JPH04355384A - テスタ用基板位置決め装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、テスタ用基板位置決め
装置に係り、とくに、インサーキットテスタやファンク
ションテスタ等のフィクスチャが備えているテスタ用基
板位置決め装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】図３に従来例を示す。この図３に示す従
来例は、基板の実装部品を全体的に直接チェックするイ
ンサーキットテスタを示す。この検査装置は、テスタ本
体５０と、このテスタ本体５０上に配設された基板アク
セス用のフィクスチャ５１と、このフィクスチャ５１の
上方に設けられたプレスユニット５２と、同じくテスタ
本体５０上に配設されたディスプレイ５３及びキーボー
ド５４とを備えている。

【０００３】フィクスチャ５１は、基板Ｋを固定し支持
するピンボックス５１Ａと、このピンボックス５１Ａ上
の基板Ｋに向かって下降し基板Ｋ上の電子部品（実装部
品）の端子に直接アクセスするための複数のアクセス端
子５１ａを装備した天板５１Ｂとを備えている。プレス
ユニット５２は、フィクスチャ５１の天板５１Ｂを垂下
係止すると共に該天板５１Ｂを降下制御することによっ
て複数のアクセス端子５１ａを基板Ｋ上の電子部品の端
子に直接当接させる機能を有している。テスタ本体５０
内には、装置全体を制御するパーソナルコンピュータが
内蔵されており、これによって装置全体の動作制御およ
び検査結果のディスプレイ５３上への表示が行われるよ
うになっている。

【０００４】一方、基板Ｋは、ピンボックス５１Ａ上に
設けられた二本の基準ピン６１，６２（一方が主基準ピ
ンで、他方が補助基準ピン）に係止されてピンボックス
５１Ａ上に固定されるようになっている。そして、この
場合、基板Ｋの穴ピッチＰＯ　は、図５のＰＭＡＸ　，
ＰＭＩＮ　に示す如く、バラツキが多い。このため、基
準ピン６１，６２の直径は、製造誤差および材料の伸縮
を考慮して基板Ｋの穴の直径よりも小さく設定されてい
る。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来例にあっては、基準ピン６１，６２の直径が基板Ｋの
穴の直径よりも小さく設定されていることから、逆に、
穴ピッチ誤差の少ない基板Ｋがセットされて来た場合に
は、穴の直径と基準ピン６１，６２のクリアランスが影
響して基板Ｋの位置が決まらないという不都合が生じて
いる。このため、コンタクトピンであるアクセス端子５
１ａと基板ランドとの接触位置が測定の度に変化し、測
定データ（合否判定）が安定しないという不都合が生じ
ていた。

【０００６】

【発明の目的】本発明は、かかる従来例の有する不都合
を改善し、特にコンタクトピンであるアクセス端子と基
板ランドとの接触位置を常に一定とし、これによって常
に安定した測定データを得ることのできるテスタ用基板
位置決め装置を提供することを、その目的とする。

【０００７】

【課題を解決するための手段】本発明では、基板が備え
ている基板係止穴に対応して配設された主基準ピンおよ
び補助基準ピンと、これら主基準ピンおよび補助基準ピ
ンを支持するピン支持テーブルとを備えている。そして
、主基準ピンを支持テーブルに固定すると共に、補助基
準ピンを可変設定可能なスライド固定機構を介して前記
支持テーブルに装着する、という構成を採っている。 これによって前述した目的を達成しようとするものであ
る。

【０００８】

【作用】スライド固定機構の作用によって、基板の穴ピ
ッチのバラツキがあっても、これに対応して補助基準ピ
ンが追従する。従って、主基準ピンおよび補助基準ピン
の直径を基板の穴径よりも小さく設定する必要性が全く
なくなる。このため、前述した従来例で生じていた基板
の穴径と基準ピンとのクリアランスが影響して基板の位
置が基板ごとに一定せず決まらないという不都合（がた
つき）をほぼ完全に排除することができる。

【０００９】

【発明の実施例】以下、本発明の一実施例を図１乃至図
２に基づいて説明する。ここで前述した従来例と同一の
部材については同一の符号を用いるものとする。

【００１０】図１において、ピンボックス５１Ａには、
基板Ｋが備えている基板係止穴に対応して配設された主
基準ピン１および補助基準ピン２が装備されている。主
基準ピン１は、その他端部にねじ部が設けられ、このね
じ部にナットを螺合する形態をもってピンボックス５１
Ａに固定されている。

【００１１】一方、補助基準ピン２は、スライド固定機
構１０を介してピンボックス５１Ａに装着されている。 このスライド固定機構１０は、断面がコ字状に形成され
たスライドレール１１と、このスライドレール１１の内
側を常時円滑に往復移動するスライドブロック１２とを
備えている。スライドレール１１には、その開口部１１
Ａ側に、スライドブロック１２がそのスライド方向に直
交する方向に飛び出すのを抑える突条１１ａ，１１ｂが
設けられている。

【００１２】補助基準ピン２は、その他端部に形成され
たねじ部を介してスライドブロック１２の中央部に螺合
されている。このため、補助基準ピン２は、スライドブ
ロック１２と共に前述した如く往復移動可能にスライド
レール１１に組み込まれている。ここで、スライドレー
ル１１は、その両端部が前述したピンボックス５１Ａに
ネジ止めされている。補助基準ピン２は、このスライド
固定機構１０を介してピンボックス５１Ａに装着された
後においても、スライドブロック１２と共に往復移動可
能と成っている。

【００１３】このように、上記実施例においては、基板
Ｋの穴ピッチのバラツキに対応して補助基準ピン２を追
従させることができる。従って、主基準ピン１および補
助基準ピン２の直径を基板Ｋの穴径よりも小さく設定す
る必要性は全くない。このため、前述した従来例で生じ
ていた基板Ｋの穴径と基準ピンとのクリアランスが影響
して基板Ｋの位置が決まらないという不都合（がたつき
）をほぼ完全に排除することができ、基板Ｋを常に同一
箇所に組み込むことが可能となり、コンタクトピンであ
るアクセス端子５１ａと基板ランドとの接触位置を測定
の度に常に同一箇所とすることでき、従って、安定した
測定データ（合否判定）を得ることができる。

【００１４】ここで、スライドブロック１２の摺動を得
るためには、スライドレール１１の内面にグリース等の
潤滑材を塗布するとよい。また、スライドブロック１２
についてはその適当な箇所に原位置復帰バネを装備し、
これによって基板Ｋの取り外し後は、補助基準ピン２が
常に一定の場所に戻るように構成してもよい。その他の
構成は、前述した従来例と同一となっている。

【００１５】

【発明の効果】本発明は、以上のように構成され機能す
るので、これによると、フィクスチャのピンボックスに
対する基板の設定位置がスライド固定機構および補助基
準ピンの連携作用により常に一定となり、これがため、
コンタクトピンであるアクセス端子と基板ランドとの接
触位置が安定し、検査精度を著しく向上させることがで
き、従って、安定した測定データ（合否判定）を得るこ
とができ、更にこれを工程内検査について実施した場合
には、誤判定による再測定が不要となり工数削減が可能
となるという従来にない優れたテスタ用基板位置決め装
置を提供することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施例を示す装置の主基準ピンおよ
び補助基準ピンを含む部分を示す断面図

【図２】図１内
に示すスライド固定機構の主要部を示す分解斜視図

【図３】従来例を示す説明図

【図４】図３における基板と基準ピンとの関係を示す説
明図

【図５乃至図６】図４における基板の載置例を示す説明
図である。

【符号の説明】

１　　　　　　主基準ピン ２　　　　　　補助基準ピン １０　　　　スライド固定機構

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】　　基板が備えている基板係止穴に対応し
   て配設された主基準ピンおよび補助基準ピンと、これら
   主基準ピンおよび補助基準ピンを支持するピン支持テー
   ブルとを有するテスタ用基板位置決め装置において、前
   記主基準ピンを支持テーブルに固定すると共に、前記補
   助基準ピンを必要に応じて可変設定し得るスライド固定
   機構を介して前記支持テーブルに装着したことを特徴と
   するテスタ用基板位置決め装置。
2. 【請求項２】　　前記スライド固定機構が、前記補助基
   準ピンを植設し支持するスライドブロックと、このスラ
   イドブロックを前記主基準ピンに対し所定方向の移動を
   許容して支持するスライドレールとを有する構成となっ
   ていることを特徴とした請求項１記載のテスタ用基板位
   置決め装置。