JPH0449753A - 光通話路導通試験方法 - Google Patents
光通話路導通試験方法Info
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- JPH0449753A JPH0449753A JP15861490A JP15861490A JPH0449753A JP H0449753 A JPH0449753 A JP H0449753A JP 15861490 A JP15861490 A JP 15861490A JP 15861490 A JP15861490 A JP 15861490A JP H0449753 A JPH0449753 A JP H0449753A
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims 1
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- 101000713904 Homo sapiens Activated RNA polymerase II transcriptional coactivator p15 Proteins 0.000 abstract 3
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Landscapes
- Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)
- Use Of Switch Circuits For Exchanges And Methods Of Control Of Multiplex Exchanges (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、波長多重された光信号を交換する光交換機に
よって加入者間が接続される際に、それら加入者開光通
話路、あるいは加入者各々と光交換機開光通話路の状態
が正常であるか否かを試験するための光通話路導通試験
方式に関するものである。
よって加入者間が接続される際に、それら加入者開光通
話路、あるいは加入者各々と光交換機開光通話路の状態
が正常であるか否かを試験するための光通話路導通試験
方式に関するものである。
［従来の技術］
交換機一般においては、通話バスが閉成された場合には
、指定されたポイントが正常に閉成されているか、また
、開放された場合には、指定されたポイントが正常に開
放されたかを検出する必要があるものとなっている。こ
のような事情は光交換機においても同様であり、光通話
路に対する導通試験が必要となっている。
、指定されたポイントが正常に閉成されているか、また
、開放された場合には、指定されたポイントが正常に開
放されたかを検出する必要があるものとなっている。こ
のような事情は光交換機においても同様であり、光通話
路に対する導通試験が必要となっている。
ところで、光交換機は比較的新規な技術であることから
、これに対する従来技術は皆無に近いものとなっている
。ここで、参考ながら、空間分割形電子交換機に例を採
って、導通試験を説明すれば以トーのようである。
、これに対する従来技術は皆無に近いものとなっている
。ここで、参考ながら、空間分割形電子交換機に例を採
って、導通試験を説明すれば以トーのようである。
即ち、第３図はｒＤ１０形自動交換機第４部通話路装置
」（昭和４６年４月３０日、電子通信共済会発行、第７
５頁）に記載されている導通試験方法を示しまたもので
ある。これによる場合、空間分割形通話路５ＳＩＩＩ（
本例ではｎ段のスイッチＳＷ０〜５Ｗｆｉ−，より構成
）に対しては、ループ端子およびセンサ端子か具備され
た導通試験専用トランクＬＰＣＴＴが、スイッチＳＷ、
−，を構成している０〜Ｍ格子各々での０．１端子にマ
ルチ収容されるべく設けられたものとなっている。一方
、スイッチＳＷｏを構成している０〜Ｎ４格子各々での
０．１端子は折返し用とされ、図中、折返し路は一本の
線で示されているが、実際には２本の線Ａ、Ｂよりなる
ものとなっている。実際に導通試験を行う場合には、ス
イッチＳＷｏでのｏ 、 １ 端子は被試験パスを介し
、スイッチＳＷ〜１でのｏ 、 １ ｓ；４子に接続さ
れるようになっているものである。より具体的には、第
４図に示すように、導通試験専用トランクＬＰＣＴＴか
らのアース（地気）信号は被試験バス■−折返し一被試
験パス■−トラツクＬＰＣＴＴ内ループ→被試験バス■
−折返し一被試験バス■のルートを介し、トランクＬＰ
ＣＴＴ内センサで検出されるようになっている。
」（昭和４６年４月３０日、電子通信共済会発行、第７
５頁）に記載されている導通試験方法を示しまたもので
ある。これによる場合、空間分割形通話路５ＳＩＩＩ（
本例ではｎ段のスイッチＳＷ０〜５Ｗｆｉ−，より構成
）に対しては、ループ端子およびセンサ端子か具備され
た導通試験専用トランクＬＰＣＴＴが、スイッチＳＷ、
−，を構成している０〜Ｍ格子各々での０．１端子にマ
ルチ収容されるべく設けられたものとなっている。一方
、スイッチＳＷｏを構成している０〜Ｎ４格子各々での
０．１端子は折返し用とされ、図中、折返し路は一本の
線で示されているが、実際には２本の線Ａ、Ｂよりなる
ものとなっている。実際に導通試験を行う場合には、ス
イッチＳＷｏでのｏ 、 １ 端子は被試験パスを介し
、スイッチＳＷ〜１でのｏ 、 １ ｓ；４子に接続さ
れるようになっているものである。より具体的には、第
４図に示すように、導通試験専用トランクＬＰＣＴＴか
らのアース（地気）信号は被試験バス■−折返し一被試
験パス■−トラツクＬＰＣＴＴ内ループ→被試験バス■
−折返し一被試験バス■のルートを介し、トランクＬＰ
ＣＴＴ内センサで検出されるようになっている。
［発明が解決しようとする課題］
しかしながら、に記のような導通試験方ｔｔを光交換機
にもそのまま適用しようとすれば、以下のような不具合
が生じるようになっている。
にもそのまま適用しようとすれば、以下のような不具合
が生じるようになっている。
即ち、各出力スイッチ格子における特定端子が導通試験
トランクを収容するために使用され、他に利用不可能と
なっている。また、これと同様にして、各入力スイッチ
格子における特定端子が折返し用に使用され、他に利用
不可能となっている。
トランクを収容するために使用され、他に利用不可能と
なっている。また、これと同様にして、各入力スイッチ
格子における特定端子が折返し用に使用され、他に利用
不可能となっている。
更に、導通試験専用のトランクが必要となっている。
本発明の目的は、波長多重された光信号を交換する光交
換機によって加入者間が接続される際に、光交換機側で
それら加入音間光通話路、あるいは加入者各々と光交換
機開光通話路を、試験専用端子や導通試験専用トランク
不要として試験し得る光通話路導通試験方式を供するに
ある。
換機によって加入者間が接続される際に、光交換機側で
それら加入音間光通話路、あるいは加入者各々と光交換
機開光通話路を、試験専用端子や導通試験専用トランク
不要として試験し得る光通話路導通試験方式を供するに
ある。
また、本発明の他の目的は、波長多重された光信号を交
換する光交換機によって加入者間が接続される際に、加
入者側でそれら加入者開先通話路を、試験専用端子や導
通試験専用トランク不要として試験し得る光通話路導通
試験方式を供するにある。
換する光交換機によって加入者間が接続される際に、加
入者側でそれら加入者開先通話路を、試験専用端子や導
通試験専用トランク不要として試験し得る光通話路導通
試験方式を供するにある。
［課題を解決するための手段］
上記目的は、光交換機に具備されているトランクを介し
加入者間が接続されている状態で、それら加入者間、あ
るいはそのトランクとそれら加入者各々との間に存在す
る光通話路を試験すべく、トランク共通に設けられてい
る試験信号送出器からの試験信号をトランク内で光信号
に変換した上、少なくとも何れかの加入者への下り光通
話路−１−に伝送せしめる一方、加入者側各々ではＦり
光通話路からの光信号は一旦電気信号に変換された上、
光信号として上り光通話路に折返され、トランク内で電
気信号に変換された後は、トランク共通に設けられてい
る試験信号検出器によって検出されることで達成される
。
加入者間が接続されている状態で、それら加入者間、あ
るいはそのトランクとそれら加入者各々との間に存在す
る光通話路を試験すべく、トランク共通に設けられてい
る試験信号送出器からの試験信号をトランク内で光信号
に変換した上、少なくとも何れかの加入者への下り光通
話路−１−に伝送せしめる一方、加入者側各々ではＦり
光通話路からの光信号は一旦電気信号に変換された上、
光信号として上り光通話路に折返され、トランク内で電
気信号に変換された後は、トランク共通に設けられてい
る試験信号検出器によって検出されることで達成される
。
また、他の目的は、光交換機に具備されているトランク
を介し加入者間が接続されている状態で、それら加入者
間に存在する光通話路を試験すべく、何れか一方の加入
者側では、試験信号送出器からの試験信号は光信号に変
換された上、上り光通話路上に伝送され、この光信号は
トランク、他方の加入者を介し再びそのトランク経由で
その何れか一方の加入者側への下り光通話路を伝送され
た後は、その加入者側で電気信号に変換された上、試験
信号検出器によって検出されることで達成される。
を介し加入者間が接続されている状態で、それら加入者
間に存在する光通話路を試験すべく、何れか一方の加入
者側では、試験信号送出器からの試験信号は光信号に変
換された上、上り光通話路上に伝送され、この光信号は
トランク、他方の加入者を介し再びそのトランク経由で
その何れか一方の加入者側への下り光通話路を伝送され
た後は、その加入者側で電気信号に変換された上、試験
信号検出器によって検出されることで達成される。
［作用］
トランクを介し加入者間が接続されている状態で、それ
ら加入者間、あるいはそのトランクとそれら加入者各々
との間に存在する光通話路に対し光通話路導通試験を行
うに際しては、試験信号送出器からの試験信号をトラン
ク内で光信号に変換した上、少なくとも何れかの加入者
への下り光通話路上に伝送せしめるようにしたものであ
る。何れかの加入者への下り光通話路上に伝送された場
合には、その加入者側では下り光通話路からの光信号は
一旦電気信号に変換された上、光信号として上り光通話
路に折返され、トランク内で電気信号に変換されるが、
その後は、その電気信号は再び光信号として、他方の加
入者への下り光通話路上に同様にして伝送せしめられる
ようにしたものである。他方の加入者でもその光信号は
一旦電気信号に変換された上、光信号として上り光通話
路上に折返され、トランク内で電気信号に変換されるが
、試験結果としてその電気信号か試験（Ｍ呼検出器によ
って検出された場合には、加入音間光通話路は正常であ
ると判断されるものである。また、光信号が加入者各々
への下り光通話路上に独立に伝送される場合は、その光
信号は加入者各々で一旦電気信号に変換された」−１」
−り光通話路上に光信号として折返され、トランク内で
電気信号に変換されるが、試験結果としてその電気信号
が試験信号検出器によって検出された場合には、ｊ・ラ
ンクと加入者各々との間の光通話路は正常であると判断
されるものである。これにより光通話路１−に何等かの
障害が発生した場合には、その障害発生箇所を特定する
ことか容易となるものである。
ら加入者間、あるいはそのトランクとそれら加入者各々
との間に存在する光通話路に対し光通話路導通試験を行
うに際しては、試験信号送出器からの試験信号をトラン
ク内で光信号に変換した上、少なくとも何れかの加入者
への下り光通話路上に伝送せしめるようにしたものであ
る。何れかの加入者への下り光通話路上に伝送された場
合には、その加入者側では下り光通話路からの光信号は
一旦電気信号に変換された上、光信号として上り光通話
路に折返され、トランク内で電気信号に変換されるが、
その後は、その電気信号は再び光信号として、他方の加
入者への下り光通話路上に同様にして伝送せしめられる
ようにしたものである。他方の加入者でもその光信号は
一旦電気信号に変換された上、光信号として上り光通話
路上に折返され、トランク内で電気信号に変換されるが
、試験結果としてその電気信号か試験（Ｍ呼検出器によ
って検出された場合には、加入音間光通話路は正常であ
ると判断されるものである。また、光信号が加入者各々
への下り光通話路上に独立に伝送される場合は、その光
信号は加入者各々で一旦電気信号に変換された」−１」
−り光通話路上に光信号として折返され、トランク内で
電気信号に変換されるが、試験結果としてその電気信号
が試験信号検出器によって検出された場合には、ｊ・ラ
ンクと加入者各々との間の光通話路は正常であると判断
されるものである。これにより光通話路１−に何等かの
障害が発生した場合には、その障害発生箇所を特定する
ことか容易となるものである。
ところで、加入音間光通話路に対する試験は光交換機側
の主導の下に行われるとは限らなく、それら加入者の何
れか一方の側から行うことも可能となっている。その何
れが一方の加入者側では、試験信号送出器からの試験信
号は光イ言号に変換された上、上り光通話路上に伝送さ
れ、その光信号はトランク、他方の加入者を介し再びそ
のトランり経由でその何れか一方の加入者側への下り光
通話路上に伝送された上、加入者側で電気信号に変換さ
れるが、この電気信号の存在を以て加入各間光通話路に
対する試験を行い得るものである。
の主導の下に行われるとは限らなく、それら加入者の何
れか一方の側から行うことも可能となっている。その何
れが一方の加入者側では、試験信号送出器からの試験信
号は光イ言号に変換された上、上り光通話路上に伝送さ
れ、その光信号はトランク、他方の加入者を介し再びそ
のトランり経由でその何れか一方の加入者側への下り光
通話路上に伝送された上、加入者側で電気信号に変換さ
れるが、この電気信号の存在を以て加入各間光通話路に
対する試験を行い得るものである。
［実施例］
以下、本発明を第１図、第２図により説明する。
先ず光交換機側主導の下に加入各間光通話路を試験する
場合について説明すれば、第１図はその際での本発明に
係る中継方式を示したものである。
場合について説明すれば、第１図はその際での本発明に
係る中継方式を示したものである。
図示のように、試験対象は光通話路ＯＳＷ自体だけでは
なく、トランクＴＲＫｏ−ＴＲＫｎを介し接続される加
入者５ＵＢＩ、ＳＵＢｍ、−，５ＵＢｐ、５ＵＢｎへの
光加入者線までをも含む通話路全体に対する導通試験が
考慮されたものとなっている。切替スイッチＳＷＩ、Ｓ
Ｗ２ヲ内部に含むトランクＴＲＫ、〜ＴＲＫｎに対して
は、共通に試験信号送出器ＰＧおよび試験信号検出器Ｄ
ＥＴが設けられており、それらトランクＴＲＫＯ〜ＴＲ
Ｋｎのうち、何れが試験信号送出器ＰＧおよび試験信号
検出器ＤＥＴに引き込み接続されるかは、光交換機全体
を制御している制御装置Ｃ０ＮＴによっている。制御装
置ｌＩ Ｃ０ＮＴによって切替スイッチＳＷＩ、ＳＷ２
およびセレクタ５ＥＬＬ、５ＥＬ２が制御されることで
、試験対象としての光通話路全体が収容されているトラ
ンクが選択的に試験信号送出器ＰＧ、試験信号検出器Ｄ
ＥＴに引き込み接続されているものである。本例では図
示のように、トランクＴＲＫｏが引き込み接続されてい
ることから、トランクＴＲＫ、から加入者５ＵＢＩ、５
ＵＢａ＋までの光加入者線を含む光通話路全体が試験さ
れるものとなっている。その光通話路としての光ファイ
バ（太線表示）上では、加入者５ＵＢＩ、ＳｔＪＢｗｉ
各々からトランクＴＲ１，への上り波長λ、と、トラン
クＴＲＫ、から加入者５ＵＢＩ、５ＵＢｉ＋各々への下
り波長λ、とが波長多重されているものである。
なく、トランクＴＲＫｏ−ＴＲＫｎを介し接続される加
入者５ＵＢＩ、ＳＵＢｍ、−，５ＵＢｐ、５ＵＢｎへの
光加入者線までをも含む通話路全体に対する導通試験が
考慮されたものとなっている。切替スイッチＳＷＩ、Ｓ
Ｗ２ヲ内部に含むトランクＴＲＫ、〜ＴＲＫｎに対して
は、共通に試験信号送出器ＰＧおよび試験信号検出器Ｄ
ＥＴが設けられており、それらトランクＴＲＫＯ〜ＴＲ
Ｋｎのうち、何れが試験信号送出器ＰＧおよび試験信号
検出器ＤＥＴに引き込み接続されるかは、光交換機全体
を制御している制御装置Ｃ０ＮＴによっている。制御装
置ｌＩ Ｃ０ＮＴによって切替スイッチＳＷＩ、ＳＷ２
およびセレクタ５ＥＬＬ、５ＥＬ２が制御されることで
、試験対象としての光通話路全体が収容されているトラ
ンクが選択的に試験信号送出器ＰＧ、試験信号検出器Ｄ
ＥＴに引き込み接続されているものである。本例では図
示のように、トランクＴＲＫｏが引き込み接続されてい
ることから、トランクＴＲＫ、から加入者５ＵＢＩ、５
ＵＢａ＋までの光加入者線を含む光通話路全体が試験さ
れるものとなっている。その光通話路としての光ファイ
バ（太線表示）上では、加入者５ＵＢＩ、ＳｔＪＢｗｉ
各々からトランクＴＲ１，への上り波長λ、と、トラン
クＴＲＫ、から加入者５ＵＢＩ、５ＵＢｉ＋各々への下
り波長λ、とが波長多重されているものである。
ここで、加入者５ＵＢＩ、５ｔｌＢａ、・、５ＵＢｐ、
５ＵＢｒ＋およびトランクＴＲＫ、〜ＴＲＫｎの構成に
ついて簡単ながら説明すれば、以下のようである。
５ＵＢｒ＋およびトランクＴＲＫ、〜ＴＲＫｎの構成に
ついて簡単ながら説明すれば、以下のようである。
即ち、加入者５ｔｌＢ１．ＳｕＢ＋ａ、−，５ｔｌＢｐ
、５ＵＢｎは同一構成とされ、上り波長λ、と下り波長
λ、を分離／多重する合分波器ＷＤＭ 、電気／光（Ｅ
ｌｏ）変換器、光／電気（０／Ｅ）変換器、折返し用切
替スイッチＳＷ３，５Ｗ４（あるいは切替スイッチＳＷ
５，５Ｗ６）、インタフェース部（各種端末とのインタ
フェース用）ｔＮＦを含むようにして構成されたものと
なっている。また、トランクＴＲＫ、〜ＴＲＫｎの構成
も同一とされ、既に述べた切替スイッチＳＷＩ、ＳＷ２
以外に、上り波長λ１と下り波長λ、を分！／多重する
合分波器ＷＤＭ、電気／光（Ｅｌｏ）変換器、光／電気
（０／Ｅ）変換器、インタフェース部ＩＮＦを含むよう
にして構成されたものとなっている。この場合でのイン
タフェース部ＩＮＦは加入者側でのものとは異なり、下
り光通話路上に各種の制御情報を挿入したり、上り光通
話路子から各種の制御情報を抽出する制御装置Ｃ０ＮＴ
とのインタフェース部として機能するようになっている
。
、５ＵＢｎは同一構成とされ、上り波長λ、と下り波長
λ、を分離／多重する合分波器ＷＤＭ 、電気／光（Ｅ
ｌｏ）変換器、光／電気（０／Ｅ）変換器、折返し用切
替スイッチＳＷ３，５Ｗ４（あるいは切替スイッチＳＷ
５，５Ｗ６）、インタフェース部（各種端末とのインタ
フェース用）ｔＮＦを含むようにして構成されたものと
なっている。また、トランクＴＲＫ、〜ＴＲＫｎの構成
も同一とされ、既に述べた切替スイッチＳＷＩ、ＳＷ２
以外に、上り波長λ１と下り波長λ、を分！／多重する
合分波器ＷＤＭ、電気／光（Ｅｌｏ）変換器、光／電気
（０／Ｅ）変換器、インタフェース部ＩＮＦを含むよう
にして構成されたものとなっている。この場合でのイン
タフェース部ＩＮＦは加入者側でのものとは異なり、下
り光通話路上に各種の制御情報を挿入したり、上り光通
話路子から各種の制御情報を抽出する制御装置Ｃ０ＮＴ
とのインタフェース部として機能するようになっている
。
さて、本発明について具体的に説明すれば、第１図は光
通話路−にで多重される波長の種類が２種類とされた場
合に、加入者５ＵＢＩ、ＳＵＢｍおよびトランクＴＲＫ
、は導通試験中の状態にあって、これ以外の加入者やト
ランクは既に導通試験が終了し通信中の状態にある場合
を示したものとなっている。
通話路−にで多重される波長の種類が２種類とされた場
合に、加入者５ＵＢＩ、ＳＵＢｍおよびトランクＴＲＫ
、は導通試験中の状態にあって、これ以外の加入者やト
ランクは既に導通試験が終了し通信中の状態にある場合
を示したものとなっている。
その導通試験に際しては、制御装置Ｃ０ＮＴによる制御
下に、トランクＴＲＫ、は切替スイッチＳＷＩ、ＳＷ２
、セレクタ５ＥＬＩ 、５ＥＬ２を介し試験信号送出器
ＰＧおよび試験信号検出器ＤＥＴに引き込み接続され、
また、切替スイッチＳＷ３〜ＳＷ６は折返し状態におか
れるようになっている。このような状態では、試験信号
送出器ＰＧからの試験信号はトランクＴＲＫ、内では、
インタフェース部ＩＮＦを介し電気／光変換器で下り波
長λ倉に変換された後は、合分波器ＷＤＭで上り波長λ
、と波長多重された上、光通話路ＯＳＷ、光加入者線を
介し加入者ＳＵＢｍに送出されるものとなっている。加
入者ＳＵＢ＋＋＋では、その下り波長λ、は合分波器Ｗ
ＤＭで下り波長λ、として分離された後は、光／電気変
換器、切替スイッチＳＷ６ 、 ＳＷ５を介し電気／光
変換器で上り波長λ、に変換された上、合分波器ＷＤＭ
で下り波長λ、と多重された状態で逆の経路を介しトラ
ンクＴＲＫ、に送出されるものとなっている。その上り
波長λ１はトランクＴＲＫ、内では合分波器ＷＤＭによ
って波長分離された後は、光／電気変換器を介しインタ
フェース部ＩＮＦより電気信号として得られるが、この
電気信号は再び試験信号としてインタフェース部ＩＮＦ
、電気／光変換器、合分波器ＷＤＭを介し加入者５ＵＢ
１方向に下り波長λ、として送出されるようになってい
る。加入者ＳＵＢｍでの場合と同様にして、加入者５Ｕ
ＢＩでもその下り波長λ、は上り光波長λ、に変換され
た上、トランクＴＲＫ０に送出されるものとなっている
。上り波長λ。
下に、トランクＴＲＫ、は切替スイッチＳＷＩ、ＳＷ２
、セレクタ５ＥＬＩ 、５ＥＬ２を介し試験信号送出器
ＰＧおよび試験信号検出器ＤＥＴに引き込み接続され、
また、切替スイッチＳＷ３〜ＳＷ６は折返し状態におか
れるようになっている。このような状態では、試験信号
送出器ＰＧからの試験信号はトランクＴＲＫ、内では、
インタフェース部ＩＮＦを介し電気／光変換器で下り波
長λ倉に変換された後は、合分波器ＷＤＭで上り波長λ
、と波長多重された上、光通話路ＯＳＷ、光加入者線を
介し加入者ＳＵＢｍに送出されるものとなっている。加
入者ＳＵＢ＋＋＋では、その下り波長λ、は合分波器Ｗ
ＤＭで下り波長λ、として分離された後は、光／電気変
換器、切替スイッチＳＷ６ 、 ＳＷ５を介し電気／光
変換器で上り波長λ、に変換された上、合分波器ＷＤＭ
で下り波長λ、と多重された状態で逆の経路を介しトラ
ンクＴＲＫ、に送出されるものとなっている。その上り
波長λ１はトランクＴＲＫ、内では合分波器ＷＤＭによ
って波長分離された後は、光／電気変換器を介しインタ
フェース部ＩＮＦより電気信号として得られるが、この
電気信号は再び試験信号としてインタフェース部ＩＮＦ
、電気／光変換器、合分波器ＷＤＭを介し加入者５ＵＢ
１方向に下り波長λ、として送出されるようになってい
る。加入者ＳＵＢｍでの場合と同様にして、加入者５Ｕ
ＢＩでもその下り波長λ、は上り光波長λ、に変換され
た上、トランクＴＲＫ０に送出されるものとなっている
。上り波長λ。
はトランクＴＲＫ、内では合分波器ＷＤＭによって波長
分離された後は、光／電気変換器を介しインタフェース
部ＩＮＦより電気信号として得られるが、これが切替ス
イッチＳＷ１、セレクタ５ＥＬ２を介し試験信号検出器
ＤＥＴで正しく検出されたか否かによって、トランクＴ
ＲＫ、を経由しての加入者ＳＵＢｍ、５ＵＢＩ間光通話
路の状態間圧通話路かが知れるものである。
分離された後は、光／電気変換器を介しインタフェース
部ＩＮＦより電気信号として得られるが、これが切替ス
イッチＳＷ１、セレクタ５ＥＬ２を介し試験信号検出器
ＤＥＴで正しく検出されたか否かによって、トランクＴ
ＲＫ、を経由しての加入者ＳＵＢｍ、５ＵＢＩ間光通話
路の状態間圧通話路かが知れるものである。
以上のようにして、加入者間通話路での状態が知れるが
、ここで問題となるのは、その加入者間通話路状態が正
常でないと判定された場合に、その通話路上の何れの部
分に障害が発生しているのか、その障害切り分けが容易
でないということである。障害切り分けを容易にするた
めには、例えば加入者ＳＵｈ＋、５ＵＢＩ各々に対し独
立に下り波長λ。
、ここで問題となるのは、その加入者間通話路状態が正
常でないと判定された場合に、その通話路上の何れの部
分に障害が発生しているのか、その障害切り分けが容易
でないということである。障害切り分けを容易にするた
めには、例えば加入者ＳＵｈ＋、５ＵＢＩ各々に対し独
立に下り波長λ。
を順次送出せしめるようにすればよい。トランクＴＲＫ
、内には加入者５ＵＢｎ＋、５ＵＢ１対応にインタフェ
ース部ＩＮＦが設けられているが、これらインタフェー
ス部ＩＮＦ間を切断した状態で、加入者５ＵＢＩ対応イ
ンタフ工−ス部ＩＮＦには試験信号送出器ＰＧからの試
験信号が入力可として、また、加入者５ｔｌＢｎ＋対応
インタフ工−ス部ＩＮＦからの電気信号は、加入者５Ｕ
ＢＩ対応インタフ工−ス部ＩＮＦからの電気信号と区別
された状態で試験信号検出器ＤＥＴにて検出器とされべ
く、所定に切替スイッチが追加挿入される場合は、障害
切り分は容易にして、トランクＴＲＫ、と加入者５ＬＩ
Ｂａ、５ＵＢＩ各々との間の通話路状態が独立に判定可
能となるものである。
、内には加入者５ＵＢｎ＋、５ＵＢ１対応にインタフェ
ース部ＩＮＦが設けられているが、これらインタフェー
ス部ＩＮＦ間を切断した状態で、加入者５ＵＢＩ対応イ
ンタフ工−ス部ＩＮＦには試験信号送出器ＰＧからの試
験信号が入力可として、また、加入者５ｔｌＢｎ＋対応
インタフ工−ス部ＩＮＦからの電気信号は、加入者５Ｕ
ＢＩ対応インタフ工−ス部ＩＮＦからの電気信号と区別
された状態で試験信号検出器ＤＥＴにて検出器とされべ
く、所定に切替スイッチが追加挿入される場合は、障害
切り分は容易にして、トランクＴＲＫ、と加入者５ＬＩ
Ｂａ、５ＵＢＩ各々との間の通話路状態が独立に判定可
能となるものである。
したがって、実際の導通試験の際には、試験信号送出器
から周期的に送出される試験信号によって、光通話路上
の通信用光信号中の特定位置には周期的に試験用光信号
が収容せしめられるようにする一方、その試験用光信号
に応答する、少なくとも何れかの加入者からの折返し光
信号が試験信号検出器にて周期的に監視される場合は、
トランクＴＲＫ、を経由しての加入者ＳＵＢｍ 、 ５
ＵＢＩ間光通話路の状態、あるいはトランクＴＲＫ０と
加入者ＳＵＢ＋＋＋ 、５ＵＢｌ各々との間の通話路状
態が周期的に監視され得るものである。試験用光信号以
外の光信号は加入者ＳＵＢｍ、５ＵＢＩ側で折返される
ことなく、端末に供されるようになっているものである
。この周期的監視は光通話路上に２種類の波長をもった
光信号が波長多重される場合に有効であるが、尤も、多
重される光信号の波長の種類を増やすようにすれば、光
通話路状態を通信中常時監視することも可能となってい
る。ｎ波長多重された光信号のうち、２以上の波長を導
通試験専用として、加入者５ＵＢＩＩＩ。
から周期的に送出される試験信号によって、光通話路上
の通信用光信号中の特定位置には周期的に試験用光信号
が収容せしめられるようにする一方、その試験用光信号
に応答する、少なくとも何れかの加入者からの折返し光
信号が試験信号検出器にて周期的に監視される場合は、
トランクＴＲＫ、を経由しての加入者ＳＵＢｍ 、 ５
ＵＢＩ間光通話路の状態、あるいはトランクＴＲＫ０と
加入者ＳＵＢ＋＋＋ 、５ＵＢｌ各々との間の通話路状
態が周期的に監視され得るものである。試験用光信号以
外の光信号は加入者ＳＵＢｍ、５ＵＢＩ側で折返される
ことなく、端末に供されるようになっているものである
。この周期的監視は光通話路上に２種類の波長をもった
光信号が波長多重される場合に有効であるが、尤も、多
重される光信号の波長の種類を増やすようにすれば、光
通話路状態を通信中常時監視することも可能となってい
る。ｎ波長多重された光信号のうち、２以上の波長を導
通試験専用として、加入者５ＵＢＩＩＩ。
ＳＵＢ ｌ側では、試験用光信号のみが常時折返され、
それ以外の光信号は端末側に供されるようにすればよい
ものである。
それ以外の光信号は端末側に供されるようにすればよい
ものである。
なお、以上では光交換機側主導制御の下に加入者間通話
路状態が判定されているが、保守点検の際に、加入者側
で簡易に加入者間通話路状態を判定することも可能とな
っている。第２図はその際での中継方式を示したもので
ある。図示のように、トランクＴＲＫ、によって加入者
ＳＵＢ＋ｎ、５ＵＢＩ間が接続されている場合に、何れ
か一方の加入者（本例では加入者ＳＵＢｍ）に、切替ス
イッチＳＷ５ 、 ＳＩＡ’６各々に対し試験信号送出
器ＰＧ、試駿信号検出器ＤＥＴを接ｙｉ自在にして接続
するようにしたものである。この場合にはトランクＴＲ
Ｋ、内には切替スイッチＳＷＩ、ＳＷ２等は必ずしも必
要とはされなく、導通試験の際に試験信号送出器ＰＧ、
試験信号検出器ＤＥＴ各々は切替スイッチＳＷ５ 、
ＳＷ６に接続された状態で、加入者ＳＬｉＢｍ、５ＵＢ
Ｉ間通話路状態が判定されるものとなっている。
路状態が判定されているが、保守点検の際に、加入者側
で簡易に加入者間通話路状態を判定することも可能とな
っている。第２図はその際での中継方式を示したもので
ある。図示のように、トランクＴＲＫ、によって加入者
ＳＵＢ＋ｎ、５ＵＢＩ間が接続されている場合に、何れ
か一方の加入者（本例では加入者ＳＵＢｍ）に、切替ス
イッチＳＷ５ 、 ＳＩＡ’６各々に対し試験信号送出
器ＰＧ、試駿信号検出器ＤＥＴを接ｙｉ自在にして接続
するようにしたものである。この場合にはトランクＴＲ
Ｋ、内には切替スイッチＳＷＩ、ＳＷ２等は必ずしも必
要とはされなく、導通試験の際に試験信号送出器ＰＧ、
試験信号検出器ＤＥＴ各々は切替スイッチＳＷ５ 、
ＳＷ６に接続された状態で、加入者ＳＬｉＢｍ、５ＵＢ
Ｉ間通話路状態が判定されるものとなっている。
即ち、加入者ＳＵＢｍ側では、試験信号送出器ＰＧから
の試験信号は切替スイッチＳＷ５を介し電気／光変換器
で上り波長λ、に変換された後は、トラツクＴＲＫ、内
で一旦電気信号に変換された上、下り波長λ鷺として加
入者５ＵＢＩ側に送出されるものとなっている。加入者
ＳＯＢ ｌ側ではその下り波長λ、は一旦電気信号に変
換された後に上り波長λ１に変換された上、トランクＴ
ＲＫ、に送出されるものとなっている。トランクＴＲＫ
、内ではその上り波長λ、は一旦電気信号に変換された
上、加入者ＳＵｈ＋側に下り波長λ、として送出される
ことから、加入者ＳＵＢｍ側ではそれが試験信号として
試験信号検出器ＤＥＴで正しく検出されたか否かによっ
て、加入者ＳＵＢ＋ｎ５ＵＢＩ間通話路状態が判定され
得るものである。
の試験信号は切替スイッチＳＷ５を介し電気／光変換器
で上り波長λ、に変換された後は、トラツクＴＲＫ、内
で一旦電気信号に変換された上、下り波長λ鷺として加
入者５ＵＢＩ側に送出されるものとなっている。加入者
ＳＯＢ ｌ側ではその下り波長λ、は一旦電気信号に変
換された後に上り波長λ１に変換された上、トランクＴ
ＲＫ、に送出されるものとなっている。トランクＴＲＫ
、内ではその上り波長λ、は一旦電気信号に変換された
上、加入者ＳＵｈ＋側に下り波長λ、として送出される
ことから、加入者ＳＵＢｍ側ではそれが試験信号として
試験信号検出器ＤＥＴで正しく検出されたか否かによっ
て、加入者ＳＵＢ＋ｎ５ＵＢＩ間通話路状態が判定され
得るものである。
［発明の効果］
以上説明したように、請求項１〜５による場合は、波長
多重された光信号を交換する光交換機によって加入者間
が接続される際に、光交換機側でそれら加入者開先通話
路、あるいは加入者各々と光交換機開光通話路を、試験
専用端子や導通試験専用トランク不要として試験し得、
また、請求項６〜８による場合には、波長多重された光
信号を交換する光交換機によって加入者間が接続される
際に、加入者側でそれら加入各間光通話路を、試験専用
端子や導通試験専用トランク不要として試験し得ること
になる。
多重された光信号を交換する光交換機によって加入者間
が接続される際に、光交換機側でそれら加入者開先通話
路、あるいは加入者各々と光交換機開光通話路を、試験
専用端子や導通試験専用トランク不要として試験し得、
また、請求項６〜８による場合には、波長多重された光
信号を交換する光交換機によって加入者間が接続される
際に、加入者側でそれら加入各間光通話路を、試験専用
端子や導通試験専用トランク不要として試験し得ること
になる。
第１図は、光交換機側主導制御の下に加入各間光通話路
を試験する場合での、本発明に係る中継方式を示す図、
第２図は、加入者側で部品に加入者間通話路状態を判定
する場合での、本発明に係る中継方式を示す図、第３図
、第４図は、空間分割形電子交換機に例を採った場合で
の、従来技術に係る導通試験方法を説明するための図で
ある。 ＯＳＷ・・・光通話路 ＴＲＫｏ−ＴＲＫｎ−ｈランク ＳＯＢ ｌ 、 ＳＵＢｍ 、 −−−、５ＵＢｐ 、
ＳＵＢ計＝加入者ｓｗｉ〜ＳＷ６・・・切替スイッチ ＰＧ・・・試験信号送出器 ＤＥＴ・・・試験信号送出器 Ｃ０ＮＴ・・・制御装置 ５ＥＬＬ、５ＥＬ２・・・セレクタ ＩＮＦ・・・インタフェース部 ＷＤＭ・・・合分波器
を試験する場合での、本発明に係る中継方式を示す図、
第２図は、加入者側で部品に加入者間通話路状態を判定
する場合での、本発明に係る中継方式を示す図、第３図
、第４図は、空間分割形電子交換機に例を採った場合で
の、従来技術に係る導通試験方法を説明するための図で
ある。 ＯＳＷ・・・光通話路 ＴＲＫｏ−ＴＲＫｎ−ｈランク ＳＯＢ ｌ 、 ＳＵＢｍ 、 −−−、５ＵＢｐ 、
ＳＵＢ計＝加入者ｓｗｉ〜ＳＷ６・・・切替スイッチ ＰＧ・・・試験信号送出器 ＤＥＴ・・・試験信号送出器 Ｃ０ＮＴ・・・制御装置 ５ＥＬＬ、５ＥＬ２・・・セレクタ ＩＮＦ・・・インタフェース部 ＷＤＭ・・・合分波器
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、波長多重された光信号を交換する光交換機に具備さ
れている、波長分離多重機能および光／電気・電気／光
変換機能を有するトランクを介し加入者間が接続されて
いる状態で、該加入者間、あるいは該トランクと該加入
者各々との間に存在する光通話路を試験するための光通
話路導通試験方式であって、光通話路導通試験に際して
は、トランク共通に設けられている試験信号送出器から
の試験信号をトランク内で光信号に変換した上、少なく
とも何れかの加入者への下り光通話路上に伝送せしめる
一方、加入者側各々では下り光通話路からの光信号は一
旦電気信号に変換された上、光信号として上り光通話路
に折返され、トランク内で電気信号に変換された後は、
トランク共通に設けられている試験信号検出器によって
検出されるようにした光通話路導通試験方式。 ２、加入者側各々では下り光通話路からの下り光波長は
、上り光波長に変換された上、上り光通話路上に折返さ
れるようにした、請求項１記載の光通話路導通試験方式
。 ３、加入者間に存在する光通話路の正常性を試験するに
際しては、トランク内では一方の加入者側上り光通話路
からの上り光波長は一旦電気信号に変換された上、下り
光波長として他方の加入者側下り光通話路上に折返され
るようにした、請求項１、２の何れかに記載の光通話路
導通試験方式。 ４、試験信号送出器から周期的に送出される試験信号に
よって、光通話路上の光信号中の特定位置には周期的に
導通試験用光信号が収容せしめられる一方、該導通試験
用光信号に応答する、少なくとも何れかの加入者からの
光信号が試験信号検出器にて周期的に監視、検出される
ようにした、請求項１〜３の何れかに記載の光通話路導
通試験方式。 ５、ｎ波長多重された光信号のうち、２以上の波長を導
通試験専用として、光通話路が常時監視されるようにし
た、請求項１〜３の何れかに記載の光通話路導通試験方
式。 ６、波長多重された光信号を交換する光交換機に具備さ
れている、波長分離多重機能および光／電気・電気／光
変換機能を有するトランクを介し加入者間が接続されて
いる状態で、該加入者間に存在する光通話路を試験する
ための光通話路導通試験方式であって、光通話路導通試
験に際しては、何れか一方の加入者側では、試験信号送
出器からの試験信号は光信号に変換された上、上り光通
話路上に伝送され、該光信号はトランク、他方の加入者
を介し再び該トランク経由で上記何れか一方の加入者側
への下り光通話路を伝送された後は、該加入者側で電気
信号に変換された上、試験信号検出器によって検出され
るようにした光通話路導通試験方式。 ７、他方の加入者側では下り光通話路からの下り光波長
は、上り光波長に変換された上、上り光通話路上に折返
されるようにした、請求項６記載の光通話路導通試験方
式。 ８、トランク内では何れか一方の加入者側上り光通話路
からの上り光波長は一旦電気信号に変換された上、下り
光波長として他方の加入者側下り光通話路上に折返され
る一方、他方の加入者側上り光通話路からの上り光波長
は一旦電気信号に変換された上、下り光波長として上記
何れか一方の加入者側下り光通話路上に折返されるよう
にした、請求項６、７の何れかに記載の光通話路導通試
験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2158614A JP2756172B2 (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 光通話路導通試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2158614A JP2756172B2 (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 光通話路導通試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0449753A true JPH0449753A (ja) | 1992-02-19 |
| JP2756172B2 JP2756172B2 (ja) | 1998-05-25 |
Family
ID=15675561
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2158614A Expired - Lifetime JP2756172B2 (ja) | 1990-06-19 | 1990-06-19 | 光通話路導通試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2756172B2 (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59139756A (ja) * | 1983-01-28 | 1984-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | トランク回路等の診断装置 |
| JPS63124654A (ja) * | 1986-11-13 | 1988-05-28 | Fujitsu Ltd | 接続パスチエツク方式 |
| JPH02141052A (ja) * | 1988-11-21 | 1990-05-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光交換機 |
-
1990
- 1990-06-19 JP JP2158614A patent/JP2756172B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59139756A (ja) * | 1983-01-28 | 1984-08-10 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | トランク回路等の診断装置 |
| JPS63124654A (ja) * | 1986-11-13 | 1988-05-28 | Fujitsu Ltd | 接続パスチエツク方式 |
| JPH02141052A (ja) * | 1988-11-21 | 1990-05-30 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光交換機 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2756172B2 (ja) | 1998-05-25 |
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