JPH0450122B2 - - Google Patents
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- JPH0450122B2 JPH0450122B2 JP60220202A JP22020285A JPH0450122B2 JP H0450122 B2 JPH0450122 B2 JP H0450122B2 JP 60220202 A JP60220202 A JP 60220202A JP 22020285 A JP22020285 A JP 22020285A JP H0450122 B2 JPH0450122 B2 JP H0450122B2
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- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 41
- 238000009760 electrical discharge machining Methods 0.000 claims description 18
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 14
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 description 3
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Electrical Discharge Machining, Electrochemical Machining, And Combined Machining (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、加工用電極と被加工物間にパルス
電圧を印加するとともに、加工用電極を駆動して
被加工物を加工する放電加工装置の加工電流の制
御に関するものである。
電圧を印加するとともに、加工用電極を駆動して
被加工物を加工する放電加工装置の加工電流の制
御に関するものである。
［従来の技術］
従来のこの種の装置は、放電加工電流の初期に
おける電流値をステツプ状に増加させる場合、最
初のステツプのピーク電流値は固定され一定値で
あつた。従来の装置を第３図〜第１０図について
説明する。第３図において、１は直流電源で電圧
Ｖに設定されている。２は加工用電極で、直流電
圧源１に接続されている。３は被加工物で、電極
駆動装置４に取付けられた加工用電極２により放
電加工される。被加工物３は抵抗器Ｒ０〜Ｒ６と
スイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６を介して直流電源１の別
の片方に接続されている。なお、直流電源１、抵
抗器Ｒ０〜Ｒ６、及びスイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６に
より、加工用電極と被加工物との間に最大値が予
め設定された電流を供給する電流供給手段を構成
している。
おける電流値をステツプ状に増加させる場合、最
初のステツプのピーク電流値は固定され一定値で
あつた。従来の装置を第３図〜第１０図について
説明する。第３図において、１は直流電源で電圧
Ｖに設定されている。２は加工用電極で、直流電
圧源１に接続されている。３は被加工物で、電極
駆動装置４に取付けられた加工用電極２により放
電加工される。被加工物３は抵抗器Ｒ０〜Ｒ６と
スイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６を介して直流電源１の別
の片方に接続されている。なお、直流電源１、抵
抗器Ｒ０〜Ｒ６、及びスイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６に
より、加工用電極と被加工物との間に最大値が予
め設定された電流を供給する電流供給手段を構成
している。
スイツチ素子Ｓ０は1A、スイツチ素子Ｓ１は
0.5A、スイツチ素子Ｓ２は1A、スイツチ素子Ｓ
３は2A、スイツチ素子Ｓ４は4A、スイツチ素子
Ｓ５は8A、スイツチ素子Ｓ６は16Aのピーク電
流を通電する。
0.5A、スイツチ素子Ｓ２は1A、スイツチ素子Ｓ
３は2A、スイツチ素子Ｓ４は4A、スイツチ素子
Ｓ５は8A、スイツチ素子Ｓ６は16Aのピーク電
流を通電する。
６はステツプ数比較出力回路で、出力端子Ｐ０
〜Ｐ６はスイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６をONまたは
OFFに駆動する。ステツプ数は入力端子Ｎ０〜
Ｎ５へ２進数値で入力する。５はステツプ周期出
力回路で、ステツプ周期パルス信号STをステツ
プ数比較出力回路６へ出力する。ステツプ周期は
入力端子Ｔ０〜Ｔ６へ２進数値で入力する。ま
た、ステツプ動作の開始を知らせるリセツト信号
LDを出力する。７は発振回路で、パルス信号PS
と10MHzのクロツク信号CKおよび電極間放電検
出信号DSを出力する。そしてこれらステツプ周
期出力回路５、ステツプ数比較回路６、及び発振
回路７により、スイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６を制御し
て、電流をパルス状にすると共に、その各々のパ
ルスを、時間の経過に伴いステツプ状に増加する
形状となすパルス形成手段を構成する。
〜Ｐ６はスイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６をONまたは
OFFに駆動する。ステツプ数は入力端子Ｎ０〜
Ｎ５へ２進数値で入力する。５はステツプ周期出
力回路で、ステツプ周期パルス信号STをステツ
プ数比較出力回路６へ出力する。ステツプ周期は
入力端子Ｔ０〜Ｔ６へ２進数値で入力する。ま
た、ステツプ動作の開始を知らせるリセツト信号
LDを出力する。７は発振回路で、パルス信号PS
と10MHzのクロツク信号CKおよび電極間放電検
出信号DSを出力する。そしてこれらステツプ周
期出力回路５、ステツプ数比較回路６、及び発振
回路７により、スイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６を制御し
て、電流をパルス状にすると共に、その各々のパ
ルスを、時間の経過に伴いステツプ状に増加する
形状となすパルス形成手段を構成する。
第４図は、第３図におけるステツプ周期出力回
路５の詳細を示す回路図である。第４図におい
て、９は７ビツトの２進カウンター、８はステツ
プ周期の２進数値Ｔ０〜Ｔ６と２進カウンター９
の出力Ｑ０〜Ｑ６の大小を判別する比較器、１０
ａ〜１０ｄはＤ−フリツプフロツプ、１１ａ〜１
１ｂはANDゲート、１２は２入力NANDゲー
ト、１３はインバータ、１４は３入力NANDゲ
ートである。
路５の詳細を示す回路図である。第４図におい
て、９は７ビツトの２進カウンター、８はステツ
プ周期の２進数値Ｔ０〜Ｔ６と２進カウンター９
の出力Ｑ０〜Ｑ６の大小を判別する比較器、１０
ａ〜１０ｄはＤ−フリツプフロツプ、１１ａ〜１
１ｂはANDゲート、１２は２入力NANDゲー
ト、１３はインバータ、１４は３入力NANDゲ
ートである。
第５図は、第３図におけるステツプ数比較出力
回路６の詳細を示す回路図である。第５図におい
て、１６は６ビツトの２進カウンター、１５はス
テツプ数の２進数値Ｎ０〜Ｎ５と２進カウンター
１６の出力Ｑ０〜Ｑ５の大小を判別する比較器、
１７は３入力ANDゲート、１８ａ〜１８ｇはス
イツチ素子ドライバーである。
回路６の詳細を示す回路図である。第５図におい
て、１６は６ビツトの２進カウンター、１５はス
テツプ数の２進数値Ｎ０〜Ｎ５と２進カウンター
１６の出力Ｑ０〜Ｑ５の大小を判別する比較器、
１７は３入力ANDゲート、１８ａ〜１８ｇはス
イツチ素子ドライバーである。
なお、上記ステツプ数の２進数値（以下、２進
設定ステツプ数と記す）Ｎ０〜Ｎ５は放電加工電
流の設定値から1Aを引いた値を0.5Aで割つた２
進の整数値である。
設定ステツプ数と記す）Ｎ０〜Ｎ５は放電加工電
流の設定値から1Aを引いた値を0.5Aで割つた２
進の整数値である。
次に、第３図〜第５図および第６図〜第８図に
より動作について説明する。第３図において、前
記スイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６の通電ピーク電流は抵
抗器Ｒ０〜Ｒ６と直流電圧源１の電圧Ｖから放電
電極間電圧を引いた加工電圧Ｅとの比で決定され
る。これらの通電ピーク電流はスイツチ素子Ｓ０
がONすると1A、スイツチ素子Ｓ１が同時にON
すると1.5A、この様にスイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６
のONまたはOFFにより加算されて増加する。な
お、上記のスイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６のONおよび
OFFはステツプ数比較出力回路６の出力Ｐ０〜
Ｐ６で制御される。
より動作について説明する。第３図において、前
記スイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６の通電ピーク電流は抵
抗器Ｒ０〜Ｒ６と直流電圧源１の電圧Ｖから放電
電極間電圧を引いた加工電圧Ｅとの比で決定され
る。これらの通電ピーク電流はスイツチ素子Ｓ０
がONすると1A、スイツチ素子Ｓ１が同時にON
すると1.5A、この様にスイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６
のONまたはOFFにより加算されて増加する。な
お、上記のスイツチ素子Ｓ０〜Ｓ６のONおよび
OFFはステツプ数比較出力回路６の出力Ｐ０〜
Ｐ６で制御される。
以下、ステツプ数比較出力回路６の出力Ｐ０〜
Ｐ６の一例を第４図〜第７図により説明する。第
４図において、PSはパルス信号で放電電極間に
電圧を印加している間、論理１(H)になつている。
放電電極間に放電が発生し電流が流れ始めると加
工電流信号DSが論理１(H)になる。この時クロツ
ク信号CKによりＤ−フリツプフロツプ１０ｃに
論理１Ｈがラツチされ、初期リセツト信号LDが
３−入力NANDゲート１４から出力される。こ
の後２進カウンタ９には初期値０がロードされ、
クロツクCKを1/2分周した信号でカウントされ、
カウントデータが２進カウンタ９の出力Ｑ０〜Ｑ
６にデータが現われる。２進カウンタ９の出力デ
ータＱ０〜Ｑ６とステツプ周期２進数データＴ０
〜Ｔ６が大小比較器８で比較され、２進カウンタ
９の出力データがステツプ周期２進数データと等
しくなるかまたはより大きくなると、大小比較器
８の０A≦B出力が論理１(H)になり０A>B出力が論
理０(L)になる。
Ｐ６の一例を第４図〜第７図により説明する。第
４図において、PSはパルス信号で放電電極間に
電圧を印加している間、論理１(H)になつている。
放電電極間に放電が発生し電流が流れ始めると加
工電流信号DSが論理１(H)になる。この時クロツ
ク信号CKによりＤ−フリツプフロツプ１０ｃに
論理１Ｈがラツチされ、初期リセツト信号LDが
３−入力NANDゲート１４から出力される。こ
の後２進カウンタ９には初期値０がロードされ、
クロツクCKを1/2分周した信号でカウントされ、
カウントデータが２進カウンタ９の出力Ｑ０〜Ｑ
６にデータが現われる。２進カウンタ９の出力デ
ータＱ０〜Ｑ６とステツプ周期２進数データＴ０
〜Ｔ６が大小比較器８で比較され、２進カウンタ
９の出力データがステツプ周期２進数データと等
しくなるかまたはより大きくなると、大小比較器
８の０A≦B出力が論理１(H)になり０A>B出力が論
理０(L)になる。
この結果、ステツプ周期パルスSTが２−入力
NANDゲート１２から出力されると同時に２進
カウンター９には０がロードされる。この様子を
第６図のタイムチヤートに表わす。クロツクCK
は10MHzでステツプ周期２進数データ２で、Ｔ０
＝０、Ｔ１＝１、Ｔ２＝０、Ｔ３＝０、Ｔ４＝
０、Ｔ５＝０、Ｔ６＝０の場合の例で、ステツプ
周期パルスはSTは0.4μs周期で出力している。
NANDゲート１２から出力されると同時に２進
カウンター９には０がロードされる。この様子を
第６図のタイムチヤートに表わす。クロツクCK
は10MHzでステツプ周期２進数データ２で、Ｔ０
＝０、Ｔ１＝１、Ｔ２＝０、Ｔ３＝０、Ｔ４＝
０、Ｔ５＝０、Ｔ６＝０の場合の例で、ステツプ
周期パルスはSTは0.4μs周期で出力している。
上記ステツプ周期パルスSTは第５図に詳細を
示すステツプ数比較出力回路６に送られる。第５
図においてPSはパルス信号でスイツチ素子ドラ
イバー１８ａ〜１８ｇのコントロールを行ない、
またスイツチ素子Ｐ０を出力する。LDおよびST
はステツプ周期出力回路からの信号でそれぞれ初
期リセツトパルスとステツプ周期パルスである。
２進カウンタ１６は初期リセツトパルスLDによ
り０がロードされた後、ステツプ周期パルスST
によりカウントアツプされる。２進カウンター１
６のカウントアツプ数は、２進カウンター１６の
出力Ｑ０〜Ｑ５と２進設定ステツプ数Ｎ０〜Ｎ５
を比較する大小比較器１５の出力０A>Bで制限さ
れ、２進カウンター１６の出力データが、２進設
定ステツプ数データと等しくなるかまたは大きく
なると３−入力ANDゲート１７を閉じて２進カ
ウンター１６の動作を停止させる。
示すステツプ数比較出力回路６に送られる。第５
図においてPSはパルス信号でスイツチ素子ドラ
イバー１８ａ〜１８ｇのコントロールを行ない、
またスイツチ素子Ｐ０を出力する。LDおよびST
はステツプ周期出力回路からの信号でそれぞれ初
期リセツトパルスとステツプ周期パルスである。
２進カウンタ１６は初期リセツトパルスLDによ
り０がロードされた後、ステツプ周期パルスST
によりカウントアツプされる。２進カウンター１
６のカウントアツプ数は、２進カウンター１６の
出力Ｑ０〜Ｑ５と２進設定ステツプ数Ｎ０〜Ｎ５
を比較する大小比較器１５の出力０A>Bで制限さ
れ、２進カウンター１６の出力データが、２進設
定ステツプ数データと等しくなるかまたは大きく
なると３−入力ANDゲート１７を閉じて２進カ
ウンター１６の動作を停止させる。
スイツチ素子ドライバー１８ｂ〜１８ｇへの入
力は２進カウンターの出力Ｑ０〜Ｑ５でスイツチ
信号Ｐ１〜Ｐ６へ出力する。第７図のタイムチヤ
ートは、２進設定ステツプ数６でＮ０＝０、Ｎ１
＝１、Ｎ２＝２、Ｎ３＝０、Ｎ４＝０、Ｎ５＝０
の場合の例である。加工電流はパルス信号PSで
1A流れ、その後カウントが進むにつれて0.5Aず
つ増加している。７つ目のSTパルスはカウント
されていない。
力は２進カウンターの出力Ｑ０〜Ｑ５でスイツチ
信号Ｐ１〜Ｐ６へ出力する。第７図のタイムチヤ
ートは、２進設定ステツプ数６でＮ０＝０、Ｎ１
＝１、Ｎ２＝２、Ｎ３＝０、Ｎ４＝０、Ｎ５＝０
の場合の例である。加工電流はパルス信号PSで
1A流れ、その後カウントが進むにつれて0.5Aず
つ増加している。７つ目のSTパルスはカウント
されていない。
［発明が解決しようする課題］
以上のような従来の放電加工用電源では、放電
加工電流の初期における電流値を、第８図に示す
ように最初のステツプのピーク電流値を固定され
た一定値1Aとし、次からのステツプを0.5Aごと
にステツプ状に増加させている。所で、放電加工
電流の設定値が大いき場合には、加工用電極と被
加工物間に存在する浮遊静電容量が増加し、第９
図ａに示すように放電開始時に最初のステツプの
ピーク電流値より大きい突入電流が流れ、その振
動で放電加工電流が途切れる現象が表われる。
加工電流の初期における電流値を、第８図に示す
ように最初のステツプのピーク電流値を固定され
た一定値1Aとし、次からのステツプを0.5Aごと
にステツプ状に増加させている。所で、放電加工
電流の設定値が大いき場合には、加工用電極と被
加工物間に存在する浮遊静電容量が増加し、第９
図ａに示すように放電開始時に最初のステツプの
ピーク電流値より大きい突入電流が流れ、その振
動で放電加工電流が途切れる現象が表われる。
上記突入電流の大きさは放電加工電流の設定値
の大きさに比例して大きくなる傾向にある。
の大きさに比例して大きくなる傾向にある。
設定パルス幅の放電加工電流が途中で途切れる
と、放電加工電流のパルス幅は設定パルス幅より
短い放電加工電流が２回流れた結果になる。第１
０図に示すように放電加工電流が同一設定電流の
場合、放電加工電流のパルス幅が短いほど電極消
耗比は増加することが知られており、放電加工電
流が途中で途切れた場合には設定より短いパルス
幅の放電加工電流で加工した電極消耗比の大きい
特性となり、未加工部分を生じたり、加工用電極
の使用回数が低下したりする問題点があつた。
と、放電加工電流のパルス幅は設定パルス幅より
短い放電加工電流が２回流れた結果になる。第１
０図に示すように放電加工電流が同一設定電流の
場合、放電加工電流のパルス幅が短いほど電極消
耗比は増加することが知られており、放電加工電
流が途中で途切れた場合には設定より短いパルス
幅の放電加工電流で加工した電極消耗比の大きい
特性となり、未加工部分を生じたり、加工用電極
の使用回数が低下したりする問題点があつた。
この発明は、かかる問題点を解決するためにな
されたもので、放電加工電流の設定値が大きい場
合でも放電加工電流が途中で途切れることのない
放電加工用電源を得ることを目的とする。
されたもので、放電加工電流の設定値が大きい場
合でも放電加工電流が途中で途切れることのない
放電加工用電源を得ることを目的とする。
［課題を解決するための手段］
この発明に係る放電加工用電源は、スイツチ素
子と、このスイツチ素子を介して加工用電極と被
加工物との間に最大値が予め設定された電流を供
給する電流供給手段と、上記スイツチ素子を制御
して、上記電流をパルス状にすると共に、その
各々のパルスを、時間の経過に伴ないステツプ状
に増加する形状となすパルス形成手段と、このパ
ルス形成手段により供給されるステツプ状のパル
ス電流の最初のステツプ電流値を、上記予め設定
されたパルス電流の最大値の大きさに応じて変化
させ、その最大値が所定の値より大きい場合には
大きく小さい場合には小さくなるようにする加工
電流途切れ防止手段とを備えたものである。
子と、このスイツチ素子を介して加工用電極と被
加工物との間に最大値が予め設定された電流を供
給する電流供給手段と、上記スイツチ素子を制御
して、上記電流をパルス状にすると共に、その
各々のパルスを、時間の経過に伴ないステツプ状
に増加する形状となすパルス形成手段と、このパ
ルス形成手段により供給されるステツプ状のパル
ス電流の最初のステツプ電流値を、上記予め設定
されたパルス電流の最大値の大きさに応じて変化
させ、その最大値が所定の値より大きい場合には
大きく小さい場合には小さくなるようにする加工
電流途切れ防止手段とを備えたものである。
［作用］
この発明において、パルス形成手段により供給
されるステツプ状のパルス電流の最初のステツプ
の電流値を、予め設定されたパルス電流の最大値
の大きさに応じて変化させ、その最大値が所定の
値より大きい場合には大きく小さい場合には小さ
くなるようにしたので、放電開始時の放電加工電
流の途切れを防止できる。
されるステツプ状のパルス電流の最初のステツプ
の電流値を、予め設定されたパルス電流の最大値
の大きさに応じて変化させ、その最大値が所定の
値より大きい場合には大きく小さい場合には小さ
くなるようにしたので、放電開始時の放電加工電
流の途切れを防止できる。
［実施例］
以下、この発明の一実施例を図について説明す
る。第１図はこの発明の一実施例におけるステツ
プ数比較出力回路を示す回路図、第２図はこの発
明の一実施例における放電加工電流の理想波形を
示した第２図ａは２進設定ステツプ数が７以下の
場合の波形図、第２図ｂは２進設定ステツプ数が
８以上の場合の波形図、第９図ｂはこの発明の一
実施例における放電加工電流の実際の波形を示す
波形図である。
る。第１図はこの発明の一実施例におけるステツ
プ数比較出力回路を示す回路図、第２図はこの発
明の一実施例における放電加工電流の理想波形を
示した第２図ａは２進設定ステツプ数が７以下の
場合の波形図、第２図ｂは２進設定ステツプ数が
８以上の場合の波形図、第９図ｂはこの発明の一
実施例における放電加工電流の実際の波形を示す
波形図である。
第１図において、第５図と同一符号の部分は同
一部分を示し、１９は３入力ORゲートで、ステ
ツプ数の２進数値Ｎ０〜Ｎ５が８以上の数値の場
合に論理１(H)を出力し、７以下の場合には論理０
(L)を出力する。６ビツトの２進カウンター１６の
２進数入力データＤ０〜Ｄ５の内Ｄ０は論理１(H)
に接続され、Ｄ１はORゲート１９の出力が接続
されている。また、Ｄ２〜Ｄ５は論理０(L)に接続
されており、この３入力ORゲート１９により、
パルス形成手段により供給されるステツプ状のパ
ルス電流の最初のステツプの電流値を、予め設定
されたパルス電流の最大値の大きさに応じて変化
させ、その最大値が所定の値より大きい場合には
大きく小さい場合には小さくなるようにする加工
電流途切れ防止手段を構成している。
一部分を示し、１９は３入力ORゲートで、ステ
ツプ数の２進数値Ｎ０〜Ｎ５が８以上の数値の場
合に論理１(H)を出力し、７以下の場合には論理０
(L)を出力する。６ビツトの２進カウンター１６の
２進数入力データＤ０〜Ｄ５の内Ｄ０は論理１(H)
に接続され、Ｄ１はORゲート１９の出力が接続
されている。また、Ｄ２〜Ｄ５は論理０(L)に接続
されており、この３入力ORゲート１９により、
パルス形成手段により供給されるステツプ状のパ
ルス電流の最初のステツプの電流値を、予め設定
されたパルス電流の最大値の大きさに応じて変化
させ、その最大値が所定の値より大きい場合には
大きく小さい場合には小さくなるようにする加工
電流途切れ防止手段を構成している。
なお、この発明において、第１図に示すステツ
プ数比較出力回路の回路構成は第５図に示す従来
のものと異なるが、装置全体の構成及びステツプ
周期出力回路の回路構成は第３図及び第４図に示
す従来装置と同じである。
プ数比較出力回路の回路構成は第５図に示す従来
のものと異なるが、装置全体の構成及びステツプ
周期出力回路の回路構成は第３図及び第４図に示
す従来装置と同じである。
次に、動作について説明する。
第１図において、PSはパルス信号でスイツチ
素子ドライバー１８ａ〜１８ｇのコントロールを
行ない、またスイツチ素子Ｐ０を出力する。LD
およびSTはステツプ周期出力回路からの信号で、
それぞれ初期リセツトパルスとステツプ周期パル
スである。
素子ドライバー１８ａ〜１８ｇのコントロールを
行ない、またスイツチ素子Ｐ０を出力する。LD
およびSTはステツプ周期出力回路からの信号で、
それぞれ初期リセツトパルスとステツプ周期パル
スである。
２進カウンタ１６は初期リセツトパルスLDに
より、２進設定ステツプ数Ｎ０〜Ｎ５が７以下の
場合、すなわち放電加工電流の設定値が4.5A以
下の場合には１が、２進設定ステツプ数が８以上
の場合、すなわち放電加工電流の設定値が5A以
上の場合には３がＤ０〜Ｄ５にロードされた後、
ステツプ周期パルスSTによりカウントアツプさ
れる。２進カウンター１６のカウントアツプ数
は、２進カウンター１６の出力Ｑ０〜Ｑ５と２進
設定ステツプ数Ｎ０〜Ｎ５を比較する大小比較器
１５の出力０A＞Ｂで制限され、２進カウンター
１６の出力データが２進設定ステツプ数データと
等しくなるかまたは大きくなると３−入力AND
ゲート１７を閉じて、２進カウンター１６の動作
を停止させる。スイツチ素子ドライバー１８ｂ〜
１８ｇへの入力は２進カウンターの出力Ｑ０〜Ｑ
５でスイツチ信号Ｐ１〜Ｐ６へ出力する。
より、２進設定ステツプ数Ｎ０〜Ｎ５が７以下の
場合、すなわち放電加工電流の設定値が4.5A以
下の場合には１が、２進設定ステツプ数が８以上
の場合、すなわち放電加工電流の設定値が5A以
上の場合には３がＤ０〜Ｄ５にロードされた後、
ステツプ周期パルスSTによりカウントアツプさ
れる。２進カウンター１６のカウントアツプ数
は、２進カウンター１６の出力Ｑ０〜Ｑ５と２進
設定ステツプ数Ｎ０〜Ｎ５を比較する大小比較器
１５の出力０A＞Ｂで制限され、２進カウンター
１６の出力データが２進設定ステツプ数データと
等しくなるかまたは大きくなると３−入力AND
ゲート１７を閉じて、２進カウンター１６の動作
を停止させる。スイツチ素子ドライバー１８ｂ〜
１８ｇへの入力は２進カウンターの出力Ｑ０〜Ｑ
５でスイツチ信号Ｐ１〜Ｐ６へ出力する。
この結果、放電加工電流の波形は、加工用電極
と被加工物間に浮遊静電容量が無い理想的な場合
には第２図ａまたは第２図ｂの様になる。また、
加工用電極と被加工物間に浮遊静電容量が有つた
場合においても、第９図ｂの様に、放電加工電流
の最初のステツプのピーク電流を高くしているの
で、実線で示すように電流が途中で途切れること
はない。
と被加工物間に浮遊静電容量が無い理想的な場合
には第２図ａまたは第２図ｂの様になる。また、
加工用電極と被加工物間に浮遊静電容量が有つた
場合においても、第９図ｂの様に、放電加工電流
の最初のステツプのピーク電流を高くしているの
で、実線で示すように電流が途中で途切れること
はない。
さらには、放電加工電流の設定値が大きくなつ
て、加工用電極と被加工物間の浮遊静電容量が大
きくなり、破線Ｂで示すように放電開始時の突入
電流が大きく流れても最初のステツプのピーク電
流値を大きくできるので、上記突入電流による振
動が有つても放電加工電流が途切れることはなく
なる。
て、加工用電極と被加工物間の浮遊静電容量が大
きくなり、破線Ｂで示すように放電開始時の突入
電流が大きく流れても最初のステツプのピーク電
流値を大きくできるので、上記突入電流による振
動が有つても放電加工電流が途切れることはなく
なる。
［発明の効果］
以上のようにこの発明によれば、放電加工用電
源に、スイツチ素子と、このスイツチ素子を介し
て加工用電極と被加工物との間に最大値が予め設
定された電流を供給する電流供給手段と、上記ス
イツチ素子を制御して、上記電流をパルス状にす
ると共に、その各々のパルスを、時間の経過に伴
ないステツプ状に増加する形状となすパルス形成
手段と、このパルス形成手段により供給されるス
テツプ状のパルス電流の最初のステツプ電流値
を、上記予め設定されたパルス電流の最大値の大
きさに応じて変化させ、その最大値が所定の値よ
り大きい場合には大きく小さい場合には小さくな
るようにする加工電流途切れ防止手段とを備える
ようにしたので放電開始時の放電加工電流の途切
れを防止できるという効果が得られる。
源に、スイツチ素子と、このスイツチ素子を介し
て加工用電極と被加工物との間に最大値が予め設
定された電流を供給する電流供給手段と、上記ス
イツチ素子を制御して、上記電流をパルス状にす
ると共に、その各々のパルスを、時間の経過に伴
ないステツプ状に増加する形状となすパルス形成
手段と、このパルス形成手段により供給されるス
テツプ状のパルス電流の最初のステツプ電流値
を、上記予め設定されたパルス電流の最大値の大
きさに応じて変化させ、その最大値が所定の値よ
り大きい場合には大きく小さい場合には小さくな
るようにする加工電流途切れ防止手段とを備える
ようにしたので放電開始時の放電加工電流の途切
れを防止できるという効果が得られる。
第１図はこの発明の一実施例におけるステツプ
数比較出力回路を示す回路図、第２図はこの発明
の一実施例における放電加工電流の理想波形を示
し第２図ａは２進設定ステツプ数が７以下の場合
の波形図、第２図ｂは２進設定ステツプ数が８以
上の場合の波形図、第３図は放電加工用電源の一
例を示す構成図、第４図は第３図に示すステツプ
周期出力回路の詳細を示す回路図、第５図は第３
図に示すステツプ数比較出力回路の詳細を示す回
路図、第６図はステツプ周期出力回路の動作のタ
イムチヤート、第７図はステツプ数比較出力回路
の動作のタイムチヤート、第８図は従来装置の放
電加工電流の理想波形を示す波形図、第９図ａは
従来装置の放電加工電流の実際の波形を示す波形
図、第９図ｂはこの発明の一実施例における放電
加工電流の実際の波形を示す波形図、第１０図は
放電加工の電極消耗比の特性の一例を示すグラフ
である。 図において、１は直流電源、２は加工用電極、
３は被加工物、４は電極駆動装置、５はステツプ
周期出力回路、６はステツプ数比較出力回路、７
は発振回路、Ｓ０〜Ｓ６はスイツチ素子、Ｒ０〜
Ｒ６は電流制限用抵抗器である。なお、図中、同
一符号は同一または相当部分を示す。
数比較出力回路を示す回路図、第２図はこの発明
の一実施例における放電加工電流の理想波形を示
し第２図ａは２進設定ステツプ数が７以下の場合
の波形図、第２図ｂは２進設定ステツプ数が８以
上の場合の波形図、第３図は放電加工用電源の一
例を示す構成図、第４図は第３図に示すステツプ
周期出力回路の詳細を示す回路図、第５図は第３
図に示すステツプ数比較出力回路の詳細を示す回
路図、第６図はステツプ周期出力回路の動作のタ
イムチヤート、第７図はステツプ数比較出力回路
の動作のタイムチヤート、第８図は従来装置の放
電加工電流の理想波形を示す波形図、第９図ａは
従来装置の放電加工電流の実際の波形を示す波形
図、第９図ｂはこの発明の一実施例における放電
加工電流の実際の波形を示す波形図、第１０図は
放電加工の電極消耗比の特性の一例を示すグラフ
である。 図において、１は直流電源、２は加工用電極、
３は被加工物、４は電極駆動装置、５はステツプ
周期出力回路、６はステツプ数比較出力回路、７
は発振回路、Ｓ０〜Ｓ６はスイツチ素子、Ｒ０〜
Ｒ６は電流制限用抵抗器である。なお、図中、同
一符号は同一または相当部分を示す。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ スイツチ素子と、 このスイツチ素子を介して加工用電極と被加工
物との間に最大値が予め設定された電流を供給す
る電流供給手段と、 上記スイツチ素子を制御して、上記電流をパル
ス状にすると共に、その各々のパルスを、時間の
経過に伴いステツプ状に増加する形状となすパル
ス形成手段と、 このパルス形成手段により供給されるステツプ
状のパルス電流の最初のステツプの電流値を、上
記予め設定されたパルス電流の最大値の大きさに
応じて変化させ、その最大値が所定の値より大き
い場合には大きく小さい場合には小さくなるよう
にする加工電流途切れ防止手段と、 を備えたことを特徴とする放電加工用電源。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22020285A JPS6279914A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 放電加工用電源 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22020285A JPS6279914A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 放電加工用電源 |
Related Child Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4083636A Division JP2684918B2 (ja) | 1992-04-06 | 1992-04-06 | 放電加工制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6279914A JPS6279914A (ja) | 1987-04-13 |
| JPH0450122B2 true JPH0450122B2 (ja) | 1992-08-13 |
Family
ID=16747483
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22020285A Granted JPS6279914A (ja) | 1985-10-04 | 1985-10-04 | 放電加工用電源 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6279914A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2689472B2 (ja) * | 1988-04-14 | 1997-12-10 | ブラザー工業株式会社 | 放電加工機 |
| US5126525A (en) * | 1988-11-01 | 1992-06-30 | Sodick Co., Ltd. | Power supply system for electric discharge machines |
Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50498A (ja) * | 1973-05-09 | 1975-01-07 | ||
| JPS508197A (ja) * | 1973-05-24 | 1975-01-28 | ||
| JPS53148095A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-23 | Mitsubishi Electric Corp | Electric discharge machining apparatus |
| JPS5633235A (en) * | 1979-08-21 | 1981-04-03 | Inoue Japax Res Inc | Electrospark machining device |
| JPS5641367A (en) * | 1979-09-10 | 1981-04-18 | Hitachi Chem Co Ltd | Electroless plating method |
-
1985
- 1985-10-04 JP JP22020285A patent/JPS6279914A/ja active Granted
Patent Citations (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS50498A (ja) * | 1973-05-09 | 1975-01-07 | ||
| JPS508197A (ja) * | 1973-05-24 | 1975-01-28 | ||
| JPS53148095A (en) * | 1977-05-31 | 1978-12-23 | Mitsubishi Electric Corp | Electric discharge machining apparatus |
| JPS5633235A (en) * | 1979-08-21 | 1981-04-03 | Inoue Japax Res Inc | Electrospark machining device |
| JPS5641367A (en) * | 1979-09-10 | 1981-04-18 | Hitachi Chem Co Ltd | Electroless plating method |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6279914A (ja) | 1987-04-13 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |