JPH0459690A - 高解離圧化合物半導体単結晶引上装置 - Google Patents
高解離圧化合物半導体単結晶引上装置Info
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- JPH0459690A JPH0459690A JP17058390A JP17058390A JPH0459690A JP H0459690 A JPH0459690 A JP H0459690A JP 17058390 A JP17058390 A JP 17058390A JP 17058390 A JP17058390 A JP 17058390A JP H0459690 A JPH0459690 A JP H0459690A
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、レーザー用あるいはIC基板用として有用な
G a A S等の高解離圧化合物半導体の単結晶を生
成する高解離圧化合物半導体単結晶引上装置に関するも
のである。
G a A S等の高解離圧化合物半導体の単結晶を生
成する高解離圧化合物半導体単結晶引上装置に関するも
のである。
[従来の技術]
GaAsやInP 等の高解離圧化合物半導体の単結晶
生成を行う場合には、化合物からの高解離圧成分(As
、P等)の飛散を防くとともに、結晶組成を制御する目
的で、成長温度での結晶の解離圧と平衡する高解離圧成
分ガス雰囲気中で結晶成長を行う方法が採られている。
生成を行う場合には、化合物からの高解離圧成分(As
、P等)の飛散を防くとともに、結晶組成を制御する目
的で、成長温度での結晶の解離圧と平衡する高解離圧成
分ガス雰囲気中で結晶成長を行う方法が採られている。
このような方法に用いられるCaAs単結晶の弓上装置
の一例を第2図に示す。この装置は特開昭60−516
98号公報に記載されたもので、気密容器lは、上部容
器2と下部容器3がら構成されて外部容器4内に配置さ
れており、その接合部にはレール材5が介装されている
。
の一例を第2図に示す。この装置は特開昭60−516
98号公報に記載されたもので、気密容器lは、上部容
器2と下部容器3がら構成されて外部容器4内に配置さ
れており、その接合部にはレール材5が介装されている
。
下部容器3は、押上げ下軸6に連結され、応力緩衝装置
7によって適正応力て上部容器2に圧接される。また、
この下部容器3の底部にはサセプタ8の下軸8aが挿通
されている。このサセプタ8上にはルツボ9が配置され
ていて、気密容器夏ごと上部ヒータ10aおよび下部ヒ
ータ10b、10cによって加熱される。
7によって適正応力て上部容器2に圧接される。また、
この下部容器3の底部にはサセプタ8の下軸8aが挿通
されている。このサセプタ8上にはルツボ9が配置され
ていて、気密容器夏ごと上部ヒータ10aおよび下部ヒ
ータ10b、10cによって加熱される。
一方、上部容器2には、ヒータllaを備えた蒸気圧制
御部11か設けられており、まr二、この上部容器2を
貫通して引上軸12か、その下端かルツボ9の略直上に
位置するように挿通されている。さらに、この上部容器
2には、ルツボ9の略直上に視野を有する、石英やサフ
ァイア製の透過性の観察窓13か気と容器1内に一端面
を露出さけて挿通されている。なお、引上軸12および
サセプタ8の下軸8aの気密容器1への挿通部には、B
、03等の液体シール材14を保持する軸ノール部15
か設(すられている。
御部11か設けられており、まr二、この上部容器2を
貫通して引上軸12か、その下端かルツボ9の略直上に
位置するように挿通されている。さらに、この上部容器
2には、ルツボ9の略直上に視野を有する、石英やサフ
ァイア製の透過性の観察窓13か気と容器1内に一端面
を露出さけて挿通されている。なお、引上軸12および
サセプタ8の下軸8aの気密容器1への挿通部には、B
、03等の液体シール材14を保持する軸ノール部15
か設(すられている。
このような構成の単結晶引上装置を用いて、例えばGa
Asの単結晶の生成を行うには、ます下部容器3の底部
にAs原料を、ルツボ9内にGa原料を、引上軸12下
端部にGaAsの種結晶Sを、それぞれ配置し、外部容
器4内を真空排気した後、押上げ下軸6を押し上げて下
部容器3を上部容器2に圧接し、気密容器lを密封する
。
Asの単結晶の生成を行うには、ます下部容器3の底部
にAs原料を、ルツボ9内にGa原料を、引上軸12下
端部にGaAsの種結晶Sを、それぞれ配置し、外部容
器4内を真空排気した後、押上げ下軸6を押し上げて下
部容器3を上部容器2に圧接し、気密容器lを密封する
。
しかる後、上部ヒータloaおよび下部ヒータ10bl
ocによって気密容器lを加熱し、気密容器1底部を5
50〜650°Cに、またルツホ部を約1300°Cに
昇温させろと、気密容器1内のAs7J気圧か高まり、
ルツボ9内のGaと反応してGaAsの原料融液Yか合
成される。なお、この合成の最中は、外部容器4内に不
活性ガスを導入し、気密容器1内外の圧力バランスをと
る。
ocによって気密容器lを加熱し、気密容器1底部を5
50〜650°Cに、またルツホ部を約1300°Cに
昇温させろと、気密容器1内のAs7J気圧か高まり、
ルツボ9内のGaと反応してGaAsの原料融液Yか合
成される。なお、この合成の最中は、外部容器4内に不
活性ガスを導入し、気密容器1内外の圧力バランスをと
る。
こうしてGaAs原料融原料融液酸しrコ後、引上軸1
2を降下させて、この先端部に取り付けられに種結晶S
を原料融液Yに浸漬し、観察窓13からその成長状態を
観察しつつ、引上軸12を回転させながら引上げて、単
結晶を成長させる。またこの時には、As蒸気圧制御部
11の温度を気密容器lの内部で最も低い一定温度に保
ち、ここに固体Asを凝縮さ仕ることにより、気密容器
l内のAs蒸気圧を制御する。
2を降下させて、この先端部に取り付けられに種結晶S
を原料融液Yに浸漬し、観察窓13からその成長状態を
観察しつつ、引上軸12を回転させながら引上げて、単
結晶を成長させる。またこの時には、As蒸気圧制御部
11の温度を気密容器lの内部で最も低い一定温度に保
ち、ここに固体Asを凝縮さ仕ることにより、気密容器
l内のAs蒸気圧を制御する。
このような単結晶引上装置では、気密容器lの分割およ
び再使用か可能て、大口径単結晶インゴットの製造が容
易に行えるという利点を有する。
び再使用か可能て、大口径単結晶インゴットの製造が容
易に行えるという利点を有する。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、このような単結晶引上装置では、気密容
器l内に挿通された透過性の観察窓13にAsまたはC
+aAsか凝縮して、その視界を著しく狭めろという問
題か生しることかあった。しかも、−旦付着した付着物
は、温度を上げてし容易に揮発さけることかできない。
器l内に挿通された透過性の観察窓13にAsまたはC
+aAsか凝縮して、その視界を著しく狭めろという問
題か生しることかあった。しかも、−旦付着した付着物
は、温度を上げてし容易に揮発さけることかできない。
このように、観察窓13からの視界が狭められると、単
結晶の成長状態を観察しながら引上軸12の操作を制御
することか困難になり、単結晶の生成に支障を来すおそ
れかある。
結晶の成長状態を観察しながら引上軸12の操作を制御
することか困難になり、単結晶の生成に支障を来すおそ
れかある。
そこで、この観察窓13への凝縮を防止するために、合
成に先立って上部ヒータlOaの温度を上昇させて、気
密容器!円上部の温度を上げ、観察窓13を加熱してお
く方法が採られていた。
成に先立って上部ヒータlOaの温度を上昇させて、気
密容器!円上部の温度を上げ、観察窓13を加熱してお
く方法が採られていた。
しかし、このような方法では、引上軸12の下端に固定
されている種結晶Sも同時に加熱されてしまい、原料合
成時、特にその初期において、高解離圧成分ガスの圧力
がいまだ低く、種結晶Sの解離圧に比し大きく下まわる
ということが起きる。
されている種結晶Sも同時に加熱されてしまい、原料合
成時、特にその初期において、高解離圧成分ガスの圧力
がいまだ低く、種結晶Sの解離圧に比し大きく下まわる
ということが起きる。
これにより、種結晶Sを構成するGaAsからAs成分
か抜けて、種結晶Sか表面からGa成分富化の状態にな
ってしまい、極端な場合には分解してしまう。このよう
な状態では、種結晶Sを原料融液Yに浸漬して引上げて
ら、単結晶を成長さ仕ることは不可能である。
か抜けて、種結晶Sか表面からGa成分富化の状態にな
ってしまい、極端な場合には分解してしまう。このよう
な状態では、種結晶Sを原料融液Yに浸漬して引上げて
ら、単結晶を成長さ仕ることは不可能である。
[課題を解決するための手段]
本発明は、前記の課題を解決するためになされにもので
、原料融液を内部に保持する気密容器と、この原料融液
から単結晶を引上げる引上軸と、気密容器上に設けた突
出部に気密的に接合されてかつ、該突出部内に一端面を
露出させて挿通された透過性の観察窓とを備えた高解離
圧化合物半導体単結晶引上装置であって、観察窓の前記
一端面の温度を制御するLH,文制御装置を設置したこ
とを特徴とする。
、原料融液を内部に保持する気密容器と、この原料融液
から単結晶を引上げる引上軸と、気密容器上に設けた突
出部に気密的に接合されてかつ、該突出部内に一端面を
露出させて挿通された透過性の観察窓とを備えた高解離
圧化合物半導体単結晶引上装置であって、観察窓の前記
一端面の温度を制御するLH,文制御装置を設置したこ
とを特徴とする。
し作用]
本発明によれば、観察窓に設置された温度制御装置によ
って、この観察窓の気密容器側の一端面の温度が、気密
容器内の温度に対して高い温度に保持される。これによ
って観察窓へのAsまたはG a A sの付着が防止
される。
って、この観察窓の気密容器側の一端面の温度が、気密
容器内の温度に対して高い温度に保持される。これによ
って観察窓へのAsまたはG a A sの付着が防止
される。
このため、気密容器内の上部全体を加熱する必要がなく
なり、この結果、原料合成操作中に気密容器上部にて待
機中の種結晶の温度を低く保つことがてき、種結晶から
の高解離圧成分の解離が避けられる。
なり、この結果、原料合成操作中に気密容器上部にて待
機中の種結晶の温度を低く保つことがてき、種結晶から
の高解離圧成分の解離が避けられる。
[実施例]
第1図は、本発明の一実施例を示す断面図であり、第2
図と同じ部分には同一の符号を配して説明を省略する。
図と同じ部分には同一の符号を配して説明を省略する。
本実施例では、ルツボ9の略直上に視野を有する、石英
やサファイア製の円柱形の観察窓13の下端部が、上部
容器2の上部に傾斜して形成されに筒状の突出部2aに
挿通されている。この観察窓13の下端側には、円環状
のシール部13aが設けられている。
やサファイア製の円柱形の観察窓13の下端部が、上部
容器2の上部に傾斜して形成されに筒状の突出部2aに
挿通されている。この観察窓13の下端側には、円環状
のシール部13aが設けられている。
そして、上部容器2の保持部2aの外周には、ヒータ2
2を備えた温度制御装置(図示路)が設置されている。
2を備えた温度制御装置(図示路)が設置されている。
一方、観察窓13の上端部は、外部容器4に設けられた
筒状の凸部4aを貫通して外部に露出しており、この上
端部より気密容器1内での単結晶の成長状態を目視によ
って観察することかできろ。
筒状の凸部4aを貫通して外部に露出しており、この上
端部より気密容器1内での単結晶の成長状態を目視によ
って観察することかできろ。
また、この観察窓13の上端側には、外周にOリング2
3か嵌装された円筒状のソール部13bが設けられて、
これにより、この部分の気密性か保持されている。さら
に、このノール部+3bの上部には、コイルスプリング
24か観察窓13に緩挿されていて、このコイルスプリ
ング24の一端はノール部13bの上端面に当接されて
いるとともに他端は外部容器4の凸部4aの上端に螺嵌
された袋ナツト4bの裏面に当接されている。このコイ
ルスプリング24によって観察窓13は下向きに付勢さ
れており、シール部13aを介して、観察窓13と気密
容器1との接合部に介装されたレール材21に、常に適
正な応力か与えられている。
3か嵌装された円筒状のソール部13bが設けられて、
これにより、この部分の気密性か保持されている。さら
に、このノール部+3bの上部には、コイルスプリング
24か観察窓13に緩挿されていて、このコイルスプリ
ング24の一端はノール部13bの上端面に当接されて
いるとともに他端は外部容器4の凸部4aの上端に螺嵌
された袋ナツト4bの裏面に当接されている。このコイ
ルスプリング24によって観察窓13は下向きに付勢さ
れており、シール部13aを介して、観察窓13と気密
容器1との接合部に介装されたレール材21に、常に適
正な応力か与えられている。
このような構成の単結晶引上装置を用いて、例えばCa
Asの単結晶の生成を行うには、第2図に示した従来例
と同様に、気密容器l底部にAs原料を、ルツボ9内に
Ga原料を、引上軸12下端部にCaAs種結晶種結晶
柱ぞれ配置して、外部容器4内を真空排気し、押上げ下
軸6を押し上げるととしに、観察窓13を上部容器2の
保持部2aに圧接し、気密容器1を密封する。
Asの単結晶の生成を行うには、第2図に示した従来例
と同様に、気密容器l底部にAs原料を、ルツボ9内に
Ga原料を、引上軸12下端部にCaAs種結晶種結晶
柱ぞれ配置して、外部容器4内を真空排気し、押上げ下
軸6を押し上げるととしに、観察窓13を上部容器2の
保持部2aに圧接し、気密容器1を密封する。
さらに気密容器lを加熱し、気密容器lの壁部温度を5
50〜650°Cに上げるとAs蒸気圧か高まり、この
とき約1300°Cに昇温しfこルツボ9内のGaと反
応して、GaAs原料融原料融液数される。この時、観
察窓13の気密容器l内に露出した下端面は、温度が低
いとASまたはGaAsが付着して観察窓13からの視
界を狭めるが、温度制御装置に接続されたヒータ22に
よって観察窓13の気密容器l側の下端部を950℃以
上に加熱することで、このAsまたはGaAsの付着を
防止し、観察窓13からの視界が確保される。しかも、
観察窓端部の近傍のみの加熱が可能となり、種結晶Sの
温度を低く保つことができ、損傷のおそれがなくなる。
50〜650°Cに上げるとAs蒸気圧か高まり、この
とき約1300°Cに昇温しfこルツボ9内のGaと反
応して、GaAs原料融原料融液数される。この時、観
察窓13の気密容器l内に露出した下端面は、温度が低
いとASまたはGaAsが付着して観察窓13からの視
界を狭めるが、温度制御装置に接続されたヒータ22に
よって観察窓13の気密容器l側の下端部を950℃以
上に加熱することで、このAsまたはGaAsの付着を
防止し、観察窓13からの視界が確保される。しかも、
観察窓端部の近傍のみの加熱が可能となり、種結晶Sの
温度を低く保つことができ、損傷のおそれがなくなる。
なお、この合成の最中は、外部容器4内に不活性ガスを
導入し、気密容器l内外の圧力バランスをとる。
導入し、気密容器l内外の圧力バランスをとる。
こうしてGaAs原料融原料融液数されたなら、引上軸
12を降下さけ、この先端部に取り付けられた種結晶S
を原料融液Yに浸漬し、観察窓13て成長状態を観察し
つつ、引上MI5を回転しながら引き上げて、単結晶を
成長させる。この間も、観察窓13の下端面は、ヒータ
22によって950°C以上の温度に保持される。また
、この時には、As蒸気圧制御部12の温度を気密容器
1の内部で最も低い一定温度に保って、ここに固体As
を凝縮させることにより、気密容器l内のAs蒸気圧を
制御する。
12を降下さけ、この先端部に取り付けられた種結晶S
を原料融液Yに浸漬し、観察窓13て成長状態を観察し
つつ、引上MI5を回転しながら引き上げて、単結晶を
成長させる。この間も、観察窓13の下端面は、ヒータ
22によって950°C以上の温度に保持される。また
、この時には、As蒸気圧制御部12の温度を気密容器
1の内部で最も低い一定温度に保って、ここに固体As
を凝縮させることにより、気密容器l内のAs蒸気圧を
制御する。
こうして結晶の成長が終わると、装置は徐冷される。
このように、本発明によれば、観察窓の気密容器側の端
部の温度を制御する温度制御装置を設け、これによって
観察窓の気密容器内に露出した部分の温度を、950°
C以上の温度に保持することにより、観察窓にAsまた
はGaAsが凝集して付着するのを防止することがてき
る。これにより、観察窓からの視界を常にクリアな状態
に維持することが可能である。
部の温度を制御する温度制御装置を設け、これによって
観察窓の気密容器内に露出した部分の温度を、950°
C以上の温度に保持することにより、観察窓にAsまた
はGaAsが凝集して付着するのを防止することがてき
る。これにより、観察窓からの視界を常にクリアな状態
に維持することが可能である。
このため、従来のように気密容器上部全体の温度を上げ
ろ必要がないので、種結晶から高解離圧成分が飛散して
起きる種結晶の損傷によって、単結晶の引き上げが不可
能になるようなことはなく、観察窓を通して単結晶の成
長状態を観察しながらの引上操作がより確実に行なわれ
、生成される単結晶の歩留まり向上と高品質化を図るこ
とかできる。
ろ必要がないので、種結晶から高解離圧成分が飛散して
起きる種結晶の損傷によって、単結晶の引き上げが不可
能になるようなことはなく、観察窓を通して単結晶の成
長状態を観察しながらの引上操作がより確実に行なわれ
、生成される単結晶の歩留まり向上と高品質化を図るこ
とかできる。
[発明の効果]
以上説明しrコように、本発明では、気密容器上部全体
の温度を上げることなく、観察窓の気密容器側の端部の
温度を950℃以上に保持することによって、観察窓か
らの視界を常に明瞭な状態に維持することが可能である
。
の温度を上げることなく、観察窓の気密容器側の端部の
温度を950℃以上に保持することによって、観察窓か
らの視界を常に明瞭な状態に維持することが可能である
。
このため、種結晶から高解離圧成分が解離して単結晶の
成長が阻害されるようなことはない。
成長が阻害されるようなことはない。
第1図は、本発明の一実施例を示す、単結晶弓上装置の
断面図であり、第2図はこの従来例を示すものである。 l・気密容器、 2 上部容器、2a 突出部、 3 下部容器、 4・外部容器、4a・凸部、4b・袋ナツト、5 ノー
ル材、6・−押上げ下軸、 7 応力緩衝装置、 8 サセプタ、8a・・・ルツボ下軸、9 ルツボ、1
0a、10b、l 0c=−ヒータ、11・−蒸気圧制
御部、lla・・・ヒータ、12・・・引上軸、 13・・−観察窓、13a、13b・ シール部、14
・・軸シール材、15・・軸シール部、21・・ソール
材、22・・・ヒータ、23・・0リング、24−・・
コイルスプリング、Y・・・原料融液、S・・・種結晶
。
断面図であり、第2図はこの従来例を示すものである。 l・気密容器、 2 上部容器、2a 突出部、 3 下部容器、 4・外部容器、4a・凸部、4b・袋ナツト、5 ノー
ル材、6・−押上げ下軸、 7 応力緩衝装置、 8 サセプタ、8a・・・ルツボ下軸、9 ルツボ、1
0a、10b、l 0c=−ヒータ、11・−蒸気圧制
御部、lla・・・ヒータ、12・・・引上軸、 13・・−観察窓、13a、13b・ シール部、14
・・軸シール材、15・・軸シール部、21・・ソール
材、22・・・ヒータ、23・・0リング、24−・・
コイルスプリング、Y・・・原料融液、S・・・種結晶
。
Claims (1)
- 原料融液を内部に保持する気密容器と、前記原料融液
から単結晶を引上げる引上軸と、前記気密容器上に設け
た突出部に気密的に接合されてかつ、該突出部内に一端
面を露出させて挿通された透過性の観察窓とを備え、こ
の観察窓の前記一端面の温度を制御する温度制御装置が
設置されていることを特徴とする高解離圧化合物半導体
単結晶引上装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17058390A JPH0459690A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 高解離圧化合物半導体単結晶引上装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17058390A JPH0459690A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 高解離圧化合物半導体単結晶引上装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0459690A true JPH0459690A (ja) | 1992-02-26 |
Family
ID=15907529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17058390A Pending JPH0459690A (ja) | 1990-06-28 | 1990-06-28 | 高解離圧化合物半導体単結晶引上装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0459690A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5510179A (en) * | 1993-12-22 | 1996-04-23 | Tdk Corporation | Magnetic recording medium having at least two layers wherein the uppermost layer contains alumina particles which contain specified oxides |
CN104404623A (zh) * | 2014-11-26 | 2015-03-11 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 磷化铟单晶炉磷泡升降装置 |
-
1990
- 1990-06-28 JP JP17058390A patent/JPH0459690A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5510179A (en) * | 1993-12-22 | 1996-04-23 | Tdk Corporation | Magnetic recording medium having at least two layers wherein the uppermost layer contains alumina particles which contain specified oxides |
CN104404623A (zh) * | 2014-11-26 | 2015-03-11 | 中国电子科技集团公司第十三研究所 | 磷化铟单晶炉磷泡升降装置 |
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