JPS612005A - ハイトゲ−ジ - Google Patents
ハイトゲ−ジInfo
- Publication number
- JPS612005A JPS612005A JP12310084A JP12310084A JPS612005A JP S612005 A JPS612005 A JP S612005A JP 12310084 A JP12310084 A JP 12310084A JP 12310084 A JP12310084 A JP 12310084A JP S612005 A JPS612005 A JP S612005A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- slider body
- probe
- detector
- scale
- scale reading
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/06—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
- G01B11/0608—Height gauges
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は定盤上に置かれた被測定物の各部の高さ、位
置等をディジタルスケールによって測定するハイトゲー
ジに係るもので、特に定盤上で穴や軸の上下方向の直径
寸法を簡単な操作により、高精度で測定可能としたもの
である。
置等をディジタルスケールによって測定するハイトゲー
ジに係るもので、特に定盤上で穴や軸の上下方向の直径
寸法を簡単な操作により、高精度で測定可能としたもの
である。
一般に固定プローブ、あるいはレバータイプのプローブ
を穴や軸の直径方向の測定点に接触させ、その座標値か
ら直径を求めるような場合、プローブの接触点を穴や軸
の直径に相当するセンターライン上に正確に合わせる必
要があり、２つの接触点がセンターラインからずれると
測定値に対する誤差の介入が避けられないが、実際には
、この操作は非常に困難で、再現性のよい、信頼性の高
い直径寸法の測定ができないという問題があった。
を穴や軸の直径方向の測定点に接触させ、その座標値か
ら直径を求めるような場合、プローブの接触点を穴や軸
の直径に相当するセンターライン上に正確に合わせる必
要があり、２つの接触点がセンターラインからずれると
測定値に対する誤差の介入が避けられないが、実際には
、この操作は非常に困難で、再現性のよい、信頼性の高
い直径寸法の測定ができないという問題があった。
この発明はプローブの移動を２重スライド機構とし、か
つ、測定値の処理回路を設けることによって、簡単な測
定操作で、直径寸法を高精度で、しかも、迅速に測定可
能とする装置を提供するものである。
つ、測定値の処理回路を設けることによって、簡単な測
定操作で、直径寸法を高精度で、しかも、迅速に測定可
能とする装置を提供するものである。
以下、図面を参照に本発明の一実施例について説明する
。第１図、第２図において、定盤上に置かれるベース１
に対して垂直に柱部２を立設し柱部２に対して、上下動
可能にスライグ本体７を突出して設ける。柱部２の前面
に位置して上下動するこのスライダ本体７は、その左右
両側にたいこ型ベアリング８．９．１０を有し、このベ
アリングの外周は柱部側面に設けられた上下案内溝に嵌
め込まれ、これによってスライダ本体７は上下動のみ可
能とされている。スライダ本体７の上下動はモータＭに
よる自動駆動機構によって行なわれる。
。第１図、第２図において、定盤上に置かれるベース１
に対して垂直に柱部２を立設し柱部２に対して、上下動
可能にスライグ本体７を突出して設ける。柱部２の前面
に位置して上下動するこのスライダ本体７は、その左右
両側にたいこ型ベアリング８．９．１０を有し、このベ
アリングの外周は柱部側面に設けられた上下案内溝に嵌
め込まれ、これによってスライダ本体７は上下動のみ可
能とされている。スライダ本体７の上下動はモータＭに
よる自動駆動機構によって行なわれる。
柱部２には、その上下位置にブーＩ７４．５を設け、こ
れにスチールの平ベルト６をかける。
れにスチールの平ベルト６をかける。
このベルト６の一端はスライダ本体７の上端に、他端は
引っ張りばね１１を介してスライダ本体７の下端に固定
されており、下のプーリ′５をモータＭによって正逆回
転し、スライダ本体７を上下動させる。なお、ベルト６
のスライダ本体７の反対側にはカウンターウェイト１６
を取り付け、スライダ本体７が軽く上下動し、がっ、ど
こででも重力の平衡状態を保って停止可能とする。
引っ張りばね１１を介してスライダ本体７の下端に固定
されており、下のプーリ′５をモータＭによって正逆回
転し、スライダ本体７を上下動させる。なお、ベルト６
のスライダ本体７の反対側にはカウンターウェイト１６
を取り付け、スライダ本体７が軽く上下動し、がっ、ど
こででも重力の平衡状態を保って停止可能とする。
スライダ本体７には垂直に２本の案内ロッド１２．１３
を立て、プローブ３を保持するスケール読取ヘッド１４
を上下動自在に嵌め込み、スライダ本体７の下の突出部
１５とスケール読取へラド１４との間に反発ばね１７を
入れ、スケール読取へラド１４はスライダ本体７の中間
位置に重量バランスを取って位置するようにする。また
、柱部２のスライダ本体７に面する側に直線型ディジタ
ルスケール１８を垂直に取り付ける。
を立て、プローブ３を保持するスケール読取ヘッド１４
を上下動自在に嵌め込み、スライダ本体７の下の突出部
１５とスケール読取へラド１４との間に反発ばね１７を
入れ、スケール読取へラド１４はスライダ本体７の中間
位置に重量バランスを取って位置するようにする。また
、柱部２のスライダ本体７に面する側に直線型ディジタ
ルスケール１８を垂直に取り付ける。
一方、スライダ本体７とスケール読取ヘッド１４との間
には第３図、第４図に示すように、その関係位置を検出
して、位置に係る信号を発信する検出機構を設ける。す
なわち、スライダ本体７の側面に、狭い隙間をもって３
組の投光、受光検出器２０．２１．２２を等間隔に上下
方向−線上に設ける。一方、スケール読取へ？ド１４に
は遮蔽＠２３を検出器２０．２１．２２の投、受光素子
の隙間に挿入するように取り付ける。ここで遮蔽板２３
には、第４図に示すように、二つの突出部２４．２５が
設けられ、スケール読取ヘッド１４の上下動によって突
出部２４．２５は検出器の光路を遮断、または開通状態
とする。なお、検出器は光を遮断されることにより制御
信号を発する回路とし□、上下の捻出器２０，２２はス
ライダ本体７の上下動の停止信号を発信する。すなわち
、スライダ本体７の上下駆動用モータＭを停止させる。
には第３図、第４図に示すように、その関係位置を検出
して、位置に係る信号を発信する検出機構を設ける。す
なわち、スライダ本体７の側面に、狭い隙間をもって３
組の投光、受光検出器２０．２１．２２を等間隔に上下
方向−線上に設ける。一方、スケール読取へ？ド１４に
は遮蔽＠２３を検出器２０．２１．２２の投、受光素子
の隙間に挿入するように取り付ける。ここで遮蔽板２３
には、第４図に示すように、二つの突出部２４．２５が
設けられ、スケール読取ヘッド１４の上下動によって突
出部２４．２５は検出器の光路を遮断、または開通状態
とする。なお、検出器は光を遮断されることにより制御
信号を発する回路とし□、上下の捻出器２０，２２はス
ライダ本体７の上下動の停止信号を発信する。すなわち
、スライダ本体７の上下駆動用モータＭを停止させる。
なお、この信号は後述する演算回路のスイッチを開閉制
御する信号としても用いられる。中央の検出器２１はス
ケール読取信号を取り込む指令を出すものである。この
検出器２１）二対する突出部２４．２５の上下方向の幅
は受光素子の幅よりいくらかの余裕のある幅を持たせて
、この幅で遮断されている限り、データの取り込みが持
続される。データの取り込みは第７図に示す要領に、よ
って行なわれ、後述の回路によって処理・表示される。
御する信号としても用いられる。中央の検出器２１はス
ケール読取信号を取り込む指令を出すものである。この
検出器２１）二対する突出部２４．２５の上下方向の幅
は受光素子の幅よりいくらかの余裕のある幅を持たせて
、この幅で遮断されている限り、データの取り込みが持
続される。データの取り込みは第７図に示す要領に、よ
って行なわれ、後述の回路によって処理・表示される。
なお、第２図における２７は測定寸法をディンタル表示
する表示器、２８は定盤上で本測定装置をわずかな力で
軽く、スムーズに移動させるため、ベース１を７０−テ
ィングさせるエアベアリングを示し、２９はエアベアリ
ング２８に加圧空気を供給するニアコンプレッサ、３０
はニアコンプレッサ２９及びゲイジタルスケール、光電
検出器等の電源となるバッテリーを示す。
する表示器、２８は定盤上で本測定装置をわずかな力で
軽く、スムーズに移動させるため、ベース１を７０−テ
ィングさせるエアベアリングを示し、２９はエアベアリ
ング２８に加圧空気を供給するニアコンプレッサ、３０
はニアコンプレッサ２９及びゲイジタルスケール、光電
検出器等の電源となるバッテリーを示す。
本実施例のように、ニアコンプレッサ２９および、バッ
テリー３０を測定装置（ハイトゲージ）に搭載せしめる
ことにより、外部からの配線、配管が不要となり、作業
性が極めて良好となる。
テリー３０を測定装置（ハイトゲージ）に搭載せしめる
ことにより、外部からの配線、配管が不要となり、作業
性が極めて良好となる。
以上のように構成された本測定装置による穴の直径測定
の操作の内容を第７図によって説明する。まず、セット
された被測定物の穴の内部 。
の操作の内容を第７図によって説明する。まず、セット
された被測定物の穴の内部 。
にプローブ３を挿入する。これをＡ位置とする。
このとき、Ａは通常、上下方向の直径位置を示す線Ｘか
ら、わずかにずれた位置にある。次に、測定装置をその
ままの位置において、そ−タＭを始動させてスライダ本
体７を下降させると、接触子３は穴の円周のＢ点に当た
り、スケール読取へラド１４は停止するが、スライダ本
体７は下降を続けて、第５図に示す状態となり、中央の
検出器２１は突出部２５により遮断されで、スケールの
読取値の取り込みが開始される。これと共に上の検出器
２０は上の突出部２４により閉ざされて、スライダ本体
７の下降は停止させられるここで、ｔＪ＆６図のスイッ
チＳ１は下の端子に入って、読取値は最小値記憶回路に
入る。ついで、測定装置をエアベアリングによってわず
かに浮上させ、第７図において右方向に移動させると接
触子３は円周に沿って、上下方向直径位置の０点を通る
ので任意の点りまで移動させる。なお、この間スライダ
本体７は停止状態を持続し。
ら、わずかにずれた位置にある。次に、測定装置をその
ままの位置において、そ−タＭを始動させてスライダ本
体７を下降させると、接触子３は穴の円周のＢ点に当た
り、スケール読取へラド１４は停止するが、スライダ本
体７は下降を続けて、第５図に示す状態となり、中央の
検出器２１は突出部２５により遮断されで、スケールの
読取値の取り込みが開始される。これと共に上の検出器
２０は上の突出部２４により閉ざされて、スライダ本体
７の下降は停止させられるここで、ｔＪ＆６図のスイッ
チＳ１は下の端子に入って、読取値は最小値記憶回路に
入る。ついで、測定装置をエアベアリングによってわず
かに浮上させ、第７図において右方向に移動させると接
触子３は円周に沿って、上下方向直径位置の０点を通る
ので任意の点りまで移動させる。なお、この間スライダ
本体７は停止状態を持続し。
Ｂ−Ｄ点のスケール読取値の取り込みが行なわれ、その
最小値、すなわち０点の値が記憶される。
最小値、すなわち０点の値が記憶される。
次に、穴の上部内周面のＦ点の測定操作を行なう。モー
タＭを始動させ、スライダ本体７、すなわちプローブ３
を上昇させる。このとき、検出器２２の光は遮断されて
いないのでスライダ本体７の上昇運動は支障なく行なわ
れる。この場合、まず、プローブ３がＥ位置で円周に接
触して、スケール読取ヘッド１４は停止するが、スライ
ダ本体７は上昇を続行し、突出部２４が中央の検出器２
１の光路を断ち、２５は下の検出器２２の光路を遮断す
る。そこで、スライダ本体７の上昇は停止される。この
とき、プローブ３はスプリング１７によって円周に押し
付けられている。
タＭを始動させ、スライダ本体７、すなわちプローブ３
を上昇させる。このとき、検出器２２の光は遮断されて
いないのでスライダ本体７の上昇運動は支障なく行なわ
れる。この場合、まず、プローブ３がＥ位置で円周に接
触して、スケール読取ヘッド１４は停止するが、スライ
ダ本体７は上昇を続行し、突出部２４が中央の検出器２
１の光路を断ち、２５は下の検出器２２の光路を遮断す
る。そこで、スライダ本体７の上昇は停止される。この
とき、プローブ３はスプリング１７によって円周に押し
付けられている。
一方、第６図のスイッチＳ１は上方の端子に切り換えら
れて、読取値は最大値記憶回路に入る。
れて、読取値は最大値記憶回路に入る。
ついで、測定装置を第７図で左方に、プローブ３が上下
直径位置Ｆ点を通過するＧ点まで移動させる。このとき
、Ｅ−Ｇ点間の最大値が記憶され最大値（Ｆ点における
高さ寸法値）−最小値（０点における高さ寸法値）が演
算されて、穴の直径として表示される。
直径位置Ｆ点を通過するＧ点まで移動させる。このとき
、Ｅ−Ｇ点間の最大値が記憶され最大値（Ｆ点における
高さ寸法値）−最小値（０点における高さ寸法値）が演
算されて、穴の直径として表示される。
なお、軸の外径寸法も同様の操作によって測定可能であ
り、穴や軸相互間の偏心量の測定、面の真直度、平面度
等の測定にも前記要領に準じて利用することができる。
り、穴や軸相互間の偏心量の測定、面の真直度、平面度
等の測定にも前記要領に準じて利用することができる。
以上の説明においては、位置の検出機構の検出部として
光電検出器を例にして説明したがこれはリミットスイッ
チと突出片とによって行なうことも出来る。
光電検出器を例にして説明したがこれはリミットスイッ
チと突出片とによって行なうことも出来る。
また、本実施例では、スライダ本体の上下動をモータ駆
動とし、バッテリー、ニアコンプレッサを搭載したエア
ベアリングによる滑動方式を示したが、ハイトゲージが
小型、軽量等の場合には、これらの一部または全部を廃
止しても、はぼ同等の効果を上げることができる。
動とし、バッテリー、ニアコンプレッサを搭載したエア
ベアリングによる滑動方式を示したが、ハイトゲージが
小型、軽量等の場合には、これらの一部または全部を廃
止しても、はぼ同等の効果を上げることができる。
以上説明したように本願発明によれば、従来、極めて困
難とされできた定盤上における穴や軸の直径寸法および
偏心量、面の真直度、平面度等の測定を簡単な構成によ
り、高精度で、しかも能率よく測定できるようにした作
業性のすぐれたハイドゲージを得ることができる。
難とされできた定盤上における穴や軸の直径寸法および
偏心量、面の真直度、平面度等の測定を簡単な構成によ
り、高精度で、しかも能率よく測定できるようにした作
業性のすぐれたハイドゲージを得ることができる。
第１図は本発明の実施例のノ）イトゲージの正面図、第
２図は第１図■−■線矢視図、第３図はスライダ本体の
例を示す正面図、第４図はそのＩＶ−ＩＶ線矢視図、第
５図は前記スライダ本体の作動状態説明図、第６図は演
算表示回路例のブロック図、第７図は測定操作説明図。 １：ベース ２：柱部 ３ニブローブ７；スライダ
本体 １２．１３；垂直案内ワンド１４ニスケール読
取ヘッド １８ニスケール２０．２１．２２：光電検
出器 ２３：遮蔽板２４．２５：突出部
２図は第１図■−■線矢視図、第３図はスライダ本体の
例を示す正面図、第４図はそのＩＶ−ＩＶ線矢視図、第
５図は前記スライダ本体の作動状態説明図、第６図は演
算表示回路例のブロック図、第７図は測定操作説明図。 １：ベース ２：柱部 ３ニブローブ７；スライダ
本体 １２．１３；垂直案内ワンド１４ニスケール読
取ヘッド １８ニスケール２０．２１．２２：光電検
出器 ２３：遮蔽板２４．２５：突出部
Claims (1)
- 直線型ディジタルスケールを用いるハイトゲージにおい
て、直立柱部に沿って上下動可能のスライダ本体と、ス
ライダ本体に対して上下動可能であって、プローブを保
持し、スライダ本体に対してその中間位置で重量バラン
スを取るスケール読取ヘッドと、スライダ本体とスケー
ル読取ヘッドとの上下動位置規制信号およびスケール読
取ヘッドの寸法値の取り込み規制信号とを発信する位置
検出機構と、読取値の最大値記憶回路、最小値記憶回路
と、直径演算、表示回路を具備したことを特徴とするハ
イトゲージ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12310084A JPS612005A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | ハイトゲ−ジ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12310084A JPS612005A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | ハイトゲ−ジ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS612005A true JPS612005A (ja) | 1986-01-08 |
| JPH0448169B2 JPH0448169B2 (ja) | 1992-08-06 |
Family
ID=14852194
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12310084A Granted JPS612005A (ja) | 1984-06-15 | 1984-06-15 | ハイトゲ−ジ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS612005A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62116201A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-27 | ハンス メイヤ− | 高さ測定装置 |
| JPS62261915A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-14 | テサ エス ア− | 寸法測定装置 |
| JP2000213928A (ja) * | 1999-01-20 | 2000-08-04 | Mitsutoyo Corp | 円測定装置および極限値検出装置 |
| JP2010008277A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Kuroda Precision Ind Ltd | 可変端度器 |
-
1984
- 1984-06-15 JP JP12310084A patent/JPS612005A/ja active Granted
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62116201A (ja) * | 1985-11-12 | 1987-05-27 | ハンス メイヤ− | 高さ測定装置 |
| JPS62261915A (ja) * | 1986-04-30 | 1987-11-14 | テサ エス ア− | 寸法測定装置 |
| JPH0557522B2 (ja) * | 1986-04-30 | 1993-08-24 | Tesa Sa | |
| JP2000213928A (ja) * | 1999-01-20 | 2000-08-04 | Mitsutoyo Corp | 円測定装置および極限値検出装置 |
| JP2010008277A (ja) * | 2008-06-27 | 2010-01-14 | Kuroda Precision Ind Ltd | 可変端度器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0448169B2 (ja) | 1992-08-06 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR900003748B1 (ko) | 독립선형 크기 측정 장치용 감지장치 | |
| US5148612A (en) | Apparatus for measuring distances on a workpiece, and sliding gage designed for the digital measurement of such distances | |
| JPS612005A (ja) | ハイトゲ−ジ | |
| EP0063220B1 (en) | Device for measuring the unbalance of an object | |
| JPH0345321B2 (ja) | ||
| CN111998805B (zh) | 一种半导体设备的载具及平行度检测方法 | |
| JPH0431532B2 (ja) | ||
| US7051449B2 (en) | Coordinate measuring device | |
| CN209263848U (zh) | 一种精密微型货架检测设备 | |
| JPS62265520A (ja) | ２つの検出子を備えた三次元測定機 | |
| CN114234895A (zh) | 一种用于建筑工程的平面度检测设备及其使用方法 | |
| JPS60144601A (ja) | 多次元測定機 | |
| JP2002131010A (ja) | 粉末焼結体の高さ検査装置 | |
| CN221037195U (zh) | 一种滑块滚道的精度检测装置 | |
| KR200223563Y1 (ko) | 간극측정장치 | |
| JP2009226440A (ja) | プレス機検査装置 | |
| CN212723199U (zh) | 一种电器检测设备 | |
| JPH056487Y2 (ja) | ||
| JPH0353111A (ja) | 測定装置 | |
| JPS61277001A (ja) | ハイトゲ−ジ | |
| JP2905412B2 (ja) | はさみゲージ検査器 | |
| JPS5870101A (ja) | 曲率半径測定装置 | |
| CN106679545A (zh) | 平行度检测规及其操作方法 | |
| JPH0511447Y2 (ja) | ||
| CN115773838A (zh) | 一种可调节推力检测设备及调节方法 |