JPH04344603A - 光導波路膜の形成方法 - Google Patents

光導波路膜の形成方法

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JPH04344603A
JPH04344603A JP14424291A JP14424291A JPH04344603A JP H04344603 A JPH04344603 A JP H04344603A JP 14424291 A JP14424291 A JP 14424291A JP 14424291 A JP14424291 A JP 14424291A JP H04344603 A JPH04344603 A JP H04344603A
Authority
JP
Japan
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optical waveguide
substrate
refractive index
glass soot
oxide glass
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP14424291A
Other languages
English (en)
Inventor
Koji Okamura
浩司 岡村
Tadao Arima
忠夫 有馬
Hideki Isono
秀樹 磯野
Yasuhiro Omori
康弘 大森
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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  • Surface Treatment Of Glass Fibres Or Filaments (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は光導波路の製造に適用す
ることができる光導波路膜の形成方法に関する。
【0002】近年、光通信システムを加入者系に適用す
るための研究及び開発が実用化レベルで行われている。 加入者系において波長分割多重を利用した双方向光通信
を実現するためには、異なる波長の光信号を分離し或い
は合流するための光分波器が必要不可欠であり、この光
分波器の量産技術の確立が、加入者系光通信システムを
実用化する上でのキーテクノロジーの一つとなっている
【0003】光分波器等の光デバイスの量産化に適した
形態として、光導波路型のものが知られている。この種
の導波路型光デバイスを製造するに際しては、良質な光
導波路膜を形成することが要求される。
【0004】
【従来の技術】従来、光導波路膜の形成方法として火炎
堆積法が知られている。この方法は、原料ガスが供給さ
れるバーナの炎を基板に対して走査することを繰り返し
て、基板上に又は基板上に形成された光導波路膜上に酸
化物ガラススートを堆積させ、酸化物ガラススートを高
温下にてガラス化させるようにしたものである。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上述した光導波路膜の
形成方法による場合、基板上又は光導波路膜上に複数層
堆積させた酸化物ガラススートの組成が初期層と他の層
とで異なり、厚み方向に均一な屈折率の光導波路膜の形
成が困難であるという問題がある。
【0006】例えば、第1クラッド上に形成されたコア
を被覆する目的で形成される第2クラッドの屈折率が厚
み方向に一定でないと、コアから第2クラッドへの伝搬
光の滲み出しが生じ、漏話や損失の増大等の不都合が生
じる。
【0007】本発明はこのような点に鑑みて創作された
もので、屈折率が厚み方向について一定な光導波路膜の
形成方法の提供を目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、原料ガスが供
給されるバーナの炎を基板に対して走査することを繰り
返して上記基板上に又は該基板上に形成された光導波路
膜上に酸化物ガラススートを堆積させ、該酸化物ガラス
スートを高温下にてガラス化させるようにした光導波路
膜の形成方法において、上記酸化物ガラススートの初期
層が堆積される際には、該初期層のガラス化後の屈折率
が低下するように上記原料ガスの組成を調整するように
したものである。
【0009】
【作用】本発明方法によると、酸化物ガラススートの初
期層が堆積されるに際して、初期層のガラス化後の屈折
率が低下するように原料ガスの組成を調整するようにし
ているので、厚み方向に屈折率が一定な光導波路膜の形
成が可能になる。
【0010】原料ガスがSiCl4 及びBCl3 を
含んでいる場合には、原料ガスの組成の調整はBCl3
 の濃度が高くなるように行えば良い。
【0011】また、原料ガスがSiCl4 及びPOC
l3 を含んでいる場合には、原料ガスの組成の調整は
POCl3 の濃度が低下するように行えば良い。
【0012】
【実施例】以下本発明の実施例を図面に基づいて説明す
る。
【0013】図1は本発明の望ましい実施例を示す光導
波路膜の形成装置の主要部の構成図である。2は原料ガ
ス並びに燃焼用のO2 及びH2 が供給されるバーナ
であり、このバーナ2は、X軸駆動装置4によって図中
の左右方向に等速度(例えば100mm/秒)で往復走
査される。
【0014】4はその上に基板8が載置されるステージ
であり、このステージ6は、Y軸駆動装置10によって
紙面の表面側から裏面側に向かう方向或いは裏面側から
表面側に向かう方向に等速度(例えば1mm/秒)で往
復動作する。基板8としては、半導体製造用に通常使用
されるシリコンウエハを採用することができる。
【0015】12は燃焼制御装置であり、O2 及びH
2 を所定の混合比で混合して所定の流量でバーナ2に
供給する。
【0016】14A,B,Cはそれぞれ燃料ガス供給装
置であり、ガスフローメータ16A,B,Cからそれぞ
れ送り込まれるO2 等のキャリアガスの流量に応じた
原料ガスを送り出す。原料ガス供給装置14A,B,C
にはそれぞれこの例ではSiCl4 ,POCl3 ,
BBr3 が液相で充填されている。気相のBCl3 
を用いて、その流量を直接ガスフローメータで調整する
ようにしてもよい。18は混合された原料ガスの総流量
を制御するためのガスフローメータである。
【0017】バーナ2から吹き出された原料ガスは、燃
焼にともなう火炎加水分解によりSiO2 等の酸化物
となり、この酸化物は白色粉末状の酸化物ガラススート
として基板8上に堆積される。
【0018】バーナ2の走査及びステージ6の移動によ
って、基板8上には均一の厚みで酸化物ガラススート2
0が堆積される。尚、基板8上に堆積した酸化物ガラス
スート20は、次工程における電気炉等による加熱によ
ってガラス化され、光導波路膜となる。
【0019】図2は、本実施例において形成された光導
波路膜を用いて構成される光導波路の厚み方向の屈折率
分布を従来技術による場合と比較した図である。(A)
は従来技術を示し、(B)は本実施例を示す。
【0020】8は基板、22は基板8上に形成された比
較的低屈折率な第1クラッド、24は第1クラッド22
上に形成された比較的高屈折率なコア、26はコア24
を覆うように第1クラッド22上に形成された第2クラ
ッドである。第2クラッド26の屈折率は第1クラッド
22の屈折率とほぼ等しい。コア24は、コアとなるべ
き光導波路膜をエッチングして得ることができる。
【0021】図中光導波路の右側に表された線図は、光
導波路の厚み方向の屈折率分布を表すグラフであり、縦
軸は光導波路の厚み方向の位置を表し、横軸は屈折率を
表す。屈折率はグラフ中で右側にいく程高くなる。また
、グラフにおいて実線で示されるのはコア24を横切ら
ない断面における光導波路の厚み方向の屈折率分布を表
し、破線で示されるのはコア24を横切る断面における
光導波路の厚み方向の屈折率分布を表す。
【0022】従来技術による場合、図2(A)に示すよ
うに、第1クラッド22の基板8側の部分及び第2クラ
ッド26の第1クラッド22側の部分が部分的に高屈折
率になっていることがわかる。第2クラッド26の第1
クラッド22側の部分が高屈折率になっていると、コア
24から第1クラッド26内への伝搬光の滲み出しが発
生し、漏話特性が劣化するとともに損失が増大する。
【0023】このようにクラッドの屈折率分布が不均一
になるのは、酸化物ガラススートの組成が、酸化物ガラ
ススートが堆積するものの温度に依存するからである。
【0024】即ち、基板8上或いは第1クラッド22上
に酸化物ガラススートの初期層が堆積される際には、被
堆積面は比較的低温でありしかも熱伝導性が良いので、
析出温度が低温になり屈折率が高くなるのに対して、堆
積された酸化物ガラススート上に次の酸化物ガラススー
トが堆積される際には、被堆積面が比較的高温でありし
かも熱伝導性が悪いので、析出温度は高温になり、屈折
率が低くなる。
【0025】本実施例では、酸化物ガラススートの初期
層が堆積される際に、初期層のガラス化後の屈折率が低
下するように原料ガスの組成を調整し、図2(B)に示
すように、光導波路(第1クラッド22及び第2クラッ
ド26)の厚み方向の屈折率が一定になるようにしてい
る。
【0026】これにより、製造された光導波路において
、コアからクラッドへの伝搬光の滲み出しがなくなり、
漏話特性を良好に維持することができるようになるとと
もに、損失特性が改善される。
【0027】原料ガスの組成の調整を説明する。図2(
A)に示された例においては、各キャリアガスをSiC
l4 ,POCl3 に対してそれぞれ300ml/分
、200ml/分にしたときに、BCl3の流量が40
ml/分で一定にして、酸化物ガラススートを6層堆積
していた。また、分析結果から、酸化物ガラススートの
ガラス化後、第2クラッド26の基板に近い側の2層に
相当する部分においてB2 O3 の濃度が低く、屈折
率が部分的に高くなっていることが明らかになった。
【0028】そこで、本実施例においては、酸化物ガラ
ススートの初期の2層の堆積時にバーナに供給するBC
l3 の流量を60ml/分とし、後半の4層に相当す
る部分を堆積するときのBCl3 の流量を40ml/
分とした。また、他の原料ガスについては変更しなかっ
た。
【0029】このようにして堆積した酸化物ガラススー
トを約1300℃でガラス化したところ、図2(B)に
示したように、厚み方向に一定の屈折率を有するクラッ
ドが得られた。
【0030】尚、BCl3 の濃度を低下させることに
代えて、POCl3 の濃度が高くなるようにしても良
い。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
屈折率が厚み方向について一定な光導波路の形成が可能
になるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の望ましい実施例を示す光導波路膜の形
成装置の主要部の構成図である。
【図2】光導波路の厚み方向の屈折率分布の説明図であ
る。
【符号の説明】
2  バーナ 6  ステージ 8  基板 20  酸化物ガラススート

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】  原料ガスが供給されるバーナ(2) 
    の炎を基板(8) に対して走査することを繰り返して
    上記基板上に又は該基板上に形成された光導波路膜上に
    酸化物ガラススート(20)を堆積させ、該酸化物ガラ
    ススートを高温下にてガラス化させるようにした光導波
    路膜の形成方法において、上記酸化物ガラススート(2
    0)の初期層が堆積される際には、該初期層のガラス化
    後の屈折率が低下するように上記原料ガスの組成を調整
    することを特徴とする光導波路膜の形成方法。
  2. 【請求項2】  上記原料ガスはシリコン化合物及びホ
    ウ素化合物を含み、上記原料ガスの組成の調整は上記ホ
    ウ素化合物の濃度が高くなるようになされることを特徴
    とする請求項1に記載の光導波路膜の形成方法。
  3. 【請求項3】  上記原料ガスはシリコン化合物及びリ
    ン化合物を含み、上記原料ガスの組成の調整は上記リン
    化合物の濃度が低下するようになされることを特徴とす
    る請求項1に記載の光導波路膜の形成方法。
JP14424291A 1991-05-21 1991-05-21 光導波路膜の形成方法 Withdrawn JPH04344603A (ja)

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