JP3326881B2 - 走査型光学顕微鏡 - Google Patents
走査型光学顕微鏡Info
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- JP3326881B2 JP3326881B2 JP17759593A JP17759593A JP3326881B2 JP 3326881 B2 JP3326881 B2 JP 3326881B2 JP 17759593 A JP17759593 A JP 17759593A JP 17759593 A JP17759593 A JP 17759593A JP 3326881 B2 JP3326881 B2 JP 3326881B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、走査型光学顕微鏡に関
するものである。更に詳しくは走査落射蛍光像と同一試
料・同一部位の透過像を同時に観察することができる走
査型光学顕微鏡に関するものである。
するものである。更に詳しくは走査落射蛍光像と同一試
料・同一部位の透過像を同時に観察することができる走
査型光学顕微鏡に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、走査落射蛍光像と同一試料・同一
部位の光学像を同時に観察することができる走査型光学
顕微鏡は次のような構成であった。
部位の光学像を同時に観察することができる走査型光学
顕微鏡は次のような構成であった。
【０００３】図６において、光源１から射出されたレー
ザ光はダイクロイックミラー２で反射し、対物レンズ３
に集光されて、試料４を光偏向器５による光束の振れに
より走査していた。そして励起され試料４から発した蛍
光６は逆進した後、固定ミラー１３で反射しダイクロイ
ックミラー２を透過し、集光レンズ７により集光され蛍
光像が得られていた。そして蛍光像は光検出器８で光電
変換され、画像ディスプレー９に蛍光像として写し出さ
れていた。
ザ光はダイクロイックミラー２で反射し、対物レンズ３
に集光されて、試料４を光偏向器５による光束の振れに
より走査していた。そして励起され試料４から発した蛍
光６は逆進した後、固定ミラー１３で反射しダイクロイ
ックミラー２を透過し、集光レンズ７により集光され蛍
光像が得られていた。そして蛍光像は光検出器８で光電
変換され、画像ディスプレー９に蛍光像として写し出さ
れていた。
【０００４】又試料４で強度変調され透過したレーザ光
は集光レンズ１０により集光されて、光検出器１１に入
力し光電変換され、電気回路１２で電気処理されてから
画像ディスプレー９に走査式の透過像として写し出され
ていた。このように画像ディスプレー９には、蛍光像と
走査式の透過像とを同一試料・同一部位につき同時に重
ねて、又は個別に観察することができた。
は集光レンズ１０により集光されて、光検出器１１に入
力し光電変換され、電気回路１２で電気処理されてから
画像ディスプレー９に走査式の透過像として写し出され
ていた。このように画像ディスプレー９には、蛍光像と
走査式の透過像とを同一試料・同一部位につき同時に重
ねて、又は個別に観察することができた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
従来技術には下記のような問題があった。走査型光学顕
微鏡は普通顕微鏡として使用するときのために、一般に
透過照明像観察用に通常のハロゲンランプ光等の光源を
含む照明光学系１４ａと接眼レンズ又はＴＶカメラ等を
含む観察光学系１４ｂとが付設されている。この光源に
よる観察からレーザ光励起による蛍光観察に移行する
時、又は逆に移行する時、集光レンズ１０及び光検出器
１１と、照明１４ａとの交換ならびに全反射式の固定ミ
ラー１３を光路から取り外すという煩瑣な作業が必要で
あった。又、従来技術においては透過像観察のためにレ
ーザ光の照射を行っていた。即ち、レーザ走査型透過像
観察によるレーザ光の照射による試料の劣化や蛍光色素
の褪色等を免れることができず、特に生細胞等の観察で
は、蛍光像を撮る時にのみレーザ光を照射し、透過像観
察の際にはレーザ光の照射を極力避けたいという要望が
大きかった。更に、普通顕微鏡が具備する通常の照明光
学系及び観察光学系の他に、レーザ光による透過像観察
のために専用の集光レンズ１０、光検出器１１及び電気
回路１２が必要であり、装置全体の価格上昇を招いてい
た。
従来技術には下記のような問題があった。走査型光学顕
微鏡は普通顕微鏡として使用するときのために、一般に
透過照明像観察用に通常のハロゲンランプ光等の光源を
含む照明光学系１４ａと接眼レンズ又はＴＶカメラ等を
含む観察光学系１４ｂとが付設されている。この光源に
よる観察からレーザ光励起による蛍光観察に移行する
時、又は逆に移行する時、集光レンズ１０及び光検出器
１１と、照明１４ａとの交換ならびに全反射式の固定ミ
ラー１３を光路から取り外すという煩瑣な作業が必要で
あった。又、従来技術においては透過像観察のためにレ
ーザ光の照射を行っていた。即ち、レーザ走査型透過像
観察によるレーザ光の照射による試料の劣化や蛍光色素
の褪色等を免れることができず、特に生細胞等の観察で
は、蛍光像を撮る時にのみレーザ光を照射し、透過像観
察の際にはレーザ光の照射を極力避けたいという要望が
大きかった。更に、普通顕微鏡が具備する通常の照明光
学系及び観察光学系の他に、レーザ光による透過像観察
のために専用の集光レンズ１０、光検出器１１及び電気
回路１２が必要であり、装置全体の価格上昇を招いてい
た。
【０００６】本発明は上記の課題に鑑み、蛍光像観察と
光学像観察とが同時に行え、あるいは選択的に容易に切
換えられ、試料の劣化と蛍光色素の褪色が必要最小限に
抑制され、且つ低廉な走査型光学顕微鏡を提供すること
を目的とする。
光学像観察とが同時に行え、あるいは選択的に容易に切
換えられ、試料の劣化と蛍光色素の褪色が必要最小限に
抑制され、且つ低廉な走査型光学顕微鏡を提供すること
を目的とする。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明は、 励起光を射
出する励起用光源と、前記励起光とこの励起光の照射を
受けた試料より発光する蛍光とのいづれか一方を反射
し、他方を透過する第１ダイクロイックミラーと、前記
光源と前記試料との間に配置され、前記励起光を二次元
的に走査する光偏向器と、前記励起光を前記試料に収束
し、かつ、前記試料からの前記蛍光を集光する対物レン
ズと、前記対物レンズにより集光された前記蛍光を収束
する集光レンズと、前記集光レンズにより収束された前
記蛍光を検出する第１光検出器と、前記第１光検出器か
らの電気信号を受けて処理する第１電気回路と、前記第
１電気回路からの出力を受けて画像処理する第１画像処
理装置と、前記第１画像処理装置により画像処理された
画像を表示する第１画像ディスプレーとを有する走査型
蛍光像観察装置を具備する走査型光学顕微鏡において、
照明光を射出する照明用光源と、前記試料を介した前記
照明光を結像する結像レンズと、前記結像レンズにより
結像した前記照明光を検出する第２光検出器と、前記第
２光検出器からの電気信号を受けて処理する第２電気回
路と、前記第２電気回路からの出力を受けて画像処理す
る第２画像処理装置と、前記第２画像処理装置により画
像処理された画像を表示する第２画像ディスプレーとを
有する光学像観察装置と、前記対物レンズと前記光偏向
器との間に配置され、かつ前記励起光及び前記蛍光と前
記照明光とのいづれか一方を反射し他方を透過して、前
記走査型蛍光像観察装置の光軸の一部と前記光学像観察
装置の観察光軸との一部とを同軸に結合する第２ダイク
ロイックミラーとを具備するものである。
出する励起用光源と、前記励起光とこの励起光の照射を
受けた試料より発光する蛍光とのいづれか一方を反射
し、他方を透過する第１ダイクロイックミラーと、前記
光源と前記試料との間に配置され、前記励起光を二次元
的に走査する光偏向器と、前記励起光を前記試料に収束
し、かつ、前記試料からの前記蛍光を集光する対物レン
ズと、前記対物レンズにより集光された前記蛍光を収束
する集光レンズと、前記集光レンズにより収束された前
記蛍光を検出する第１光検出器と、前記第１光検出器か
らの電気信号を受けて処理する第１電気回路と、前記第
１電気回路からの出力を受けて画像処理する第１画像処
理装置と、前記第１画像処理装置により画像処理された
画像を表示する第１画像ディスプレーとを有する走査型
蛍光像観察装置を具備する走査型光学顕微鏡において、
照明光を射出する照明用光源と、前記試料を介した前記
照明光を結像する結像レンズと、前記結像レンズにより
結像した前記照明光を検出する第２光検出器と、前記第
２光検出器からの電気信号を受けて処理する第２電気回
路と、前記第２電気回路からの出力を受けて画像処理す
る第２画像処理装置と、前記第２画像処理装置により画
像処理された画像を表示する第２画像ディスプレーとを
有する光学像観察装置と、前記対物レンズと前記光偏向
器との間に配置され、かつ前記励起光及び前記蛍光と前
記照明光とのいづれか一方を反射し他方を透過して、前
記走査型蛍光像観察装置の光軸の一部と前記光学像観察
装置の観察光軸との一部とを同軸に結合する第２ダイク
ロイックミラーとを具備するものである。
【０００８】前記光学像観察装置は、前記試料に対して
前記対物レンズと対向する側に配置され、前記照明用光
源からの照明光を集光し前記試料を照明するコンデンサ
レンズを有し、前記結像レンズは、前記対物レンズを介
し、かつ、前記第２ダイクロイックミラーを透過して、
前記試料を透過した照明光が入射するように配置されて
いることが望ましい。そして第１の画像処理装置と第２
の画像処理装置、ならびに第１の画像ディスプレーと第
２の画像ディスプレーがそれぞれ同一であることが好ま
しい。
前記対物レンズと対向する側に配置され、前記照明用光
源からの照明光を集光し前記試料を照明するコンデンサ
レンズを有し、前記結像レンズは、前記対物レンズを介
し、かつ、前記第２ダイクロイックミラーを透過して、
前記試料を透過した照明光が入射するように配置されて
いることが望ましい。そして第１の画像処理装置と第２
の画像処理装置、ならびに第１の画像ディスプレーと第
２の画像ディスプレーがそれぞれ同一であることが好ま
しい。
【０００９】
【作用】本発明で、蛍光像を観察するときは、励起光が
試料を走査し、励起された蛍光は集光レンズにより集光
され、第１の光検出器に入射する。そして蛍光像として
画像ディスプレーに写し出される。光学像を観察すると
きは、照明光は光源から射出し、試料をケーラー照明す
る。試料により位相変調された照明光は、結像レンズを
介して第２の光検出器に入射し、画像ディスプレーに光
学像が写し出される。同一試料・同一部位の蛍光像と光
学像とが同時に写し出され、同時に観察することができ
る。
試料を走査し、励起された蛍光は集光レンズにより集光
され、第１の光検出器に入射する。そして蛍光像として
画像ディスプレーに写し出される。光学像を観察すると
きは、照明光は光源から射出し、試料をケーラー照明す
る。試料により位相変調された照明光は、結像レンズを
介して第２の光検出器に入射し、画像ディスプレーに光
学像が写し出される。同一試料・同一部位の蛍光像と光
学像とが同時に写し出され、同時に観察することができ
る。
【００１０】
【実施例】本発明の第１の実施例を図１乃至図３により
説明する。図１は第１の実施例の主として光学的構成を
示す構成図である。図１において、光源１は励起用の短
波長のレーザビーム１５を射出するレーザである。レー
ザビーム１５の光路には、ビーム径を必要な大きさに拡
大するビームエキスパンダ１６が配置されている。ビー
ムエキスパンダ１６により拡大された光束１７の光路に
は、光軸に対し４５°傾斜して配置されたダイクロイッ
クミラー２、光束１７を二次元に偏向して試料を走査す
る光偏向器５、リレーレンズ１８、光軸に対し４５°傾
斜して配置されたダイクロイックミラー１９、対物レン
ズ３が順次配置されている。対物レンズ３により集光さ
れた光が、ビームスポットを形成する位置に試料４が載
置されている。
説明する。図１は第１の実施例の主として光学的構成を
示す構成図である。図１において、光源１は励起用の短
波長のレーザビーム１５を射出するレーザである。レー
ザビーム１５の光路には、ビーム径を必要な大きさに拡
大するビームエキスパンダ１６が配置されている。ビー
ムエキスパンダ１６により拡大された光束１７の光路に
は、光軸に対し４５°傾斜して配置されたダイクロイッ
クミラー２、光束１７を二次元に偏向して試料を走査す
る光偏向器５、リレーレンズ１８、光軸に対し４５°傾
斜して配置されたダイクロイックミラー１９、対物レン
ズ３が順次配置されている。対物レンズ３により集光さ
れた光が、ビームスポットを形成する位置に試料４が載
置されている。
【００１１】レーザビーム１５に励起され試料４から発
した蛍光６の光路は、レーザビーム１５の光路を一部逆
進するようになる。ダイクロイックミラー１９で反射し
た後、ダイクロイックミラー２を透過した蛍光６の光路
には、蛍光のみを透過するバリアフィルタ２０、バリア
フィルタ２０ａが配置されている。蛍光６の光束を集光
する集光レンズ７の焦点面にはピンホール２１が配置さ
れ、共焦点光学系が形成される。
した蛍光６の光路は、レーザビーム１５の光路を一部逆
進するようになる。ダイクロイックミラー１９で反射し
た後、ダイクロイックミラー２を透過した蛍光６の光路
には、蛍光のみを透過するバリアフィルタ２０、バリア
フィルタ２０ａが配置されている。蛍光６の光束を集光
する集光レンズ７の焦点面にはピンホール２１が配置さ
れ、共焦点光学系が形成される。
【００１２】光検出器８は蛍光６を検出し電気信号を出
力する光電変換素子である。電気回路２２は出力した電
気信号をＡ／Ｄ変換等の処理をして画像処理装置２３に
出力し、画像処理装置２３は電気信号を画像処理し、画
像ディスプレー９に蛍光像として写し出す。
力する光電変換素子である。電気回路２２は出力した電
気信号をＡ／Ｄ変換等の処理をして画像処理装置２３に
出力し、画像処理装置２３は電気信号を画像処理し、画
像ディスプレー９に蛍光像として写し出す。
【００１３】一方、光源２４は透過照明用の長波長の光
を射出するハロゲンランプである。観測の目的によって
は他のキセノンランプ等が使用される。光源２４から発
した光束２５はバンドパスフィルタ２６により、レーザ
ビーム１５及び蛍光６より長い波長の光２７のみが透過
する。光束２５の光路に配置されているコンデンサレン
ズ２８は試料４をケーラー照明するためのコンデンサレ
ンズである。試料４により強度変調され透過した照明光
は対物レンズ３により集光され、対物レンズ３の後には
照明光が透過するダイクロイックミラー１９が配置され
ている。光路にはバリアフィルタ２９及び投影レンズ３
０が順次配置されている。投影レンズ３０は対物レンズ
と協動して透過像を結像するレンズである。
を射出するハロゲンランプである。観測の目的によって
は他のキセノンランプ等が使用される。光源２４から発
した光束２５はバンドパスフィルタ２６により、レーザ
ビーム１５及び蛍光６より長い波長の光２７のみが透過
する。光束２５の光路に配置されているコンデンサレン
ズ２８は試料４をケーラー照明するためのコンデンサレ
ンズである。試料４により強度変調され透過した照明光
は対物レンズ３により集光され、対物レンズ３の後には
照明光が透過するダイクロイックミラー１９が配置され
ている。光路にはバリアフィルタ２９及び投影レンズ３
０が順次配置されている。投影レンズ３０は対物レンズ
と協動して透過像を結像するレンズである。
【００１４】ＴＶカメラ３１は、投影レンズ３０により
結像された試料４の像を撮像し、像に応じた電気信号を
出力する光電変換素子が内蔵されていて、それから出力
した電気信号は画像処理装置２３に内蔵された電気回路
でＡ／Ｄ変換され、入力し画像処理される。画像ディス
プレー９は透過照明像を写し出す。
結像された試料４の像を撮像し、像に応じた電気信号を
出力する光電変換素子が内蔵されていて、それから出力
した電気信号は画像処理装置２３に内蔵された電気回路
でＡ／Ｄ変換され、入力し画像処理される。画像ディス
プレー９は透過照明像を写し出す。
【００１５】ダイクロイックミラー１９は励起光及び蛍
光を透過せず反射し、透過照明光を透過するミラーであ
り、励起光及び蛍光が進行する蛍光観察光学系、ならび
に透過照明光が進行する透過像観察光学系の両者の光軸
に対して、それぞれ４５°傾斜して配置されている。両
光学系はダイクロイックミラー１９により光軸が互いに
同軸になるように結合されている。
光を透過せず反射し、透過照明光を透過するミラーであ
り、励起光及び蛍光が進行する蛍光観察光学系、ならび
に透過照明光が進行する透過像観察光学系の両者の光軸
に対して、それぞれ４５°傾斜して配置されている。両
光学系はダイクロイックミラー１９により光軸が互いに
同軸になるように結合されている。
【００１６】次に、励起光、蛍光及び透過照明光ならび
にダイクロイックミラー１９の波長関係について説明す
る。図２は励起光、蛍光及び透過照明光の波長スペクト
ル図であり、横軸に波長を、縦軸に光の強度を定性的に
示している。励起光の波長は最も短く、波長幅は狭い。
蛍光の波長は励起光の波長より長い。例えばカルシウム
イオンの測定を行う場合は、波長４７０〜４９０ｎｍの
励起光の照射によりカルシウムイオンは蛍光試薬Ｆｌｕ
ｏ３と結合して波長５２０〜５６０ｎｍの蛍光を発す
る。蛍光はその性質上波長幅は広がっていて、光の強度
は励起光に比較して小さい。又場合により蛍光の波長範
囲は一部励起光と重複することがある。
にダイクロイックミラー１９の波長関係について説明す
る。図２は励起光、蛍光及び透過照明光の波長スペクト
ル図であり、横軸に波長を、縦軸に光の強度を定性的に
示している。励起光の波長は最も短く、波長幅は狭い。
蛍光の波長は励起光の波長より長い。例えばカルシウム
イオンの測定を行う場合は、波長４７０〜４９０ｎｍの
励起光の照射によりカルシウムイオンは蛍光試薬Ｆｌｕ
ｏ３と結合して波長５２０〜５６０ｎｍの蛍光を発す
る。蛍光はその性質上波長幅は広がっていて、光の強度
は励起光に比較して小さい。又場合により蛍光の波長範
囲は一部励起光と重複することがある。
【００１７】透過照明光の波長スペクトルは、バンドパ
スフィルタ２６を透過した後のものを示しており、光源
２４とバンドパスフィルタ２６を適正に選択し、励起光
及び蛍光の波長より長い波長となっている。波長幅はバ
ンドパスフィルタ２６の仕様により定まる。波長範囲
は、蛍光の波長範囲を避けて重複しないように且つ、細
胞の劣化や蛍光色素の褪色が最小限に抑制可能な範囲で
選択される。上記した例では、透過照明光は波長５８０
ｎｍ程度以上の橙黄色乃至赤色光又は近赤外線である。
スフィルタ２６を透過した後のものを示しており、光源
２４とバンドパスフィルタ２６を適正に選択し、励起光
及び蛍光の波長より長い波長となっている。波長幅はバ
ンドパスフィルタ２６の仕様により定まる。波長範囲
は、蛍光の波長範囲を避けて重複しないように且つ、細
胞の劣化や蛍光色素の褪色が最小限に抑制可能な範囲で
選択される。上記した例では、透過照明光は波長５８０
ｎｍ程度以上の橙黄色乃至赤色光又は近赤外線である。
【００１８】図３はダイクロイックミラー１９の特性曲
線を示す図で、横軸に波長を、縦軸に光の透過率を定性
的に示す。実線はダイクロイックミラー１９の特性曲線
をそれぞれに示し、点線は励起光、蛍光及び透過照明光
の波長スペクトルを示している。ダイクロイックミラー
１９は、図３に示すように、励起光及び蛍光を透過せず
反射し、透過照明光を透過する。
線を示す図で、横軸に波長を、縦軸に光の透過率を定性
的に示す。実線はダイクロイックミラー１９の特性曲線
をそれぞれに示し、点線は励起光、蛍光及び透過照明光
の波長スペクトルを示している。ダイクロイックミラー
１９は、図３に示すように、励起光及び蛍光を透過せず
反射し、透過照明光を透過する。
【００１９】次に動作について説明する。蛍光像を観察
するときは、光源１を点灯する。光源１から射出された
レーザビーム１５はビームエキスパンダ１６によりビー
ム径が拡大され、ダイクロイックミラー２で反射して光
偏向器５に入射する。光偏向器５に入射した光束は、そ
の射出方向が二次元的に振られ、リレーレンズ１８によ
り一旦収束してから発散してから、ダイクロイックミラ
ーミラー１９を介し対物レンズ３に入射する。対物レン
ズ３により試料４の一点にビームスポットが形成され、
このビームスポットは光偏向器５による光束の振れに従
い試料４を二次元的に走査する。試料４が励起され蛍光
６が発光すると、蛍光６は対物レンズ３により集光さ
れ、励起光の光路を逆進し、ダイクロイックミラー１９
で反射し、光偏向器５で振られ、振られのない光束とな
ってダイクロイックミラー２を透過する。バリアフィル
タ２０及びバリアフィルタ２０ａにより励起光、透過照
明光を除いて、蛍光測定の精度が向上するように蛍光の
純度が高められる。そして集光レンズ１７により集光さ
れ、光検出器８に入射する。光検出器８で光電変換さ
れ、電気信号は電気回路２２を経て、画像処理装置２３
で画像処理が施された後、蛍光像として画像ディスプレ
ー９に写し出される。集光レンズ１７の焦点面にピンホ
ール２１が配置されているので共焦点光学系が形成さ
れ、光学的断層像が得られる。
するときは、光源１を点灯する。光源１から射出された
レーザビーム１５はビームエキスパンダ１６によりビー
ム径が拡大され、ダイクロイックミラー２で反射して光
偏向器５に入射する。光偏向器５に入射した光束は、そ
の射出方向が二次元的に振られ、リレーレンズ１８によ
り一旦収束してから発散してから、ダイクロイックミラ
ーミラー１９を介し対物レンズ３に入射する。対物レン
ズ３により試料４の一点にビームスポットが形成され、
このビームスポットは光偏向器５による光束の振れに従
い試料４を二次元的に走査する。試料４が励起され蛍光
６が発光すると、蛍光６は対物レンズ３により集光さ
れ、励起光の光路を逆進し、ダイクロイックミラー１９
で反射し、光偏向器５で振られ、振られのない光束とな
ってダイクロイックミラー２を透過する。バリアフィル
タ２０及びバリアフィルタ２０ａにより励起光、透過照
明光を除いて、蛍光測定の精度が向上するように蛍光の
純度が高められる。そして集光レンズ１７により集光さ
れ、光検出器８に入射する。光検出器８で光電変換さ
れ、電気信号は電気回路２２を経て、画像処理装置２３
で画像処理が施された後、蛍光像として画像ディスプレ
ー９に写し出される。集光レンズ１７の焦点面にピンホ
ール２１が配置されているので共焦点光学系が形成さ
れ、光学的断層像が得られる。
【００２０】透過像を観察するときは、光源２４を点灯
する。光源２４から発した光束２５は、バンドパスフィ
ルタ２６をレーザビーム１５及び蛍光６より長い波長の
光２７のみが透過し、コンデンサレンズ２８により試料
４をケーラー照明する。試料により強度変調された照明
光は、ダイクロイックミラー１９、バリアフィルタ２９
を経由し、投影レンズ３０によってＴＶカメラ３１に入
射する。入射した光は電気信号に変換され、画像ディス
プレー９に透過像が写し出される。
する。光源２４から発した光束２５は、バンドパスフィ
ルタ２６をレーザビーム１５及び蛍光６より長い波長の
光２７のみが透過し、コンデンサレンズ２８により試料
４をケーラー照明する。試料により強度変調された照明
光は、ダイクロイックミラー１９、バリアフィルタ２９
を経由し、投影レンズ３０によってＴＶカメラ３１に入
射する。入射した光は電気信号に変換され、画像ディス
プレー９に透過像が写し出される。
【００２１】蛍光像と透過像とは画像処理装置２３に設
けられた切換器（不図示）により、いずれかが選択さ
れ、又は同一試料・同一部位の両者が同時に写し出さ
れ、同時に観察することができる。尚、ＴＶカメラ３１
で得られた透過像は画像ディスプレー９と異なる他の画
像ディスプレー９で観察することもできる。
けられた切換器（不図示）により、いずれかが選択さ
れ、又は同一試料・同一部位の両者が同時に写し出さ
れ、同時に観察することができる。尚、ＴＶカメラ３１
で得られた透過像は画像ディスプレー９と異なる他の画
像ディスプレー９で観察することもできる。
【００２２】次に第２の実施例につき図４により説明す
る。尚第１の実施例と同一又は類似の点の記述は省略す
る。図４において、光源１からの励起光が試料４を照射
し、試料より発した蛍光がダイクロイックミラー１９で
反射し、ダイクロイックミラー２を透過した後、集光レ
ンズ２７から光検出器８に入射し、蛍光像が画像ディス
プレー９に写し出される。
る。尚第１の実施例と同一又は類似の点の記述は省略す
る。図４において、光源１からの励起光が試料４を照射
し、試料より発した蛍光がダイクロイックミラー１９で
反射し、ダイクロイックミラー２を透過した後、集光レ
ンズ２７から光検出器８に入射し、蛍光像が画像ディス
プレー９に写し出される。
【００２３】光源２４から発した光束２５は、レーザビ
ーム１５及び蛍光６より長い波長の光２７のみが透過す
るバンドパスフィルタ２６を透過した後、リング絞り３
２を通り、コンデンサレンズ２８により試料４をケーラ
ー照明する。試料４により位相変調され透過した照明光
はリング絞り３２に対応する位相板を有する対物レンズ
３３により集光され、ダイクロイックミラー１９を透過
する。バリアフィルタ２９を介し投影レンズ３０により
集光され、ＴＶカメラ３１に入射し、透過位相差像が画
像ディスプレー９に写し出される。
ーム１５及び蛍光６より長い波長の光２７のみが透過す
るバンドパスフィルタ２６を透過した後、リング絞り３
２を通り、コンデンサレンズ２８により試料４をケーラ
ー照明する。試料４により位相変調され透過した照明光
はリング絞り３２に対応する位相板を有する対物レンズ
３３により集光され、ダイクロイックミラー１９を透過
する。バリアフィルタ２９を介し投影レンズ３０により
集光され、ＴＶカメラ３１に入射し、透過位相差像が画
像ディスプレー９に写し出される。
【００２４】リング絞り３２及びリング絞り３２に対応
する位相板を有する対物レンズ３３により干渉コントラ
ストが生じて、明視野観察では見にくい位相物体でも、
位相差像として観察可能となる。この際画像処理装置２
３によって走査落射蛍光像、透過位相差像のいずれかが
選択される。
する位相板を有する対物レンズ３３により干渉コントラ
ストが生じて、明視野観察では見にくい位相物体でも、
位相差像として観察可能となる。この際画像処理装置２
３によって走査落射蛍光像、透過位相差像のいずれかが
選択される。
【００２５】次に第３の実施例につき図５により説明す
る。尚第１の実施例と同一又は類似の点の記述は省略す
る。図５において、光源２４から発した光束２５は、レ
ーザビーム１５及び蛍光６より長い波長の光２７のみが
透過するバンドパスフィルタ２６を透過した後、ポララ
イザ３４及びコンデンサレンズ２８を通り、ノルマルス
キープリズム３５を透過した後、試料４をケーラー照明
する。試料４により位相変調され透過した照明光は対物
レンズ３により集光され、ダイクロイックミラー１９を
透過する。バリアフィルタ２９を介し、ノルマルスキー
プリズム３６及びアナライザ３７を経て、投影レンズ３
０により集光され、ＴＶカメラ３１に入射し、透過微分
干渉像が画像ディスプレー９に写し出される。
る。尚第１の実施例と同一又は類似の点の記述は省略す
る。図５において、光源２４から発した光束２５は、レ
ーザビーム１５及び蛍光６より長い波長の光２７のみが
透過するバンドパスフィルタ２６を透過した後、ポララ
イザ３４及びコンデンサレンズ２８を通り、ノルマルス
キープリズム３５を透過した後、試料４をケーラー照明
する。試料４により位相変調され透過した照明光は対物
レンズ３により集光され、ダイクロイックミラー１９を
透過する。バリアフィルタ２９を介し、ノルマルスキー
プリズム３６及びアナライザ３７を経て、投影レンズ３
０により集光され、ＴＶカメラ３１に入射し、透過微分
干渉像が画像ディスプレー９に写し出される。
【００２６】ポラライザ３４、ノルマルスキープリズム
３５、ノルマルスキープリズム３６及びアナライザ３７
によって干渉コントラストが生じて、明視野観察では見
にくい位相物体でも、微分干渉像として観察可能とな
る。この際画像処理装置２３によって走査落射蛍光像、
透過微分干渉像のいずれかが選択される。
３５、ノルマルスキープリズム３６及びアナライザ３７
によって干渉コントラストが生じて、明視野観察では見
にくい位相物体でも、微分干渉像として観察可能とな
る。この際画像処理装置２３によって走査落射蛍光像、
透過微分干渉像のいずれかが選択される。
【００２７】以上の実施例によれば、倒立顕微鏡の対物
レンズ３と投影レンズ３０との間にダイクロイックミラ
ー１９を設けることによって、本発明の走査型顕微鏡を
形成することができるため、安価に形成できる。
レンズ３と投影レンズ３０との間にダイクロイックミラ
ー１９を設けることによって、本発明の走査型顕微鏡を
形成することができるため、安価に形成できる。
【００２８】又ダイクロイックミラーは、実施例と逆に
励起光をを透過し、蛍光を反射するものや、励起光や蛍
光ををを透過し、照明光の蛍光を除く可視光部分を反射
するものにしてもよい。又ダイクロイックミラーを変更
すれば、励起光源と検出器とを入替えることや、走査型
蛍光観察と光学像観察とを入替えることもできる。更に
実施例では透過像を観察したが、反射像を観察するよう
にしてもよい。
励起光をを透過し、蛍光を反射するものや、励起光や蛍
光ををを透過し、照明光の蛍光を除く可視光部分を反射
するものにしてもよい。又ダイクロイックミラーを変更
すれば、励起光源と検出器とを入替えることや、走査型
蛍光観察と光学像観察とを入替えることもできる。更に
実施例では透過像を観察したが、反射像を観察するよう
にしてもよい。
【００２９】尚、いずれの実施例でもＴＶカメラ３１で
得られた光学像は画像ディスプレー９と異なる他の画像
ディスプレーで観察することもできる。
得られた光学像は画像ディスプレー９と異なる他の画像
ディスプレーで観察することもできる。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように本発明の走査型光学
顕微鏡では、波長の長い透過光による観察からレーザ光
励起による蛍光観察に移行する時、又は逆に移行する
時、部材の交換又は取外しという煩瑣な作業が不要であ
ると共に照明光観察を蛍光観察と同時に行うこともで
き、又レーザ光の照射による試料の劣化や蛍光色素の褪
色は最小限に抑制され、更にレーザ光による透過像観察
に専用の部材を設けることが不要であり原価の低減がで
きる。
顕微鏡では、波長の長い透過光による観察からレーザ光
励起による蛍光観察に移行する時、又は逆に移行する
時、部材の交換又は取外しという煩瑣な作業が不要であ
ると共に照明光観察を蛍光観察と同時に行うこともで
き、又レーザ光の照射による試料の劣化や蛍光色素の褪
色は最小限に抑制され、更にレーザ光による透過像観察
に専用の部材を設けることが不要であり原価の低減がで
きる。
【図１】本発明の第１の実施例の主として光学的構成を
示す構成図。
示す構成図。
【図２】本発明の第１の実施例の励起光、蛍光及び透過
照明光の波長スペクトル図。
照明光の波長スペクトル図。
【図３】ダイクロイックミラーの波長−透過率曲線を示
す図。
す図。
【図４】本発明の第２の実施例の主として光学的構成を
示す構成図。
示す構成図。
【図５】本発明の第３の実施例の主として光学的構成を
示す構成図。
示す構成図。
【図６】従来例の主として光学的構成を示す構成図。
１、２４・・・・光源 ２・・・・ダイクロイックミラー ３・・・・対物レンズ ５・・・・光偏向器 ７・・・・集光レンズ ８、１１・・・・光検出器 ９・・・・画像ディスプレー １０・・・・集光レンズ １２、２２・・・・電気回路 １３・・・・固定ミラー １９・・・・ダイクロイックミラー ２０、２０ａ・・・・バリアフィルタ ２３・・・・画像処理装置 ２６・・・・バンドパスフィルタ ２８・・・・コンデンサレンズ ２９・・・・バリアフィルタ ３０・・・・投影レンズ ３１・・・・ＴＶカメラ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (58)調査した分野(Int.Cl.7，ＤＢ名) G02B 21/18
Claims (3)
- 【請求項１】励起光を射出する励起用光源と、前記励起
光とこの励起光の照射を受けた試料より発光する蛍光と
のいづれか一方を反射し、他方を透過する第１ダイクロ
イックミラーと、前記光源と前記試料との間に配置さ
れ、前記励起光を二次元的に走査する光偏向器と、前記
励起光を前記試料に収束し、かつ、前記試料からの前記
蛍光を集光する対物レンズと、前記対物レンズにより集
光された前記蛍光を収束する集光レンズと、前記集光レ
ンズにより収束された前記蛍光を検出する第１光検出器
と、前記第１光検出器からの電気信号を受けて処理する
第１電気回路と、前記第１電気回路からの出力を受けて
画像処理する第１画像処理装置と、前記第１画像処理装
置により画像処理された画像を表示する第１画像ディス
プレーとを有する走査型蛍光像観察装置を具備する走査
型光学顕微鏡において、照明光を射出する照明用光源
と、前記試料を介した前記照明光を結像する結像レンズ
と、前記結像レンズにより結像した前記照明光を検出す
る第２光検出器と、前記第２光検出器からの電気信号を
受けて処理する第２電気回路と、前記第２電気回路から
の出力を受けて画像処理する第２画像処理装置と、前記
第２画像処理装置により画像処理された画像を表示する
第２画像ディスプレーとを有する光学像観察装置と、前
記対物レンズと前記光偏向器との間に配置され、かつ前
記励起光及び前記蛍光と前記照明光とのいづれか一方を
反射し他方を透過して、前記走査型蛍光像観察装置の光
軸の一部と前記光学像観察装置の観察光軸との一部とを
同軸に結合する第２ダイクロイックミラーとを具備する
ことを特徴とする走査型光学顕微鏡。 - 【請求項２】前記光学像観察装置は、前記試料に対して
前記対物レンズと対向する側に配置され、前記照明用光
源からの照明光を集光し前記試料を照明するコンデンサ
レンズを有し、前記結像レンズは、前記対物レンズを介
し、かつ、前記第２ダイクロイックミラーを透過して、
前記試料を透過した照明光が入射するように配置されて
いることを特徴とする請求項１に記載の走査型光学顕微
鏡。 - 【請求項３】前記第１画像処理装置と前記第２画像処理
装置、ならびに前記第１画像ディスプレーと前記第２画
像ディスプレーがそれぞれ同一であることを特徴とする
請求項１に記載の走査型光学顕微鏡。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17759593A JP3326881B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 走査型光学顕微鏡 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17759593A JP3326881B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 走査型光学顕微鏡 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0713083A JPH0713083A (ja) | 1995-01-17 |
| JP3326881B2 true JP3326881B2 (ja) | 2002-09-24 |
Family
ID=16033748
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17759593A Expired - Fee Related JP3326881B2 (ja) | 1993-06-25 | 1993-06-25 | 走査型光学顕微鏡 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3326881B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7078664B2 (en) | 2003-11-19 | 2006-07-18 | Olympus Corporation | Confocal laser microscope displaying target images side by side |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3339244B2 (ja) * | 1995-02-23 | 2002-10-28 | 株式会社ニコン | 落射蛍光顕微鏡 |
| JP3917731B2 (ja) * | 1996-11-21 | 2007-05-23 | オリンパス株式会社 | レーザ走査顕微鏡 |
| EP2480896A4 (en) * | 2009-09-21 | 2015-12-02 | Akonni Biosystems | INTEGRATED CARTRIDGE |
| CA3093545A1 (en) * | 2018-03-30 | 2019-10-03 | Blaze Bioscience, Inc. | Systems and methods for simultaneous near-infrared light and visible light imaging |
| EP4219677A1 (en) | 2020-09-24 | 2023-08-02 | Nikon Corporation | Method of applying force to organism and device for applying force to organism |
| JPWO2022065459A1 (ja) | 2020-09-24 | 2022-03-31 | ||
| EP4219676A1 (en) | 2020-09-24 | 2023-08-02 | Nikon Corporation | Operation method and operation device for living body |
-
1993
- 1993-06-25 JP JP17759593A patent/JP3326881B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7078664B2 (en) | 2003-11-19 | 2006-07-18 | Olympus Corporation | Confocal laser microscope displaying target images side by side |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0713083A (ja) | 1995-01-17 |
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| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |