JPH0450964B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、複数のアナログ信号波形をデジタル
信号に変換してメモリに格納する多入力波形記憶
装置に関するものである。

（従来の技術） アナログ信号波形を測定する装置の一種に、ア
ナログ信号波形をデジタル信号に変換してメモリ
に格納するように構成された波形記憶装置があ
る。

第３図は、従来のこのような装置の一例を示す
ブロツク図である。第３図においては、１はアナ
ログ入力信号Siをデジタル信号Sdに変換するAD
変換器であり、このAD変換器１で変換されたデ
ジタル信号Sdはメモリ２に格納される。３は制
御回路であり、アナログ入力信号SiをAD変換器
１でデジタル信号Sdに変換して変換されたデジ
タル信号Sdをメモリ２に格納するまでの一連の
動作を制御する。この制御回路３には、測定開始
を制御するためのトリガTRGが加えられるとと
もに、クロツク回路４からサンプリングのタイミ
ングを制御するためのクロツクCLKが加えられ
ている。そして、メモリ４に格納されたデジタル
信号Sdは例えばマイクロプロセツサ５で読み出
されて所定のデータ処理が施される。

ところで、第３図のブロツク図ではアナログ入
力信号Siが単一の例を示しているが、アナログ入
力信号Siが多数の場合には、AD変換器１の入力
部にマルチプレクサを接続したり、AD変換器を
各アナログ入力信号毎に設けることが行われてい
る。そして、この場合には、各アナログ入力信号
を同一のサンプリング周波数でデジタル信号に変
換して、変換されたデジタル信号をアナログ入力
信号の周波数成分にかかわらず逐次メモリに格納
することが行われている。

（発明が解決しようとする問題点） しかし、このような従来の装置によれば、、例
えば、ある測定対象の温度変化と振動波形を測定
する場合には、サンプリング周波数を変化の速い
振動波形に合わせて高く設定することによつて比
較的変化のゆるやかな温度信号波形も同一のサン
プリング周波数でデジタル信号に変換し、これら
変換された各デジタル信号を逐次メモリに格納す
ることになる。

この結果、メモリに大量のデータが格納される
ことから、メモリとして大容量のものを用いなけ
ればならず、コストが高くなつてしまう。

本発明は、このような従来の欠点を解決したも
のであつて、その目的は、比較的少ないメモリ容
量で有効な測定が行える多入力波形記憶装置を提
供することになる。

（問題点を解決するための手段） このような目的を達成する本発明は、周波数成
分が異なる少なくとも２種類のアナログ入力信号
をデジタル信号に変換してメモリに格納する多入
力波形記憶装置において、 アナログ入力信号の周波数に対して設定可能な
十分高い周波数のクロツクを出力するクロツク回
路と、このクロツクに従つてアナログ入力信号を
デジタル信号に変換するAD変換器と、AD変換
器で変換されたデジタル信号を格納するメモリ
と、アナログ入力信号をAD変換器でデジタル信
号に変換してメモリに格納するまでの一連の動作
を制御する制御回路とで構成され、周波数の異な
るクロツクを出力する少なくとも２系統の波形記
憶ブロツクと、 これら各波形記憶ブロツクにアナログ入力信号
の測定開始を制御するトリガを与えるトリガ制御
回路と、 トリガ制御回路からこれら各波形記憶ブロツク
にトリガが与えられた時刻を格納する時刻記憶回
路と、 前記各波形記憶ブロツクのメモリに格納された
デジタル信号および各時刻記憶回路に格納された
時刻を読み出して各波形記憶ブロツクに入力され
たアナログ入力信号を同一時間軸上に再生するた
めのデータ処理を行うマイクロプロセツサとを具
備し、 前記波形記憶ブロツクのクロツクのうち、周波
数の高いクロツクはトリガに同期した間欠的なパ
ルス群としてAD変換器に出力されることを特徴
とする。

（実施例） 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説
明する。

第１図は、本発明の一実施例を示すブロツク図
であり、アナログ入力信号がSi１とSi２の２入力
の例を示している。

第１図において、１０，２０はそれぞれ第３図
を同様の機能を有する波形記憶ブロツク、３０は
トリガ制御回路、４１，４２は時刻記憶回路、５
０は各波形ブロツク１０，２０に格納されたデジ
タル信号を読み出しわ所定のデータ処理を施すマ
イクロプロセツサである。

波形記憶ブロツク１０は、アナログ入力信号Si
１をデジタル信号Sd１に変換するAD変換器１
１、このAD変換器１１で変換されたデジタル信
号Sd１を格納するメモリ１２、アナログ入力信
号Si１をAD変換器１１でデジタル信号Sd１に変
換して変換されたデジタル信号Sd１をメモリ１
２に格納するまでの一連の動作を制御する制御回
路１３、この制御回路１３を介してAD制御器１
１にサンプリングのタイミングを制御するための
クロツクCLK１を加えるクロツク回路１４とで
構成されている。波形記憶ブロツク２０は、アナ
ログ入力信号Si２をデジタル信号Sd２に変換す
るAD変換器２１、このAD変換器２１で変換さ
れたデジタル信号Sd２を格納するメモリ２２、
アナログ入力信号Si２をAD変換器２１でデジタ
ル信号Sd２に変換して変換されたデジタル信号
Sd２をメモリ２２に格納するまでの一連の動作
を制御する制御回路２３、この制御回路２３を介
してAD変換器２１にサンプリングのタイミング
を制御するためのクロツクCLK２を加えるクロ
ツク回路２４とで構成されている。ここで、これ
ら波形記憶ブロツク１０，２０を構成するクロツ
ク回路１４，２４は、互いに周波数の異なるクロ
ツクCLK１，CLK２が発生できるように構成さ
れている。トリガ制御回路３０には波形記憶ブロ
ツク１０の測定開始を制御するためのトリガ
TRG１が加えられるとともに波形記憶ブロツク
２０の測定開始を制御するためのトリガTRG２
が加えられ、このトリガ制御回路３０からはこれ
らトリガTRG１，TRG２が一連の測定動作を開
始する順序に従つて所定の波形記憶ブロツク１
０，２０の制御回路１３，２３および所定の時刻
記憶回路４１，４２にそれぞれ出力される。時刻
記憶回路４１，４２は、それぞれのトリガTRG
１，TRG２がトリガ制御回路３０から出力され
た時刻Ｔ１，Ｔ２を記憶する。これら時刻記憶回
路４１，４２に記憶された時刻データＴ１，Ｔ２
はマイクロプロセツサ５０に加えられている。マ
イクロプロセツサ５０は、各波形記憶ブロツク１
０，２０のメモリ１２，２３に格納されているデ
ジタル信号を読み出し、これらの時刻データＴ
１，Ｔ２に基づいて所定のデータ処理を行う。

このように構成された装置の動作について、第
２図の波形図を用いて説明する。

第２図において、(a)は波形記憶ブロツク１０に
加えられるアナログ入力信号Si１の波形であり、
温度変化の状態を示している。(b)はこのアナログ
入力信号Si１に対するサンプルタイミングクロツ
クCLK１を示していて、その周波数はアナログ
入力信号Si１の変化がゆるやかであることから低
く設定されている。(c)は波形記憶ブロツク１０に
加えられるトリガTRG１を示している。このト
リガTRG１が波形記憶ブロツク１０に加えられ
る時刻Ｔ１は、時刻記憶回路４１に格納される。
(d)は波形記憶ブロツク２０に加えられるアナログ
入力信号Si２の波形であり、アナログ入力信号Si
１の変化に比べて十分早く変化する振動の状態を
示している。(e)はこのアナログ入力信号Si２に対
するサンプルタイミングクロツクCLK２を示す
ものであり、その周波数はアナログ入力信号Si１
に対するクロツクCLK１に対して十分高く設定
されている。そして、このクロツクCLK２は、
アナログ入力信号Si２が繰り返し波形であること
から、所定数のパルス群が間欠的に加えられてい
る。(f)は波形記憶ブロツク２０に加えられるトリ
ガTRG２を示していて、アナログ入力信号Si１
に対するトリガTRG１が加えられてアナログ入
力信号Si１の測定が開始された後に加える例を示
している。このトリガTRG２が波形記憶ブロツ
ク２０に加えられる時刻Ｔ２は時刻記憶回路４２
に格納される。

このように構成することにより、波形記憶ブロ
ツク１０のメモリ１２にはアナログ入力信号Si１
がクロツクCLK１に応じてサンプリングされて
AD変換器１１でデジタル信号に変換された後格
納され、波形記憶ブロツク２０のメモリ２２には
アナログ入力信号Si２がクロツクCLK２に応じ
てサンプリングされてAD変換器２１でデジタル
信号に変換された後格納されることになる。そし
て、マイクロプロセツサ５０は、前述のように、
各波形記憶ブロツク１０，２０のメモリ１２，２
３に格納されているデジタル信号を読み出し、時
刻記憶回路４１，４２に格納されている時刻デー
タＴ１，Ｔ２に基づいて所定のデータ処理を行
う。ここで、各クロツクCLK１，CLK２の周波
数および各トリガTRG１，TRG２が各波形記憶
ブロツク１０，２０に加えられた時刻Ｔ１，Ｔ２
は明らかになつているので、各波形記憶ブロツク
１０，２０のメモリ１２，２３に格納されている
デジタル信号を読み出してアナログ入力信号Si
１，Si２を全体として時間的な対応をもたせて精
度良く再現することができる。

このような構成において、それぞれのメモリ１
２，２２に格納されるデジタル信号の数に着目す
ると、メモリ１２に格納されるデジタル信号の数
はメモリ２２に格納されるデジタル信号の数より
も少なくなり、メモリ１２の容量をメモリ２２よ
りも小さくすることができる。

また、AD変換器を低速用と高速用に使い分け
ることができるので、装置全体に占めるAD変換
器のコストを下げることもできる。

なお、上記実施例では、２種類のアナログ入力
信号を周波数の異なる２種類のクロツクでサンプ
リングしてデジタル信号に変換し、メモリに格納
する例について説明したが、これに限るものでは
なく、各クロツクで駆動されるそれぞれのAD変
換器のアナログ信号の入力部にマルチプレクサを
設けて複数のアナログ入力信号をデジタル信号に
変換してメモリに格納するようにしてもよいし、
それぞれのクロツクに対してAD変換器を複数設
けて複数のアナログ入力信号をデジタル信号に変
換するようにしてもよいし、３種類以上のアナロ
グ入力信号を３種類以上のクロツクでサンプリン
グしてデジタル信号に変換し、それぞれのメモリ
に格納するようにしてもよい。

（発明の効果） 以上説明したように、本発明によれば、比較的
少ないメモリ容量で有効な測定が行える多入力波
形記憶装置が実現でき、実用上の効果は大きい。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示すブロツク図、
第２図は第１図の動作を説明するための波形図、
第３図は従来のデジタルの一例を示すブロツク図
である。 １０，２０……波形記憶ブロツク、３０……ト
リガ制御回路、４１，４２……時刻記憶回路、５
０……マイクロプロセツサ。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 周波数成分が異なる少なくとも２種類のアナ
   ログ入力信号をデジタル信号に変換してメモリに
   格納する多入力波形記憶装置において、 アナログ入力信号の周波数に対して設定可能な
   十分高い周波数のクロツクを出力するクロツク回
   路と、このクロツクに従つてアナログ入力信号を
   デジタル信号に変換するAD変換器と、AD変換
   器で変換されたデジタル信号を格納するメモリ
   と、アナログ入力信号をAD変換器でデジタル信
   号に変換してメモリに格納するまでの一連の動作
   を制御する制御回路とで構成され、周波数の異な
   るクロツクを出力する少なくとも２系統の波形記
   憶ブロツクと、 これら各波形記憶ブロツクにアナログ入力信号
   の測定開始を制御するトリガを与えるトリガ制御
   回路と、 トリガ制御回路からこれら各波形記憶ブロツク
   にトリガが与えられた時刻を格納する時刻記憶回
   路と、 前記各波形記憶ブロツクのメモリに格納された
   デジタル信号および各時刻記憶回路に格納された
   時刻を読み出して各波形記憶ブロツクに入力され
   たアナログ入力信号を同一時間軸上に再生するた
   めのデータ処理を行うマイクロプロセツサとを具
   備し、 前記波形記憶ブロツクのクロツクのうち、周波
   数の高いクロツクはトリガに同期した間欠的なパ
   ルス群としてAD変換器に出力されることを特徴
   とする多入力波形記憶装置。