JPH04367271A - 光電変換装置の製造方法 - Google Patents

光電変換装置の製造方法

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JPH04367271A
JPH04367271A JP3169133A JP16913391A JPH04367271A JP H04367271 A JPH04367271 A JP H04367271A JP 3169133 A JP3169133 A JP 3169133A JP 16913391 A JP16913391 A JP 16913391A JP H04367271 A JPH04367271 A JP H04367271A
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JP
Japan
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conversion element
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JP3169133A
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English (en)
Inventor
Satoru Itabashi
板橋 哲
Akira Funagoshi
章 冨名腰
Shigeru Matsuda
茂 松田
Junji Omi
臣 淳二
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光電変換装置に関し、更
に詳しくは、一次元ラインセンサ上に密着させた状態で
画像読み取りに係る原稿を相対的に移動させつつ画像情
報を読み取るファクシミリ、イメージリーダ、ディジタ
ル複写機および電子黒板等の入力部に用いられる光電変
換装置の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、ファクシミリ、イメージリーダ等
の小型化、高性能化のために、光電変換装置として、等
倍光学系をもつ長尺ラインセンサの開発が行われている
。さらに、小型化、低コスト化のため等倍ファイバーレ
ンズアレイを用いずに、薄板ガラス等の透明スぺーサを
介して原稿からの反射光をセンサで直接検知する光電変
換装置が開発されている。
【0003】図8、図9は、日経エレクトロニクス19
87.11.16(no.434)207〜221頁、
或は特開昭63−226064号公報等において、我々
が提案した上述の光電変換装置を示す模式図であり、図
8は、従来の光電変換装置の光電変換素子アレイの主走
査方向から見た模式的断面図であり、図9は、光電変換
素子アレイの原稿側から見た模式的平面図である。なお
、図8は図9のA−A’断面図を示している。
【0004】図8、9に示す従来の光電変換装置では、
a−Si:Hを用いて光電変換素子部1、蓄積コンデン
サ部2、TFT部3および4、マトリクス信号配線部5
およびゲート駆動配線部6等を透光性絶縁基板10上に
簡便なプロセスにより一体的に形成している。
【0005】絶縁基板10上には、Crの第1の導電体
層24、SiN等の第1の絶縁層25、a−Si:Hか
らなる光導電性半導体層26、n+ a−Si:Hのオ
ーミックコンタクト層27、Alの第2の導電体層28
が形成されている。
【0006】更に、第2の導電層28上には、主として
光電変換素子部1およびTFT部3,4の半導体層表面
の保護安定化をはかるために、ポリイミド等の不純物イ
オン等の含有量の極めて少ない有機材料からなる保護層
(パッシベーション層)18が形成され、さらにその上
には原稿Pとの摩擦から光電変換素子等を保護するため
にマイクロシートガラス等からなる耐摩耗層8が接着層
15を介して形成されている。
【0007】図10の(A)〜(C)は、特開平1−1
−128578号公報に開示された従来の光電変換装置
の製造方法に関し、特に光電変換素子上への耐摩耗層の
貼り合わせ方法を示す工程図である。
【0008】まず、図10(A)に示すように、大判の
ガラス基板50上に光電変換素子部1及びTFT部3等
を主走査方向(図中のX方向)に1728ビット配列し
た光電変換アレイを副走査方向(図中のY方向)に複数
アレイ形成し、その上にはポリイミド樹脂からなる保護
層(パッシベーション層)18が形成されている。
【0009】次に、図10(B)に示すように、接続電
極部17以外の基板上にエポキシ樹脂からなる接着剤1
5を塗布し、薄板ガラスからなる耐摩耗層8をその上に
載せる。
【0010】そして、図10(C)に示すように、接続
電極部17側の薄板ガラスの端部から走査方向に加圧ロ
ーラーRを用いて、加圧移動させ、薄板ガラス8を光電
変換素子上に貼り合わせる。さらに、接着層15を硬化
させた後、分割ライン19に沿って切断分割し、光電変
換アレイを形成する。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来の光電変換装置において、さらなる低コスト化を目
指した場合、以下のような解決すべき課題を生じる。
【0012】光電変換装置の低コスト化を達成する一つ
の手段として、光電変換素子部等を形成した透光性基板
の副走査方向の基板幅を小さくすることが行われる。こ
の種の光電変換装置は、まず大判の透光性基板上に複数
の光電変換アレイを同時に形成し、その後、光電変換ア
レイごとに分割して、それぞれ独立したアレイ状の光電
変換装置が形成される。すなわち、光電変換素子部等を
形成した透光性基板の基板幅を小さくすると、大判の基
板に形成する光電変換アレイの数量を増加することがで
き、光電変換アレイをコストダウンすることができる。
【0013】ところが、ポリイミド等の高純度な有機材
料を保護層(パッシベーション層)として用いた従来の
光電変換装置の場合、単に基板幅を縮小することでコス
トダウンを達成しようとしても、耐湿性に問題を生じて
実現は困難である。
【0014】これは、ポリイミド等の有機材料は吸湿性
或は透水性を有するために、時間の経過とともに基板端
部から水分が侵入し、光電変換素子部或はTFT部の半
導体層を劣化させてしまうからである。
【0015】従来の光電変換装置では、基板端部から光
電変換素子部、TFT部に至るまでの領域を水分侵入領
域として広く設計することにより、基板の端部から侵入
する水分が光電変換素子部或はTFT部の半導体層へ達
するまでの時間を長く確保し、耐湿性をなんとか維持す
るだけににとどまっている。
【0016】従って、有機材料を保護層(パッシベーシ
ョン層)とする従来の光電変換装置では、基板幅を縮小
することは困難であり、さらなる低コスト化は望めない
【0017】そこで、窒化シリコン膜、あるいは酸化シ
リコン膜等の透水性をほとんど示さない無機薄膜材料を
保護層(パッシベーション層)として用いることにより
、光電変換装置の耐湿性を確保し、かつ基板幅を縮小し
てコストダウンすることも考えられている。
【0018】しかしながら、無機薄膜材料を保護層(パ
ッシベーション層)として用いる場合、図11及び図1
2に図示するような問題が生じる。図11及び図12は
、図9の光電変換装置のC−C’断面を示す。
【0019】図11は、上述した光電変換素子上への薄
板ガラスを貼り合わせる方法により光電変換装置を作製
する際に、光電変換素子上に無機薄膜材料からなる保護
層(パッシベーション層)18を形成し、接着層15を
塗布した後、薄板ガラス8をその上に載せる際に、薄板
ガラス8の端部20が保護層(パッシベーション層)1
8に激しく突き当たり、その衝撃により無機薄膜の保護
層(パッシベーション層)18が破損し、保護層(パッ
シベーション層)に亀裂21が生じた状態を示した図で
ある。
【0020】また図12は、光電変換素子上に薄板ガラ
ス8を載せ加圧接着する際に、無機薄膜の保護層(パッ
シベーション層)18が、光電変換素子部、配線部等の
段差部、あるいはAl配線部に異常成長したヒーロック
49等の部分での応力集中によって、破損して亀裂21
が生じた状態を示す図である。
【0021】パッシベーション膜に亀裂が生じると、耐
湿性が劣化し、具体的には次のような問題の発生が確認
されている。 (1)亀裂から侵入した水分が、光電変換素子部或はT
FT部の半導体層を劣化させ、光電変換装置のS/N比
を低下させる。 (2)亀裂から侵入した水分と接着層に含有されていた
不純物、例えば塩素イオン(Cl− )とが光電変換装
置内に印加されたバイアスの効果により、Al配線部を
腐食させ、ついにはAl配線部を断線させる。
【0022】従って、無機薄膜材料を保護層(パッシベ
ーション層)としただけでは、耐湿性の問題を解決でき
ないため、耐久性の確保は期待できず、光電変換装置の
さらなる低コスト化は、はなはだ困難である。
【0023】(発明の目的)そこで、本発明の目的は、
無機保護層(パッシベーション層)を用いても亀裂の発
生が無く、それにより耐湿性、耐久性を改善し、かつ小
型化によりコストダウンできる光電変換装置を実現する
ことにある。
【0024】
【課題を解決するための手段及び作用】本発明によれば
、光電変換素子上に、複数層からなる透光性保護層を設
けた光電変換装置において、無機材料から成る保護層(
パッシベーション層)上に形成された有機膜からなる衝
撃緩和層をマスクとして、前記保護層(パッシベーショ
ン層)をエッチングし、少なくともワイヤーボンディン
グパット部を露出させる工程を含むことにより、無機薄
膜の保護層の外部回路との接続に必要なワイヤーボンデ
ィングパット部をパターニングする際のマスク、レジス
ト、ホトリソ工程が不要になり、光電変換装置のさらな
る低コスト化を実現することができる。
【0025】また、本発明によれば、光電変換素子等の
半導体層上に窒化シリコン膜或は酸化シリコン膜等の無
機薄膜材料からなる保護層(パッシベーション層)を形
成し、かつ保護層(パッシベーション層)上にポリイミ
ド等の有機膜からなる衝撃緩和層を形成し、さらにその
上に薄板ガラス等からなる耐摩耗層を接着層を介して接
着することにより、光電変換素子上へ薄板ガラス等の耐
摩耗層を貼り合わせる際に、無機薄膜保護層(パッシベ
ーション層)へ加わる荷重を低減し、無機薄膜保護層(
パッシベーション層)の破損を防ぐことが可能となり、
保護層(パッシベーション層)に亀裂が生じることを防
止することができる。そのため光電変換装置の耐湿性を
充分に確保することができる。
【0026】またさらには、本発明によれば、無機薄膜
からなる保護層(パッシベーション層)の破損を防ぐこ
とが可能となるために、光電変換素子部等を形成する透
光性基板の副走査方向の基板幅を小さくすることが可能
となり、光電変換装置のさらなる低コスト化を容易に実
現することができる。
【0027】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の一実施例を
詳細に説明する。
【0028】図1は、本発明の光電変換装置の一例を示
す模式的な主走査方向断面図であり、図2は、本発明の
光電変換装置の模式的な平面図、図3は、本発明の光電
変換装置の模式的な副走査方向断面図である。
【0029】なお、図1及び図3は、それぞれ図2のA
−A’断面図、及びC−C’断面図を示す。
【0030】本実施例では、半導体層としてa−Si:
Hを用いて、光電変換素子部1、蓄積コンデンサ部2、
TFT部3および4、マトリクス信号配線部5およびゲ
ート駆動配線部6等が透光絶縁基板10上に同一プロセ
スにより一体的に形成されている。
【0031】絶縁基板10上には、Crの第1の導電体
層24、SiNの第1の絶縁層25、a−Si:Hの光
導電性半導体層26、n+ a−Si:Hのオーミック
コンタクト層27、Alの第2の導電体層28が形成さ
れている。
【0032】光電変換素子部1において、30および3
1は上層電極配線である。光源L1から照射され原稿P
で反射された信号光L’は、a−Si:Hからなる光導
電性半導体層26の導電率を変化させ、くし状に対向す
る上層電極配線30,31間に流れる電流を変化させる
。なお、32は金属の遮光層であり、適宜の駆動源に接
続して、主電極30(ソース電極あるいはドレイン電極
)および31(ドレイン電極あるいはソース電極)に対
向する制御電極(ゲート電極)となるようにしてもよい
【0033】蓄積コンデンサ部2は、下層電極配線33
と、この下層電極配線33上に形成された第1の絶縁層
25と光導電性半導体26と、光導電性半導体26上に
形成され光電変換部1の上層電極配線31に連続した配
線とから構成される。この蓄積コンデンサ部2の構造は
いわゆるMISコンデンサの構造である。また、バイア
ス条件は正負いずれでも用いることができるが、下層電
極配線33を常に負にバイアスする状態で用いることに
より、安定な容量と周波数特性を得ることができる。
【0034】TFT部3および4は、ゲート電極たる下
層電極配線34と、ゲート絶縁層をなす第2の絶縁層2
5と、半導体層26と、ソース電極たる上層電極配線3
5と、ドレイン電極たる上層電極配線36等とから構成
される。
【0035】マトリクス信号配線部5においては、基板
10上に第1の導電層からなる個別信号配線22、個別
信号配線を被う絶縁層25、半導体層26、そして個別
信号配線と交差して第2の導電層からなる共通信号配線
37が順次積層されている。38は個別信号配線22と
共通信号配線37とオーミックコンタクトをとるための
コンタクトホール、39は共通信号配線間に設けられた
線間シールド配線である。
【0036】TFT駆動用ゲート線の配線部6において
は、基板10上に第1の導電層24からなる個別ゲート
配線40、個別ゲート配線を被う絶縁層25、半導体層
26、オーミックコンタクト層27、そして個別ゲート
配線40と交差して、第2の導電層28からなる共通ゲ
ート配線41が順次積層されている。42は個別ゲート
配線40と共通ゲート配線41とのオーミックコンタク
トを取るためのコンタクトホールである。
【0037】以上のように本実施例の光電変換装置は、
光電変換素子部、蓄積コンデンサ部、TFT部、マトリ
クス信号配線部およびゲート駆動配線部のすべてが光導
電性半導体層および絶縁層、導電体層等の積層構造を有
するので、各部を同一プロセスにより同時形成されてい
る。
【0038】更に、第2の導電層28上には、主として
光電変換素子部1およびTFT部3,4の半導体層表面
の保護安定化のためにSiNの無機薄膜からなる保護層
(パッシベーション層)11、また保護層(パッシベー
ション層)11上にはポリイミド樹脂からなる衝撃緩和
層12が形成され、さらにその上には原稿Pとの摩擦か
ら光電変換素子等を保護するためにマイクロシートガラ
ス等からなる耐摩耗層8が接着層9を介して接着されて
いる。
【0039】なお保護層(パッシベーション層)11と
耐摩耗層8との間には、ITO等の透光性導電層からな
る静電気対策層15が形成され、原稿Pと耐摩耗層8と
の摩擦により発生する静電気が光電変換素子等に悪影響
を及ぼさないように配置されている。
【0040】次に、上述した本発明の光電変換装置の製
造方法をより具体的に説明する。
【0041】まず、ガラス等の大型の絶縁基板上にCr
を厚さ1000Åスパッタ法で堆積し、その後所望の形
状にパターニングして第1の導電体層24を形成する。 その後、SiNの第1の絶縁層25、a−Si:Hの半
導体層26、n+ a−Si:Hのオーミックコンタク
ト層27をプラズマCVD法によって連続的に堆積させ
る。
【0042】上記各層の成膜条件は、後述の表1に示す
とおりである。
【0043】しかる後に、ソース、ドレイン電極となる
導電材料であるAlを5000Åスパッタ法で堆積させ
て、その後所望の形状にパターニングして、第2の導電
体層28を形成する。
【0044】その後、不要なオーミックコンタクト層2
7をエッチングで除去し、光電変換素子部1及びTFT
部3乃至4のチャネルを形成する。オーミックコンタク
ト層27の除去は、リアクティブ・イオン・エッチング
によって行う。
【0045】その後、光電変換素子間の半導体層をエッ
チングで除去し、光電変換素子の分離を行う。
【0046】さらにその後、保護層(パッシベーション
層)11の無機材料としてSiN層をプラズマCVD法
によって、光電変換素子が形成された大型の基板の全面
に堆積する。
【0047】保護層(パッシベーション層)11を形成
する時、基板温度をあまり高く上げると、半導体層26
に含まれる水素が抜けたり、或は第2の導電体層Alと
オーミックコンタクト層27との間で相互拡散が生じる
ので、この時の基板温度は第1の絶縁層25、半導体層
26、オーミックコンタクト層27の形成時の基板温度
以上には高くしないことが好ましく、a−Si:Hを半
導体層として用いた光電変換装置子ではa−Si:Hの
堆積時の基板温度は150℃〜250℃であるので、保
護層(パッシベーション層)11の形成時の基板温度は
150℃以下にすることが好ましい。よって、本発明の
光電変換装置では、基板温度を150℃にして、SiH
4 =4SCCM,N2 =200SCCM(SiH4
 :=1:50)のガスを用いて、0.2Torrの圧
力でSiNの保護層(パッシベーション層)11を厚さ
6000Å形成する。
【0048】続いて、SiNの保護層(パッシベーショ
ン層)11上に有機材料としてポリイミド樹脂をスピン
ナーにより厚さ3μm程度塗布し、加熱硬化させ、衝撃
緩和層12を形成する。この際、衝撃緩和層12の硬化
温度も保護層(パッシベーション層)11の形成温度と
同様に150℃以下にすることが望ましい。
【0049】このとき、ワイヤーボンディングパット部
17の無保護層上ををマスキングテープで覆い、ワイヤ
ーボンディングパット部17以外の部分にポリイミド樹
脂12を、例えばスピンナーで塗布する。
【0050】その後、マスキングテープをはがし、図4
のようにポリイミド樹脂12をマスクとして、ワイヤー
ボンディングパット部17の不要な無機保護層(パッシ
ベーション層)11を、例えばリアクティブ・イオン・
エッチング(以下RIEと略す)装置によってエッチン
グする。条件は、CF4 25SCCM、RFパワー0
.15W/cm2 、圧力7Paで行った。本発明にお
いては、SiN膜の保護層(パッシベーション層)のエ
ッチングをRIEにより行ったが、無機保護層のエッチ
ング方法として、RIEの他に、ケミカル・ドライ・エ
ッチング(CDE)、フッ酸系エッチャントによるウエ
ットエッチングが知られており、材質により、エッチン
グガス、エッチング条件を選ぶことができる。
【0051】無機保護膜(パッシベーション層)11を
エッチングすることにより、ワイヤーボンディングパッ
ト部17は、図5のように、金属表面17’を露出させ
ることができる。
【0052】さらには、エポキシ樹脂からなる接着剤を
ディスペンサで塗布し、薄板ガラス8をその上に載せ、
従来技術の中で述べたように加圧接着させ、接着層9を
加熱硬化させる。接着層9の加熱硬化温度はやはり15
0℃以下にすることが望ましい。
【0053】そして大型の絶縁基板上に、耐摩耗層とし
て薄板ガラスを貼り合わせた後、光電変換アレイごとに
スライサーにより分割する。このようにして本発明の光
電変換装置を作製する。
【0054】本発明の光電変換装置の製造方法は、無機
薄膜からなる保護層(パッシベーション層)11上に有
機膜からなる衝撃緩和層12を積層し、その衝撃緩和層
12をマスクとして無機薄膜からなる保護層(パッシベ
ーション層)11をエッチングしてパターニングするこ
とにある。
【0055】ここで衝撃緩和層12は、光電変換素子1
上の無機薄膜保護層(パッシベーション層)11と薄板
ガラス8との間に設置することにより、光電変換素子1
上へ薄板ガラス8を貼り合わせる際に、無機薄膜保護層
(パッシベーション層)11へ加わる衝撃的な荷重を緩
和し、無機薄膜保護層(パッシベーション層)11の破
損を防ぐ機能を有している。さらに具体的には、衝撃緩
和層12を薄板ガラス8を貼り合わせる際に薄板ガラス
8の端部が突き当たる配線領域から薄板ガラス8の接着
領域に設けることによって、薄板ガラスの端部が無機薄
膜保護層(パッシベーション層)11に加える荷重を緩
和し、さらに光電変換素子部1等の段差部での荷重を緩
和するものである。
【0056】衝撃緩和層12の材料特性としては、前述
したように低温形成できることに加え、無機薄膜保護層
(パッシベーション層)11と比較して柔らかく、薄板
ガラス8を貼り合わせるための大きな荷重が作用した場
合に衝撃緩和層12が柔軟に変形して荷重を分散或は吸
収することにより、無機薄膜保護層(パッシベーション
層)11へ加わる単位面積当たりの荷重を低減し、亀裂
を生じさせないことが望まれる。
【0057】さらに、衝撃緩和層12は薄板ガラス8を
光電変換素子1上に保護層(パッシベーション層)11
に接着する接着層9と比較しても柔軟性を有することが
好ましい。これは接着層9が硬化して生じる応力をも緩
和し、無機保護層(パッシベーション層)11へさらに
加わる荷重を低減することができるからである。
【0058】なお、衝撃緩和層12上の薄板ガラス8の
端部近傍には、硬化前の接着剤がボンディングパッド部
17へ流れ込むことを防止するために流れ止め16を設
けている。
【0059】図6は、本発明の光電変換装置の等価回路
の一例を図を示す。
【0060】光電変換素子S1−1 〜S36−48 
に入射した光情報は、光電変換素子S1−1 〜S36
−48 から蓄積コンデンサCS1−1〜CS36−4
8、転送用TFTのT1−1 〜T36−48、リセッ
ト用TFTのR1−1 〜R36−48 、マトリクス
信号配線L1 〜L48を通って、並列の電圧出力とな
る。さらに、読み出し用スイッチICによって直列信号
となり外部に取り出される。
【0061】本発明の光電変換装置の構成例では、総画
素数1728ビットの光電変換素子を48ビットずつま
とめて36ブロックに分割してある。各動作は順次この
ブロック単位で進む。
【0062】第1ブロックの光電変換素子S1−1 〜
S1−48に入射した光情報は光電流に変換され、蓄積
コンデンサCS1−1〜CS1−48 に電荷として蓄
えられる。一定時間後、ゲート駆動線G1 に転送用の
第1の電圧パルスを加え、転送用TFTのT1−1 〜
T1−48をオン状態に切り替える。これで蓄積コンデ
ンサCS1−1〜CS1−48 の電荷がマトリクス信
号配線L1 〜L48を通って、負荷コンデンサCL1
〜CL48 に転送される。
【0063】続いて、負荷コンデンサCL1〜CL48
 に蓄えられた電荷は、転送パルスG1 により転送用
スイッチUSW1 〜USW48を同時に駆動し、読み
出し用コンデンサCT1〜CT48 に転送される。
【0064】引き続いて、ゲート駆動線g1 〜g48
にシフトレジスタSR2 から電圧パルスが順次加えら
れることにより、読み出し用コンデンサCT1〜CT4
8 に転送された第1ブロックの信号電荷は、読み出し
用スイッチTSW1 〜TSW48により直列信号に変
換され、増幅器Ampにより増幅され光電変換装置の外
部へ出力電圧Voutとして取り出される。
【0065】そして、リセットパルスgres がリセ
ットスイッチVSWに逐次印加され、読み出し用スイッ
チTSWとリセットスイッチVSWが同時にON状態と
なり、読み出し用コンデンサCT1〜CT48 は逐次
リセット電位VR にリセットされる。
【0066】また、リセットスイッチRSW1 〜RS
W48にリセット用の電圧パルスCres を印加して
負荷コンデンサCL1〜CL48 をリセットする。次
に、ゲート駆動線G2に電圧パルスを印加し、第2ブロ
ックの転送動作が始まる。同時にリセットTFTのR1
−1 〜R1−48がオン状態になり、第1ブロックの
蓄積コンデンサCS1−1〜CS1−48 の電荷をリ
セットし、次の読み出しに備える。
【0067】以下、ゲート駆動線G3 ,G4 、…を
順次駆動することにより1ライン分のデータを出力する
【0068】さて、このようにして構成した光電変換装
置を適用して、ファクシミリ装置、イメージリーダ、デ
ィジタル複写機及び電子黒板等の種々の情報処理装置を
構成することができる。
【0069】図7は、本発明の光電変換装置100を用
いて構成した情報処理装置としてファクシミリ装置の一
例を示す。ここで、102は原稿Pを読み取り位置に向
けて給送するための給送ローラ、104は原稿Pを一枚
ずつ確実に分離給送するための分離片である。106は
光電変換装置100に対して読み取り位置に設けられて
原稿Pの被読み取り面を規制するとともに原稿Pを搬送
するプラテンローラである。
【0070】Rは図示の例ではロール紙形態をした記録
媒体であり、光電変換装置100により読み取られた画
像情報あるいは外部から送信された画像情報が形成され
る。110は当該画像形成をおこなうための記録ヘッド
で、サーマルヘッド、インクジェット記録ヘッド等種々
のものを用いることができる。また、この記録ヘッドは
、シリアルタイプのものでも、ラインタイプのものでも
よい。112は記録ヘッド110による記録位置に対し
て記録媒体Pを搬送するとともにその被記録面を規制す
るプラテンローラである。
【0071】120は、操作入力を受容するスイッチや
メッセージその他、装置の状態を報知するための表示部
等を配したオペレーションパネルである。
【0072】130は、システムコントロール基板であ
り、各部の制御を行なう制御部や、画像情報の処理回路
部、送受信部等が設けられる。140は、装置の電源で
ある。
【0073】本発明によって作製した光電変換装置をフ
ァクシミリ等のシステムの画像入力部として用いること
により、耐久性を改善した情報処理装置とすることがで
き、システム側の画像処理が簡易な手段で行なうことが
できるようになり、システム全体としてのコストを大幅
に低減することができた。
【0074】
【表1】
【0075】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光電変換素子上に、複数層からなる透光性保護層を設け
た光電変換装置において、光電変換素子等の半導体層上
に窒化シリコン膜或は酸化シリコン膜等の無機薄膜材料
からなる保護層(パッシベーション層)を形成し、かつ
保護層(パッシベーション層)上にポリイミド等の有機
膜からなる衝撃緩和層を形成し、さらにその上に薄板ガ
ラス等からなる耐摩耗層を接着層を介して接着すること
により、光電変換素子上へ薄板ガラスを貼り合わせる際
に、無機薄膜保護層(パッシベーション層)へ加わる荷
重を低減し、無機薄膜保護層(パッシベーション層)の
破損を防ぐことが可能となり、保護層(パッシベーショ
ン層)に亀裂が生じることを防止することができる。そ
のため光電変換装置の耐湿性を充分に確保することがで
き、耐久性を高めることができる効果が得られる。
【0076】また更には、本発明によれば、無機薄膜か
らなる保護層(パッシベーション層)の破損を防ぐこと
が可能となるために、光電変換素子部等を形成する透光
性基板の副走査方向の基板幅を小さくすることが可能と
なり、光電変換装置の低コスト化を容易に実現すること
ができる効果が得られる。
【0077】また更には、無機材料から成る保護層(パ
ッシベーション層)上に形成された有機膜からなる衝撃
緩和層をマスクとして、前記保護層(パッシベーション
層)をエッチングし、少なくともワイヤーボンディング
パット部を露出させる工程を含むことにより、無機薄膜
の保護層の外部回路との接続に必要なワイヤーボンディ
ングパット部をパターニングする際のマスク、レジスト
、ホトリソ工程が不要になり、光電変換装置のさらなる
低コスト化を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による光電変換装置の模式的な主走査方
向断面図、
【図2】本発明による光電変換装置の模式的な平面図、
【図3】本発明による光電変換装置の模式的な副走査方
向断面図、
【図4】本発明の製造方法を示すワイヤーボンディング
パッド付近の断面図
【図5】本発明の製造方法を示すワイヤーボンディング
パッド付近の断面図
【図6】本発明による光電変換装置の等価回路図、
【図
7】本発明による光電変換装置を適用した情報処理装置
としてのファクシミリ装置の模式的構成図、
【図8】従
来の光電変換装置の模式的な主走査方向断面図、
【図9】従来の光電変換装置の模式的な平面図、
【図1
0】従来の光電変換装置の製造方法を示す概略工程図で
ある。
【図11】従来の光電変換装置の問題点を説明する概略
図である。
【図12】従来の光電変換装置の問題点を説明する概略
図である。
【符合の説明】
1    光電変換素子部 2    蓄積コンデンサ部 3,4    TFT部 5    マトリクス信号配線部 6    ゲート駆動配線部 8    薄板ガラス 9    接着層 10    透光性絶縁基板 11    保護層(パッシベーション層)12   
 衝撃緩和層

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  光電変換素子上に、複数層からなる透
    光性保護層を設けた光電変換装置の製造方法において、
    前記透光性保護層が、前記光電変換素子を覆って保護す
    る無機材料からなる保護層と、該保護層上に積層される
    有機材料からなる衝撃緩和層と、該衝撃緩和層の上方に
    形成される耐摩耗層を有して構成され、前記無機材料か
    ら成る保護層上に形成された有機膜からなる衝撃緩和層
    をマスクとして、前記保護層をエッチングし、少なくと
    もワイヤーボンディングパット部を露出させる工程を含
    むことを特徴とする光電変換装置の製造方法。
JP3169133A 1991-06-14 1991-06-14 光電変換装置の製造方法 Pending JPH04367271A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6825472B2 (en) 2000-06-27 2004-11-30 Canon Kabushiki Kaisha Radiation imaging system
US6897449B1 (en) 1998-01-28 2005-05-24 Canon Kabushiki Kaisha Two-dimensional image pickup apparatus

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US6897449B1 (en) 1998-01-28 2005-05-24 Canon Kabushiki Kaisha Two-dimensional image pickup apparatus
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