JPH04340482A - Ｉｃ試験装置のデバイス動作電流測定回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明はＩＣ試験装置のデバイス
動作電流測定回路にかかり、特にＩＣ試験装置の１テス
ト実行時間全域に亙ってデバイス動作電流の良否を判定
するのに好適なＩＣ試験装置のデバイス動作電流測定回
路に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来のＩＣ試験装置はデバイス動作電流
リアルタイム測定機能を有しており、デバイスファンク
ショナルテストと同時にデバイス動作電流を測定し、測
定されたデバイス動作電流の適否を判定するようになっ
ている。ここで、デバイス動作電流リアルタイム測定機
能のうちのアナログコンパレータを用いたパス／フェイ
ル判定機能は、タイミングジェネレータから出力される
所定のタイミングパルスに応じて、ＩＣ試験装置の１テ
スト実行時間中のある時点に限ってデバイス動作電流が
所定の範囲内の値になっているか否かを判定するワンポ
イント判定であった。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来技術において
は、アナログコンパレータを用いたパス／フェイル判定
機能はワンポイント判定であるため、実際には、ＩＣ試
験装置の１テスト実行時間中にデバイス動作電流が所定
の範囲外の値になり、フェイルと判定されるべき場合に
おいても、パスと判定されてしまうという問題点があっ
た。

【０００４】本発明は上記従来技術の問題点に鑑み成さ
れたもので、１テスト実行中の全期間または任意の期間
に亙って、デバイス動作電流が所定の範囲内の値になっ
ているか否かを判定することを可能とするＩＣ試験装置
のデバイス動作電流測定回路を提供することを目的とし
ている。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明のＩＣ試験装置の
デバイス動作電流測定回路は、被測定信号の信号レベル
がローリミットレベルよりも小さいかまたはハイリミッ
トレベルよりも大きいこと判定し、被測定信号の信号レ
ベルがローリミットレベルよりも小さいかまたはハイリ
ミットレベルよりも大きいと判定された場合、フェイル
検出信号を出力する第１の手段と、パターンジェネレー
タ及びタイミングジェネレータから出力されるリアルタ
イム測定信号に基づいて、判定ストローブ信号を形成す
る第２の手段と、判定ストローブ信号が入力されている
期間中に、フェイル検出信号が入力されたとき、フェイ
ル検出信号を保持し、判定結果をフェイルとして出力す
る第３の手段とから構成されていることを特徴としてい
る。

【０００６】

【作用】本発明によれば、判定ストローブ信号はリアル
タイム測定信号によって出力期間が定められ、この判定
ストローブ信号の出力期間中にフェイル検出信号が入力
されたとき、入力されたフェイル検出信号が保持され、
判定結果がフェイルとして出力される。したがって、１
テスト実行中の全期間または任意の期間に亙って、デバ
イス動作電流が所定の範囲内の値になっているか否かを
判定することが可能になる。

【０００７】

【実施例】以下、添付の図面に示す実施例により、更に
詳細に本発明について説明する。図１は本発明の一実施
例を示すブロック図であり、図２は図１に示す実施例の
各部の波形の一例を示す波形図である。

【０００８】図１において、１は比較部、２は判定スト
ローブ発生部、３は判定部を示している。比較部１には
、デバイス動作電流である被測定信号ＭＳとローリミッ
トレベルＬＬＬとハイリミットレベルＨＬＬとが、入力
されている。被測定信号ＭＳの信号レベルが、ローリミ
ットレベルＬＬＬとハイリミットレベルＨＬＬの間にあ
るときパスと判定され、ローリミットレベルＬＬＬとハ
イリミットレベルＨＬＬの範囲外にあるとき、フェイル
と判定される。上記ローリミットレベルＬＬＬと被測定
信号ＭＳは比較器１１に入力され、比較器１１は被測定
信号ＭＳの信号レベルがローリミットレベルＬＬＬより
も小さい場合に、論理値“１”を出力する。また、上記
ハイリミットレベルＨＬＬと被測定信号ＭＳは比較器１
２に入力され、比較器１２は被測定信号ＭＳの信号レベ
ルがハイリミットレベルＨＬＬよりも大きい場合に、そ
の出力をハイレベルにする。比較器１１，１２の出力は
、図示するように、それぞれアンド回路１３，１４に入
力され、アンド回路１３にはローリミットイネーブルＬ
ＬＥが入力され、アンド回路１４にはハイリミットイネ
ーブルＨＬＥが入力されている。このローリミットイネ
ーブルＬＬＥとハイリミットイネーブルＨＬＥは、１テ
スト実行中に亙って出力されるものとする。アンド回路
１３，１４の出力は、オア回路１５を介して、フェイル
検出信号Ａとして判定部３に出力される。図２に示す波
形図においては、被測定信号ＭＳの信号レベルがハイリ
ミットレベルＨＬＬよりも大となる領域が存在するため
、この部分においてフェイル検出信号Ａがハイレベルと
なる。

【０００９】一方、判定ストローブ発生部２には、図示
しないＩＣ試験装置のパターンジェネレータ及びタイミ
ングジェネレータにおいて作成されるリアルタイム測定
信号ＲＴＭが入力されている。最初にリアルタイム測定
信号ＲＴＭが入力されると、判定ストローブ発生部２内
のＤフリップフロップはその出力Ｑをハイレベルにし、
判定ストローブ信号Ｂをハイレベルにする。そして、リ
アルタイム測定信号ＲＴＭが入力されると、判定ストロ
ーブ発生部２内のＤフリップフロップはその出力Ｑをロ
ーレベルにし、判定ストローブ信号Ｂをローレベルにす
る。図２に示す波形図においては、リアルタイム測定信
号ＲＴＭは時刻ｔ１，ｔ２において入力され、その結果
時刻ｔ１〜ｔ２に亙って判定ストローブ信号Ｂが判定部
３に対して出力される。

【００１０】判定部３は、比較部１からフェイル検出信
号Ａを受け取り、判定ストローブ発生部２から判定スト
ローブ信号Ｂを受け取る。判定部３のアンド回路３１は
、判定ストローブ信号Ｂの入力期間中にフェイル検出信
号Ａがハイレベルになると、フリップフロップ３２に対
してセット信号を出力する。これによって、フリップフ
ロップ３２がセットされ、フェイル検出状態が保持され
る。フリップフロップ３２は測定結果を示す信号Ｒを図
示しないＣＰＵに対して出力する。この状態は、リセッ
ト信号ＲＴＳが判定ストローブ発生部２と判定部３に入
力されるまで保持される。図２に示す波形図においては
、フェイル検出信号Ａがハイレベルになった時点におい
て、測定結果を示す信号Ｒがハイレベルになる状態が示
されている。

【００１１】上記実施例によれば、リアルタイム測定信
号ＲＴＭによって、１テスト実行中の全期間または任意
の期間に亙って、パス／フェイルの判定を行うことが可
能になる。

【００１２】

【発明の効果】本発明によれば、１テスト実行中の全期
間または任意の期間に亙って、デバイス動作電流が所定
の範囲内の値になっているか否かを判定することを可能
とするＩＣ試験装置のデバイス動作電流測定回路を提供
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】図１は本発明の一実施例を示すブロック図。

【図２】図１に示す実施例の各部の波形の一例を示す波
形図。

【符号の説明】

１　　比較部、 ２　　判定ストローブ発生部、 ３　　判定部

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被測定信号の信号レベルがローリミットレ
   ベルよりも小さいかまたはハイリミットレベルよりも大
   きいこと判定し、被測定信号の信号レベルがローリミッ
   トレベルよりも小さいかまたはハイリミットレベルより
   も大きいと判定された場合、フェイル検出信号を出力す
   る第１の手段と、パターンジェネレータ及びタイミング
   ジェネレータから出力されるリアルタイム測定信号に基
   づいて、判定ストローブ信号を形成する第２の手段と、
   判定ストローブ信号が入力されている期間中に、フェイ
   ル検出信号が入力されたとき、フェイル検出信号を保持
   し、判定結果をフェイルとして出力する第３の手段とか
   ら構成されることを特徴とするＩＣ試験装置のデバイス
   動作電流測定回路。