JPH0462961A - 半導体装置およびその製造方法 - Google Patents
半導体装置およびその製造方法Info
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- JPH0462961A JPH0462961A JP2174268A JP17426890A JPH0462961A JP H0462961 A JPH0462961 A JP H0462961A JP 2174268 A JP2174268 A JP 2174268A JP 17426890 A JP17426890 A JP 17426890A JP H0462961 A JPH0462961 A JP H0462961A
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- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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- H05K1/18—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components
- H05K1/181—Printed circuits structurally associated with non-printed electric components associated with surface mounted components
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- H05K3/32—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits
- H05K3/34—Assembling printed circuits with electric components, e.g. with resistor electrically connecting electric components or wires to printed circuits by soldering
- H05K3/3457—Solder materials or compositions; Methods of application thereof
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- Wire Bonding (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〈産業上の利用分野〉
本発明は、複数の半導体チップとチップ部品を積層して
1個の半導体チップにし、内部の電気的な結合をした上
、通常の1個の半導体チップと同様に樹脂パッケージし
た半導体装置に関するものである。
1個の半導体チップにし、内部の電気的な結合をした上
、通常の1個の半導体チップと同様に樹脂パッケージし
た半導体装置に関するものである。
〈従来の技術〉
最近は、各種の電子機器についての高機能化・強くなり
、この要求に対応するため多くのハイブリッドモジュー
ルが提案されている。
、この要求に対応するため多くのハイブリッドモジュー
ルが提案されている。
ハイブリッドモジュールは樹脂、又は、セラミックの配
線基板上に、所定の回路を形成する複数の半導体チップ
のダイボンドとワイヤボンドによる接続と、半導体チッ
プに形成しにくい電子部品のチップ部品をワイヤボンド
又は導電性接着剤による接続した上、パッケージによる
封止を行っていた。この封止に樹脂モールドでパッケー
ジしたハイブリッドモジュールは、かつて用いられてい
たセラミックパッケージと比較し安価であり、しかも、
樹脂モールドの半導体デバイスと同様な工程を使用でき
るという利点がある。
線基板上に、所定の回路を形成する複数の半導体チップ
のダイボンドとワイヤボンドによる接続と、半導体チッ
プに形成しにくい電子部品のチップ部品をワイヤボンド
又は導電性接着剤による接続した上、パッケージによる
封止を行っていた。この封止に樹脂モールドでパッケー
ジしたハイブリッドモジュールは、かつて用いられてい
たセラミックパッケージと比較し安価であり、しかも、
樹脂モールドの半導体デバイスと同様な工程を使用でき
るという利点がある。
〈発明が解決しようとする課題〉
以上で説明したハイブリッドモジュールは、実装した半
導体チップとチップ部品により良好な回路機能をもたせ
ることができるが、このハイブリッドモジュールは使用
する半導体チップとチップ部品に対応させた専用の配線
基板を必要とするためモジュールコストの低減が難しく
、かつ、モジュールサイズの小型化も制約されるという
問題があった。
導体チップとチップ部品により良好な回路機能をもたせ
ることができるが、このハイブリッドモジュールは使用
する半導体チップとチップ部品に対応させた専用の配線
基板を必要とするためモジュールコストの低減が難しく
、かつ、モジュールサイズの小型化も制約されるという
問題があった。
本発明は、従来のハイブリッドモジュールがもっていた
問題点を解消するものであり、ハイブリッドモジュール
がもっていた機能を保ちながら小型に、しかも、低価格
にできる半導体装置とその製造方法を提供することを目
的としている。
問題点を解消するものであり、ハイブリッドモジュール
がもっていた機能を保ちながら小型に、しかも、低価格
にできる半導体装置とその製造方法を提供することを目
的としている。
〈課題を解決するための手段〉
本発明は、従来のハイブリッドモジュールが配線基板上
に並べて配線していた第2の半導体チップ及びチップ部
品を、第1の半導体チップの表面に積層状に接続するも
のである。
に並べて配線していた第2の半導体チップ及びチップ部
品を、第1の半導体チップの表面に積層状に接続するも
のである。
すなわち、第1の半導体チップの・表面に接続用電極パ
ッドを形成しておき、これに対応した接続電極パッドを
形成した第2の半導体チップ及びチップ部品を対向させ
、その間を半田で接続して、電気回路的にも1チツプ化
した上、樹脂によるモールドのパッケージを行なうもの
である。
ッドを形成しておき、これに対応した接続電極パッドを
形成した第2の半導体チップ及びチップ部品を対向させ
、その間を半田で接続して、電気回路的にも1チツプ化
した上、樹脂によるモールドのパッケージを行なうもの
である。
〈作 用〉
本発明の半導体装置は、第1の半導体チップの表面に、
他の半導体チップ及びチップ部品を積層構成にし、電気
的にも接続した後、従来の1チツプ半導体と同じように
アセンブルとパッケージをするものである。
他の半導体チップ及びチップ部品を積層構成にし、電気
的にも接続した後、従来の1チツプ半導体と同じように
アセンブルとパッケージをするものである。
従って、ハイブリッドモジュールの配線基板が不要にな
り、小型化と工程の簡易化が可能になった。
り、小型化と工程の簡易化が可能になった。
〈実施例〉
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
先ず、第2図に断面図で示した本発明の一実施例の半導
体装置の製造工程について説明する。
体装置の製造工程について説明する。
第2図(a)の3は本発明の半導体装置の主要回路を形
成した第1の半導体チップであるが、この半導体装置の
回路形成に必要な第2の半導体チップ4及びチップ部品
5を半田パンプで接続するための電極パッド3a及び3
bがチップ3の表面に形成されている。
成した第1の半導体チップであるが、この半導体装置の
回路形成に必要な第2の半導体チップ4及びチップ部品
5を半田パンプで接続するための電極パッド3a及び3
bがチップ3の表面に形成されている。
この電極パッド3a及び3bはチップ3の表面か、その
保護膜上に形成され、かつ、チップ3の内部回路と接続
する構成であり(図示せず。)、クロム(下層)/銅(
上層)、又は、チタンタングステン合金(下層)/銅(
上層)の多層構造の金属膜で形成している。この電極パ
ッド3a、3bの上に蒸着法、メツキ法等によって半田
層を形成した後、加熱溶融して半田バンプ7a、7bを
形成している。この半田バンプ7a、7bの半田材料は
、後でパッケージ樹脂でのモールド時の温度(170〜
190℃)に耐え得る半田を選定する必要があり、本実
施例では錫:鉛−5:95(融侭310℃)の合金半田
を用いた。
保護膜上に形成され、かつ、チップ3の内部回路と接続
する構成であり(図示せず。)、クロム(下層)/銅(
上層)、又は、チタンタングステン合金(下層)/銅(
上層)の多層構造の金属膜で形成している。この電極パ
ッド3a、3bの上に蒸着法、メツキ法等によって半田
層を形成した後、加熱溶融して半田バンプ7a、7bを
形成している。この半田バンプ7a、7bの半田材料は
、後でパッケージ樹脂でのモールド時の温度(170〜
190℃)に耐え得る半田を選定する必要があり、本実
施例では錫:鉛−5:95(融侭310℃)の合金半田
を用いた。
一方、第2の半導体チップ4の表面にも、第1の半導体
チップ3の接続用電極パッド3aに対応する位置に、半
田パンプ7aと良好な電気的接続を得られるクロム(下
層)/銅/金(上層)、又は、チタンタングステン合金
(下層)/銅/金(上層)等の多層構造金属膜で形成し
ている。
チップ3の接続用電極パッド3aに対応する位置に、半
田パンプ7aと良好な電気的接続を得られるクロム(下
層)/銅/金(上層)、又は、チタンタングステン合金
(下層)/銅/金(上層)等の多層構造金属膜で形成し
ている。
又、他のチップ部品5は抵抗やコンデンサ等で半導体チ
ップへの組込むのが不適な素子をパッケジしてあり、そ
の接続用の電極5aの表面は、錫層又は半田層等で形成
されている。
ップへの組込むのが不適な素子をパッケジしてあり、そ
の接続用の電極5aの表面は、錫層又は半田層等で形成
されている。
以上のように形成した素子を第2図(a)に示した、第
1の半導体チップ3の表面に形成したそれぞれの半田パ
ンプ7a及び7bに接続する、第2の半導体チップ4の
電極パッド4a及びチップ部品5の電極パッド5aが対
応するように配置する。
1の半導体チップ3の表面に形成したそれぞれの半田パ
ンプ7a及び7bに接続する、第2の半導体チップ4の
電極パッド4a及びチップ部品5の電極パッド5aが対
応するように配置する。
続いて、第1図の配置の半導体チップ3,4及びチップ
部品5の全体を加熱して、半田バンプ7a、7bをリフ
ローさせ、それぞれの電極パッド4a、5aと半田接続
して、第2図(b’lの構成にする。この半田バンプ7
a、7bのりフローによる接続は、第2の半導体チップ
4.又は、チップ■ 部品5が、一定の範囲内なら、第1図位置合せが不正確
でもセルファライン(自己整合)で位置修正する特徴が
あり、はじめの位置合せの精度に゛、余裕をもたせるこ
とができる。
部品5の全体を加熱して、半田バンプ7a、7bをリフ
ローさせ、それぞれの電極パッド4a、5aと半田接続
して、第2図(b’lの構成にする。この半田バンプ7
a、7bのりフローによる接続は、第2の半導体チップ
4.又は、チップ■ 部品5が、一定の範囲内なら、第1図位置合せが不正確
でもセルファライン(自己整合)で位置修正する特徴が
あり、はじめの位置合せの精度に゛、余裕をもたせるこ
とができる。
続いて、上記の第1の半導体チップ3を通常の平板状リ
ードフレームの半導体チップマウント部6bに、ダイボ
ンド剤8を用いて、ダイボンドし、そのチップ3の外部
接続端子3cとリードフレムのり一部6aの接続部をア
ルミニウム又は金線等のボンデングワイヤ9により接続
する。更に、以上のチップ3等とリードフレーム6の一
部を樹脂モールドによりパッケージlに封止して、最後
に、パッケージlの外のリードフレーム6aを所定の形
状に切断し、ベンデング成形したのが、本発明の実施例
の半導体装置を断面図で示した第1図である。
ードフレームの半導体チップマウント部6bに、ダイボ
ンド剤8を用いて、ダイボンドし、そのチップ3の外部
接続端子3cとリードフレムのり一部6aの接続部をア
ルミニウム又は金線等のボンデングワイヤ9により接続
する。更に、以上のチップ3等とリードフレーム6の一
部を樹脂モールドによりパッケージlに封止して、最後
に、パッケージlの外のリードフレーム6aを所定の形
状に切断し、ベンデング成形したのが、本発明の実施例
の半導体装置を断面図で示した第1図である。
以上の説明から明らかなように、第1図は、第2の半導
体チップ4、及び、チップ部5を半田バンプでその表面
に接続した第1の半導体チップ3が、従来の1チツプの
半導体装置と同じように、リードフレーム6に接続され
、かつ、樹脂モールトノハラケージ1が成形されている
。従って、本発明の半導体装置は、従来のハイブリッド
モジュールと比較し、使用する構成材料が少なく、工程
が簡単になり、かつ、その装置が小型になるという特徴
がある。
体チップ4、及び、チップ部5を半田バンプでその表面
に接続した第1の半導体チップ3が、従来の1チツプの
半導体装置と同じように、リードフレーム6に接続され
、かつ、樹脂モールトノハラケージ1が成形されている
。従って、本発明の半導体装置は、従来のハイブリッド
モジュールと比較し、使用する構成材料が少なく、工程
が簡単になり、かつ、その装置が小型になるという特徴
がある。
以上は、本発明を実施例によって説明したが、本発明は
実施例によって限定されるものでなく、例えば実施例で
各1個ずつの例で説明した第2の半導体チップ又はチッ
プ部品は、2個以上の必要な数に増すこともできる。更
に、実施例ではデュアル・イン・ライン型パッケージに
したものを、フラット型パッケージ等などに適宜変更し
てもよい。
実施例によって限定されるものでなく、例えば実施例で
各1個ずつの例で説明した第2の半導体チップ又はチッ
プ部品は、2個以上の必要な数に増すこともできる。更
に、実施例ではデュアル・イン・ライン型パッケージに
したものを、フラット型パッケージ等などに適宜変更し
てもよい。
〈発明の効果〉
以上で説明したように、本発明の半導体装置の構成によ
り、次のような特徴をもたせることができる。
り、次のような特徴をもたせることができる。
(1)1個の半導体チップの表面に他の半導体チップ及
びチップ部品を対向接続するので従来のハイブリッドモ
ジュールで機種毎に作製していた専用配線基板が不要に
なる。(2)半導体チップ間やチップ部品との接続が、
第1の半導体チップ表面に形成した半田バンプによる1
度の半田リフロー工程で完了する。(3)第1の半導体
チップ表面にのみ半田バンプを形成するので、それに複
数の半導体チップを接続するときも、1種類の半導体チ
ップのみに半田バンプを形成すればよく、最後のダイボ
ンド・ワイヤーポンド及ヒパッケージングの工程は従来
のlチップ半導体と同じ工程にすることができる。従っ
て、本発明の半導体装置は、従来の樹脂モールドのハイ
ブリッドモジュールに比べ、小型化と低価格化が可能に
なる。
びチップ部品を対向接続するので従来のハイブリッドモ
ジュールで機種毎に作製していた専用配線基板が不要に
なる。(2)半導体チップ間やチップ部品との接続が、
第1の半導体チップ表面に形成した半田バンプによる1
度の半田リフロー工程で完了する。(3)第1の半導体
チップ表面にのみ半田バンプを形成するので、それに複
数の半導体チップを接続するときも、1種類の半導体チ
ップのみに半田バンプを形成すればよく、最後のダイボ
ンド・ワイヤーポンド及ヒパッケージングの工程は従来
のlチップ半導体と同じ工程にすることができる。従っ
て、本発明の半導体装置は、従来の樹脂モールドのハイ
ブリッドモジュールに比べ、小型化と低価格化が可能に
なる。
第1図は本発明の半導体装置の実施例の構造を示す断面
図、第2図は実施例の半導体装置の製造工程を示す断面
図である。 l・・・パッケージ、 3,4・・・半導体チップ、
3 a + 3 b + 3 c + 4 a +
5 a−電極パッド、5・・・チップ部品、 6・
・・リードフレーム、7・・・半田バンプ、 9・・・
ボンデングワイヤ。
図、第2図は実施例の半導体装置の製造工程を示す断面
図である。 l・・・パッケージ、 3,4・・・半導体チップ、
3 a + 3 b + 3 c + 4 a +
5 a−電極パッド、5・・・チップ部品、 6・
・・リードフレーム、7・・・半田バンプ、 9・・・
ボンデングワイヤ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、第1の半導体チップ表面上に形成された接続用電極
パッドに、少なくとも1個の第2の半導体チップ及びチ
ップ部品の電極を対応させて半田で接続され、かつ、樹
脂でパッケージされたことを特徴とする半導体装置。 2、前記半田の接続が、前記第1の半導体チップの電極
パッド上に半田バンプを形成する工程と、該半田バンプ
の再溶融により前記第2の半導体チップ及びチップ部品
の電極パッドと接続する工程とからなることを特徴とす
る請求項1記載の半導体装置の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2174268A JPH0462961A (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | 半導体装置およびその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2174268A JPH0462961A (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | 半導体装置およびその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0462961A true JPH0462961A (ja) | 1992-02-27 |
Family
ID=15975681
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2174268A Pending JPH0462961A (ja) | 1990-06-29 | 1990-06-29 | 半導体装置およびその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0462961A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5726500A (en) * | 1994-04-08 | 1998-03-10 | Thomson-Csf | Semiconductor hybrid component |
US6501174B2 (en) * | 2001-01-17 | 2002-12-31 | International Business Machines Corporation | Interconnect structure for surface mounted devices |
US7112468B2 (en) | 1998-09-25 | 2006-09-26 | Stmicroelectronics, Inc. | Stacked multi-component integrated circuit microprocessor |
WO2013058232A1 (ja) * | 2011-10-17 | 2013-04-25 | ローム株式会社 | チップダイオードおよびダイオードパッケージ |
-
1990
- 1990-06-29 JP JP2174268A patent/JPH0462961A/ja active Pending
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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JP2014029975A (ja) * | 2011-10-17 | 2014-02-13 | Rohm Co Ltd | チップダイオードおよびダイオードパッケージ |
KR20140085511A (ko) * | 2011-10-17 | 2014-07-07 | 로무 가부시키가이샤 | 칩 다이오드 및 다이오드 패키지 |
US9054072B2 (en) | 2011-10-17 | 2015-06-09 | Rohm Co., Ltd. | Chip diode and diode package |
US9385093B2 (en) | 2011-10-17 | 2016-07-05 | Rohm Co., Ltd. | Chip diode and diode package |
US9659875B2 (en) | 2011-10-17 | 2017-05-23 | Rohm Co., Ltd. | Chip part and method of making the same |
US9773925B2 (en) | 2011-10-17 | 2017-09-26 | Rohm Co., Ltd. | Chip part and method of making the same |
US10164125B2 (en) | 2011-10-17 | 2018-12-25 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor device having first and second electrode layers electrically disconnected from each other by a slit |
US10593814B2 (en) | 2011-10-17 | 2020-03-17 | Rohm Co., Ltd. | Semiconductor device having first and second electrode layers electrically disconnected from each other by a slit |
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