JPH0436463A - スパッタリングターゲット及びその製造方法 - Google Patents

スパッタリングターゲット及びその製造方法

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JPH0436463A
JPH0436463A JP14469990A JP14469990A JPH0436463A JP H0436463 A JPH0436463 A JP H0436463A JP 14469990 A JP14469990 A JP 14469990A JP 14469990 A JP14469990 A JP 14469990A JP H0436463 A JPH0436463 A JP H0436463A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
nitrogen
amount
sputtering target
recording film
recording
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14469990A
Other languages
English (en)
Inventor
Hidemi Isomura
秀己 磯村
Tetsuya Akiyama
哲也 秋山
Takeo Ota
太田 威夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP14469990A priority Critical patent/JPH0436463A/ja
Publication of JPH0436463A publication Critical patent/JPH0436463A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はスパッタリングターゲット及びその製造方法に
関し、特にレーザービーム等により、情報を高密度、大
容量で記録、再生、消去できる光記録薄膜を形成するの
に用いるスパッタリングターゲット及びその製造方法に
関する。
従来の技術 近年、実時間での記録、再生が可能な情報記録媒体とし
て、高容量、高密度化が可能な光記録用ディスクが提案
されている。
上記光記録用ディスクとしては、記録、再生が可能な追
記型ディスクと、記録、再生のみならず、消去も可能な
書換型ディスクとがある。
上記追記型ディスクの記録材料としては、TeとTea
、を主成分としアモルファスから結晶にのみ変化するT
ea、(0<x<2.0) 薄膜を用いたものがある。
一方、上記書換型ディスクの記録材料としては、希土類
と遷移元素とから成る光磁気メモリ材料が主流であるが
、近年、レーザ光により記録薄膜を加熱、溶融し、急冷
することにより非晶質化して情報を記録する一方、これ
を加熱し徐冷することにより結晶化して情報を消去する
ことができる相変化型光メモリ材料が研究されている。
上記相変化型光メモリ材料としては、Te−Ge等のカ
ルコゲン化物やTe−Te0□のような酸化物等、各種
の材料が提案されている。これらの中でも、特に、Te
−Ge−Sbを主成分とする材料を用いた記録薄膜は、
非晶質状態から結晶状態に変態する熱転移温度が190
°C以上と高く、耐熱性にも優れると共に、記録と消去
とを繰り返し行った場合でも特性劣化が少ないので、非
常に有望視されている。
具体的なTe−Ge−Sbl膜の形成方法としては、真
空蒸着法と、Te−Ge−Sbから成るスパッタリング
ターゲットを用いたスパッタリング法とが知られている
発明が解決しようとする課題 ところで、相変化型光メモリ材料から成る記録薄膜を用
いた光記録用ディスクは、記録、消去の繰り返し特性に
劣るという課題を有している。具体的には、以下の通り
である。
■記録、消去時に加熱、冷却を多数回の繰り返すため、
ディスク基板あるいは保護層に熱的な損傷が生じ、これ
によってノイズが増大する。
■このような損傷が無い場合であっても、加熱、冷却の
繰り返しによる保護層の脈動によって、記録薄膜材料が
ディスク回転方向の案内溝に沿って移動し、やはりノイ
ズが増大する。
そこで、本願出願人は、前記スパッタリング法で記録薄
膜を形成する際に、アルゴンと窒素との混合ガスを用い
て、記録薄膜中に窒素を含有させるような、所謂反応性
スパッタリング法を前に提案している。このようにして
作製すれば、光記録媒体の繰り返し特性を向上させるこ
とができる。
しかしながら、上記方法では、スパッタリングターゲッ
トの消耗に伴うスパッタリングレートの変化等により、
窒素との反応状態が変化するため、記録薄膜に含有され
る窒素量のコントロールが困難となり、且つスパッタリ
ング装置内に窒素を導入のための設備を新たに設ける必
要があるため、設備費用が高騰する等の課題を有してい
た。したがって、改良の余地がある。
本発明はかかる現状に鑑みてなされたものであり、繰り
返し特性を向上させうると共にスパッタリング装置の設
備費用を低減しうるスパ・ツタリングターゲット及びそ
の製造方法を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、Te−’Ge−5
bから成る材料に、一定量の窒素が含有されていること
を特徴とする。
また、Te粉末とGe粉末とSb粉末とを、定量の窒素
ガスが存在する雰囲気中で均一に混合する第1ステップ
と、上記混合物を窒素雰囲気中でホットプレスして成型
体を作製する第2ステップとを有することを特徴とする
作用 上記第1発明の如く、Te、Ge、Sbから成る材料に
予め一定量の窒素が含有されたスパッタリングターゲッ
トを用いて記録薄膜を形成すれば、スパッタリングター
ゲット中の窒素量に応じて記録薄膜中の窒素量が規定さ
れることになる。したがって、記録薄膜に含有される窒
素量を所定値に設定することが可能となる。
加えて、スパッタリング装置には窒素導入のための設備
を設ける必要がないので、装置の設備費用が高騰するこ
ともない。
また、このようなスパッタリングターゲットは、第2発
明に示す方法により作製される。
実施例 本発明の一実施例を、第1図に基づいて、以下に説明す
る。
TeとGeとSbとの金属粉末を目標組成となるように
秤量した後、これらの金属粉末を、所定量の窒素ガスを
有する雰囲気に設定されたライカイ機或いはボールミル
等で混合し、均一な混合物を作成する。尚、ライカイ機
或いはボールミル内に導入する窒素ガスの量は、流量計
によって調整している。次に、上記混合物を金型(直径
=150肛、厚み:6圓)内に充填した後、加熱(35
0’C)、加圧(50〜300kg/aj) してホッ
トプレスを行う。尚、この際、他の成分がスパッタリン
グターゲット内に進入するのを防止すべく窒素雰囲気で
行う。これにより、窒素が所定量含有されたTe−Ge
−Sbから成るスパッタリングターゲットが作成される
に こで、上記スパッタリングターゲットを用いて、ディス
クを作製する場合について示す。
第1図は、本発明のスパッタリングターゲットを用いて
作製したディスクであり、ポリカーボネイト等の樹脂か
ら成るディスク基板1の表面には、ZnS−3iOzの
混合膜から成る第1誘電体層2(膜厚:約150 nm
)と、所定量の窒素を含むTe−C,e−Sbからなる
合金薄膜から成る記録薄膜3(膜厚:約30 nm)と
、上記第1誘電体層2と同材料で構成された第2誘電体
層4(膜厚:約20nm)と、A!金合金ら成る反射層
5(II厚:約60nm)とが形成されている。また、
上記反射層5の表面には、接着剤層6により固定された
保護板7が設けられている。
ここで、上記構造のディスクは、ディスク基板1をスパ
ッタリング装置のチャンバー内に配置した後、ディスク
基板1上に、第1誘電体層2と、記録薄膜3と、第2誘
電体層4と、反射層5とを形成する。この際、両誘電体
層2・4のスパッタリングターゲットとしてはZnS 
 Siowを、記録薄膜3のスパッタリングターゲット
はしては上記方法で作製したものを、反射層5のスパッ
タリングターゲットとしてはAffi合金を、それぞれ
用い、且つチャンバー内にはアルゴンガスを導入してい
る。この後、接着剤により反射層5上に保護板7を固定
した。
[実験] 上記ディスクのオーバーライドのサイクル特性について
は、特にピットエラーレイトの特性を測定した結果、1
0×10hサイクル以上劣化が認められず、従来に比べ
て10倍程度の寿命を有することが確認された。
また、上記ディスクを量産したところ、窒素含有量のバ
ラツキが著しく低減され、量産性の面でも向上を図りう
ることが認められた。
〔その他の事項〕
前記ディスク基板1としては、予めレーザ光案内用の溝
を形成した樹脂基板、2P法で溝を形成4゜ したガラス板、或いはガラス板に直接溝を形成した基板
等を用いることが可能である。
発明の詳細 な説明したように本発明によれば、記録薄膜中の窒素量
を一定にすることができるので、記録消去の繰り返しに
伴い保護層の脈動が発生しても、記録薄膜材料が案内溝
に沿って移動するのを飛躍的に抑制することができる。
これによって、繰り返し特性を顕著に向上することが可
能となる。
また、窒素含有量のバラツキが著しく低減されるので、
歩留りが向上し、量産性にも優れる。
加えて、窒素導入のための設備をスパッタリング装置に
設ける必要がないので、装置の設備費用を低減すること
ができる等の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のスパッタリングターゲットを用いて作
製したディスクの構造を示す断面図である。 録薄膜、4・・・第2誘電体層、5・・・反射層、6・
・・接着剤層、7・・・保護板。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)Te−Ge−Sbから成る材料に、一定量の窒素
    が含有されていることを特徴とするスパッタリングター
    ゲット。
  2. (2)Te粉末とGe粉末とSb粉末とを、一定量の窒
    素ガスが存在する雰囲気中で均一に混合する第1ステッ
    プと、 上記混合物を窒素雰囲気中でホットプレスして成型体を
    作製する第2ステップと、 を有することを特徴とするスパッタリングターゲットの
    製造方法。
JP14469990A 1990-06-01 1990-06-01 スパッタリングターゲット及びその製造方法 Pending JPH0436463A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105345006A (zh) * 2015-06-11 2016-02-24 西北稀有金属材料研究院 适用于大尺寸铍材生产的直热式热压装备

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS621146A (ja) * 1985-06-27 1987-01-07 Toyo Soda Mfg Co Ltd 光記録用スパツタリングタ−ゲツト及びその製造方法
JPS62114137A (ja) * 1985-11-13 1987-05-25 Toyo Soda Mfg Co Ltd 光記録用スパツタリングタ−ゲツトの製造方法
JPS6462466A (en) * 1987-09-03 1989-03-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd Sputtering target for forming information recording thin film and production thereof

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