JPH0454463A - 周波数計測方式 - Google Patents
周波数計測方式Info
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- JPH0454463A JPH0454463A JP16603090A JP16603090A JPH0454463A JP H0454463 A JPH0454463 A JP H0454463A JP 16603090 A JP16603090 A JP 16603090A JP 16603090 A JP16603090 A JP 16603090A JP H0454463 A JPH0454463 A JP H0454463A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000001914 filtration Methods 0.000 claims description 7
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 7
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 claims description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 abstract description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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- Measuring Frequencies, Analyzing Spectra (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[概要]
入力正弦波の周波数を測定する周波数計測方式ノイズや
振幅変動があっても正確な周波数測定ができることを目
的とし、 入力正弦波に他の周波数をもつ正弦波と余弦波を掛け、
このとき生ずる高域成分を低域ろ波器で除去して低域成
分を取り出して入力正弦波の振幅を座標軸上の点に変換
し、この座標軸上の点に関し時間的に隣接する2つの点
の座標より角度を求め、この角度から角速度、更に最終
的に角速度から周波数を求めるように構成する。
振幅変動があっても正確な周波数測定ができることを目
的とし、 入力正弦波に他の周波数をもつ正弦波と余弦波を掛け、
このとき生ずる高域成分を低域ろ波器で除去して低域成
分を取り出して入力正弦波の振幅を座標軸上の点に変換
し、この座標軸上の点に関し時間的に隣接する2つの点
の座標より角度を求め、この角度から角速度、更に最終
的に角速度から周波数を求めるように構成する。
[産業上の利用分野]
本発明は、入力正弦波の周波数をデジタル信号処理によ
り測定する周波数計測方式に関する。
り測定する周波数計測方式に関する。
正弦波の周波数測定は、通常、正弦波のゼロクロス周期
の逆数として求めているが、振幅変動やノイズにより誤
差を生じ易く、振幅変動やノイズに影響されない正確な
周波数測定が望まれる。
の逆数として求めているが、振幅変動やノイズにより誤
差を生じ易く、振幅変動やノイズに影響されない正確な
周波数測定が望まれる。
[従来の技術]
従来、正弦波の周波数をデジタル信号処理により計測す
る方式にあっては、入力正弦波の微分等によりゼロクロ
スのタイミングを求め、このゼロクロスの検出周期を算
出し、続いて検出周期の平均値を求めた後に、その逆数
として周波数を求めている。
る方式にあっては、入力正弦波の微分等によりゼロクロ
スのタイミングを求め、このゼロクロスの検出周期を算
出し、続いて検出周期の平均値を求めた後に、その逆数
として周波数を求めている。
[発明が解決しようとする課題]
しかしながら、デジタル方式にあっては、ある時間間隔
でサンプリングを実行してゼロクロスタイミングを検出
するため、実際のゼロクロスクロスの位置とゼロクロス
判定位置とに差が生じ、測定誤差を生ずる。また、ノイ
ズが混入した場合や振幅変動があった場合にも誤ったゼ
ロクロス位置を判定しやすく、測定誤差が大きくなる問
題があった。
でサンプリングを実行してゼロクロスタイミングを検出
するため、実際のゼロクロスクロスの位置とゼロクロス
判定位置とに差が生じ、測定誤差を生ずる。また、ノイ
ズが混入した場合や振幅変動があった場合にも誤ったゼ
ロクロス位置を判定しやすく、測定誤差が大きくなる問
題があった。
本発明は、このような従来の問題点に鑑みてなされたも
ので、ノイズや振幅変動があっても、その影響をほとん
ど受けずに正確に周波数を測定できる周波数計測方式を
提供することを目的とする。
ので、ノイズや振幅変動があっても、その影響をほとん
ど受けずに正確に周波数を測定できる周波数計測方式を
提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
第1図は本発明の原理説明図である。
まず本発明は第1図(a)に示すように、入力正弦波s
in 2 πf目こ他の周波数foを持つ余弦波cog
2πfo(を掛ける第1乗算手段1oと;入力正弦波5
in2πf目こ他の周波数10を持つ正弦波5in2π
fotを掛ける第2乗算手段12と;第1乗算手段1o
の出方成分の中がら高域周波数成分cox2π(fo+
f)tを除去して低域周波数成分cos2π(fo−1
) tを取り出す第1低域ろ波手段14と; 第2乗算手段12の出力成分の中から高域周波数成分5
in2π(to+I) lを除去して低域周波数成分5
in2π(to−r) lを取り出す第2低域ろ波手段
14と 第J、及び第2低域ろ波手段14.16がら得らけれた
低域成分cos2y (IQ+I) I、 5in2r
(fon) lにより入力正弦波5in2πftの振
幅を座標軸上の点(XY)に変換し、該座標軸上の点(
X、 Yl に関し時間差tをもって隣接する二つの点
の座標+IQ、 Yo) fX]、Yl)の角度θを求
める角度検出手段18と;角度検出手段18の検出角度
θと時間差tから角速度ωを求め、この角速度ωから周
波数fを算出する周波数算出部20と; を備えたことを特徴とする。
in 2 πf目こ他の周波数foを持つ余弦波cog
2πfo(を掛ける第1乗算手段1oと;入力正弦波5
in2πf目こ他の周波数10を持つ正弦波5in2π
fotを掛ける第2乗算手段12と;第1乗算手段1o
の出方成分の中がら高域周波数成分cox2π(fo+
f)tを除去して低域周波数成分cos2π(fo−1
) tを取り出す第1低域ろ波手段14と; 第2乗算手段12の出力成分の中から高域周波数成分5
in2π(to+I) lを除去して低域周波数成分5
in2π(to−r) lを取り出す第2低域ろ波手段
14と 第J、及び第2低域ろ波手段14.16がら得らけれた
低域成分cos2y (IQ+I) I、 5in2r
(fon) lにより入力正弦波5in2πftの振
幅を座標軸上の点(XY)に変換し、該座標軸上の点(
X、 Yl に関し時間差tをもって隣接する二つの点
の座標+IQ、 Yo) fX]、Yl)の角度θを求
める角度検出手段18と;角度検出手段18の検出角度
θと時間差tから角速度ωを求め、この角速度ωから周
波数fを算出する周波数算出部20と; を備えたことを特徴とする。
更に、この構成に加えて周波数算出部20で算出された
周波数の平均値を算出して最終的な出力周波数する平均
化手段を設ける。
周波数の平均値を算出して最終的な出力周波数する平均
化手段を設ける。
[作用]
このような構成を備えた本発明の周波数計測方式によれ
ば、入力正弦波に他の周波数をもつ正弦波と余弦波を掛
け、このとき生ずる高域成分を低域ろ波器で除去して低
域成分を取り出して入力正弦波の振幅を座標軸上の点に
変換し、この座標軸上の点に関し時間的に隣接する2つ
の点の座標より角度を求め、この角度から角速度を求め
最終的に角速度から周波数を求めることで、ノイズや振
幅変動にも強い周波数測定が実現できる。
ば、入力正弦波に他の周波数をもつ正弦波と余弦波を掛
け、このとき生ずる高域成分を低域ろ波器で除去して低
域成分を取り出して入力正弦波の振幅を座標軸上の点に
変換し、この座標軸上の点に関し時間的に隣接する2つ
の点の座標より角度を求め、この角度から角速度を求め
最終的に角速度から周波数を求めることで、ノイズや振
幅変動にも強い周波数測定が実現できる。
[実施例]
第2図は本発明の実施例構成図であり、その構成を作用
と共に説明すると次のようになる。
と共に説明すると次のようになる。
第2図において、まず測定対象となる入力正弦波sin
(2π1()は第1乗算器10及び第2乗算器12に
与えられ、他の周波数foの余弦波cos (2πfa
t)及び正弦波tin (2π1oOと掛は合わされる
。
(2π1()は第1乗算器10及び第2乗算器12に
与えられ、他の周波数foの余弦波cos (2πfa
t)及び正弦波tin (2π1oOと掛は合わされる
。
即ち乗算器10の出力をA1乗算器12の出力をBとす
ると、 A=sin(2πll) X cos(2πfol
)(1/2) l5in 2π(fo+I) l +
5in2π(to−1) tlB=sin(2πll)
X 5in(2πfot)=(−1/2) fc
oa2π(fo+I) l −cos2π(to−f)
tlなる。
ると、 A=sin(2πll) X cos(2πfol
)(1/2) l5in 2π(fo+I) l +
5in2π(to−1) tlB=sin(2πll)
X 5in(2πfot)=(−1/2) fc
oa2π(fo+I) l −cos2π(to−f)
tlなる。
ここで入力正弦波に掛は合わせる他の正弦波及び余弦波
の周波数foは、例えば第4図に示すように入力正弦波
の測定周波数レンジの上限周波数f ff1axに対し
少し高い周波数に定めればよい。
の周波数foは、例えば第4図に示すように入力正弦波
の測定周波数レンジの上限周波数f ff1axに対し
少し高い周波数に定めればよい。
この乗算器10.12からの出力信号A、 Bはそれ
ぞれ第1及び第2の低域ろ波器14.16に与えられ、
出力信号A、Bの持つ成分の内の高域(to+f)の成
分を除去し、低域(lo−flの成分を通過させる。更
に低域ろ波器14.16を通過した低域成分に乗算器2
2.24のそれぞれで係数「2」を掛は合わせて成分振
幅を2倍にし、 SIN 2π(to−III CO3br (to−1) t を抽出する。この乗算器22.24から得られた余弦及
び正弦成分を座標軸上の点(x、 y)で考えると、 X= cos 2π (to−1)j Y= sin br (to−1)j は振幅1の円周上にあり、fが10に等しくない時は、
この円周上を移動する。
ぞれ第1及び第2の低域ろ波器14.16に与えられ、
出力信号A、Bの持つ成分の内の高域(to+f)の成
分を除去し、低域(lo−flの成分を通過させる。更
に低域ろ波器14.16を通過した低域成分に乗算器2
2.24のそれぞれで係数「2」を掛は合わせて成分振
幅を2倍にし、 SIN 2π(to−III CO3br (to−1) t を抽出する。この乗算器22.24から得られた余弦及
び正弦成分を座標軸上の点(x、 y)で考えると、 X= cos 2π (to−1)j Y= sin br (to−1)j は振幅1の円周上にあり、fが10に等しくない時は、
この円周上を移動する。
このような処理をデジタル信号処理で実施した場合、(
X、 Y)はある周期を毎に得られ、ある時点におけ
る(x、 y)が(XI 、 Yl )で、その一つ前
の時点が(Xo 、 Yo )であったとすると、おの
おのの点は第5図に示すような座標軸上の点P、Qとな
る。
X、 Y)はある周期を毎に得られ、ある時点におけ
る(x、 y)が(XI 、 Yl )で、その一つ前
の時点が(Xo 、 Yo )であったとすると、おの
おのの点は第5図に示すような座標軸上の点P、Qとな
る。
次に遅延回路26と乗算器28により、P点の座標(X
I 、Yl )にQ点の座標(Xo 、 Yo )の複
素数共役を掛けると第6図に示すような点Q′の座標(
X、 Y)が求まり、X座標軸に対する角度として第5
図のP点とQ点の角度差θを検出することが可能となる
。
I 、Yl )にQ点の座標(Xo 、 Yo )の複
素数共役を掛けると第6図に示すような点Q′の座標(
X、 Y)が求まり、X座標軸に対する角度として第5
図のP点とQ点の角度差θを検出することが可能となる
。
第6図のように変換された点Q′の座標(X。
Y)は周波数算出回路20に与えられ入力正弦波の周波
数fが算出される。
数fが算出される。
この周波数算出回路20は第3図に示すように、θ算出
部30、乗算器32.34を備える。即ち、θ算出部3
0により第6図のQ′点の座標(X。
部30、乗算器32.34を備える。即ち、θ算出部3
0により第6図のQ′点の座標(X。
Y)について
θ=j an−’ (X/Y)
演算を実行して角度θを求める。
次にω=θ1であるから、乗算器32においてθをサン
プリング周期tで割ること、具体的に1/lを掛は合わ
せることで角速度ωを求める。
プリング周期tで割ること、具体的に1/lを掛は合わ
せることで角速度ωを求める。
更に、ω=2πfであるから、乗算器34で角速度ωを
2πで割ること、具体的には1/2πを掛は合わせるこ
とで周波数fを求めることができる。
2πで割ること、具体的には1/2πを掛は合わせるこ
とで周波数fを求めることができる。
ここで第1図の原理説明図に示した角度検出部18及び
周波数算出部20は、第2.3図に示した遅延回路26
、乗算器28、θ算出部30、乗算器32.34に対応
することになる。
周波数算出部20は、第2.3図に示した遅延回路26
、乗算器28、θ算出部30、乗算器32.34に対応
することになる。
周波数算出回路20で算出された周波数fの値は、最終
的に平均化回路36に与えられ、所定数の計測周波数の
平均値を算出して測定結果として出力される。
的に平均化回路36に与えられ、所定数の計測周波数の
平均値を算出して測定結果として出力される。
[発明の効果コ
以上説明したように本発明によれば、ノイズや振幅変動
に強い正確な周波数測定が実現できる。
に強い正確な周波数測定が実現できる。
第1図は本発明の原理説明図;
第2図は本発明の実施例構成図;
第3図は第2図の周波数算出回路の実施例構成図;第4
図は本発明の測定周波数レンジと乗算余弦及び正弦周波
数の説明図; 第5図は本発明の詳細な説明図; 第6図は本発明の角度検出変換演算説明図である。 図中、 10:第1乗算手段(第1乗算器) 12、第2乗算手段(第2乗算器) 14:第1低域ろ波手段(第1低域ろ波器)16:第2
低域ろ波手段(第2低域ろ波器)18:角度検出部 20;周波数算出部(周波数算出回路)22.24,2
8.32,34:乗算器26:遅延回路 30:θ算出部 !+1盲の渭1戊剛友台又レー/″ノと卑5しtう4灰
ひ゛斤宏岡ツえ4表の乙驚u隠第4図
図は本発明の測定周波数レンジと乗算余弦及び正弦周波
数の説明図; 第5図は本発明の詳細な説明図; 第6図は本発明の角度検出変換演算説明図である。 図中、 10:第1乗算手段(第1乗算器) 12、第2乗算手段(第2乗算器) 14:第1低域ろ波手段(第1低域ろ波器)16:第2
低域ろ波手段(第2低域ろ波器)18:角度検出部 20;周波数算出部(周波数算出回路)22.24,2
8.32,34:乗算器26:遅延回路 30:θ算出部 !+1盲の渭1戊剛友台又レー/″ノと卑5しtう4灰
ひ゛斤宏岡ツえ4表の乙驚u隠第4図
Claims (2)
- (1)入力した正弦波(sin2πft)の周波数(f
)を測定する周波数測定方式に於いて、 入力正弦波(sin2πft)に他の周波数(fo)を
持つ余弦波(cos2πfot)を掛ける第1乗算手段
(10)と; 入力正弦波(sin2πft)に他の周波数(fo)を
持つ正弦波(sin2πfot)を掛ける第2乗算手段
(12)と; 前記第1乗算手段(10)の出力成分の中から高域周波
数の余弦成分(cos2π(fo+f)t)を除去して
低域周波数の余弦成分(cos2π(fo−f)t)を
取り出す第1低域ろ波手段(14)と; 前記第2乗算手段(12)の出力成分の中から高域周波
数の正弦成分(sin2π(fo+f)t)を除去して
低域周波数の正弦成分(sin2π(fo−f)t)を
取り出す第2低域ろ波手段(16)と; 前記第1及び第2低域ろ波手段(14、16)から得ら
けれた低域成分((cos2π(fo+f)t、sin
2π(fo−f)t)により前記入力正弦波(sin2
πft)の振幅を座標軸上の点(X、Y)に変換し、該
座標軸上の点(X、Y)に関し時間差(t)をもって隣
接する二つの点の座標(X_0、Y_0)(X_1、Y
_1)の角度(θ)を求める角度検出手段(18)と; 該角度検出手段(18)の検出角度(θ)と前記時間差
(t)から角速度(ω)を求め、該角速度(ω)から周
波数(f)を算出する周波数算出部(20)と;を備え
たことを特徴とする周波数計測方式。 - (2)請求項1記載の周波数計測方式に於いて、前記周
波数算出部(20)で算出された周波数の平均値を算出
して最終的な出力周波数とする平均化手段を更に設けた
ことを特徴とする周波数計測方式。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16603090A JPH0454463A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 周波数計測方式 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16603090A JPH0454463A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 周波数計測方式 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0454463A true JPH0454463A (ja) | 1992-02-21 |
Family
ID=15823645
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16603090A Pending JPH0454463A (ja) | 1990-06-25 | 1990-06-25 | 周波数計測方式 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0454463A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002228693A (ja) * | 2001-02-01 | 2002-08-14 | Toshiba Corp | 周波数測定方法および装置およびその処理プログラムを記憶した媒体 |
JPWO2016051438A1 (ja) * | 2014-10-03 | 2017-04-27 | 三菱電機株式会社 | 信号生成回路 |
-
1990
- 1990-06-25 JP JP16603090A patent/JPH0454463A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002228693A (ja) * | 2001-02-01 | 2002-08-14 | Toshiba Corp | 周波数測定方法および装置およびその処理プログラムを記憶した媒体 |
JPWO2016051438A1 (ja) * | 2014-10-03 | 2017-04-27 | 三菱電機株式会社 | 信号生成回路 |
CN106796288A (zh) * | 2014-10-03 | 2017-05-31 | 三菱电机株式会社 | 信号生成电路 |
US10585169B2 (en) | 2014-10-03 | 2020-03-10 | Mitsubishi Electric Corporation | Signal generating circuit |
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