温焼成タイプの
ものに比較して劣るという短所を有する。
抗体および誘電体をそのまま使用して回路形成ができる
という長所を有する反面、導体特性が高温焼成タイプの
ものに比較して劣るという短所を有する。
従来の銅導体ペーストは、例えば平均粒径0.5〜10
unの銅粉を結合剤としての他の添加粉とともにビヒク
ル中に分散させてペースト化させている。
unの銅粉を結合剤としての他の添加粉とともにビヒク
ル中に分散させてペースト化させている。
銅粉は焼成により導電膜を形成する。
ビヒクルはペースト化用液体バインダとしてチクソトロ
ピソクなレオロジーをもたせる役割を有し基板への塗布
印刷を可能にし、焼成時には分解飛散する。通常ビヒク
ルには樹脂を揮発性の溶剤に溶解したものが用いられる
。
ピソクなレオロジーをもたせる役割を有し基板への塗布
印刷を可能にし、焼成時には分解飛散する。通常ビヒク
ルには樹脂を揮発性の溶剤に溶解したものが用いられる
。
添加粉として配合される無機結合剤は、銅焼成膜と基板
とを密着させる役目をもち、かかる結合剤としてはガラ
スフリット、金属酸化物粉などが用いられる。
とを密着させる役目をもち、かかる結合剤としてはガラ
スフリット、金属酸化物粉などが用いられる。
特にガラスフリットによる密着作用はガラスボンドと呼
ばれ、ガラスフリットは導体ペーストの焼成時に溶融し
、これが濡れ現象により銅粉間より基板との界面に移動
し、銅焼成膜と基板とを密着させる。したがって、焼成
後は厚膜の上層部に銅成分が多く、下層部になるほどガ
ラス分が多くなっている。ちょうどガラスが基板表面上
から銅粒子の間に手の指を伸ばしたような形になってい
て、機械的な結合をしている。
ばれ、ガラスフリットは導体ペーストの焼成時に溶融し
、これが濡れ現象により銅粉間より基板との界面に移動
し、銅焼成膜と基板とを密着させる。したがって、焼成
後は厚膜の上層部に銅成分が多く、下層部になるほどガ
ラス分が多くなっている。ちょうどガラスが基板表面上
から銅粒子の間に手の指を伸ばしたような形になってい
て、機械的な結合をしている。
しかしながら、基板との密着性を高めるためにガラスフ
リットの量を増加させると、導電性および半田濡れ性が
低下し、また溶融ガラスフリット部と銅焼成膜との界面
は半田の侵食に弱いため、半田付けした後の高温エージ
ングによる接着強度が著しく低下する等の欠点を存する
。なお、このように上記界面が半田の侵食に弱い原因は
半田と銅の中間合金相としてCu6Sn5が生成するた
めであるとされている。
リットの量を増加させると、導電性および半田濡れ性が
低下し、また溶融ガラスフリット部と銅焼成膜との界面
は半田の侵食に弱いため、半田付けした後の高温エージ
ングによる接着強度が著しく低下する等の欠点を存する
。なお、このように上記界面が半田の侵食に弱い原因は
半田と銅の中間合金相としてCu6Sn5が生成するた
めであるとされている。
一方、金属酸化物による密着作用はケミカルボンドと呼
ばれ、このケミカルボンドタイプの銅導体ペーストでは
、金属酸化物が基板と反応して結合させるものであって
、その結合部は半田の侵食におかされにくいことから、
高温エージング後の基板との接着強度が高いという長所
があるが、反応に高温を要し、例えばCuOで1026
”c、 CdOでは900〜1000°Cであるため、
高温焼成が不可欠である。
ばれ、このケミカルボンドタイプの銅導体ペーストでは
、金属酸化物が基板と反応して結合させるものであって
、その結合部は半田の侵食におかされにくいことから、
高温エージング後の基板との接着強度が高いという長所
があるが、反応に高温を要し、例えばCuOで1026
”c、 CdOでは900〜1000°Cであるため、
高温焼成が不可欠である。
(発明が解決しようとする課題)
プリント基板の技術分野では今後、実装基板に対する高
密度化、多機能化の要求が高まり、焼成温度は、印刷抵
抗体および誘電体に熱ダメージを極力小さくするため、
中温焼成が望まれてくると考えられる。
密度化、多機能化の要求が高まり、焼成温度は、印刷抵
抗体および誘電体に熱ダメージを極力小さくするため、
中温焼成が望まれてくると考えられる。
しかし、前述の通り中温焼成においては金属酸化物粉を
添加してケミカルボンドを起こさせることは不可能であ
るため、高温エージング後の接着強度は極めて低い。
添加してケミカルボンドを起こさせることは不可能であ
るため、高温エージング後の接着強度は極めて低い。
近年、金属酸化物によるケミカルボンドを促進させるた
めに、表面が酸化した銅粉を用いる手法(特開平1−1
96192号公報、特開昭60−35405号公報)あ
るいは、銅導体ペーストを基板に印刷被着後、自然雰囲
気中にあって150℃から200℃の温度で乾燥させる
ことにより銅粉の一部を酸化せしめて酸化銅を生成させ
た後、焼成させる手法(特開昭60−50755号公報
)が提案されているが、銅粉表面上の酸化物層が銅粉の
焼結を著しく阻害し、導電性を低下させることについて
は言及していない。
めに、表面が酸化した銅粉を用いる手法(特開平1−1
96192号公報、特開昭60−35405号公報)あ
るいは、銅導体ペーストを基板に印刷被着後、自然雰囲
気中にあって150℃から200℃の温度で乾燥させる
ことにより銅粉の一部を酸化せしめて酸化銅を生成させ
た後、焼成させる手法(特開昭60−50755号公報
)が提案されているが、銅粉表面上の酸化物層が銅粉の
焼結を著しく阻害し、導電性を低下させることについて
は言及していない。
さらに、銅粉の焼結を促進させるために粒径1−以下の
銅粉を微量加える手法(特開平1−167907号公報
)も提案されているが、この手法は、ガラスフリットに
よるガラスボンド機構を利用して厚膜と基板とを結合さ
せているため、上述のガラスポンディングによる欠点、
つまり、導電性、半田濡れ性、高温エージング後の接着
強度等導体特性の劣化を免れていない。
銅粉を微量加える手法(特開平1−167907号公報
)も提案されているが、この手法は、ガラスフリットに
よるガラスボンド機構を利用して厚膜と基板とを結合さ
せているため、上述のガラスポンディングによる欠点、
つまり、導電性、半田濡れ性、高温エージング後の接着
強度等導体特性の劣化を免れていない。
このように、中温焼成において主要な導体特性、つまり
導電性、半田濡れ性、および初期もしくはエージング後
の密着性をいずれも満足するw4導体ペーストは未だ開
発されていない。
導電性、半田濡れ性、および初期もしくはエージング後
の密着性をいずれも満足するw4導体ペーストは未だ開
発されていない。
本発明は、上記欠点を解消すべく成されたもので、中温
焼成においても、°すぐれた導体特性、つまり導電性、
半田濡れ性、基板との初期もしくはエージング後の接着
強度を有する銅導体ペーストを提供することを目的とし
ている。
焼成においても、°すぐれた導体特性、つまり導電性、
半田濡れ性、基板との初期もしくはエージング後の接着
強度を有する銅導体ペーストを提供することを目的とし
ている。
(課題を解決するための手段)
上記目的を達成するため、本発明者は種々検討を重ねた
結果、特性の異なった数種類の銅粉末の配合が有効なこ
とを知見し、本発明を完成するに至った。
結果、特性の異なった数種類の銅粉末の配合が有効なこ
とを知見し、本発明を完成するに至った。
すなわち、本発明は、銅粉を導電粒子とする銅導体ペー
ストにおいて、前記銅粉が、銅粉の表面酸化の程度が0
.3%未満で、かつ、平均粒径が0゜5un以上3p以
下である銅粉Aを60重量%以上80重量%以下と、銅
粉の表面酸化の程度が0.3%以上2%未満でかつ平均
粒径が0.5 /Jl+以上3p以下である銅粉Bを1
8重量%以上38重量%以下と、表面酸化の程度が10
%未満、好ましくは2%以上10%未満で平均粒径が0
.1−以下の銅粉Cを2重量%以下、好ましくは1重量
%以上2重量%以下とを配合したものからなる銅導体ペ
ーストである。
ストにおいて、前記銅粉が、銅粉の表面酸化の程度が0
.3%未満で、かつ、平均粒径が0゜5un以上3p以
下である銅粉Aを60重量%以上80重量%以下と、銅
粉の表面酸化の程度が0.3%以上2%未満でかつ平均
粒径が0.5 /Jl+以上3p以下である銅粉Bを1
8重量%以上38重量%以下と、表面酸化の程度が10
%未満、好ましくは2%以上10%未満で平均粒径が0
.1−以下の銅粉Cを2重量%以下、好ましくは1重量
%以上2重量%以下とを配合したものからなる銅導体ペ
ーストである。
本発明の好適態様によれば、ガラスフリットを結合剤と
して前記銅粉全体量に対して1重量%以下添加してもよ
い。
して前記銅粉全体量に対して1重量%以下添加してもよ
い。
また、本発明にかかる銅導体ペーストの焼成温度は、好
ましくは750°C以下である。
ましくは750°C以下である。
(作用)
本発明の構成と作用を説明する。
本発明の銅導体ペーストに用いる各銅粉は上記条件を具
備するものであれば、公知の各種銅粉が使用可能である
。
備するものであれば、公知の各種銅粉が使用可能である
。
本発明において銅粉Aが60%未満あるいは銅粉Bが3
8%を越えると、導電性、半田濡れ性が劣化し、同しく
銅粉Aが80%超あるいは銅粉Bが18%未満では接着
強度が低下して実用的でなくなる。
8%を越えると、導電性、半田濡れ性が劣化し、同しく
銅粉Aが80%超あるいは銅粉Bが18%未満では接着
強度が低下して実用的でなくなる。
銅粉Aの0□量、つまり表面酸化の程度が0.3%以上
では導電性、半田濡れ性が悪化し、銅粉Bの02量が0
.3%未満では接着強度が低下し、2%以上では導電性
、半田濡れ性が著しく低下する。銅粉Cの02量が10
%以上の場合も導電性、半田濡れ性の低下が著しい。
では導電性、半田濡れ性が悪化し、銅粉Bの02量が0
.3%未満では接着強度が低下し、2%以上では導電性
、半田濡れ性が著しく低下する。銅粉Cの02量が10
%以上の場合も導電性、半田濡れ性の低下が著しい。
また、銅粉Aおよび銅粉Bの粒径が3−を越えた場合、
形成された焼成導体の緻密化が不充分となり、0.54
未満では比表面積が大きくなりすぎてペースト化に必要
なビヒクル量が増大するため焼成時のバインダー除去が
困難となる。
形成された焼成導体の緻密化が不充分となり、0.54
未満では比表面積が大きくなりすぎてペースト化に必要
なビヒクル量が増大するため焼成時のバインダー除去が
困難となる。
本発明の銅導体ペーストが中温焼成タイプであるにも拘
わらず導電性、半田濡れ性、ならびに基板との初期およ
びエージング後の接着強度を共に満足できるのは、表面
酸化層が薄い表面清浄な銅粉Aと、適度な表面酸化層を
有する銅粉Bおよび、平均粒径が0.1p以下の銅粉い
わゆる“銅超微粉”とならなる銅粉Cとを配合したため
であり、さらに好適例として少量のガラスフリットを組
み合わせたことにある。
わらず導電性、半田濡れ性、ならびに基板との初期およ
びエージング後の接着強度を共に満足できるのは、表面
酸化層が薄い表面清浄な銅粉Aと、適度な表面酸化層を
有する銅粉Bおよび、平均粒径が0.1p以下の銅粉い
わゆる“銅超微粉”とならなる銅粉Cとを配合したため
であり、さらに好適例として少量のガラスフリットを組
み合わせたことにある。
すなわち、表面清浄な銅粉Aが良好な半田濡れ性、およ
び導電性をもたらし、表面酸化銅粉Bの表面酸化層が基
板および基板上へ融着したガラスフリントと銅焼成膜と
の界面に安定な化合物を形成することにより、高い接着
強度、特にエージング後の高い接着強度をもたらす。さ
らに、低温焼結特性を有する銅超微粉Cが銅粉間のネッ
ク成長を低温において誘発するため、銅焼成膜を緻密化
させて半田の侵入を防くことがらエージング後の接着強
度を維持させる。また、超微粉の添加は、導電性を大き
く向上させる効果も有する。
び導電性をもたらし、表面酸化銅粉Bの表面酸化層が基
板および基板上へ融着したガラスフリントと銅焼成膜と
の界面に安定な化合物を形成することにより、高い接着
強度、特にエージング後の高い接着強度をもたらす。さ
らに、低温焼結特性を有する銅超微粉Cが銅粉間のネッ
ク成長を低温において誘発するため、銅焼成膜を緻密化
させて半田の侵入を防くことがらエージング後の接着強
度を維持させる。また、超微粉の添加は、導電性を大き
く向上させる効果も有する。
銅超微粉は比表面積が非常に大であるため、微量加える
ことが肝要であり、過剰に添加すると、ペースト化に必
要なビヒクル量が増加し、ペースト中の粉末濃度が低下
し、緻密な焼成膜が形成されず好ましくない。したがっ
て、本発明にあっては2重量%以下に制限する。好まし
くは、1.0〜1.5重量%である。
ことが肝要であり、過剰に添加すると、ペースト化に必
要なビヒクル量が増加し、ペースト中の粉末濃度が低下
し、緻密な焼成膜が形成されず好ましくない。したがっ
て、本発明にあっては2重量%以下に制限する。好まし
くは、1.0〜1.5重量%である。
そして銅粉Cの粒径が0.1−を越えると銅粉Aおよび
銅粉Bの間隙を充填することができない。
銅粉Bの間隙を充填することができない。
好ましくは0.05−以下である。
なお、銅粉Cの表面酸化の程度は10%未満とするが、
これは半田濡れ、導電性を維持するためであり、好まし
くは5〜7%である。
これは半田濡れ、導電性を維持するためであり、好まし
くは5〜7%である。
なお、上述の条件が満たされる限り、製造方法、粒子の
形状については特に制限はないが、スクリーン印刷性の
面からは球状に近い粒子であることが望ましい。
形状については特に制限はないが、スクリーン印刷性の
面からは球状に近い粒子であることが望ましい。
銅は非常に酸化されやすく、市販の銅粉の表面にはすで
に酸化物が形成されており、さらに、自然雰囲気下で室
温保存中にも酸化が進行し、粉末の色かえんし色からさ
らには茶色にまで変化する。
に酸化物が形成されており、さらに、自然雰囲気下で室
温保存中にも酸化が進行し、粉末の色かえんし色からさ
らには茶色にまで変化する。
このため、上述に云う表面酸化の程度を確保するには銅
粉の表面酸化量の制御が必要になる。すなわち、銅粉の
表面酸化量を低減させるには、還元処理を施せばよい。
粉の表面酸化量の制御が必要になる。すなわち、銅粉の
表面酸化量を低減させるには、還元処理を施せばよい。
たとえば、Ar−142混合ガスやホーミングガス中で
280 ’C以下で加熱すればよく、その結果、銅粉の
色が明るいさくら色に変化する。
280 ’C以下で加熱すればよく、その結果、銅粉の
色が明るいさくら色に変化する。
一方、銅粉の表面酸素量を増大させるには、例えば、銅
粉を大気中にあて、150℃前後に加熱して酸化させれ
ばよい。なお、表面酸化の程度は水素還元減量(水素ガ
ス中280°CXS時間還元後の重量減少率)より測定
した。
粉を大気中にあて、150℃前後に加熱して酸化させれ
ばよい。なお、表面酸化の程度は水素還元減量(水素ガ
ス中280°CXS時間還元後の重量減少率)より測定
した。
このようにして用意された銅粉A、B、Cの混合物は、
さらにガラスフリントもしくは金属酸化物を配合して、
ビヒクルを加えペースト化される。
さらにガラスフリントもしくは金属酸化物を配合して、
ビヒクルを加えペースト化される。
本発明の銅導体ペーストに用いるガラスフリットとして
は公知のガラスフリットが使用可能であり、軟化点が5
00°C前後以下であれば粒径、組成は特に制限されな
い。たとえば、Pb0−BzO3−3iOzガラスをヘ
ースに各種の金属を添加したものが使用可能である。
は公知のガラスフリットが使用可能であり、軟化点が5
00°C前後以下であれば粒径、組成は特に制限されな
い。たとえば、Pb0−BzO3−3iOzガラスをヘ
ースに各種の金属を添加したものが使用可能である。
結合剤としての金属酸化物としては、代表例としてCu
O1C+gO1CdO等を挙げることができるが、通常
中温焼成タイプであるので、ガラスフリットを使用する
のが好ましい。
O1C+gO1CdO等を挙げることができるが、通常
中温焼成タイプであるので、ガラスフリットを使用する
のが好ましい。
本発明に使用されうるビヒクルとしては公知の各種ビヒ
クルが使用可能である。たとえば、エチルセルロース、
ポリブチルメタクリレート等の樹脂を、テルピネオール
、ジブチルカルピトール、ジブチルフタレート、2,2
.4−1−リメチル〜1,3−ペンタジオールモノイソ
ブチレート等の溶剤に溶解させたものが挙げられる。
クルが使用可能である。たとえば、エチルセルロース、
ポリブチルメタクリレート等の樹脂を、テルピネオール
、ジブチルカルピトール、ジブチルフタレート、2,2
.4−1−リメチル〜1,3−ペンタジオールモノイソ
ブチレート等の溶剤に溶解させたものが挙げられる。
ペースト化方法としては、公知の各種の方法が使用可能
である。例えば、混合は、万能攪拌機(プラネタリウム
ミル)、混練は3本ロールミル、ニーダ−等で行うこと
ができる。
である。例えば、混合は、万能攪拌機(プラネタリウム
ミル)、混練は3本ロールミル、ニーダ−等で行うこと
ができる。
本発明の導体ペーストは、上記した各成分を混合、混練
してペースト化した後、基板上に印刷または描画により
塗布し、溶剤を乾燥、揮散させ、次いで焼成して導電被
膜を得るものである。
してペースト化した後、基板上に印刷または描画により
塗布し、溶剤を乾燥、揮散させ、次いで焼成して導電被
膜を得るものである。
本発明の銅導体ペーストの印刷には公知の印刷方法が使
用可能である。このような印刷方法としては、スクリー
ン印刷法、メタルマスクによる印刷法、直接描画法等が
挙げられる。
用可能である。このような印刷方法としては、スクリー
ン印刷法、メタルマスクによる印刷法、直接描画法等が
挙げられる。
本発明の銅導体ペーストの焼成方法としては、公知の焼
成方法が使用可能であるが、生産性および安定性の点か
らヘルド炉が望ましい。焼成温度は750″C以下で十
分である。
成方法が使用可能であるが、生産性および安定性の点か
らヘルド炉が望ましい。焼成温度は750″C以下で十
分である。
次に、実施例によって本発明をさらムこ具体的に説明す
る。
る。
(実施例)
第1表の組成割合で調製した銅導体ペーストを純度96
重量%のアルミナ基板上にスクリーン印刷機で適当なパ
ターンに印刷を行い、120″Cで10分間乾燥して溶
剤を除去した後、窒素雰囲気中で、ヘルド炉においてピ
ーク温度600 ”c、ピーク温度保持時間10分を含
む1サイクル40分のプロファイルで焼成を行い、膜厚
20/aの銅厚膜を得た。
重量%のアルミナ基板上にスクリーン印刷機で適当なパ
ターンに印刷を行い、120″Cで10分間乾燥して溶
剤を除去した後、窒素雰囲気中で、ヘルド炉においてピ
ーク温度600 ”c、ピーク温度保持時間10分を含
む1サイクル40分のプロファイルで焼成を行い、膜厚
20/aの銅厚膜を得た。
このようにして得られた各焼成膜について、導電性、半
田濡れ性および接着強度による導体特性評価を行った。
田濡れ性および接着強度による導体特性評価を行った。
評価要領は次の通りであった。
(導電性)
導体抵抗値の測定により評価した。具体的には、4端子
法抵抗測定、および銅厚膜の線幅・膜厚より比抵抗値を
求めた。
法抵抗測定、および銅厚膜の線幅・膜厚より比抵抗値を
求めた。
(半田濡れ性)
焼成部品を230±3℃の温度に維持した63%5n−
37%pb半田槽に3±0.5秒間浸漬し、4mmX4
mの銅被膜上に被着した半田の被着率を目視で測定した
。
37%pb半田槽に3±0.5秒間浸漬し、4mmX4
mの銅被膜上に被着した半田の被着率を目視で測定した
。
(接着強度)
2mm角の銅導体被膜に、230±3°Cの温度に維持
した63%5n−37%pb半田槽に3±0.5秒間浸
漬した後、その上に0.6 ms+≠スズメンキ銅線を
ハンダボデにて半田付けした。スズメツキ銅線を被膜端
部よりl+w@の位置で90度曲げて基板と垂直とし、
基板を固定した状態で引張り試験機によりl0CI+/
!1inの速度でスズメツキ銅線を引張り、スズメツキ
銅線が基板からはがれた時の接着強度を測定した。
した63%5n−37%pb半田槽に3±0.5秒間浸
漬した後、その上に0.6 ms+≠スズメンキ銅線を
ハンダボデにて半田付けした。スズメツキ銅線を被膜端
部よりl+w@の位置で90度曲げて基板と垂直とし、
基板を固定した状態で引張り試験機によりl0CI+/
!1inの速度でスズメツキ銅線を引張り、スズメツキ
銅線が基板からはがれた時の接着強度を測定した。
接着強度は半田付直後の値(初期接着強度)、および1
50 ’Cで100時間エージングした後の値を測定し
た。
50 ’Cで100時間エージングした後の値を測定し
た。
これらの結果は第2表にまとめて示す。
微細粉である銅粉Cを用いなかった各比較例にあっては
、いずれも導電率、接着強度および半田濡れ性のいずれ
かにおいて十分でなく、総合評価を満足させることはで
きない。
、いずれも導電率、接着強度および半田濡れ性のいずれ
かにおいて十分でなく、総合評価を満足させることはで
きない。
この点、本発明にかかるものはいずれの導体特性におい
ても満足のゆくものであって、総合評価も満足すべきも
のである。
ても満足のゆくものであって、総合評価も満足すべきも
のである。
次に、同様にして第1表の本発明例RunNo、1を基
本組成にして銅粉Cの配合量を1〜3重量%まで変えた
ときに得られた各焼成膜の特性評価を行った。結果を第
1表にグラフで示す。
本組成にして銅粉Cの配合量を1〜3重量%まで変えた
ときに得られた各焼成膜の特性評価を行った。結果を第
1表にグラフで示す。
篤
表
判定基準。
導電率 : 2.0m07口未満をOlそれ以上をXは
んだ濡れ性:90%以上を02それ未満を×(発明の効
果) 本発明は以上説明したように構成されており、前述の実
施例からも明らかなように、本発明の銅導体ペーストは
中温焼成タイプにもかかわらず、優れた導体特性を有し
ており、したがって本発明によれば現行の印刷抵抗体等
を利用した混成集積回路形成に大きく役立つものであっ
て、産業上益するところ大である。
んだ濡れ性:90%以上を02それ未満を×(発明の効
果) 本発明は以上説明したように構成されており、前述の実
施例からも明らかなように、本発明の銅導体ペーストは
中温焼成タイプにもかかわらず、優れた導体特性を有し
ており、したがって本発明によれば現行の印刷抵抗体等
を利用した混成集積回路形成に大きく役立つものであっ
て、産業上益するところ大である。
【図面の簡単な説明】
第1図は、エージング強度およびはんだ濡れ性に及ぼす
銅粉C配合量の影響を示すグラフである。
銅粉C配合量の影響を示すグラフである。
Claims (2)
- (1)銅粉を導電粒子とする銅導体ペーストにおいて、
前記銅粉が、合計重量を基準に、下記銅粉A:60重量
%以上80重量%以下、銅粉B:18重量%以上38重
量%以下、および銅粉C:2重量%以下から成ることを
特徴とする銅導体ペースト。 銅粉A:表面酸化の程度が0.3%未満で、かつ、平均
粒径が0.5μm以上3μm以下である銅粉、銅粉B:
表面酸化の程度が0.3%以上2%未満でかつ平均粒径
が0.5μm以上3μm以下である銅粉、銅粉C:表面
酸化の程度が10%未満で平均粒径が0.1μm以下の
銅粉。 - (2)前記銅粉の合計重量を基準に1重量%以下のガラ
スフリットを結合剤として配合して成る請求項1記載の
銅導体ペースト。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17712990A JPH0465010A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 銅導体ペースト |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17712990A JPH0465010A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 銅導体ペースト |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0465010A true JPH0465010A (ja) | 1992-03-02 |
Family
ID=16025682
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17712990A Pending JPH0465010A (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 銅導体ペースト |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0465010A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2361695A (en) * | 2000-04-25 | 2001-10-31 | Murata Manufacturing Co | Electroconductive composition |
WO2012060262A1 (ja) * | 2010-11-04 | 2012-05-10 | 株式会社日立製作所 | 焼結接合剤、その製造方法およびそれを用いた接合方法 |
LT6284B (lt) | 2014-11-11 | 2016-07-25 | Kauno technologijos universitetas | Bevandenių kalcio silikatų gamybos būdas ir tuo būdu gautas bevandenis kalcio silikatas |
-
1990
- 1990-07-04 JP JP17712990A patent/JPH0465010A/ja active Pending
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2361695A (en) * | 2000-04-25 | 2001-10-31 | Murata Manufacturing Co | Electroconductive composition |
GB2361695B (en) * | 2000-04-25 | 2002-08-21 | Murata Manufacturing Co | Electroconductive composition and printed circuit board using the same |
US6468447B2 (en) | 2000-04-25 | 2002-10-22 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Electroconductive composition and printed circuit board using the same |
WO2012060262A1 (ja) * | 2010-11-04 | 2012-05-10 | 株式会社日立製作所 | 焼結接合剤、その製造方法およびそれを用いた接合方法 |
LT6284B (lt) | 2014-11-11 | 2016-07-25 | Kauno technologijos universitetas | Bevandenių kalcio silikatų gamybos būdas ir tuo būdu gautas bevandenis kalcio silikatas |
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