JPH04372151A - 搬送装置 - Google Patents

搬送装置

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JPH04372151A
JPH04372151A JP3175979A JP17597991A JPH04372151A JP H04372151 A JPH04372151 A JP H04372151A JP 3175979 A JP3175979 A JP 3175979A JP 17597991 A JP17597991 A JP 17597991A JP H04372151 A JPH04372151 A JP H04372151A
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electrode parts
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Teruo Asakawa
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は例えば半導体ウエハを搬
送するための搬送装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体ウエハの処理工程においては、真
空雰囲気内でウエハを搬送する場合がある。例えばイオ
ン注入処理装置では、真空処理室内の注入ディスク上の
プラテンとロードロック室との間で搬送アーム等により
ウエハが搬送される。
【0003】ところで真空雰囲気内ではウエハを保持す
るにあたって真空吸着を用いることができないため、従
来例えば摩擦係数の大きなラバー等を使用してスリップ
を防止する方法、あるいは機械的な当り面をウエハの周
囲に設けてウエハの脱落を防止する方法等が採用されて
いた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらラバー等
を用いる場合には、ラバーの汚れがウエハに付着するし
、これら材料自体からの発塵や化学的なコンタミネーシ
ョン等も問題になる他、加速度や振動が大きくなるとウ
エハが位置ずれを起こし、場合によっては脱落のおそれ
もある。
【0005】また機械的な当り面を設けた場合には、当
り面内の許容範囲内でウエハが動き、これにより発塵や
損傷のおそれがある他、アームの先端部が厚くなり、ウ
エハキャリア等の狭いピッチの領域に対するアクセス能
力が落ちるという問題もある。
【0006】本発明はこのような事情のもとになされた
ものであり、その目的は、例えば真空雰囲気内において
ウエハ等の被搬送物を確実に搬送することのできる搬送
装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明は、被搬送物を保
持部に保持した状態で搬送する装置において、  前記
保持部に設けられ、被搬送物を静電吸着するための誘電
体よりなる吸着層と、前記吸着層の表面より下方位置に
て、当該吸着層の面方向に互に離間して配置された複数
の電極部と、前記電極部間に電圧を印加する電源部と、
前記電極部間への電圧の印加、停止を制御する制御部と
、を有することを特徴とする。
【0008】この場合電源部を少なくとも3個以上設け
るようにし、これら電極間に多相交流を印加してもよい
【0009】そして真空雰囲気内で使用する場合には、
真空雰囲気の気圧を検出する気圧検出部と、この気圧検
出部よりの気圧検出値が予め定められた範囲内にあると
きには、電極部間への電圧の印加を禁止するインターロ
ック部とを設けるようにしてもよい。
【0010】
【作用】例えば搬送アームの保持部がロードロック室内
のウエハを受け取る際に電極部間に直流または交流電圧
を印加すると、導電体であるウエハが静電力により吸着
される。そして例えば電極部を3つ設けてこれらの間に
三相交流電圧を印加すると常にいずれかの電極部間に零
以上の電圧が印加されているためウエハが保持部に強固
に保持される。
【0011】またウエハを所定位置に載置する際に電圧
印加を停止すると、直流電圧により駆動されている場合
には誘電分極の程度に応じて若干の保持の解除に時間が
かかるが、交流電圧により駆動されている場合には吸着
層の誘電分極が軽微であるためウエハは保持部から速や
かに離脱する。
【0012】この場合真空雰囲気内の気圧が真空放電を
起こしやすい領域内にあればインターロック部により電
圧印加が禁止されるので配線接続部などにおける放電短
絡事故を防止できる。
【0013】
【実施例】以下本発明の実施例を、例えば被処理物とし
てのウエハを真空処理するための真空処理室内にて使用
する場合を例にとって説明すると、図1中1は、ウエハ
の搬送アーム2の先端部に設けられたウエハ保持部であ
る。
【0014】以下本発明を例えば被処理体としてのウエ
ハを真空処理室内にて搬送する搬送アームに適用した実
施例について説明する。図1中1は、搬送アーム2の先
端部に設けられたウエハ保持部でありこのウエハ保持部
1は図2に示すように例えば1〜2mm程度の薄い板状
の例えばセラミックなどの誘電体により構成されている
。前記ウエハ保持部1内には、ウエハ保持部1の長さ方
向に沿って分割された3つの電極部としての電極層4A
、4B、4Cがウエハ保持部1の表面から例えば200
μm程度の深さの位置に埋設されている。この例では電
極層4A〜4Cの上方に位置する部分が吸着層3に相当
する。
【0015】ここで前記電極層4A〜4Cには、夫々端
子41A〜41Cが設けられており、これら端子41A
〜41Cは、電気的には夫々三相スイッチ部5を介して
三相交流電源部6のU、V、W相に接続されている。
【0016】ここで前記各端子41A〜41Cから三相
スイッチ部5に至るまでの具体的な配線の一例に関して
図2及び図3を参照しながら説明すると、この例では、
搬送アーム2が第1〜第3のアーム21〜23よりなる
多関節アームとして構成されており、第3アーム23は
基台24に対して回動自在に取り付けられている。また
基台24と第3アーム23との接合部には、基台24に
対して固定された固定プーリP1が設けられると共に、
第1アーム21と第2アーム22との関節部には、第1
アーム21に対して固定された固定プーリP2が設けら
れている。更に第2アーム22と第3アーム23との間
には、これらアーム22、23に対して回動自在な回動
プーリP3が設けられている。
【0017】そして回動プーリP3を例えば上下2段に
分割しかつ互いに連動する構造とし三相交流の電流路を
なす例えば第1のフレキシブルプリントサーキット(F
PC)71の一端及び他端を夫々固定プーリP2及び回
動プーリP3の上段側の部分P31に固定すると共に、
(図3の(A)参照)第2のFPC72の一端及び他端
を夫々回動プーリP3の下段側の部分P32及び固定プ
ーリP1に固定し、(図3の(B)参照)、第1のFP
C71及び第2のFPC72の間を回動プーリP3の軸
部内を貫通して接続する。ただしFPCは概念上分割し
て説明したが実際には1本のものでも構成できる。なお
固定プーリP1側のFPC72の端部は、例えば基台2
4の軸部の中を通って外部の三相スイッチ部5に接続さ
れる。
【0018】一方第1のアーム21においては、一端が
固定プーリP2にてFPC71に接続された三相交流配
線7がアーム21の裏面に沿って設けられ、この三相交
流配線7の他端側の芯線は、アーム21の裏面に突出し
ている前記端子41A〜41Cに接続されている(図2
参照)。
【0019】このような配線方法によれば、搬送アーム
2の長さ方向に沿ってウエハWを並行に搬送する場合、
回動プーリP3は第1のFPC71及びFPC72によ
って自転が制限され、例えばアームを縮退させる場合、
FPC71、72は、例えば固定プーリP1、P2から
ほどけると共に回動プーリP3に巻き付くことになるか
ら、FPC71、72に弛みが生じないなどの利点があ
る。
【0020】一方この実施例では、搬送装置本体が設置
される真空処理室内に、気圧検出部81が設けられてお
り、例えばイオン注入処理全体をコントロールするコン
トローラ82よりの指令と気圧検出部81の検出結果と
を入力条件とするインターロック部9の出力によって、
前記三相スイッチ部5のオン、オフ制御が行われる。
【0021】前記インターロック部9は、気圧検出部8
1の気圧検出値が所定範囲のときに例えば論理「0」の
ロック指令を出力する比較部91と、この比較部91よ
りの指令とコントローラ82よりの指令とを入力条件と
するアンド回路92とから構成されている。この処理は
もちろんソフトウエアによっても行なうことが可能であ
る。
【0022】ここで上述の気圧検出値の「所定範囲」と
は、真空放電を起こす領域であり、この例では三相交流
配線7の芯線と端子41A〜41Cとの接続部が真空雰
囲気内に露出しているため、例えばこの接続部が真空放
電を起こす領域を予め見い出しておいて、インターロッ
クのかかる気圧範囲として設定しておけばよい。
【0023】即ち前記端子41A〜41C間に例えば2
KVの交流電圧を印加する場合、大気圧中ではこれらの
間においては放電しないよう、充分な間隔が確保できる
が、真空引きによりある気圧範囲を通過する間は極めて
真空放電が起こり易くなり、一般に電極間隔では対処で
きない。更に真空引きをしてある気圧以下になると真空
放電が起こらなくなる。この気圧範囲は印加電圧の大き
さなどによって変わるため、実際に使用する条件下で放
電領域を測定しておき、これらの範囲内でインターロッ
クが機能するように設定すればよい。
【0024】次に上述実施例の作用について述べる。今
搬送アーム2が図示しないイオン注入装置のロードロッ
ク室内にウエハを取りにいき、ウエハ保持部1の上にウ
エハWが載ったとすると(図2の状態)、コントローラ
82から三相スイッチ部5のオン指令が出力される。
【0025】一方気圧検出部81よりの気圧検出値が設
定範囲の外であれば、比較部91の出力から論理「1」
の信号が出力され、この結果インターロックが作用する
ことなく、前記コントローラ82からのオン指令が三相
スイッチ部5に与えられ、三相スイッチ部5がオン状態
となる。この結果電源部6から電極層4A〜4C間に夫
々三相交流の相間電圧が印加される。これによって導電
体であるウエハWとの間に静電力が作用してウエハWが
吸着層3に静電吸着される。
【0026】ここで電極層4A〜4Cには三相交流電圧
が印加されているので、電極層4A〜4C間のいずれか
に常に電圧が印加されており、従ってウエハWには常に
静電力が作用し、ウエハWが保持部1に強固に保持され
る。
【0027】その後図3に示す基台24の回動とアーム
21〜23による保持部1の直線移動との組み合わせに
より、ウエハがイオン注入のための注入ディスク上の所
定位置に搬送され、ウエハの受け渡しの際コントローラ
82により三相スイッチ部5をオフして静電吸着を解除
する。
【0028】この場合誘電体に印加されている電圧は交
流電圧であり、このため誘電分極が進行する前に電界の
向きが変わり、誘電分極が軽微であるから、電圧印加を
停止すると、静電力は瞬時に解除される。
【0029】以上において、電極層4A〜4Cの端子4
1A〜41Cと三相交流配線7の芯線との接続部を真空
雰囲気に露出する構造とする場合、インターロック部9
を設けることなく、真空放電を起こす気圧範囲内では搬
送アームを使用しないようにしてもよいが、短絡を確実
に防止するためには、インターロック部9を設けること
が好ましい。
【0030】また本発明では、アーム2(21〜23)
の中に外部に連通する連通路を形成して、この中に三相
交流配線7を通すと共に、電極層4A〜4Cの下方側に
前記連通路の終端位置に相当する中空領域を形成し、こ
の中空領域にて、端子41A〜41Cと配線7との接続
を行えば、接続部は大気圧雰囲気にあるからインターロ
ック部9を設けなくとも短絡が起こらない。
【0031】そしてまた本発明では、上述実施例の構成
において前記接続部を完全にモールドして真空雰囲気か
ら遮断すれば、気圧に関係なく使用できるが、メンテナ
ンス性が損なわれる。そこで本実施例のように接続部を
真空雰囲気に露出するか、あるいは上述のように中空領
域にて接続を行い、更に例えばウエハ保持部1をアーム
2に対して着脱自在に取り付けるようにすれば、ウエハ
保持部1の交換等のメンテナンスを容易に行うことがで
きる。
【0032】更に本発明では、電極間に直流電圧を印加
してもよく、この場合電圧の印加を停止した後誘電分極
の程度に応じて被搬送物の保持の解除に若干時間がかか
るが、搬送に余裕のあるシステムに対しては適応するこ
とができる。
【0033】また電極間に交流電圧を印加する場合1組
の電極間に単相交流を印加するようにしてもよいし、あ
るいは2個1組の電極部間に互いに位相をずらした単相
交流電圧を各組の電極部間に印加するようにしてもよい
【0034】更にまた本発明はフレキシブルな基体部の
上に、電極層を内蔵したフレキシブルな誘電体膜を着脱
自在に貼着して、ウエハの反りを吸収できるウエハ保持
部を構成するといった手法を採用することもできる。
【0035】なお、本発明の搬送装置は、真空雰囲気に
限らず大気圧中で使用してもよい。
【0036】
【発明の効果】請求項1の発明によれば、静電吸着によ
り被搬送物を保持しているため、大気圧中であっても真
空雰囲気であっても被搬送物を強固に保持することがで
き、従って急激に加速あるいは減速しても位置ずれや脱
落が起きないので、迅速かつ確実な搬送を行うことがで
きる。しかもラバーを用いた場合のようなウエハへの汚
れの付着等のおそれもない。
【0037】そして請求項2の発明によれば、三相交流
電圧を印加するなど、少なくとも2つの電極部の間には
常に電圧を印加するようにしているため、単に単相交流
を用いた場合に比べ(この場合は零電圧が存在する)被
搬送物を強固に保持することができる。
【0038】更に請求項3の発明によれば、真空雰囲気
内で搬送装置を使用するにあたって、真空放電が起こる
気圧領域では電極部への電圧印加に対しインターロック
がかかるため、短絡を確実に防止することができるし、
また端子の接続部をモールドしたり、アーム内に封じ込
むといった構造をとることなく、真空雰囲気に露出させ
ておくことができるから、構造が簡単になる上メンテナ
ンスも容易になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例の要部の電気的接続を示す説明
図である。
【図2】本発明の実施例の要部の構造を示す断面図であ
る。
【図3】本発明の実施例の全体を示す平面図である。
【符号の説明】
1  ウエハ保持部 2  搬送アーム 3  吸着層 4A〜4C  電極層 41A〜41C  端子 6  三相交流電源 81  気圧検出部 9  インターロック部

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  被搬送物を保持部に保持した状態で搬
    送する装置において、前記保持部に設けられ、被搬送物
    を静電吸着するための誘電体よりなる吸着層と、前記吸
    着層の表面より下方位置にて、当該吸着層の面方向に互
    に離間して配置された複数の電極部と、前記電極部間に
    電圧を印加する電源部と、前記電極部間への電圧の印加
    、停止を制御する制御部と、を有することを特徴とする
    搬送装置。
  2. 【請求項2】前記電極部は少なくとも3つ設けられ、前
    記電源部は、常に前記電極部間のいずれかに零以上の電
    圧が印加されるように電極部間に電圧を印加する請求項
    1記載の搬送装置。
  3. 【請求項3】  真空雰囲気内にて被搬送物を保持部に
    保持した状態で搬送する装置において、前記真空雰囲気
    気圧を検出する気圧検出部と、この気圧検出部よりの気
    圧検出値が予め定められた範囲内にあるときには、電極
    部間への電圧の印加を禁止するインターロック部とを設
    けた請求項1記載の搬送装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006120799A (ja) * 2004-10-20 2006-05-11 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板載置台交換方法、及びプログラム
WO2011055822A1 (ja) * 2009-11-09 2011-05-12 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板搬送装置及び基板処理装置の制御方法
JP2013251240A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Nissin Ion Equipment Co Ltd イオンビーム照射装置

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006120799A (ja) * 2004-10-20 2006-05-11 Tokyo Electron Ltd 基板処理装置、基板載置台交換方法、及びプログラム
WO2011055822A1 (ja) * 2009-11-09 2011-05-12 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置、基板搬送装置及び基板処理装置の制御方法
JP5314765B2 (ja) * 2009-11-09 2013-10-16 東京エレクトロン株式会社 基板処理装置及び基板処理装置の制御方法
KR101371559B1 (ko) * 2009-11-09 2014-03-11 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 기판 처리 장치 및 기판 처리 장치의 제어 방법
JP2013251240A (ja) * 2012-06-04 2013-12-12 Nissin Ion Equipment Co Ltd イオンビーム照射装置

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