JPH044751U - - Google Patents

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JPH044751U
JPH044751U JP4394190U JP4394190U JPH044751U JP H044751 U JPH044751 U JP H044751U JP 4394190 U JP4394190 U JP 4394190U JP 4394190 U JP4394190 U JP 4394190U JP H044751 U JPH044751 U JP H044751U
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semiconductor
marking
defective
measuring
characteristic
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【図面の簡単な説明】
第1図は本考案に係る半導体製造装置の正面図
、第2図は不良マークが付された半導体ペレツト
を含む半導体ウエーハの平面図、第3図は本考案
の変形例の装置を示す正面図、第4図は変形例の
装置によつて不良マークが付された半導体ペレツ
トを含む半導体ウエーハの平面図である。第5図
は従来の半導体製造装置の正面図、第6図は従来
の不良マークが付された半導体ペレツトを含む半
導体ウエーハの平面図である。 2……半導体ウエーハ、3……半導体ペレツト
、4……特性測定装置、14……マーキング装置
、17……不良マーク。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 半導体ウエーハに多数個形成された半導体ペレ
    ツトの特性測定装置と、 前記特性測定装置の検出した特性不良の内容に
    応じて、形態の異なる不良マークを、不良半導体
    ペレツトに付するマーキング装置とを具備したこ
    とを特徴とする半導体製造装置。
JP4394190U 1990-04-23 1990-04-23 Pending JPH044751U (ja)

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JP4394190U JPH044751U (ja) 1990-04-23 1990-04-23

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JP4394190U JPH044751U (ja) 1990-04-23 1990-04-23

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JPH044751U true JPH044751U (ja) 1992-01-16

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JP4394190U Pending JPH044751U (ja) 1990-04-23 1990-04-23

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