JPH0464036A - 排ガス中のダスト又はミストの粒径分布及び濃度の連続測定装置 - Google Patents
排ガス中のダスト又はミストの粒径分布及び濃度の連続測定装置Info
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- JPH0464036A JPH0464036A JP2176648A JP17664890A JPH0464036A JP H0464036 A JPH0464036 A JP H0464036A JP 2176648 A JP2176648 A JP 2176648A JP 17664890 A JP17664890 A JP 17664890A JP H0464036 A JPH0464036 A JP H0464036A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
この発明は、燃焼に伴う煙道中のばいじんや粉体プロセ
スにおける輸送ダクト内の粉じん等のダスト、排ガス処
理工程において生成する液滴状粒重すなわちミスト、あ
るいは排ガス処理後の輸送ダクト内のダスト及びミスト
など、固体と液体の性状を問わず排ガス中に存在するす
べての粒子状物罵の粒径分布及び濃度を現場において連
続的に測定するためのもので、さらにアルカリ洗浄液や
食塩水などの噴霧ミスト中の可溶性物質の粒径別溶存割
合(濃度)を現場において直接的にかつ連続的に測定す
ることができる。
スにおける輸送ダクト内の粉じん等のダスト、排ガス処
理工程において生成する液滴状粒重すなわちミスト、あ
るいは排ガス処理後の輸送ダクト内のダスト及びミスト
など、固体と液体の性状を問わず排ガス中に存在するす
べての粒子状物罵の粒径分布及び濃度を現場において連
続的に測定するためのもので、さらにアルカリ洗浄液や
食塩水などの噴霧ミスト中の可溶性物質の粒径別溶存割
合(濃度)を現場において直接的にかつ連続的に測定す
ることができる。
(従来の技術)
エアロゾル粒子の粒径分布及び濃度の測定装置には多く
の原理のものがあるが、排ガス中のダスト測定に使用で
きる唯一のものがいわゆるカスケードインバクターであ
る。これは、漏斗状の噴出ノズルとその直下に相対して
設けた円板状の衝突板を一対とし、噴出ノズルの口径を
下方にいくほど小さくして上下数段を連ね、含しんガス
をノズルから衝突板上に噴出すると、ガス流は衝突板に
よって曲げられ1粒子は慣性力(粒子径の2乗と速度に
比例)によりガス流から逸脱して衝突板上に衝突・捕集
される。この場合、粗大粒子はど上段部に、微小粒子は
ど下段部に分離して捕集されるので、各々衝突板上に捕
集された分離径の異なる粒子の質量を秤量して累積・演
算すれば、粒径分布、及び濃度が求めることができる。
の原理のものがあるが、排ガス中のダスト測定に使用で
きる唯一のものがいわゆるカスケードインバクターであ
る。これは、漏斗状の噴出ノズルとその直下に相対して
設けた円板状の衝突板を一対とし、噴出ノズルの口径を
下方にいくほど小さくして上下数段を連ね、含しんガス
をノズルから衝突板上に噴出すると、ガス流は衝突板に
よって曲げられ1粒子は慣性力(粒子径の2乗と速度に
比例)によりガス流から逸脱して衝突板上に衝突・捕集
される。この場合、粗大粒子はど上段部に、微小粒子は
ど下段部に分離して捕集されるので、各々衝突板上に捕
集された分離径の異なる粒子の質量を秤量して累積・演
算すれば、粒径分布、及び濃度が求めることができる。
実際の作業としては、噴出ノズルと衝突板とを対にした
粒子分離体を数個格納した装置本体を煙道内に揮入し、
吸引ノズルを通して排ガスと等しい速度で一定時間試料
排ガスを採取したのち、装置本体を実験室に持ち帰り、
粒子試料を貯留した各々衝突板を外部に取り外して秤量
し、各々の粒子質量から最終的に粒径分布及び濃度を求
める。
粒子分離体を数個格納した装置本体を煙道内に揮入し、
吸引ノズルを通して排ガスと等しい速度で一定時間試料
排ガスを採取したのち、装置本体を実験室に持ち帰り、
粒子試料を貯留した各々衝突板を外部に取り外して秤量
し、各々の粒子質量から最終的に粒径分布及び濃度を求
める。
(発明が解決しようとする問題点)
上記のカスケードインバクターでは、測定結果を得るま
でに多大の労力と時間を要するうえ、粒子の粒径や濃度
の時間的変動を適確に把握することは本質的に無理であ
り、また脱硫装置出口などの排ガス中のミスト測定にお
いては、ミストが衝突板から流出してしまうために測定
困難であった。
でに多大の労力と時間を要するうえ、粒子の粒径や濃度
の時間的変動を適確に把握することは本質的に無理であ
り、また脱硫装置出口などの排ガス中のミスト測定にお
いては、ミストが衝突板から流出してしまうために測定
困難であった。
(問題点を解決するための手段)
これらの問題は解決され、排ガス中のダストやミストの
粒径分布及び濃度を現場でかつ連続的に測定することが
できる。本発明はこの点に着目したもので、ざらにミス
トの蒸発部を付設してこの前後において光散乱強度を罰
定することによって、ダストとミストとを区別して測定
できることになる。
粒径分布及び濃度を現場でかつ連続的に測定することが
できる。本発明はこの点に着目したもので、ざらにミス
トの蒸発部を付設してこの前後において光散乱強度を罰
定することによって、ダストとミストとを区別して測定
できることになる。
(発明の実施例)
fJ1図は、煙道内に採入して排ガス試料を等速吸引し
ながら現場でダスト又はミストの粒径分布及び濃度を測
定するための装置実施例で、吸引ノズル1を先端に有す
る試料排ガス導入部2と吸引ポンプ13に連結する接続
口12の間の円筒部には、粒子分級部6、保護管11内
に納められた光フアイバーケーブル等によって光源・受
光器14と連結される投受光部9が隔配されている。こ
の粒子分級でデータとして蓄積される。同時に、制御器
I7からの指令によって回転制御器16が信号を発して
回転機構7を駆動し、最も大きな分離径(dl)を有す
る粒子分離体5が試料ガス導入部2の後部に嵌合され、
粒径d、以上の粒子を分離した試料ガスがその後の光検
出域10へ輸送され1粒径dl以下の粒子の光散乱強度
を検出して濃度(C1)を求める。同様にして、順番に
tJ翫さい分離径(dX、dl、d2、・)を有する粒
子分離体5と交換し、各々の濃度(CX、へ順に隔配さ
れている。
ながら現場でダスト又はミストの粒径分布及び濃度を測
定するための装置実施例で、吸引ノズル1を先端に有す
る試料排ガス導入部2と吸引ポンプ13に連結する接続
口12の間の円筒部には、粒子分級部6、保護管11内
に納められた光フアイバーケーブル等によって光源・受
光器14と連結される投受光部9が隔配されている。こ
の粒子分級でデータとして蓄積される。同時に、制御器
I7からの指令によって回転制御器16が信号を発して
回転機構7を駆動し、最も大きな分離径(dl)を有す
る粒子分離体5が試料ガス導入部2の後部に嵌合され、
粒径d、以上の粒子を分離した試料ガスがその後の光検
出域10へ輸送され1粒径dl以下の粒子の光散乱強度
を検出して濃度(C1)を求める。同様にして、順番に
tJ翫さい分離径(dX、dl、d2、・)を有する粒
子分離体5と交換し、各々の濃度(CX、へ順に隔配さ
れている。
まず、試料排ガス導入部2の後方に粒子分履体5を置か
ずに吸引ノズル1を通して等速吸引した排ガス試料は、
投受光部9において形成された光検出域10へ輸送され
1粒子群全体の光散乱強度が検出される。 この検出さ
れた光散乱強度は信号処I!l!1I115によって濃
度(C0)に変換され、制御器17処311I器15に
よって避−演算・処理すれば、直ちに粒子の頻度分布や
ふるい上分布等の粒径分布及び濃度を連続的に測定する
ことができる。
ずに吸引ノズル1を通して等速吸引した排ガス試料は、
投受光部9において形成された光検出域10へ輸送され
1粒子群全体の光散乱強度が検出される。 この検出さ
れた光散乱強度は信号処I!l!1I115によって濃
度(C0)に変換され、制御器17処311I器15に
よって避−演算・処理すれば、直ちに粒子の頻度分布や
ふるい上分布等の粒径分布及び濃度を連続的に測定する
ことができる。
Wi2図は、第1図の装置の円筒部を延長して2つの光
検出域10を設けると共に、この中間部に加熱機構19
を配設したもので、ミストの蒸発部を付設してこの前後
における光散乱強度を検出することによりダストとミス
トを区別して測定できる装置の実施例である。
検出域10を設けると共に、この中間部に加熱機構19
を配設したもので、ミストの蒸発部を付設してこの前後
における光散乱強度を検出することによりダストとミス
トを区別して測定できる装置の実施例である。
ダストとミストの混合したエアロゾル粒子の場合、試料
ガスを粒子分離体5により分離径の大きい順に分級しな
がら、その都度、最初の光検出域10’においてダスト
及びミストを検出し、後方の光検出域10においてはミ
ストが円筒部外の加熱機構19により加熱・蒸発するた
め、ダストだけが検るため、その残存物質、すなわちミ
スト中の可溶性物質が検出されることになる。順次検出
されるミストの蒸発前後の光散乱強度の信号を信号処理
器15.15’によって逐一演算・処理し、比較解析器
18によって比較していけば、粒子分離体5の回転が一
巡した段階で粒径側のミスト中の可溶性物質の溶存割合
(濃度)が連続的に測定される。
ガスを粒子分離体5により分離径の大きい順に分級しな
がら、その都度、最初の光検出域10’においてダスト
及びミストを検出し、後方の光検出域10においてはミ
ストが円筒部外の加熱機構19により加熱・蒸発するた
め、ダストだけが検るため、その残存物質、すなわちミ
スト中の可溶性物質が検出されることになる。順次検出
されるミストの蒸発前後の光散乱強度の信号を信号処理
器15.15’によって逐一演算・処理し、比較解析器
18によって比較していけば、粒子分離体5の回転が一
巡した段階で粒径側のミスト中の可溶性物質の溶存割合
(濃度)が連続的に測定される。
(作用、効果)
転が一巡した段階でダストとミストの各々の粒径分布及
び濃度が連続的に測定できる。
び濃度が連続的に測定できる。
一方、第2図に示したような可溶性物質を含んだミスト
の場合には、前段の光検出域IOにおいては粒子分離体
5によって分級されたミストが検出され、後段の光検出
域10’においてはミスト中の水分が円筒部外の加熱機
構19により加熱・蒸発す定が可能となり、大気中に放
出されてから新たに粒子となるこれらの物質についての
実態解明を行うことができ、環境中の浮遊粒子状物質の
低減対策に効果を発揮する等、その波及効果は極めて大
きい。
の場合には、前段の光検出域IOにおいては粒子分離体
5によって分級されたミストが検出され、後段の光検出
域10’においてはミスト中の水分が円筒部外の加熱機
構19により加熱・蒸発す定が可能となり、大気中に放
出されてから新たに粒子となるこれらの物質についての
実態解明を行うことができ、環境中の浮遊粒子状物質の
低減対策に効果を発揮する等、その波及効果は極めて大
きい。
1・・吸引ノズル、2・試料排ガス導入部、3・・噴出
ノズル、4・・・衝突板、5・・・粒子分離体、6・・
・粒子分級部、7・・・回転機構、8・・・ダスト及び
ミスト貯留部、9.9′・・・投受光部、10.10′
・・・光検出域、 11・・保護管、12・・・連結口
、 13・・・吸引ピング、14.14′・・・光源・
受光器、15.15′・・・信号処理器、16・・・I
I御器、17・・制御器、18・・・比較解析器。
ノズル、4・・・衝突板、5・・・粒子分離体、6・・
・粒子分級部、7・・・回転機構、8・・・ダスト及び
ミスト貯留部、9.9′・・・投受光部、10.10′
・・・光検出域、 11・・保護管、12・・・連結口
、 13・・・吸引ピング、14.14′・・・光源・
受光器、15.15′・・・信号処理器、16・・・I
I御器、17・・制御器、18・・・比較解析器。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、吸引ノズルを先端に有する試料排ガス導入部の後方
に粒子分級部を配し、この粒子分級部には口径の異なる
噴出ノズル及びこれと相対して隔設した衝突板とを対と
する粒子分離体を、回転機構に連なる回転体の同一円周
上に串通して複数配設すると共に、粒子分級部後方の円
筒部外側には、窓孔を通して光を試料排ガス流中に照射
する投光部及びこれと相対して粒子により散乱する光を
検出する受光部の一対からなる光散乱式粒子濃度計測部
を配設したダスト又はミストの粒径分布及び濃度の連続
測定装置 2、1、の請求に止らず、粒子分級部後方の円筒部を延
長し、その外側には排ガスの加熱機構及びさらに1つの
光散乱式粒子濃度計測部を付設することにより、ダスト
とミストとを区別して各々の粒径分布及び濃度を連続的
に測定する装置
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2176648A JPH0658315B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 排ガス中のダスト又はミストの粒径分布及び濃度の連続測定装置 |
US07/662,576 US5090233A (en) | 1990-07-04 | 1991-03-01 | In-line analyzer for particle size distribution in flue gas |
DE4107902A DE4107902C2 (de) | 1990-07-04 | 1991-03-12 | Vorrichtung zur In-Line-Analyse der Partikelgrößenverteilung in Abgasen |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2176648A JPH0658315B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 排ガス中のダスト又はミストの粒径分布及び濃度の連続測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0464036A true JPH0464036A (ja) | 1992-02-28 |
JPH0658315B2 JPH0658315B2 (ja) | 1994-08-03 |
Family
ID=16017257
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2176648A Expired - Lifetime JPH0658315B2 (ja) | 1990-07-04 | 1990-07-04 | 排ガス中のダスト又はミストの粒径分布及び濃度の連続測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5090233A (ja) |
JP (1) | JPH0658315B2 (ja) |
DE (1) | DE4107902C2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005114664A (ja) * | 2003-10-10 | 2005-04-28 | Rion Co Ltd | 粒子検出装置 |
JP2012021824A (ja) * | 2010-07-13 | 2012-02-02 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 光散乱式ダスト濃度計 |
JP5976885B1 (ja) * | 2015-06-09 | 2016-08-24 | 株式会社田中電気研究所 | 低流速の排ガスでも測定可能な光散乱式ダスト濃度計並びにダスト濃度の測定方法 |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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US5359907A (en) * | 1992-11-12 | 1994-11-01 | Horiba Instruments, Inc. | Method and apparatus for dry particle analysis |
DE4341475A1 (de) * | 1993-12-02 | 1995-06-08 | Ver Energiewerke Ag | Anordnung von in-situ-Analysegeräten und Kalibrierstutzen zur Messung von Emissionen im Abgaskanal einer Verbrennungsanlage |
DE4410422C1 (de) * | 1994-03-25 | 1995-06-01 | Ruck Bodo Priv Doz Dr Ing | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung des aerodynamischen Durchmessers von Teilchen |
DE4433092C1 (de) * | 1994-09-16 | 1995-12-07 | Fraunhofer Ges Forschung | Verfahren zur Konzentrationsbestimmung von in Staub enthaltenen Partikeln und eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
WO1997026097A1 (fr) * | 1996-01-19 | 1997-07-24 | Kimura Chuzosho Co., Ltd. | Procede de regeneration de sable de moulage |
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