JPH0448169B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0448169B2 JPH0448169B2 JP12310084A JP12310084A JPH0448169B2 JP H0448169 B2 JPH0448169 B2 JP H0448169B2 JP 12310084 A JP12310084 A JP 12310084A JP 12310084 A JP12310084 A JP 12310084A JP H0448169 B2 JPH0448169 B2 JP H0448169B2
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- JP
- Japan
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- slider body
- detector
- probe
- circuit
- reading head
- Prior art date
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- Expired
Links
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 13
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0608—Height gauges
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は定盤上に置かれた被測定物の各部の
高さ、位置等をデイジタルスケールによつて測定
するハイトゲージに係るもので、特に定盤上で横
向きに置かれた穴や軸の上下方向の直径寸法を簡
単な操作により、高精度で測定可能としたもので
ある。
高さ、位置等をデイジタルスケールによつて測定
するハイトゲージに係るもので、特に定盤上で横
向きに置かれた穴や軸の上下方向の直径寸法を簡
単な操作により、高精度で測定可能としたもので
ある。
一般に固定プローブ、あるいはレバータイプの
ブローブを穴や軸の直径方向の測定点に接触さ
せ、その座標値から直径を求めるような場合、プ
ローブの接触点を穴や軸の直径に相当するセンタ
ーライン上に正確に合わせる必要があり、２つの
接触点がセンターラインからずれると測定値に対
する誤差の介入が避けられないが、実際には、こ
の操作は非常に困難で、再現性のよい、信頼性の
高い直径寸法の測定ができないという問題があつ
た。
ブローブを穴や軸の直径方向の測定点に接触さ
せ、その座標値から直径を求めるような場合、プ
ローブの接触点を穴や軸の直径に相当するセンタ
ーライン上に正確に合わせる必要があり、２つの
接触点がセンターラインからずれると測定値に対
する誤差の介入が避けられないが、実際には、こ
の操作は非常に困難で、再現性のよい、信頼性の
高い直径寸法の測定ができないという問題があつ
た。
この発明はプローブの移動を２重スライド機構
とし、かつ、測定値の処理回路を設けることによ
つて、簡単な測定操作で、直径寸法を高精度で、
しかも、迅速に測定可能とする装置を提供するも
のである。
とし、かつ、測定値の処理回路を設けることによ
つて、簡単な測定操作で、直径寸法を高精度で、
しかも、迅速に測定可能とする装置を提供するも
のである。
以下、図面を参照に本発明の一実施例について
説明する。第１図、第２図において、定盤上に置
かれるベース１に対して垂直に柱部２を立設し柱
部２に対して、上下動可能にスライダ本体７を突
出して設ける。柱部２の前面に位置して上下動す
るこのスライダ本体７は、その左右両側にたいこ
型ベアリング８，９，１０を有し、このベアリン
グの外周は柱部側面に設けられた上下案内溝に嵌
め込まれ、これによつてスライダ本体７は上下動
のみ可能とされている。スライダ本体７の上下動
はモータＭによる自動駆動機構によつて行なわれ
る。
説明する。第１図、第２図において、定盤上に置
かれるベース１に対して垂直に柱部２を立設し柱
部２に対して、上下動可能にスライダ本体７を突
出して設ける。柱部２の前面に位置して上下動す
るこのスライダ本体７は、その左右両側にたいこ
型ベアリング８，９，１０を有し、このベアリン
グの外周は柱部側面に設けられた上下案内溝に嵌
め込まれ、これによつてスライダ本体７は上下動
のみ可能とされている。スライダ本体７の上下動
はモータＭによる自動駆動機構によつて行なわれ
る。
柱部２には、その上下位置にプーリ４，５を設
け、これにスチールの平ベルト６をかける。この
ベルト６の一端はスライダ本体７の上端に、他端
は引つ張りばね１１を介してスライダ本体７の下
端に固定されており、下のプーリ５をモータＭに
よつて正逆回転し、スライダ本体７を上下動させ
る。なお、ベルト６のスライダ本体７の反対側に
はカウンターウエイト１６を取り付け、スライダ
本体７が軽く上下動し、かつ、どこででも重力の
平衡状態を保つて停止可能とする。
け、これにスチールの平ベルト６をかける。この
ベルト６の一端はスライダ本体７の上端に、他端
は引つ張りばね１１を介してスライダ本体７の下
端に固定されており、下のプーリ５をモータＭに
よつて正逆回転し、スライダ本体７を上下動させ
る。なお、ベルト６のスライダ本体７の反対側に
はカウンターウエイト１６を取り付け、スライダ
本体７が軽く上下動し、かつ、どこででも重力の
平衡状態を保つて停止可能とする。
スライダ本体７には垂直に２本の案内ロツド１
２，１３を立て、プローブ３を保持するスケール
読取ヘツド１４を上下動自在に嵌め込み、スライ
ダ本体７の下の突出部１５とスケール読取ヘツド
１４との間に反発ばね１７を入れ、スケール読取
ヘツド１４はスライダ本体７の中間位置に重量バ
ランスを取つて位置するようにする、また、柱部
２のスライダ本体７に面する側に直線型デイジタ
ルスケール１８を垂直に取り付ける。
２，１３を立て、プローブ３を保持するスケール
読取ヘツド１４を上下動自在に嵌め込み、スライ
ダ本体７の下の突出部１５とスケール読取ヘツド
１４との間に反発ばね１７を入れ、スケール読取
ヘツド１４はスライダ本体７の中間位置に重量バ
ランスを取つて位置するようにする、また、柱部
２のスライダ本体７に面する側に直線型デイジタ
ルスケール１８を垂直に取り付ける。
一方、スライダ本体７とスケール読取ヘツド１
４との間には第３図、第４図に示すように、その
関係位置を検出して、位置に係る信号を発信する
検出機構を設ける。すなわち、スライダ本体７の
側面に、狭い隙間をもつて３組の投光、受光検出
器２０，２１，２２を等間隔に上下方向一線上に
設ける。一方、スケール読取ヘツド１４には遮蔽
板２３を検出器２０，２１，２２の投、受光素子
の隙間に挿入するように取り付ける。ここで遮蔽
板２３には、第４図に示すように、二つの突出部
２４，２５が設けられ、スケール読取ヘツド１４
の上下動によつて突出部２４，２５は検出器の光
路を遮断、または開通状態とする。なお、検出器
は光を遮断されることにより制御信号を発する回
路とし、上下の検出器２０，２２はスライダ本体
７の上下動の停止信号を発信する。すなわち、ス
ライダ本体７の上下駆動用モータＭを停止させ
る。なお、この信号は後述する演算回路のスイツ
チを開閉制御する信号としても用いられる。中央
の検出器２１はスケール読取信号を取り込む指令
を出すものである。この検出器２１に対する突出
部２４，２５の上下方向の幅は受光素子の幅より
いくらかの余裕のある幅を持たせて、この幅で遮
断されている限り、データの取り込みが持続され
る。データの取り込みは第７図に示す要領によつ
て行なわれ、後述の回路によつて処理・表示され
る。
４との間には第３図、第４図に示すように、その
関係位置を検出して、位置に係る信号を発信する
検出機構を設ける。すなわち、スライダ本体７の
側面に、狭い隙間をもつて３組の投光、受光検出
器２０，２１，２２を等間隔に上下方向一線上に
設ける。一方、スケール読取ヘツド１４には遮蔽
板２３を検出器２０，２１，２２の投、受光素子
の隙間に挿入するように取り付ける。ここで遮蔽
板２３には、第４図に示すように、二つの突出部
２４，２５が設けられ、スケール読取ヘツド１４
の上下動によつて突出部２４，２５は検出器の光
路を遮断、または開通状態とする。なお、検出器
は光を遮断されることにより制御信号を発する回
路とし、上下の検出器２０，２２はスライダ本体
７の上下動の停止信号を発信する。すなわち、ス
ライダ本体７の上下駆動用モータＭを停止させ
る。なお、この信号は後述する演算回路のスイツ
チを開閉制御する信号としても用いられる。中央
の検出器２１はスケール読取信号を取り込む指令
を出すものである。この検出器２１に対する突出
部２４，２５の上下方向の幅は受光素子の幅より
いくらかの余裕のある幅を持たせて、この幅で遮
断されている限り、データの取り込みが持続され
る。データの取り込みは第７図に示す要領によつ
て行なわれ、後述の回路によつて処理・表示され
る。
なお、第２図における２７は測定寸法をデイジ
タル表示する表示器、２８は定盤上で本測定装置
をわずかな力で軽く、スムーズに移動させるた
め、ベース１をフローテイングさせるエアベアリ
ングを示し、２９はエアベアリング２８に加圧空
気を供給するエアコンプレツサ、３０はエアコン
プレツサ２９及びデイジタルスケール、光電検出
器等の電源となるバツテリーを示す。
タル表示する表示器、２８は定盤上で本測定装置
をわずかな力で軽く、スムーズに移動させるた
め、ベース１をフローテイングさせるエアベアリ
ングを示し、２９はエアベアリング２８に加圧空
気を供給するエアコンプレツサ、３０はエアコン
プレツサ２９及びデイジタルスケール、光電検出
器等の電源となるバツテリーを示す。
本実施例のように、エアコンプレツサ２９およ
び、バツテリー３０を測定装置（ハイトゲージ）
に搭載せしめることにより、外部からの配線、配
管が不要となり、作業性が極めて良好となる。
び、バツテリー３０を測定装置（ハイトゲージ）
に搭載せしめることにより、外部からの配線、配
管が不要となり、作業性が極めて良好となる。
以上のように構成された本測定装置による穴の
直径測定の操作の内容を第７図によつて説明す
る。まず、セツトされた被測定物の穴の内部にプ
ローブ３を挿入する。これをＡ位置とする。この
とき、Ａは通常、上下方向の直径位置を示す線Ｘ
から、わずかにずれた位置にある。次に、測定装
置をそのままの位置において、モータＭを始動さ
せてスライダ本体７を下降させると、接触子３は
穴の円周のＢ点に当たり、スケール読取ヘツド１
４は停止するが、スライダ本体７は下降を続け
て、第５図に示す状態となり、中央の検出器２１
は突出部２５により遮断されて、スケールの読取
値の取り込みが開始される。これと共に上の検出
器２０は上の突出部２４により閉ざされて、スラ
イダ本体７の下降は停止させられる。ここで、第
６図のスイツチS1は下の端子に入つて、読取値は
最小値記憶回路に入る。ついで、測定装置をエア
ベアリングによつてわずかに浮上させ、第７図に
おいて右方向に移動させると、接触子３は円周に
沿つて、上下方向直径位置のＣ点を通るので任意
の点Ｄまで移動させる。なお、この間スライダ本
体７は停止状態を持続し、Ｂ〜Ｄ点のスケール読
取値の取り込みが行なわれ、その最小値、すなわ
ちＣ点の値が記憶される。
直径測定の操作の内容を第７図によつて説明す
る。まず、セツトされた被測定物の穴の内部にプ
ローブ３を挿入する。これをＡ位置とする。この
とき、Ａは通常、上下方向の直径位置を示す線Ｘ
から、わずかにずれた位置にある。次に、測定装
置をそのままの位置において、モータＭを始動さ
せてスライダ本体７を下降させると、接触子３は
穴の円周のＢ点に当たり、スケール読取ヘツド１
４は停止するが、スライダ本体７は下降を続け
て、第５図に示す状態となり、中央の検出器２１
は突出部２５により遮断されて、スケールの読取
値の取り込みが開始される。これと共に上の検出
器２０は上の突出部２４により閉ざされて、スラ
イダ本体７の下降は停止させられる。ここで、第
６図のスイツチS1は下の端子に入つて、読取値は
最小値記憶回路に入る。ついで、測定装置をエア
ベアリングによつてわずかに浮上させ、第７図に
おいて右方向に移動させると、接触子３は円周に
沿つて、上下方向直径位置のＣ点を通るので任意
の点Ｄまで移動させる。なお、この間スライダ本
体７は停止状態を持続し、Ｂ〜Ｄ点のスケール読
取値の取り込みが行なわれ、その最小値、すなわ
ちＣ点の値が記憶される。
次に、穴の上部内周面のＦ点の測定操作を行な
う。モータＭを始動させ、スライダ本体７、すな
わちプローブ３を上昇させる。このとき、検出器
２２の光は遮断されていないのでスライダ本体７
の上昇運動は支障なく行なわれる。この場合、ま
ず、プローブ３がＥ位置で円周に接触して、スケ
ール読取ヘツド１４は停止するが、スライダ本体
７は上昇を続行し、突出部２４が中央の検出器２
１の光路を断ち、２５は下の検出器２２の光路を
遮断する。そこで、スライダ本体７の上昇は停止
される。このとき、プローブ３はスプリング１７
によつて円周に押し付けられている。一方、第６
図のスイツチS1は上方の端子に切り換えられて、
読取値は最大値記憶回路に入る。ついで、測定装
置を第７図で左方に、プローブ３が上下直径位置
Ｆ点を通過するＧ点まで移動させる。このとき、
Ｅ〜Ｇ点間の最大値が記憶され最大値（Ｆ点にお
ける高さ寸法値）−最小値（Ｃ点における高さ寸
法値）が演算されて、穴の直径として表示され
る。
う。モータＭを始動させ、スライダ本体７、すな
わちプローブ３を上昇させる。このとき、検出器
２２の光は遮断されていないのでスライダ本体７
の上昇運動は支障なく行なわれる。この場合、ま
ず、プローブ３がＥ位置で円周に接触して、スケ
ール読取ヘツド１４は停止するが、スライダ本体
７は上昇を続行し、突出部２４が中央の検出器２
１の光路を断ち、２５は下の検出器２２の光路を
遮断する。そこで、スライダ本体７の上昇は停止
される。このとき、プローブ３はスプリング１７
によつて円周に押し付けられている。一方、第６
図のスイツチS1は上方の端子に切り換えられて、
読取値は最大値記憶回路に入る。ついで、測定装
置を第７図で左方に、プローブ３が上下直径位置
Ｆ点を通過するＧ点まで移動させる。このとき、
Ｅ〜Ｇ点間の最大値が記憶され最大値（Ｆ点にお
ける高さ寸法値）−最小値（Ｃ点における高さ寸
法値）が演算されて、穴の直径として表示され
る。
なお、軸の外径寸法も同様の操作によつて測定
可能であり、穴や軸相互間の偏心量の測定、面の
真直度、平面度等の測定にも前記要領に準じて利
用することができる。
可能であり、穴や軸相互間の偏心量の測定、面の
真直度、平面度等の測定にも前記要領に準じて利
用することができる。
以上の説明においては、位置の検出機構の検出
器として光電検出器を例にして説明したがこれは
リミツトスイツチと突出片とによつて行なうこと
も出来る。
器として光電検出器を例にして説明したがこれは
リミツトスイツチと突出片とによつて行なうこと
も出来る。
また、本実施例では、スライダ本体の上下動を
モータ駆動とし、バツテリー、エアコンプレツサ
を搭載したエアベアリングによる滑動方式を示し
たが、ハイトゲージが小型、軽量等の場合には、
これらの一部または全部を廃止しても、ほぼ同等
の効果を上げることができる。
モータ駆動とし、バツテリー、エアコンプレツサ
を搭載したエアベアリングによる滑動方式を示し
たが、ハイトゲージが小型、軽量等の場合には、
これらの一部または全部を廃止しても、ほぼ同等
の効果を上げることができる。
以上説明したように本願発明によれば、従来、
極めて困難とされてきた定盤上における穴や軸の
直径寸法および偏心量、面の真直度、平面度等の
測定を簡単な構成により、高精度で、しかも能率
よく測定できるようにした作業性のすぐれたハイ
トゲージを得ることができる。
極めて困難とされてきた定盤上における穴や軸の
直径寸法および偏心量、面の真直度、平面度等の
測定を簡単な構成により、高精度で、しかも能率
よく測定できるようにした作業性のすぐれたハイ
トゲージを得ることができる。
第１図は本発明の実施例のハイトゲージの正面
図、第２図は第１図―線矢視図、第３図はス
ライダ本体の例を示す正面図、第４図はその―
線矢視図、第５図は前記スライダ本体の作動状
態説明図、第６図は演算表示回路例のブロツク
図、第７図は測定操作説明図。 １：ベース、２：柱部、３：プローブ、７：ス
ライダ本体、１２，１３：垂直案内ロツド、１
４：スケール読取ヘツド、１８：スケール、２
０，２１，２２：光電検出器、２３：遮蔽板、２
４，２５：突出部。
図、第２図は第１図―線矢視図、第３図はス
ライダ本体の例を示す正面図、第４図はその―
線矢視図、第５図は前記スライダ本体の作動状
態説明図、第６図は演算表示回路例のブロツク
図、第７図は測定操作説明図。 １：ベース、２：柱部、３：プローブ、７：ス
ライダ本体、１２，１３：垂直案内ロツド、１
４：スケール読取ヘツド、１８：スケール、２
０，２１，２２：光電検出器、２３：遮蔽板、２
４，２５：突出部。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 直線型デイジタルスケールを用いるハイトゲ
ージにおいて、 直立柱部に沿つて上下動可能のスライダ本体
と、スライダ本体に対して上下動可能であつてプ
ローブを保持し、スライダ本体に対してその中間
位置で重量バランスを取るスケール読取ヘツド
と、 スライダ本体と読取ヘツドとの関係位置検出用
にスライダ本体に設けられた上、中央、下の３つ
の検出器と、 読取ヘツドに設けられ常時は上、中央検出器の
間に位置する上遮蔽板、及び中央、下検出器の間
に位置する下遮蔽板と、 上の検出器が閉となつたとき最大値記憶回路
に、下の検出器が閉となつたとき最小値記憶回路
に読取値を入れるスイツチ回路と、 中央検出器が閉となつたときスケール読取りの
指令を出す回路と、 最大値記憶値と最小値記憶値とから直径を演算
し、表示する回路を有することを特徴とするハイ
トゲージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12310084A JPS612005A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | ハイトゲ−ジ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12310084A JPS612005A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | ハイトゲ−ジ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS612005A JPS612005A (ja) | 1986-01-08 |
| JPH0448169B2 true JPH0448169B2 (ja) | 1992-08-06 |
Family
ID=14852194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12310084A Granted JPS612005A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | ハイトゲ−ジ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS612005A (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CH668123A5 (de) * | 1985-11-12 | 1988-11-30 | Hans Meyer | Geraet zur messung von hoehenabstaenden. |
| CH667726A5 (fr) * | 1986-04-30 | 1988-10-31 | Tesa Sa | Dispositif de palpage pour un appareil autonome de mesure de grandeurs lineaires. |
| JP2000213928A (ja) * | 1999-01-20 | 2000-08-04 | Mitsutoyo Corp | 円測定装置および極限値検出装置 |
| JP4931867B2 (ja) * | 2008-06-27 | 2012-05-16 | 黒田精工株式会社 | 可変端度器 |
-
1984
- 1984-06-15 JP JP12310084A patent/JPS612005A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS612005A (ja) | 1986-01-08 |
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