JPH0454434A - 熱重量測定装置 - Google Patents
熱重量測定装置Info
- Publication number
- JPH0454434A JPH0454434A JP16388490A JP16388490A JPH0454434A JP H0454434 A JPH0454434 A JP H0454434A JP 16388490 A JP16388490 A JP 16388490A JP 16388490 A JP16388490 A JP 16388490A JP H0454434 A JPH0454434 A JP H0454434A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- sample
- detectors
- dish
- mean value
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- Pending
Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 7
- 230000004927 fusion Effects 0.000 abstract 1
- 239000010421 standard material Substances 0.000 abstract 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials Using Thermal Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は、熱重量分析装置における試料の温度を測定す
る技術に関する。
る技術に関する。
（従来の技術）
熱重量測定装置は、サンプルの温度を一定速度で変化さ
せなから、サンプルの重量変化を測定するもので、サン
プル温度、及び重量の測定精度が分析結果を大きく左右
することになる。
せなから、サンプルの重量変化を測定するもので、サン
プル温度、及び重量の測定精度が分析結果を大きく左右
することになる。
ところで、熱重量測定装置は、試料の重量変化を測定パ
ラメータとするものである開停止、温度検出器を試料に
接触させることができず、このため試料との間に空間を
置いて配Ｍされている。
ラメータとするものである開停止、温度検出器を試料に
接触させることができず、このため試料との間に空間を
置いて配Ｍされている。
（発明か解決しようとする課題）
このため、試料近傍に温度勾配が存在すると、温度検出
器により測定した温度と実際の試料温度との間に差分が
生し、結果として分析誤差が発生することになる。
器により測定した温度と実際の試料温度との間に差分が
生し、結果として分析誤差が発生することになる。
本発明はこのような問題に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは、試料近傍の温度分布の不均
一性にかかわりなく正確な試料温度を得ることかできる
新規な熱重量測定装置を擾供することにある。
、その目的とするところは、試料近傍の温度分布の不均
一性にかかわりなく正確な試料温度を得ることかできる
新規な熱重量測定装置を擾供することにある。
（課題を解決するための手段）
このような問題を解決するために本発明においては、試
料皿を挟むようにして上下方向に第１、第２の温度検出
手段を配置するとともに、第１、及び第２の温度検出手
段からの信号の平均ｉ１を試料温度として出力する手段
を設けるようにした。
料皿を挟むようにして上下方向に第１、第２の温度検出
手段を配置するとともに、第１、及び第２の温度検出手
段からの信号の平均ｉ１を試料温度として出力する手段
を設けるようにした。
（作用）
加熱炉内に対流等により上下方向の温度分布の乱れか存
在したとしても、試料を挟む上下２点の温度の平均ｉ１
を用いるため、試料が位置する箇所の温度を得ることが
できて、非接触測定により試料温度を高い精度で測定で
きる。
在したとしても、試料を挟む上下２点の温度の平均ｉ１
を用いるため、試料が位置する箇所の温度を得ることが
できて、非接触測定により試料温度を高い精度で測定で
きる。
（実施例）
そこで、以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づい
て説明する。
て説明する。
第１図は、本発明の一実施例を示すものであって、図中
符号］は、支点２により支持されたビームで、一端には
試料Ｓを収容した試料皿３がセットされる受皿４が、ま
た他端には分銅皿５がそれぞれ吊り線６．７により取付
けられ、常時平衡を取るように制御された電流が供給さ
れるコイル８の磁力を受けるように構成されでいる。
符号］は、支点２により支持されたビームで、一端には
試料Ｓを収容した試料皿３がセットされる受皿４が、ま
た他端には分銅皿５がそれぞれ吊り線６．７により取付
けられ、常時平衡を取るように制御された電流が供給さ
れるコイル８の磁力を受けるように構成されでいる。
９、］０は、それぞれ受皿４の上方、及び下方に設けら
れた熱電対等の第１、及び第２の温度検出器で、それぞ
れ後述する演算器１１に接続されている。
れた熱電対等の第１、及び第２の温度検出器で、それぞ
れ後述する演算器１１に接続されている。
１］は、前述の演算器で、第１、及び第２の温ＷＬ検出
器９．１０からの温度信号を受けて、これらの平均値を
図示しない記録装置、及び受皿４近傍に配置されたヒー
タ１２の電流を制御する温度制御表Ｎ１３に出力するよ
うに構成されている。
器９．１０からの温度信号を受けて、これらの平均値を
図示しない記録装置、及び受皿４近傍に配置されたヒー
タ１２の電流を制御する温度制御表Ｎ１３に出力するよ
うに構成されている。
この実施例において、純金属等のように融点が正確に判
明しでいる標準物質を試料皿３に収容して受皿４に載冒
し、第１の温度検出器９を試料に接触させた状態でヒー
タ］２により加熱する。標準物質の温度が融点に到達す
ると、標準物質の溶融に伴う吸熱反応が生して温度が一
定となる。もとより、融点の温度は既知であるから、こ
れによって温度検出器９の校正を行うことができる。
明しでいる標準物質を試料皿３に収容して受皿４に載冒
し、第１の温度検出器９を試料に接触させた状態でヒー
タ］２により加熱する。標準物質の温度が融点に到達す
ると、標準物質の溶融に伴う吸熱反応が生して温度が一
定となる。もとより、融点の温度は既知であるから、こ
れによって温度検出器９の校正を行うことができる。
また、他方の温度検出器１０についても同様の手順によ
り校正を行なう。
り校正を行なう。
一方、未知物質についての分析を行う場合には、サンプ
ルを試料皿３に収容して受皿４にセットするとともに、
第１の温度検出器９を試料の上方で、かつ試料に接触し
ない程度に接近させて配置し、また第２の温度検出器１
０を受皿４の下方で、かつ受皿４に接触しない程度に接
近させて配置する。
ルを試料皿３に収容して受皿４にセットするとともに、
第１の温度検出器９を試料の上方で、かつ試料に接触し
ない程度に接近させて配置し、また第２の温度検出器１
０を受皿４の下方で、かつ受皿４に接触しない程度に接
近させて配置する。
この状態で、ヒータ１２により試料Ｓ加熱すると、第１
、及び第２の温度検出器９．１０からの温度信号ＴＩ、
Ｔ２は演算器１１により平均値（ＴＩ◆Ｔ２）／２１Ｆ
ｒ算出される。この平均１（Ｔ、・Ｔ２）／２は、温度
制御装置１３に入力してヒータ１２の温度制御に供され
、同時に図示しない記録装置により試料温度として記録
される。
、及び第２の温度検出器９．１０からの温度信号ＴＩ、
Ｔ２は演算器１１により平均値（ＴＩ◆Ｔ２）／２１Ｆ
ｒ算出される。この平均１（Ｔ、・Ｔ２）／２は、温度
制御装置１３に入力してヒータ１２の温度制御に供され
、同時に図示しない記録装置により試料温度として記録
される。
ところで、この平均値（ＴＩ＋Ｔ２）／２は、試料を挟
む上下の温度の平均値であるから、この儂は温度検出器
９．１０が配置されている中間の位置における温度を示
すことになり（第２図）、試料近傍空間の温度分布に上
下方向の不均一性が存在しているとしても試料Ｓの正確
な温度を検出することかできる。
む上下の温度の平均値であるから、この儂は温度検出器
９．１０が配置されている中間の位置における温度を示
すことになり（第２図）、試料近傍空間の温度分布に上
下方向の不均一性が存在しているとしても試料Ｓの正確
な温度を検出することかできる。
なお、この実施例においては吊り下げ方式のものに例を
採って説明したが、ビームの上部に試料を配置した上皿
式の熱重量測定装置に適用しても同様の作用を奏するこ
とは明らかである。
採って説明したが、ビームの上部に試料を配置した上皿
式の熱重量測定装置に適用しても同様の作用を奏するこ
とは明らかである。
（発明の効果）
以上、説明したように本発明においては、試料皿を挟む
ようにして上下方向に第１、第２の温度検出手段を配置
するとともに、第１、及び第２の温度検出手段からの信
号の平均値を試料温度として出力する手段を設けたので
、２箇所の温度測定点の中間位置、つまり試料が存在す
る位置の温度を測定することができ、試料近傍の温度分
布に不均一性が存在しても試料の温度を正確に検出する
ことができる。
ようにして上下方向に第１、第２の温度検出手段を配置
するとともに、第１、及び第２の温度検出手段からの信
号の平均値を試料温度として出力する手段を設けたので
、２箇所の温度測定点の中間位置、つまり試料が存在す
る位置の温度を測定することができ、試料近傍の温度分
布に不均一性が存在しても試料の温度を正確に検出する
ことができる。
第１図は本発明の一実施例を示す装置の構成図、第２図
は同上装置の動作を示す説明図である。
は同上装置の動作を示す説明図である。
Claims (1)
- 試料皿を挟むようにして上下方向に第１、第２の温度検
出手段を配置するとともに、第１、及び第２の温度検出
手段からの信号の平均値を試料温度として出力する手段
を設けてなる熱重量測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16388490A JPH0454434A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 熱重量測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16388490A JPH0454434A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 熱重量測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0454434A true JPH0454434A (ja) | 1992-02-21 |
Family
ID=15782631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16388490A Pending JPH0454434A (ja) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | 熱重量測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0454434A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108007813A (zh) * | 2017-11-24 | 2018-05-08 | 河南飞防兵科技有限公司 | 一种智能型水分检测仪 |
-
1990
- 1990-06-21 JP JP16388490A patent/JPH0454434A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108007813A (zh) * | 2017-11-24 | 2018-05-08 | 河南飞防兵科技有限公司 | 一种智能型水分检测仪 |
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