JPH04362B2 - - Google Patents

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JPH04362B2
JPH04362B2 JP8444083A JP8444083A JPH04362B2 JP H04362 B2 JPH04362 B2 JP H04362B2 JP 8444083 A JP8444083 A JP 8444083A JP 8444083 A JP8444083 A JP 8444083A JP H04362 B2 JPH04362 B2 JP H04362B2
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JP
Japan
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batio
glass frit
zrb
semiconductor
thick
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JP8444083A
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English (en)
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JPS59208802A (ja
Inventor
Keiichi Noi
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPH04362B2 publication Critical patent/JPH04362B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は機器の保温、加熱などに用いられる面
状発熱体のなかで、ガラスフリツトを必要としな
い厚膜型正特性半導体素子の製造方法に関するも
のである。
従来例の構成とその問題点 BaTiO3系半導体からなる素子は所定温度以上
になると急激に抵抗値が増大するスイツチング特
性及びスイツチング後の自己発熱特性を有し、昇
温特性が速く自己温度制御機能を有し、外部の制
御回路を必要としないため広く利用されている。
従来の正特性サーミスタ発熱体はBaTiO3系半
導体粉末を加圧成形した後焼成して得ていたが、
広い面積を加熱するには多数の素子を必要とし大
型で組立てが困難であり、また実用可能な厚膜型
の正特性サーミスタ発熱体を得ることは困難であ
るとされていた。
従来、BaTiO3系半導体を膜状に加工する方法
としては次のようなものが知られている。
デイスク形に成形した後焼成したものを薄片
に研磨する。
真空蒸着法、スパツタリング法などにより基
板状に薄膜を形成する。
BaTiO3系半導体に導電性を有する添加剤と
ガラスフリツトを加えてペースト状とし、基板
上にスクリーン印刷した後焼成する。
しかし、前記の方法ではBaTiO3系半導体の
結晶粒子径が大きくてもろいため、膜状にまで研
磨することは甚だ困難である。また、前記の方
法では操作が面倒であり、大面積の素子が得られ
ず、発熱体に適した大電力を得ることは難しい。
さらに、前記の方法では面積抵抗が高くなり易
く、抵抗値の制御が困難であり、発熱体には適さ
ない。また、あらかじめガラスフリツトを作つて
おかなければならず、面倒であると共にガラスフ
リツトの材質によつてはBaTiO3系半導体の持つ
スイツチング特性及び自己発熱特性を劣化させ
る。そして、ガラスフリツトを加えることにより
BaTiO3系半導体とガラスフリツトの耐熱性、熱
膨張係数の差から熱衝撃に弱く、熱伝導が劣化し
やすく信頼性に欠ける。また、導電性の添加剤と
ガラスフリツトを均一に混合することは困難であ
り、特性にばらつきを生じる原因の一つとなつて
いる。
以上述べたように、面状発熱体に適した厚膜型
正特性半導体素子を得る方法は従来よりなかつ
た。
発明の目的 そこで本発明では前記従来技術の欠点であつた
製造上の繁雑さを解決し、ガラスフリツトを用い
ずに厚膜型にすることにより熱衝撃性、熱伝導性
に優れ、均一な特性を持つ厚膜型正特性半導体素
子を容易に製造できる方法を提供することを目的
としている。
発明の構成 この目的を達成するために本発明の厚膜型正特
性半導体素子の製造方法は、BaTiO3系半導体に
所定量のZrB2を加えてペースト状にした混合物
を基板上に塗布して厚膜型とした後、焼成するこ
とにより厚膜型正特性半導体素子を得ようとする
ものである。
従来の導電性添加剤とガラスフリツトを用いる
方法では、BaTiO3系半導体粉末同士の電気的接
続のために導電性添加剤が必要であり、BaTiO3
系粉末同士を物理的に接続するのにガラスフリツ
トが必要であつた。しかし、本発明によれば導電
性添加剤とガラスフリツトの両方の役割をはたす
ZrB2だけで厚膜化が可能である。すなわち、
ZrB2は常温では導体であるが、1100℃以上の高
温になると一部分が分解して粒子表面にB2O3
析出する。このB2O3層により粒子内部は分解、
酸化から保護され、ZrB2のままで残る。従つて、
BaTiO3系半導体粉末とZrB2を混合して焼成する
と、ZrB2粉末の表面に析出したB2O3がガラスフ
リツトと同じ役割をして粉末粒子同士を結合さ
せ、末反応の粒子内部のZrB2が導電性添加剤の
役割をはたす。従つて、ZrB2を添加するだけで
ガラスフリツトを必要としない厚膜型正特性半導
体素子が得られることとなる。
実施例の説明 以下に本発明を実施例をあげて具体的に説明す
る。
〈実施例 1〉 BaTiO3に3.0mol%のSrOを加えてボールミル
などで粉砕混合した後乾燥し、1300℃で1時間焼
成する。その後、ボールミルなどで粉砕して
BaTiO3系半導体粉末を得る。前記BaTiO3系半
導体粉末に全重量に対して10重量%のZrB2を加
えボールミルなどで粉砕混合し、乾燥した後、α
−テルピネオール、ポリエチレングリコールなど
を加えてペースト状混合物を作る。そして、第1
図に示すようにAl2O3などからなる基板2上にあ
らかじめ一対のAgなどの導電性物質からなる電
極3,4を設けておき、前記電極3,4上にその
電極3,4の一部が露出するように前記ペースト
状混合物1をスクリーン印刷などにより塗布し、
室温から10℃/minの昇温速度で1390℃まで加熱
し、1時間保持した後、炉内放冷する。
〈実施例 2〉 実施例1と同様にしてBaTiO3に3.0mol%の
PbOを加え1250℃で1時間焼成し粉砕した後、全
重量に対して45重量%のZrB2を加え混合、粉砕、
乾燥した後、ポリビニルブチラール、オクチルフ
タレートなどを加えてペースト状混合物を作る。
以下、実施例1と同様の操作で前記ペースト状混
合物をスクリーン印刷した後、焼成、放冷する。
こうして得られた厚膜型半導体素子の25℃での
面積抵抗は、実施例1の場合420Ω/cm2であり、
実施例2の場合340Ω/cm2であつた。また、各々
の温度と抵抗値の関係は第2図に示した通りであ
つた。第2図でA,Bはそれぞれ実施例1,2に
よる特性を示している。
発明の効果 以上のように本発明は構成されているものであ
り、ZrB2粉末は従来の導電性添加剤とガラスフ
リツトの両方の役割をはたし、電気的接続と粒子
同士の物理的接続に十分な効果があり、ガラスフ
リツトなしで厚膜型正特性半導体素子が得られ
る。また、ガラスフリツトという熱伝導の悪いも
のにかわつて熱伝導性に優れ導電性を有する
ZrB2を用いることにより、熱伝導が良くなり、
熱衝撃性も向上する。さらに、スクリーン印刷な
どにより製造ができることから、作業が容易で大
面積化が可能であり、大量生産ができる。
なお、本発明においてBaTiO3系半導体として
は、BaTiO3に各種の添加剤を加えて半導体化し
たものであればなんでもよい。
また、ZrB2の混合量に対して1.0〜60.0重量%
と規定したのは、1.0重量%未満では面積抵抗が
大きくなりすぎて発熱体には不適当であり、
BaTiO3同士の物理的固定もできずもろくなるた
めである。また、60重量%を超えると面積抵抗が
小さくなりすぎ、自己制御特性(PTC特性)が
小さくなり、発熱体に不適当になるためである。
また、BaTiO3系半導体とZrB2粉末をペースト
状にできるものであればなんでもよい。
以上述べたように本発明によれば、ガラスフリ
ツトを必要としない厚膜型正特性半導体素子が容
易に製造でき、その実用上の効果は大きいもので
ある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法により得られた厚膜型正
特性半導体素子を示す斜視図、第2図は本発明の
実施例による素子の温度と抵抗値の関係を示す図
である。 1…ペースト状混合物、2…基板、3,4…電
極。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 BaTiO3系半導体に混合量が全重量に対して
    1.0〜60重量%のZrB2を加えペースト状にした混
    合物を基板上に塗布して厚膜状とした後、焼成し
    てなることを特徴とする厚膜型正特性半導体素子
    の製造方法。
JP8444083A 1983-05-13 1983-05-13 厚膜型正特性半導体素子の製造方法 Granted JPS59208802A (ja)

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JPS59208802A JPS59208802A (ja) 1984-11-27
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JPH04324901A (ja) * 1991-04-25 1992-11-13 Sekisui Plastics Co Ltd チタン酸バリウム系磁器半導体の製造方法

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JPS59208802A (ja) 1984-11-27

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