JPH04340515A - 走査型光学顕微鏡のシェ−ディング補正方法 - Google Patents
走査型光学顕微鏡のシェ−ディング補正方法Info
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- JPH04340515A JPH04340515A JP11188991A JP11188991A JPH04340515A JP H04340515 A JPH04340515 A JP H04340515A JP 11188991 A JP11188991 A JP 11188991A JP 11188991 A JP11188991 A JP 11188991A JP H04340515 A JPH04340515 A JP H04340515A
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 17
- 238000003705 background correction Methods 0.000 claims description 14
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 15
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 11
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 5
- 238000001506 fluorescence spectroscopy Methods 0.000 description 5
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000001317 epifluorescence microscopy Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000339 bright-field microscopy Methods 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000001917 fluorescence detection Methods 0.000 description 1
- 230000003760 hair shine Effects 0.000 description 1
- 238000000386 microscopy Methods 0.000 description 1
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、走査型光学顕微鏡、と
くに、走査型レ−ザ顕微鏡（ＬＳＭ）のシェ−ディング
補正方法に関する。
くに、走査型レ−ザ顕微鏡（ＬＳＭ）のシェ−ディング
補正方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】シェ−ディング補正は画像処理の一方法
として従来より良く知られている。これは背景画との減
算や画像間の乗算により光むらのない鮮明な画像を得る
ために行われる。特に、透過明視野検鏡法の場合、背景
画として標本のマウントされていないスライドガラスで
背景画をとることは容易であり、一般的に良く用いられ
ている。
として従来より良く知られている。これは背景画との減
算や画像間の乗算により光むらのない鮮明な画像を得る
ために行われる。特に、透過明視野検鏡法の場合、背景
画として標本のマウントされていないスライドガラスで
背景画をとることは容易であり、一般的に良く用いられ
ている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、落射蛍
光検鏡法においては、暗い背景の中で蛍光標本のあると
ころのみが光るため、標本のない状態で背景画デ−タを
得ることは困難であり、反射ミラ−、又は、一様な蛍光
物質などの標準試料を用いて背景画デ−タを得る必要が
あった。
光検鏡法においては、暗い背景の中で蛍光標本のあると
ころのみが光るため、標本のない状態で背景画デ−タを
得ることは困難であり、反射ミラ−、又は、一様な蛍光
物質などの標準試料を用いて背景画デ−タを得る必要が
あった。
【０００４】本発明のシェ−ディング補正方法は、この
ような課題に着目してなされたもので、その目的とする
ところは、走査型光学顕微鏡の落射蛍光検鏡像のシェ−
ディング補正を容易に行う方法を提供することにある。
ような課題に着目してなされたもので、その目的とする
ところは、走査型光学顕微鏡の落射蛍光検鏡像のシェ−
ディング補正を容易に行う方法を提供することにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、本発明のシェ−ディング補正方法は、標本がない
場合の透過像から得られる測光デ−タを、落射蛍光検鏡
像の背景画デ−タとして用いるものである。
めに、本発明のシェ−ディング補正方法は、標本がない
場合の透過像から得られる測光デ−タを、落射蛍光検鏡
像の背景画デ−タとして用いるものである。
【０００６】
【作用】すなわち、本発明によれば、標本がない場合の
透過像から得られる測光デ−タを落射蛍光検鏡像の背景
画デ−タとして用いるので、落射蛍光デ−タを得るため
の光学構成を変更せずにその背景画デ−タが得られる。
透過像から得られる測光デ−タを落射蛍光検鏡像の背景
画デ−タとして用いるので、落射蛍光デ−タを得るため
の光学構成を変更せずにその背景画デ−タが得られる。
【０００７】
【実施例】まず、本発明のシェ−ディング補正方法の基
本的概念を説明する。
本的概念を説明する。
【０００８】透過検鏡法によって透過光デ−タを得る場
合はレ−ザ光源からの励起光は対物レンズに代表される
結像光学系を１回しか通過しないが、落射蛍光検鏡法に
よって落射蛍光デ−タを得る場合は、レ−ザ光源からの
励起光が結像光学系を介して標本に照射された後、その
反射光が再び結像光学系を介して蛍光検出がなされるの
で、全体で２回、結像光学系を通過することになる。
合はレ−ザ光源からの励起光は対物レンズに代表される
結像光学系を１回しか通過しないが、落射蛍光検鏡法に
よって落射蛍光デ−タを得る場合は、レ−ザ光源からの
励起光が結像光学系を介して標本に照射された後、その
反射光が再び結像光学系を介して蛍光検出がなされるの
で、全体で２回、結像光学系を通過することになる。
【０００９】また、シェ−ディングの原因となるのは、
対物レンズに代表される結像光学系側がほとんである。 そこで、本発明においては、結像光学系を２回通過した
蛍光デ−タを１回のみの通過によって得られる透過デ−
タで２回除算（すなわち、透過デ−タの２乗で割る）し
た結果を落射蛍光検鏡像の背景画デ−タとして用いるこ
とを特徴とする。図１は本発明のシェ−ディング補正方
法を実施するための構成図であり、図２はそのフロ−チ
ャ−トである。
対物レンズに代表される結像光学系側がほとんである。 そこで、本発明においては、結像光学系を２回通過した
蛍光デ−タを１回のみの通過によって得られる透過デ−
タで２回除算（すなわち、透過デ−タの２乗で割る）し
た結果を落射蛍光検鏡像の背景画デ−タとして用いるこ
とを特徴とする。図１は本発明のシェ−ディング補正方
法を実施するための構成図であり、図２はそのフロ−チ
ャ−トである。
【００１０】まず、ステップＳ１において、通常の操作
を行い、標本１５をステ−ジ３５に載置して蛍光画像を
画像処理装置に取り込む。すなわち、レ−ザ光源１とし
てのアルゴンレ−ザからの励起光を光ファイバ３によっ
て導き、ビ−ムエクスパンダ５によって拡大し、ダイク
ロイックミラ−７によって特定の色成分のみを透過させ
て、ガルバノメ−タスキャナ９、瞳投影レンズ１１、対
物レンズ１３などを含む結像光学系１００に入射される
。この結像光学系１００からの励起光は標本１５に照射
される。
を行い、標本１５をステ−ジ３５に載置して蛍光画像を
画像処理装置に取り込む。すなわち、レ−ザ光源１とし
てのアルゴンレ−ザからの励起光を光ファイバ３によっ
て導き、ビ−ムエクスパンダ５によって拡大し、ダイク
ロイックミラ−７によって特定の色成分のみを透過させ
て、ガルバノメ−タスキャナ９、瞳投影レンズ１１、対
物レンズ１３などを含む結像光学系１００に入射される
。この結像光学系１００からの励起光は標本１５に照射
される。
【００１１】標本１５からの蛍光は前記結像光学系１０
０、ダイクロイックミラ−７を介して、共焦点ピンホ−
ル１７へと導かれ、ダイクロイックミラ−１９によって
特定の色成分が透過され、この色成分が測光フィルタ２
１を介してフォトマルチプライヤ２３に供給される。フ
ォトマルチプライヤ２３は標本１５からの蛍光を検出す
るものであり、検出された蛍光はＡ／Ｄコンバ−タ２５
によってＡ／Ｄ変換され蛍光デ−タとしてフレ−ムメモ
リ２７に記憶される。同様に、ダイクロイックミラ−１
９によって反射された他の色成分は測光フィルタ２１を
介してフォトマルチプライア２９に供給される。フォト
マルチプライア２９からの出力はＡ／Ｄコンバ−タ３１
によってＡ／Ｄ変換され、蛍光デ−タとしてフレ−ムメ
モリ３３に記憶される。
０、ダイクロイックミラ−７を介して、共焦点ピンホ−
ル１７へと導かれ、ダイクロイックミラ−１９によって
特定の色成分が透過され、この色成分が測光フィルタ２
１を介してフォトマルチプライヤ２３に供給される。フ
ォトマルチプライヤ２３は標本１５からの蛍光を検出す
るものであり、検出された蛍光はＡ／Ｄコンバ−タ２５
によってＡ／Ｄ変換され蛍光デ−タとしてフレ−ムメモ
リ２７に記憶される。同様に、ダイクロイックミラ−１
９によって反射された他の色成分は測光フィルタ２１を
介してフォトマルチプライア２９に供給される。フォト
マルチプライア２９からの出力はＡ／Ｄコンバ−タ３１
によってＡ／Ｄ変換され、蛍光デ−タとしてフレ−ムメ
モリ３３に記憶される。
【００１２】次に、ステップＳ２において、標本が載置
されていないスライドガラス１６をステ−ジ３５に置く
。これより、レ−ザ光源１からの励起光は前記したよう
に、結像光学系１００を介して、スライドガラス１６、
コンデンサレンズ３７、コレクタレンズ３９を透過し、
シリコンフォトダイオ−ド４１を含む透過ディテクタユ
ニット１０３に入射する。シリコンフォトダイオ−ド４
１は透過光に対応する電気信号を出力する。この出力を
Ａ／Ｄコンバ−タ４３によってＡ／Ｄ変換した後、標本
なしの透過デ−タ（背景画デ−タ）としてフレ−ムメモ
リ４５に記憶する。
されていないスライドガラス１６をステ−ジ３５に置く
。これより、レ−ザ光源１からの励起光は前記したよう
に、結像光学系１００を介して、スライドガラス１６、
コンデンサレンズ３７、コレクタレンズ３９を透過し、
シリコンフォトダイオ−ド４１を含む透過ディテクタユ
ニット１０３に入射する。シリコンフォトダイオ−ド４
１は透過光に対応する電気信号を出力する。この出力を
Ａ／Ｄコンバ−タ４３によってＡ／Ｄ変換した後、標本
なしの透過デ−タ（背景画デ−タ）としてフレ−ムメモ
リ４５に記憶する。
【００１３】次に、ステップＳ３では、演算部４７は、
ステップＳ１において得られた蛍光デ−タをフレ−ムメ
モリ２７から読み出すとともに、ステップＳ２において
得られた透過デ−タをフレ−ムメモリ４５から読み出し
、所定の画像間演算、すなわち、蛍光デ−タを透過デ−
タの２乗で割り算し、その結果得られるデ−タを表示部
４９に出力、表示する。
ステップＳ１において得られた蛍光デ−タをフレ−ムメ
モリ２７から読み出すとともに、ステップＳ２において
得られた透過デ−タをフレ−ムメモリ４５から読み出し
、所定の画像間演算、すなわち、蛍光デ−タを透過デ−
タの２乗で割り算し、その結果得られるデ−タを表示部
４９に出力、表示する。
【００１４】このように、本発明によるシェ−ディング
補正方法においては、落射蛍光検鏡像の背景画デ−タを
、透過モ−ドで標本のない状態で取り込むことによって
得られるデ−タの２乗特性で代用したことを特徴とする
。
補正方法においては、落射蛍光検鏡像の背景画デ−タを
、透過モ−ドで標本のない状態で取り込むことによって
得られるデ−タの２乗特性で代用したことを特徴とする
。
【００１５】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明のシェ−デ
ィング補正方法においては、背景画デ−タを得るための
光検出を透過側で行うため、落射蛍光デ−タを得るため
の光学構成を変更しないで背景画デ−タを得ることがで
きる。これより、シェ−ディング補正の操作が容易にな
るとともに、反射ミラ−や一様な蛍光物質の準備が不要
となる。
ィング補正方法においては、背景画デ−タを得るための
光検出を透過側で行うため、落射蛍光デ−タを得るため
の光学構成を変更しないで背景画デ−タを得ることがで
きる。これより、シェ−ディング補正の操作が容易にな
るとともに、反射ミラ−や一様な蛍光物質の準備が不要
となる。
【図１】本発明のシェ−ディング補正方法を実施するた
めの構成図。
めの構成図。
【図２】本発明のシェ−ディング補正方法を説明するた
めのフロ−チャ−トである。
めのフロ−チャ−トである。
１…レ−ザ光源、１３…対物レンズ、１５…標本、２７
、４５…フレ−ムメモリ、４７…演算部、４９…表示部
、１００…結像光学系、１０３…透過ディテクタユニッ
ト。
、４５…フレ−ムメモリ、４７…演算部、４９…表示部
、１００…結像光学系、１０３…透過ディテクタユニッ
ト。
Claims (2)
- 【請求項１】 走査型光学顕微鏡のシェ−ディング補
正方法において、標本がない場合の透過像から得られる
測光デ−タを、落射蛍光検鏡像の背景画デ−タとして用
いることを特徴とするシェ−ディング補正方法。 - 【請求項２】 シェ−ディング補正を前記測光デ−タ
の２乗特性によって行うことを特徴とする請求項１記載
のシェ−ディング補正方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11188991A JPH04340515A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 走査型光学顕微鏡のシェ−ディング補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11188991A JPH04340515A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 走査型光学顕微鏡のシェ−ディング補正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04340515A true JPH04340515A (ja) | 1992-11-26 |
Family
ID=14572688
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11188991A Withdrawn JPH04340515A (ja) | 1991-05-16 | 1991-05-16 | 走査型光学顕微鏡のシェ−ディング補正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH04340515A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006189640A (ja) * | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
| US8913096B2 (en) | 2010-08-25 | 2014-12-16 | Ricoh Company, Limited | Optical scanning device and image forming apparatus |
-
1991
- 1991-05-16 JP JP11188991A patent/JPH04340515A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006189640A (ja) * | 2005-01-06 | 2006-07-20 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
| US8913096B2 (en) | 2010-08-25 | 2014-12-16 | Ricoh Company, Limited | Optical scanning device and image forming apparatus |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19980806 |