JPH0440794B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明はヘツド位置を可変とし、データ読出し
（READ）のための再試行を行なう磁気デイスク
制御装置に関する。

〔発明の技術的背景とその問題点〕

計算機システムの外部記憶として使用される磁
気デイスク装置は近年増々高速・大容量化の傾向
にあり、それに比例して高信頼性のものが要求さ
れてきている。特に磁気デイスク装置はフアイル
システムの中核として位置付けされるのが普通
で、システムの信頼性にも大きく影響してくる。
このため、種々のエラー回避手段が講じられてい
る。

上記エラー回避手段の一つとして、磁気デイス
ク装置にデータを書込む場合、データと一緒にデ
ータチエツク用の情報を書込み、読出し時にその
データが正しく読出せたか否かチエツクする方式
が存在する。このチエツク方式はCRC方式
（Cycle Redundancy Check）とかECC（Error
Correction and Check）として従来より周知で
ある。もしも、CRC方式でデータ読出しエラー
が発見された場合、もしくはECC方式でエラー
訂正不可能なエラーが発見された場合は何度か再
読出しを行なつている。これを再試行（リトラ
イ）と称し以下に説明する。

ところが従来、磁気デイスク装置は、データを
読出すためのヘツド（書込みヘツドと読出しヘツ
ドは一緒に固定されている）位置が移動可能とな
つており、ノーマルな状態で再試行を行ない、も
しもエラーが発生した場合はヘツドの位置を変え
て行なうことが出来るようになつている。

第１図に、従来の磁気デイスク装置の再読出し
の際に移動できるヘツド位置を概念的に示す。図
において、１は磁気デイスク円板、２は何本かあ
る内のあるトラツク、ａ〜ｈはリード／ライトヘ
ツドの移動方向を示す。図より、ヘツドの位置移
動ができる範囲はａ〜ｈ（位置）の８ケ所存在す
ることがわかる。ｉ点はノーマル状態での位置で
ある。ｅはａとｃ、ｆはｂとｃ、ｇはａとｄ、ｈ
はｄとｂの組合せである。ｃとｄは実際にはヘツ
ドの位置を物理的に移動するのではなく、読出す
タイミングをｃは遅く、ｄは早くすることにより
成される。ノーマルな状態ｉで何回か再試行後、
それでもエラーが生じる場合は、例えばａ・ｂ・
ｃ・ｄ・ｅ・ｆ・ｇ・ｈの順に常に同じ順序で再
試行を繰返すのが従来方式であつた。

ところで上記磁気デイスク装置において、エラ
ーのための再試行時、ヘツドの位置を変えること
により成功する様な場合、読出しヘツドに対して
書込みデータがどちらかにズレている場合に発生
する。しかもそのズレ方向も同一方向の場合が多
い。従つて一度成功したヘツド位置から再試行を
行なえば、一回の実行により成功する確率が高く
処理速度の向上が期態できる。

〔発明の目的〕

本発明は上記事情に基づいてなされたものであ
り、上記再試行の順序ａ〜ｈを以前再試行した際
成功した位置を記憶しておき、読出しエラー発生
時以前に成功した位置から再試行を開始すること
により再試行成功の確率を高め、処理速度の向上
をはかつた磁気デイスク制御装置を提供すること
を目的とする。

〔発明の概要〕

本発明は移動可能なリード／ライトヘツドを持
つ磁気デイスク装置において、再試行を行なう
際、成功した場合のヘツド位置を記憶しておき、
次の再試行時上記記憶された再試行位置より動作
を再開することを特徴とするものである。

これにより、一度成功したヘツド位置から再試
行を行なうことが出来、１回の再試行により成功
する確率が高くなるため処理速度の向上がはかれ
る。

〔発明の実施例〕

以下、第２図以降を使用して本発明に関し詳細
説明を行なう。

第２図は本発明実施例を示す回路図であり、詳
しくは本発明が実現される磁気デイスク制御装置
のうちの一部回路を示す。図において、２１はシ
フトレジスタである。該シフトレジスタ２１は出
力ａ〜ｈのいずれか１個を出力するもので、初期
状態ではａのみ出力する様にしておく。シフトレ
ジスタ２１にはローテートシフト指示信号
（SFT）が２０１を介し、そして再試行指示信号
（RTY）がライン２０２、フリツプフロツプ２
２、ライン２０３を介して供給される。上記信号
SFT・RTYは磁気デイスク装置を制御する主制
御部（図示せず）から出力される。

フリツプフロツプ２２は再試行指示のために主
制御部によりセツト／リセツトされ、その出力
（ライン２０３を伝播する信号）はシフトレジス
タ２１の内容の出力イネーブル信号となる。２３
〜２６は３入力のオアゲートである。オアゲート
２３にはシフトレジスタ２１のａ・ｅ・ｇ出力
が、オアゲート２４にはシフトレジスタ２１の
ｂ・ｆ・ｈ出力が、オアゲート２５にはシフトレ
ジスタ２１のｃ・ｅ・ｆ出力が、オアゲート２６
にはシフトレジスタ２１のｄ・ｇ・ｈ出力が入力
として供給され、それぞれヘツド移動を行なわせ
る信号a′・b′・c′・d′として磁気デイスク装置
（図示せず）へ供給される。

尚、図中矢印はシフトレジスタ２１のシフト方
向を示し、且つライン２０４を伝播する信号はｈ
出力であつて、ｈの次にａを出力するための信号
となる。

第３図は本発明の動作を示すフローチヤートで
ある。

以下、本発明の動作につき第２図を参照しなが
ら詳細に説明する。

上述したように初期状態においてはシフトレジ
スタ２１の出力ａのみがオアゲート２３を介して
出力a′され、磁気デイスク装置に対しヘツド移動
信号として供給される。

読出し動作時、エラーが発生し、再試行を行な
う場合、主制御部はライン２０２を介してRTY
信号を発し、フリツプフロツプ２２をセツトし、
リトライイネーブル信号を出力する。最初はａの
状態で再試行がなされる。もしもａの状態で再試
行が成功しなかつた場合、主制御部はシフトレジ
スタ２１に対しSFT信号をライン２０１を介し
出力し、ｂが出力されるようにする。そして再び
再試行がなされる。この様に順次再試行を行な
い、例えばＣの位置で再試行が成功したら、その
ときのシフトレジスタ２１の状態を保持してお
く。再びエラーが発生した場合、今度はシフトレ
ジスタ２１がｃの状態で再試行を行なう様にな
る。

第３図のフローチヤートを使用して上記主制御
部による再試行指示動作を詳述する。まず、ステ
ツプ３０１ではシフトレジスタ２１のシフト回数
を計数するカウンタＮをクリアしている。ステツ
プ３０２ではＮが“８”かどうかをチエツクし、
ステツプ３０３でリトライイネーブル信号を発し
磁気デイスク装置のヘツドを移動させる様指示し
ている。そして、ステツプ３０４は、ヘツド移動
状態での再試行を行なう。次に、ステツプ３０５
にて上記３０４で得られた結果をチエツクし、そ
の結果エラーであることを認識するとステツプ３
０６にてシフトレジスタ２１を１回シフトし、上
記カウンタＮを更新（＋１）し、ステツプ３０２
へ戻る。

尚、本発明実施例では、再試行が成功したとき
のヘツド位置を記憶しておく手段としてシフトレ
ジスタを例示したが、これに限ることなくフアー
ムウエアにより読出し／書込み可能なレジスタを
設けても良い。通常、磁気デイスク装置の制御は
フアームウエアが介入するので上述したａ〜ｈを
フアームウエアに記憶させる様にすれば本発明は
簡単に実現できる。又、本発明は移動可能なリー
ド／ライトヘツドを持つた記憶装置全般に応用可
能であつて、更に電圧マージンを印加する場合も
例えば±５ボルト、±12ボルト等種々の組合せの
ある場合も有効である。

〔発明の効果〕

磁気デイスク装置において、エラーによる再試
行時、ヘツド位置を変えることにより成功する様
な場合、読出しヘツドに対して書込みデータがど
ちらかにズレていることにより発生するのがほと
んどである。しかもそのズレの方向も同一方向で
ある場合が多い。従つて本発明によれば、一度成
功したヘツド位置から再試行を行なうことが出
来、１回の再試行で成功する確率が高くなるため
処理速度が向上する。

【図面の簡単な説明】

第１図は移動可能なリード／ライトヘツドを持
つ磁気デイスク装置のヘツド位置を概念的に示し
た図、第２図は本発明の実施例を示す回路図、第
３図は本発明の動作を示すフローチヤートであ
る。 ２１……シフトレジスタ、２２……フリツプフ
ロツプ、２３〜２６……オアゲート。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 移動可能なリード／ライトヘツドを持つ磁気
   デイスク装置のデータ読出しのための再試行を行
   なう磁気デイスク制御装置であつて、 上記再試行が成功したときのヘツド位置を記憶
   するヘツド位置記憶手段を具備し、再び再試行を
   行なう必要が生じた場合、上記ヘツド位置記憶手
   段に記憶された上記ヘツド位置より上記再試行の
   動作を開始するように上記リード／ライトヘツド
   を制御することを特徴とする磁気デイスク制御装
   置。