JPH04350996A - ハンダ付け補助層 - Google Patents
ハンダ付け補助層Info
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- JPH04350996A JPH04350996A JP15260691A JP15260691A JPH04350996A JP H04350996 A JPH04350996 A JP H04350996A JP 15260691 A JP15260691 A JP 15260691A JP 15260691 A JP15260691 A JP 15260691A JP H04350996 A JPH04350996 A JP H04350996A
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Links
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Landscapes
- Mounting Of Printed Circuit Boards And The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ハンダ付け補助層に関
する。より詳細には、電子機器等に使用される回路基板
がハンダ付けされるアース板、シャシ等に具備されるハ
ンダ付け補助層に関する。
する。より詳細には、電子機器等に使用される回路基板
がハンダ付けされるアース板、シャシ等に具備されるハ
ンダ付け補助層に関する。
【０００２】
【従来の技術】半導体装置の集積度の向上に伴い、半導
体装置を搭載する回路基板も複雑化している。例えば、
典型的な半導体装置には入出力端子が数本〜数百本あり
、このような半導体装置を数百個搭載するような回路基
板もある。また、マルチチップモジュールと呼ばれる、
入出力端子が数千本におよぶ半導体装置も使用されるこ
とがある。大型の電子機器においては、回路基板の一部
をカードと呼ばれる小規模な回路基板に分割し、複数の
カードをボードと呼ばれる大規模な回路基板に搭載して
電子機器を構成することが行われている。一方、金属板
を絶縁体で被覆した金属コア基板は、熱の放散、機械的
強度、剛性等の面で有利であり、過酷な環境で使用され
る電子機器に用いられることがある。
体装置を搭載する回路基板も複雑化している。例えば、
典型的な半導体装置には入出力端子が数本〜数百本あり
、このような半導体装置を数百個搭載するような回路基
板もある。また、マルチチップモジュールと呼ばれる、
入出力端子が数千本におよぶ半導体装置も使用されるこ
とがある。大型の電子機器においては、回路基板の一部
をカードと呼ばれる小規模な回路基板に分割し、複数の
カードをボードと呼ばれる大規模な回路基板に搭載して
電子機器を構成することが行われている。一方、金属板
を絶縁体で被覆した金属コア基板は、熱の放散、機械的
強度、剛性等の面で有利であり、過酷な環境で使用され
る電子機器に用いられることがある。
【０００３】一般に電子機器の組立にはハンダ付けが使
用されるが、上記のマルチチップモジュールを回路基板
に実装したり、カードをボードに実装したり、金属コア
基板に半導体装置等を実装する場合、ハンダ付けを行う
電極の実質的な面積が大きかったり、放熱性が高いので
ハンダ付けの際に熱が逃げやすく、そのためにハンダ付
け強度が低下することがある。また、導体配線や半導体
装置が熱により損傷を受けることがある。この傾向は、
特に、アース板、筐体等の比較的面積の大きい導体と、
上記の各電子部品をハンダ付けする場合に顕著である。
用されるが、上記のマルチチップモジュールを回路基板
に実装したり、カードをボードに実装したり、金属コア
基板に半導体装置等を実装する場合、ハンダ付けを行う
電極の実質的な面積が大きかったり、放熱性が高いので
ハンダ付けの際に熱が逃げやすく、そのためにハンダ付
け強度が低下することがある。また、導体配線や半導体
装置が熱により損傷を受けることがある。この傾向は、
特に、アース板、筐体等の比較的面積の大きい導体と、
上記の各電子部品をハンダ付けする場合に顕著である。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上記の問題の対策とし
て、電極、アース板等のハンダ付け部分を限定するよう
にソルダレジスト等で被覆して、ハンダが流れたり、熱
が逃げるのを防いでいる。このようなハンダ付け補助層
は、当然のことながら被覆する電極の特性に悪影響を与
えないようなものでなければならない。即ち、ハンダ付
け補助層で被覆されることより、電極の電気抵抗や反射
が増加したり、アース板等の特性が変化するようなこと
があってはならない。一方、上記の導体配線上に形成さ
れたハンダ付け補助層は、一般にハンダ付け工程の後に
除去しなければならない。このようなハンダ付け補助層
にはハンダ付け工程で加熱されても、焼きついたりせず
後工程で容易に除去できるような材料を使用しなければ
ならない。また、除去工程で電子部品、回路基板の端子
、アース板、筐体等に悪影響が生じないことも必要であ
る。さらに、上記のハンダ付け補助層は、ハンダ付け時
の熱処理に耐え、任意の形状に容易に形成可能でなけれ
ばならない。
て、電極、アース板等のハンダ付け部分を限定するよう
にソルダレジスト等で被覆して、ハンダが流れたり、熱
が逃げるのを防いでいる。このようなハンダ付け補助層
は、当然のことながら被覆する電極の特性に悪影響を与
えないようなものでなければならない。即ち、ハンダ付
け補助層で被覆されることより、電極の電気抵抗や反射
が増加したり、アース板等の特性が変化するようなこと
があってはならない。一方、上記の導体配線上に形成さ
れたハンダ付け補助層は、一般にハンダ付け工程の後に
除去しなければならない。このようなハンダ付け補助層
にはハンダ付け工程で加熱されても、焼きついたりせず
後工程で容易に除去できるような材料を使用しなければ
ならない。また、除去工程で電子部品、回路基板の端子
、アース板、筐体等に悪影響が生じないことも必要であ
る。さらに、上記のハンダ付け補助層は、ハンダ付け時
の熱処理に耐え、任意の形状に容易に形成可能でなけれ
ばならない。
【０００５】しかしながら、従来のハンダ付け補助層は
、上記の要求を十分に満たせず、より高性能なハンダ付
け補助層が望まれていた。そこで本発明の目的は、上記
の要求に応え得る高性能なハンダ付け補助層を提供する
ことにある。
、上記の要求を十分に満たせず、より高性能なハンダ付
け補助層が望まれていた。そこで本発明の目的は、上記
の要求に応え得る高性能なハンダ付け補助層を提供する
ことにある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明に従うと、半導体
装置を搭載した回路基板がハンダ付けにより実装される
部品に具備され、ハンダ付け領域を限定するハンダ付け
補助層において、該ハンダ付け補助層が、希土類元素、
Ｂａ、ＣｕおよびＯを含むセラミックス材料またはＢｉ
、Ｓｒ、Ｃａ、ＣｕおよびＯを含むセラミックス材料で
構成されていることを特徴とするハンダ付け補助層が提
供される。
装置を搭載した回路基板がハンダ付けにより実装される
部品に具備され、ハンダ付け領域を限定するハンダ付け
補助層において、該ハンダ付け補助層が、希土類元素、
Ｂａ、ＣｕおよびＯを含むセラミックス材料またはＢｉ
、Ｓｒ、Ｃａ、ＣｕおよびＯを含むセラミックス材料で
構成されていることを特徴とするハンダ付け補助層が提
供される。
【０００７】
【作用】本発明のハンダ付け補助層は、Ｙ１Ｂａ２Ｃｕ
３ＯＸ、Ｈｏ１Ｂａ２Ｃｕ３ＯＸ等、Ｒｅ、Ｂａ、Ｃｕ
およびＯ（Ｒｅは希土類元素を示す）を含むセラミック
ス材料またはＢｉ２Ｓｒ２Ｃａ１Ｃｕ２Ｏｙ等Ｂｉ、Ｓ
ｒ、Ｃａ、ＣｕおよびＯを含む各種セラミックス材料で
構成されているところにその主要な特徴がある。このセ
ラミックス材料は低濃度の酸で溶解し、０．１ ％のＨ
Ｃｌ、Ｈ３ＰＯ４等の水溶液を用いて、１μｍ／分のエ
ッチング速度でエッチングすることができる。従って、
ハンダ付け処理後に電子部品、回路基板の端子等に悪影
響を与えることなく除去することが可能である。
３ＯＸ、Ｈｏ１Ｂａ２Ｃｕ３ＯＸ等、Ｒｅ、Ｂａ、Ｃｕ
およびＯ（Ｒｅは希土類元素を示す）を含むセラミック
ス材料またはＢｉ２Ｓｒ２Ｃａ１Ｃｕ２Ｏｙ等Ｂｉ、Ｓ
ｒ、Ｃａ、ＣｕおよびＯを含む各種セラミックス材料で
構成されているところにその主要な特徴がある。このセ
ラミックス材料は低濃度の酸で溶解し、０．１ ％のＨ
Ｃｌ、Ｈ３ＰＯ４等の水溶液を用いて、１μｍ／分のエ
ッチング速度でエッチングすることができる。従って、
ハンダ付け処理後に電子部品、回路基板の端子等に悪影
響を与えることなく除去することが可能である。
【０００８】また、本発明のハンダ付け補助層に使用さ
れるセラミックス材料は、例えばスクリーン印刷法、硝
酸塩水溶液を用いたディップ法等で薄膜を形成可能であ
る。従って、例えば、マスク等の治具を使用することに
より、導体部品の所定の位置にハンダ付け補助層を容易
に形成することができる。また、上記の治具の変更によ
り、どのような形状の導体部品に対しても対応すること
が可能である。
れるセラミックス材料は、例えばスクリーン印刷法、硝
酸塩水溶液を用いたディップ法等で薄膜を形成可能であ
る。従って、例えば、マスク等の治具を使用することに
より、導体部品の所定の位置にハンダ付け補助層を容易
に形成することができる。また、上記の治具の変更によ
り、どのような形状の導体部品に対しても対応すること
が可能である。
【０００９】一方、上記のセラミックス材料は、酸化物
であるので加熱してもその性質等が変化することなく安
定している。従って、導体部品が腐蝕するなどの損傷を
受けることがなく、ハンダ付け工程、熱硬化性樹脂を用
いた場合に硬化工程等で高温に曝されても除去工程に影
響がない。また、本発明のハンダ付け補助層は、フロー
、リフロー、手ハンダ、ディップ、接着等あらゆるハン
ダ付け法に適用できる。
であるので加熱してもその性質等が変化することなく安
定している。従って、導体部品が腐蝕するなどの損傷を
受けることがなく、ハンダ付け工程、熱硬化性樹脂を用
いた場合に硬化工程等で高温に曝されても除去工程に影
響がない。また、本発明のハンダ付け補助層は、フロー
、リフロー、手ハンダ、ディップ、接着等あらゆるハン
ダ付け法に適用できる。
【００１０】上記のハンダ付け補助層は、どのような材
料の部品にも形成することが可能である。特に、各種の
セラミックス材料に対して上記のセラミックス材料のハ
ンダ付け補助層は材料間のいわゆる相性がよく、精密な
ハンダ付け補助層が容易に形成でき、焼き付き等により
除去できなくなることがない。従って、本発明のハンダ
付け補助層が適用できる部品の材料に制限はない。
料の部品にも形成することが可能である。特に、各種の
セラミックス材料に対して上記のセラミックス材料のハ
ンダ付け補助層は材料間のいわゆる相性がよく、精密な
ハンダ付け補助層が容易に形成でき、焼き付き等により
除去できなくなることがない。従って、本発明のハンダ
付け補助層が適用できる部品の材料に制限はない。
【００１１】さらに本発明のハンダ付け補助層は、ハン
ダ付け後容易に除去することができる。従って、本発明
のハンダ付け補助層を、電子機器の放熱性が要求される
部分に形成して組み立てを行っても、ハンダ付け後に除
去して、放熱を妨げないようにすることができる。
ダ付け後容易に除去することができる。従って、本発明
のハンダ付け補助層を、電子機器の放熱性が要求される
部分に形成して組み立てを行っても、ハンダ付け後に除
去して、放熱を妨げないようにすることができる。
【００１２】以下、本発明を実施例によりさらに詳しく
説明するが、以下の開示は本発明の単なる実施例に過ぎ
ず、本発明の技術的範囲をなんら制限するものではない
。
説明するが、以下の開示は本発明の単なる実施例に過ぎ
ず、本発明の技術的範囲をなんら制限するものではない
。
【００１３】
【実施例】図１に、本発明のハンダ付け補助層を具備し
たアース板の一例を示す。図１のアース板には、回路基
板２の端子がハンダ付けにより接続され、導体板１上に
ハンダ付け領域２１を残して形成された本発明のハンダ
付け補助層３を具備する。
たアース板の一例を示す。図１のアース板には、回路基
板２の端子がハンダ付けにより接続され、導体板１上に
ハンダ付け領域２１を残して形成された本発明のハンダ
付け補助層３を具備する。
【００１４】上記のアース板は、ハンダ付け補助層３に
より、ハンダ付けの際の熱が放散されることがないので
、十分な強度のハンダ付けが可能である。ハンダ付け後
にハンダ付け補助層３が不要であるならば、低濃度の酸
により除去することができる。
より、ハンダ付けの際の熱が放散されることがないので
、十分な強度のハンダ付けが可能である。ハンダ付け後
にハンダ付け補助層３が不要であるならば、低濃度の酸
により除去することができる。
【００１５】本実施例では、上記本発明のアース板を以
下のように製造した。まず、導体１の表面に、スクリー
ン印刷法により、ハンダ付け領域２１の部分を除いてＹ
ＢａＣｕＯセラミックス材料のハンダ付け補助層３を形
成する。ハンダ付け補助層３に使用する材料はＹ１Ｂａ
２Ｃｕ３Ｏｘセラミックス材料に限らず、Ｈｏ１Ｂａ２
Ｃｕ３Ｏｘセラミックス、Ｄｙ１Ｂａ２Ｃｕ３Ｏｘセラ
ミックス、Ｂｉ２Ｓｒ２Ｃａ１Ｃｕ２Ｏｙセラミックス
等が使用できる。
下のように製造した。まず、導体１の表面に、スクリー
ン印刷法により、ハンダ付け領域２１の部分を除いてＹ
ＢａＣｕＯセラミックス材料のハンダ付け補助層３を形
成する。ハンダ付け補助層３に使用する材料はＹ１Ｂａ
２Ｃｕ３Ｏｘセラミックス材料に限らず、Ｈｏ１Ｂａ２
Ｃｕ３Ｏｘセラミックス、Ｄｙ１Ｂａ２Ｃｕ３Ｏｘセラ
ミックス、Ｂｉ２Ｓｒ２Ｃａ１Ｃｕ２Ｏｙセラミックス
等が使用できる。
【００１６】上記のアース板を使用して、電子機器の組
み立てを行うには、以下のようにする。まず、回路基板
２に通常のハンダ付け工程で電子部品をハンダ付け実装
する。回路基板２が組上がったら、回路基板２のアース
端子２２を、アース板のハンダ付け領域２１にハンダ付
けする。このとき、通常のハンダ付けを行ってもアース
板から熱が逃げないため、強固なハンダ付けが可能であ
る。 このハンダ付けの後、０．１ ％のＨＣｌ水溶液で処理
すると、ハンダ付け補助層３が溶解する。また、回路基
板２の電子部品、導体配線等はこの程度の濃度の酸では
、悪影響を受けない。この後、回路基板２およびアース
板全体を洗浄して、電子機器の組立が終了する。尚、ハ
ンダ付け補助層３を溶解する酸には、上記のＨＣｌ以外
にも０．１％のＨ３ＰＯ４の水溶液が使用できる。
み立てを行うには、以下のようにする。まず、回路基板
２に通常のハンダ付け工程で電子部品をハンダ付け実装
する。回路基板２が組上がったら、回路基板２のアース
端子２２を、アース板のハンダ付け領域２１にハンダ付
けする。このとき、通常のハンダ付けを行ってもアース
板から熱が逃げないため、強固なハンダ付けが可能であ
る。 このハンダ付けの後、０．１ ％のＨＣｌ水溶液で処理
すると、ハンダ付け補助層３が溶解する。また、回路基
板２の電子部品、導体配線等はこの程度の濃度の酸では
、悪影響を受けない。この後、回路基板２およびアース
板全体を洗浄して、電子機器の組立が終了する。尚、ハ
ンダ付け補助層３を溶解する酸には、上記のＨＣｌ以外
にも０．１％のＨ３ＰＯ４の水溶液が使用できる。
【００１７】以上のように本発明のハンダ付け補助層を
使用すると、ハンダ付け工程で熱が逃げないので、熱の
放散がよい部品にも強固なハンダ付けが可能である。ま
た、従来熱が逃げるため別の工程でハンダ付けをおこな
っていた部分も一括にハンダ付けが可能であり、ハンダ
付け不良部分の修正も不要となって生産効率が向上する
。
使用すると、ハンダ付け工程で熱が逃げないので、熱の
放散がよい部品にも強固なハンダ付けが可能である。ま
た、従来熱が逃げるため別の工程でハンダ付けをおこな
っていた部分も一括にハンダ付けが可能であり、ハンダ
付け不良部分の修正も不要となって生産効率が向上する
。
【００１８】
【発明の効果】以上詳述のように、本発明に従うと、熱
の逃げやすい部分でも強固なハンダ付けを行うことが可
能である。また、一括にハンダ付けを行ってもハンダ付
け強度が保たれるのでハンダ付け工程の効率も向上する
。
の逃げやすい部分でも強固なハンダ付けを行うことが可
能である。また、一括にハンダ付けを行ってもハンダ付
け強度が保たれるのでハンダ付け工程の効率も向上する
。
【図１】本発明のハンダ付け補助層を備えるアース板に
回路基板をハンダ付けする場合の説明図である。
回路基板をハンダ付けする場合の説明図である。
１ 導体板
２ 回路基板
３ ハンダ付け補助層
２１ ハンダ付け領域
２２ 端子
Claims (1)
- 【請求項１】 半導体装置を搭載した回路基板がハン
ダ付けにより実装される部品に具備され、ハンダ付け領
域を限定するハンダ付け補助層において、該ハンダ付け
補助層が、希土類元素、Ｂａ、ＣｕおよびＯを含むセラ
ミックス材料またはＢｉ、Ｓｒ、Ｃａ、ＣｕおよびＯを
含むセラミックス材料で構成されていることを特徴とす
るハンダ付け補助層。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15260691A JPH04350996A (ja) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | ハンダ付け補助層 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15260691A JPH04350996A (ja) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | ハンダ付け補助層 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04350996A true JPH04350996A (ja) | 1992-12-04 |
Family
ID=15544077
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15260691A Withdrawn JPH04350996A (ja) | 1991-05-28 | 1991-05-28 | ハンダ付け補助層 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04350996A (ja) |
-
1991
- 1991-05-28 JP JP15260691A patent/JPH04350996A/ja not_active Withdrawn
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980806 |